JPS6026469B2 - 電気回路素子の特性測定装置 - Google Patents
電気回路素子の特性測定装置Info
- Publication number
- JPS6026469B2 JPS6026469B2 JP5247380A JP5247380A JPS6026469B2 JP S6026469 B2 JPS6026469 B2 JP S6026469B2 JP 5247380 A JP5247380 A JP 5247380A JP 5247380 A JP5247380 A JP 5247380A JP S6026469 B2 JPS6026469 B2 JP S6026469B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplifier
- terminal
- impedance element
- voltage
- input terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はダイオード等の回路素子の電気的特性の測定装
置に関するものでなる。
置に関するものでなる。
従来、ダイオードが持つ順万向電圧（ＶＦ）特性と漏れ
電流（ＩＲ）特性とを測定するためには、測定用電源と
して、定電流電源と定電圧電源との二種類の電源が必要
であった。
電流（ＩＲ）特性とを測定するためには、測定用電源と
して、定電流電源と定電圧電源との二種類の電源が必要
であった。
この為に測定装置は複雑な構成となり、高い測定精度を
得るためにはその調整箇所も増え、煩雑な作業性を必要
とする欠点があった。本発明は前記欠点を解除し、簡単
な回路構成で電気回路素子の電気的特性の測定を可能な
らしめる装置を提供することを目的とするものである。
得るためにはその調整箇所も増え、煩雑な作業性を必要
とする欠点があった。本発明は前記欠点を解除し、簡単
な回路構成で電気回路素子の電気的特性の測定を可能な
らしめる装置を提供することを目的とするものである。
本発明の測定装置は、入力端子と、この入力端に直列に
接続された第１及び第２のインピーダンス素子と、一入
力端が第１及び第２のインピーダンス素子の接続点に接
続され、出力端が第２のインピーダンス素子の一端に接
続された差動入力型の第１の増幅器と、この第１の増幅
器の出力端に接続された第３のインピーダンス素子と、
測定用電気回路素子が挿入される第１及び第２の接続端
子と、第１の接続端子に一入力端が接続され、その出力
端が第４のインピーダンス素子を介して第１の増幅器の
他の入力端に接続された正相増幅器と、一端が接地され
た第５のインピーダンス素子と、前記第１の増幅器の前
記他の入力端には一端が接地された第６のインピーダン
ス素子が接続され、前記測定用電子回路素子の第１の後
続端子を前記第３のインピーダンス素子もしくは前記第
５のインピーダンス素子に接続するための第１の薮続切
替手段と、前記測定用電子回路素子の第２の後続端子を
接地もしくは前記第１の増幅器の出力端に接続するため
の第２の接続切替手段とを有し、前記第３のインピーダ
ンス素子と前記入力端子に入力される印加電圧とで、こ
の第３のインピーダンス素子に流れる電流を決定し、前
記第１及び第２の接続端子間に電気回路素子を挿入し、
前記第１の接続端子と前記第３のインピーダンス素子と
を接続し、かつ前記第２の接続端子を接地するように制
御し、この時の前記正相増幅器の出力端の電圧を測定す
ることにより前記電気回路素子の順方向電圧値を求め、
一方前記第１及び第２の切替手段を用いて前記順方向電
圧測定時とは反対の方向に切替えることにより、この時
の前記正相増幅器の出力端電圧と前記第５のインピーダ
ンス素子との商を前記電気回路素子の漏れ電流値として
求めるように構成される。以下に、図面を参照して本発
明の一実施例をより詳細に説明する。
接続された第１及び第２のインピーダンス素子と、一入
力端が第１及び第２のインピーダンス素子の接続点に接
続され、出力端が第２のインピーダンス素子の一端に接
続された差動入力型の第１の増幅器と、この第１の増幅
器の出力端に接続された第３のインピーダンス素子と、
測定用電気回路素子が挿入される第１及び第２の接続端
子と、第１の接続端子に一入力端が接続され、その出力
端が第４のインピーダンス素子を介して第１の増幅器の
他の入力端に接続された正相増幅器と、一端が接地され
た第５のインピーダンス素子と、前記第１の増幅器の前
記他の入力端には一端が接地された第６のインピーダン
ス素子が接続され、前記測定用電子回路素子の第１の後
続端子を前記第３のインピーダンス素子もしくは前記第
５のインピーダンス素子に接続するための第１の薮続切
替手段と、前記測定用電子回路素子の第２の後続端子を
接地もしくは前記第１の増幅器の出力端に接続するため
の第２の接続切替手段とを有し、前記第３のインピーダ
ンス素子と前記入力端子に入力される印加電圧とで、こ
の第３のインピーダンス素子に流れる電流を決定し、前
記第１及び第２の接続端子間に電気回路素子を挿入し、
前記第１の接続端子と前記第３のインピーダンス素子と
を接続し、かつ前記第２の接続端子を接地するように制
御し、この時の前記正相増幅器の出力端の電圧を測定す
ることにより前記電気回路素子の順方向電圧値を求め、
一方前記第１及び第２の切替手段を用いて前記順方向電
圧測定時とは反対の方向に切替えることにより、この時
の前記正相増幅器の出力端電圧と前記第５のインピーダ
ンス素子との商を前記電気回路素子の漏れ電流値として
求めるように構成される。以下に、図面を参照して本発
明の一実施例をより詳細に説明する。
第１図は本実施例の動作原理を示す定電流回路の構成図
である。
である。
表勤入力型増幅器１（例えば演算増幅器）の反転入力側
（一）側には抵抗体３と４を、非反転入力側（十）には
抵抗体５と６を接続し、その出力側は抵抗体７を介して
利得がほぼ１である正相増幅器（ボルテージフオロア）
２の非反転入力側（十）へ接続し、このボルテージフオ
ロア２の出力側は前記抵抗体６を介して差動入力型増幅
器１へ接続されて帰還回路を形成する定電流回路である
。
（一）側には抵抗体３と４を、非反転入力側（十）には
抵抗体５と６を接続し、その出力側は抵抗体７を介して
利得がほぼ１である正相増幅器（ボルテージフオロア）
２の非反転入力側（十）へ接続し、このボルテージフオ
ロア２の出力側は前記抵抗体６を介して差動入力型増幅
器１へ接続されて帰還回路を形成する定電流回路である
。
抵抗体８は定電流回路に対する負荷抵抗となるもの一端
が接地され池端が抵抗体７に接続されている。今、抵抗
体８の抵抗値をＲＬとし、差動入力型増幅器１の出力電
流値を１とすると、負荷抵抗８の両端に発生する電圧Ｖ
８は、Ｖ８＝１ ×ＲＬ ””
Ｍ”””‘１｝で求まる。
が接地され池端が抵抗体７に接続されている。今、抵抗
体８の抵抗値をＲＬとし、差動入力型増幅器１の出力電
流値を１とすると、負荷抵抗８の両端に発生する電圧Ｖ
８は、Ｖ８＝１ ×ＲＬ ””
Ｍ”””‘１｝で求まる。
更に、ボルテージフオロア２の出力電圧Ｖｓはその非反
転入力電圧と同一値であることから、Ｖｓ＝Ｖ８
……”“”…‘２｝となる。
転入力電圧と同一値であることから、Ｖｓ＝Ｖ８
……”“”…‘２｝となる。
ここでボルテージフオロア２の入力オフセット電圧は無
視できるものとする。差動入力型増幅器１の出力電圧値
をＶｏとし、抵抗体３，４，５，６の各抵抗値をＲ３，
Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６とし、入力端子ＩＮの印加電圧値をＶ
，Ｎとしてこれらの関係を求めると、Ｖｏ＝一Ｖ…×Ｒ
４／Ｒ３十Ｖｓ ×Ｒ５／（Ｒ５十Ｒ６）×（Ｒ３十Ｒ４）／Ｒ３ ．
．．．．・‘３１となる。
視できるものとする。差動入力型増幅器１の出力電圧値
をＶｏとし、抵抗体３，４，５，６の各抵抗値をＲ３，
Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６とし、入力端子ＩＮの印加電圧値をＶ
，Ｎとしてこれらの関係を求めると、Ｖｏ＝一Ｖ…×Ｒ
４／Ｒ３十Ｖｓ ×Ｒ５／（Ｒ５十Ｒ６）×（Ｒ３十Ｒ４）／Ｒ３ ．
．．．．・‘３１となる。
但し増幅器１の入力オフセット電圧および入力バイアス
電流は無視できるものとする。又、【３｝式の−記号は
逆位相を示す。今、抵抗値Ｒ３＝Ｒ４＝Ｒ５：Ｒ６＝Ｒ
′３として湖式を展開すると、Ｖｏ＝Ｖ…＋Ｖｓ
“”“…｛４１となる。
電流は無視できるものとする。又、【３｝式の−記号は
逆位相を示す。今、抵抗値Ｒ３＝Ｒ４＝Ｒ５：Ｒ６＝Ｒ
′３として湖式を展開すると、Ｖｏ＝Ｖ…＋Ｖｓ
“”“…｛４１となる。
次に、抵抗体７の抵抗値をＲ７としてこの抵抗体７に流
れる電流値を１とすると、前記‘１｝式の出力電圧Ｖｏ
は次式でも表わせる。
れる電流値を１とすると、前記‘１｝式の出力電圧Ｖｏ
は次式でも表わせる。
Ｖ。
＝１×（Ｒ７十Ｒ８） …・・……・…【５１但し、
ボルテージフオロア２の入力バイアス電流は無視できる
ものとする。以上‘１１、（２’、【４｝、（５）から
、１：−Ｖ…／Ｒ？ ・・・・・・・・・・・
・・・・【６１の関係式が求められる。
ボルテージフオロア２の入力バイアス電流は無視できる
ものとする。以上‘１１、（２’、【４｝、（５）から
、１：−Ｖ…／Ｒ？ ・・・・・・・・・・・
・・・・【６１の関係式が求められる。
したがって出力電流値１を決定するものは入力電圧値Ｖ
，Ｎと抵抗値Ｒ７であり、これらＶ，ＮとＲ７の値を任
意に選択して所望の定電流値１を得ることができる。第
２図は前述の定電流回路を使用して測定装置を構成した
時の回路図である。
，Ｎと抵抗値Ｒ７であり、これらＶ，ＮとＲ７の値を任
意に選択して所望の定電流値１を得ることができる。第
２図は前述の定電流回路を使用して測定装置を構成した
時の回路図である。
第２図においてスイッチＳ，は端子ａ，ｂの切替スイッ
チで、スイッチＳ２は端子ａ′，ｂ′の切替スイッチで
ある。又、測定用ダイオード１０は端子１１，１２間に
接続される。尚、スイッチＳ，，Ｓ２は相互に連動した
手敷スイッチでよい。今、ダイオードの順方向電圧（Ｖ
Ｆ）を測定するために、スイッチＳ，，Ｓ２をａ，が側
に倒す。
チで、スイッチＳ２は端子ａ′，ｂ′の切替スイッチで
ある。又、測定用ダイオード１０は端子１１，１２間に
接続される。尚、スイッチＳ，，Ｓ２は相互に連動した
手敷スイッチでよい。今、ダイオードの順方向電圧（Ｖ
Ｆ）を測定するために、スイッチＳ，，Ｓ２をａ，が側
に倒す。
この状態では、被測定ダイオード１０に流れる電流値ｍ
は、■式からＩＦ＝−ＶＩＮ／Ｒ７で求められ、この時
のボルテージフオロア２の出力電圧Ｖｓが順方向電圧Ｖ
Ｆとなる。したがって、順方向電圧測定時における電流
値ｍをＶＩＮとＲ７により予め設定しておくことにより
、ボルテージフオロア２の出力電圧Ｖｓを読み取ること
でダイオード１０の順方向電圧ＶＦ値を直読できること
になる。次に、切換用スイッチＳ，，Ｓ２をｂ，ｂ′側
に倒すことにより漏れ電流ＩＲの測定ができる。被測定
ダイオード１０１こ印加される電圧は｛４’式からＶＲ
＝−Ｖ，となる。
は、■式からＩＦ＝−ＶＩＮ／Ｒ７で求められ、この時
のボルテージフオロア２の出力電圧Ｖｓが順方向電圧Ｖ
Ｆとなる。したがって、順方向電圧測定時における電流
値ｍをＶＩＮとＲ７により予め設定しておくことにより
、ボルテージフオロア２の出力電圧Ｖｓを読み取ること
でダイオード１０の順方向電圧ＶＦ値を直読できること
になる。次に、切換用スイッチＳ，，Ｓ２をｂ，ｂ′側
に倒すことにより漏れ電流ＩＲの測定ができる。被測定
ダイオード１０１こ印加される電圧は｛４’式からＶＲ
＝−Ｖ，となる。
これは抵抗体７の代わりに被測定ダイオード１０が挿入
された状態であることからも容易に理解できる。漏れ電
流ＩＲは抵抗体８に流れ込むことから抵抗体８の両端間
電圧を読み取ることで、知ることができる。即ち、抵抗
体８の抵抗値をＲ８とすると、‘１｝式からＩＲ＝Ｖｓ
／Ｒ８で求められる。したがって漏れ電流測定時におい
て、ダイオード１０‘こ印加する電圧値を入力電圧値Ｖ
，Ｎで規定し、この時のＶｓを読み取ることで、漏れ電
流ＩＲが容易に測定できる。
された状態であることからも容易に理解できる。漏れ電
流ＩＲは抵抗体８に流れ込むことから抵抗体８の両端間
電圧を読み取ることで、知ることができる。即ち、抵抗
体８の抵抗値をＲ８とすると、‘１｝式からＩＲ＝Ｖｓ
／Ｒ８で求められる。したがって漏れ電流測定時におい
て、ダイオード１０‘こ印加する電圧値を入力電圧値Ｖ
，Ｎで規定し、この時のＶｓを読み取ることで、漏れ電
流ＩＲが容易に測定できる。
尚、抵抗体３′は、前記Ｒ３〜Ｒ８の各抵抗値をＲ′３
なる同一抵抗値としたことを意味する。
なる同一抵抗値としたことを意味する。
本実施例によれば、スイッチを切替える操作のみでダイ
オード特性の順方向電圧値と漏れ電流値の双方を同一測
定装置で容易に測定することができる。さらに抵抗体３
〜６の各抵抗値をＲ３＝Ｒ４＝Ｒ５＝Ｋ：Ｒ３とするこ
とにより、他の抵抗体７，８の各抵抗値Ｒ７，Ｒ８と入
力電圧値Ｖ，Ｎのニ値のみで測定精度を規定できるので
測定誤差の少ないダイオード測定装置を提供できる。尚
、前記入力電圧Ｖ，Ｎ、抵抗７，８の各値を所望の値に
変更可能な、例えば可変抵抗で構成することにより、被
測定ダイオードの適用範囲を拡大でき、ダイオードの他
の電気回路素子の電気的特性も測定できる汎用性のある
測定装置となることは明らかである。
オード特性の順方向電圧値と漏れ電流値の双方を同一測
定装置で容易に測定することができる。さらに抵抗体３
〜６の各抵抗値をＲ３＝Ｒ４＝Ｒ５＝Ｋ：Ｒ３とするこ
とにより、他の抵抗体７，８の各抵抗値Ｒ７，Ｒ８と入
力電圧値Ｖ，Ｎのニ値のみで測定精度を規定できるので
測定誤差の少ないダイオード測定装置を提供できる。尚
、前記入力電圧Ｖ，Ｎ、抵抗７，８の各値を所望の値に
変更可能な、例えば可変抵抗で構成することにより、被
測定ダイオードの適用範囲を拡大でき、ダイオードの他
の電気回路素子の電気的特性も測定できる汎用性のある
測定装置となることは明らかである。
更に、本発明の測定装置は集積回路化にも適している。
第１図は本発明の測定装置の測定原理を示す回路図で、
第２図は第１図図示の測定回路を用いてダイオード特性
測定装置を構成した一実施例を示す回路図である。 １・・・・・・差動入力型増幅器、２・・・・・・ボル
テージフオロア増幅器、３〜８・・・・・・抵抗体、９
・・・・・・測定用端子、１０・・・・・・被測定用ダ
イオード、Ｓ，，Ｓ２・・・・・・切替スイッチ。 界′図 多２図
第２図は第１図図示の測定回路を用いてダイオード特性
測定装置を構成した一実施例を示す回路図である。 １・・・・・・差動入力型増幅器、２・・・・・・ボル
テージフオロア増幅器、３〜８・・・・・・抵抗体、９
・・・・・・測定用端子、１０・・・・・・被測定用ダ
イオード、Ｓ，，Ｓ２・・・・・・切替スイッチ。 界′図 多２図
Claims (1)
- １ 入力端子と、この入力端子に直列に接続された第１
及び第２のインピーダンス素子と、一入力端が前記第１
及び第２のインピーダンス素子の接続点に接続され、出
力端が前記第２のインピーダンス素子の一端に接続され
た第１の増幅器と、この第１の増幅器の出力端に接続さ
れた第３のインピーダンス素子と、測定用電子回路素子
が挿入される第１及び第２の接続端子と、該第１の接続
端子に一入力端が接続され、その出力端が第４のインピ
ーダンス素子を介して前記第１の増幅器の他の入力端に
接続された正相増幅器と、一端が接地された第５のイン
ピーダンス素子と、前記第１の増幅器の前記他の入力端
には一端が接地された第６のインピーダンス素子が接続
され、前記測定用電子回路素子の第１の接続端子を前記
第３のインピーダンス素子もしくは前記第５のインピー
ダンス素子に接続するための第１の接続切替手段と、前
記測定用電子回路素子の第２の接続端子を接地もしくは
前記第１の増幅器の出力端に接続するための第２の接続
切替手段とを有し、前記入力端子に入力される印加電圧
と前記正相増幅器の出力端の電圧とを測定することによ
り前記電気回路素子の電気的特性を測定することを特徴
とする電気回路素子の特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5247380A JPS6026469B2 (ja) | 1980-04-21 | 1980-04-21 | 電気回路素子の特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5247380A JPS6026469B2 (ja) | 1980-04-21 | 1980-04-21 | 電気回路素子の特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56148070A JPS56148070A (en) | 1981-11-17 |
| JPS6026469B2 true JPS6026469B2 (ja) | 1985-06-24 |
Family
ID=12915682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5247380A Expired JPS6026469B2 (ja) | 1980-04-21 | 1980-04-21 | 電気回路素子の特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6026469B2 (ja) |
-
1980
- 1980-04-21 JP JP5247380A patent/JPS6026469B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56148070A (en) | 1981-11-17 |
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