JPH09159704A - 抵抗計校正装置 - Google Patents
抵抗計校正装置Info
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- JPH09159704A JPH09159704A JP31525195A JP31525195A JPH09159704A JP H09159704 A JPH09159704 A JP H09159704A JP 31525195 A JP31525195 A JP 31525195A JP 31525195 A JP31525195 A JP 31525195A JP H09159704 A JPH09159704 A JP H09159704A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】種々の種類の抵抗計の校正を、等価抵抗により
極めて高精度で行うことができる抵抗計校正装置を実現
すること。 【解決手段】Ｄ／Ａ変換器１０、演算増幅器２１とこの
演算増幅器の帰還回路に切換接点を介して夫々接続され
た複数個の帰還抵抗よりなりＤ／Ａ変換器の出力が与え
られる出力回路２０、この出力回路の出力を取り出す出
力端子４１、４２、演算増幅器とこの演算増幅器の帰還
回路に切換接点を介して夫々接続された複数個の帰還抵
抗よりなり出力端子に接続される被校正の抵抗計の内部
電流源から前記出力端子に流入する電流を電圧に変換し
その出力電圧をＤ／Ａ変換器に入力として与える電流・
電圧変換回路５０、この電流・電圧変換回路の出力電圧
を絶対値回路６０を介した後一対の基準電圧と比較する
コンパレータ、及びこのコンパレータの出力が取り込ま
れるマイクロプロセッサ９０よりなる。
極めて高精度で行うことができる抵抗計校正装置を実現
すること。 【解決手段】Ｄ／Ａ変換器１０、演算増幅器２１とこの
演算増幅器の帰還回路に切換接点を介して夫々接続され
た複数個の帰還抵抗よりなりＤ／Ａ変換器の出力が与え
られる出力回路２０、この出力回路の出力を取り出す出
力端子４１、４２、演算増幅器とこの演算増幅器の帰還
回路に切換接点を介して夫々接続された複数個の帰還抵
抗よりなり出力端子に接続される被校正の抵抗計の内部
電流源から前記出力端子に流入する電流を電圧に変換し
その出力電圧をＤ／Ａ変換器に入力として与える電流・
電圧変換回路５０、この電流・電圧変換回路の出力電圧
を絶対値回路６０を介した後一対の基準電圧と比較する
コンパレータ、及びこのコンパレータの出力が取り込ま
れるマイクロプロセッサ９０よりなる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗器，或いは測
温抵抗体等の抵抗値を測定する抵抗計を校正する為の装
置に関するのである。
温抵抗体等の抵抗値を測定する抵抗計を校正する為の装
置に関するのである。
【０００２】
【従来の技術】抵抗器，測温抵抗体等の抵抗値はデジタ
ル・マルチメータ、或いは測温抵抗体をセンサとする各
種温度計，記録計，トランスデューサ類で測定される
が、これらの測定器の校正は、値の既知な標準抵抗器，
或いはディケード切換抵抗器等、固体の標準抵抗器を用
いて行なうのが一般的である。しかし、固体の抵抗器に
よる校正は特定の点（値）については可能であるが、任
意の点での校正は例えば接点切換形ディケードダイヤル
抵抗器等，大型の標準抵抗器を必要とする。
ル・マルチメータ、或いは測温抵抗体をセンサとする各
種温度計，記録計，トランスデューサ類で測定される
が、これらの測定器の校正は、値の既知な標準抵抗器，
或いはディケード切換抵抗器等、固体の標準抵抗器を用
いて行なうのが一般的である。しかし、固体の抵抗器に
よる校正は特定の点（値）については可能であるが、任
意の点での校正は例えば接点切換形ディケードダイヤル
抵抗器等，大型の標準抵抗器を必要とする。
【０００３】近時，抵抗計の校正に、上記のような固体
の標準抵抗器に代えて、電子的手段を用いて仮想の抵抗
を等価的に発生させる抵抗発生装置が用いられるように
なった。抵抗の測定は、普通その測定器の内部に抵抗測
定用の電流Ｉを発生させる為の定電流源を持ち、その測
定電流Ｉを被測定抵抗Ｒに流してその際に発生する電圧
降下Ｖ（＝Ｉ＊Ｒ）を計測することにより被測定抵抗Ｒ
の値を求めるものである。従って、電子的に仮想の抵抗
を発生させるには、測定電流Ｉを知り、所望の抵抗値Ｒ
に対応した端子電圧Ｖを発生させるようにすれば良く、
これにより端子間に仮想の等価抵抗Ｒeq（＝Ｖ／Ｉ）を
発生させることができる。このような等価抵抗Ｒeqを用
いて抵抗計を校正すれば、任意の点での校正が可能とな
り、固体抵抗器を用いて行う場合より極めて高精度でそ
の校正を行うことができる特徴がある。
の標準抵抗器に代えて、電子的手段を用いて仮想の抵抗
を等価的に発生させる抵抗発生装置が用いられるように
なった。抵抗の測定は、普通その測定器の内部に抵抗測
定用の電流Ｉを発生させる為の定電流源を持ち、その測
定電流Ｉを被測定抵抗Ｒに流してその際に発生する電圧
降下Ｖ（＝Ｉ＊Ｒ）を計測することにより被測定抵抗Ｒ
の値を求めるものである。従って、電子的に仮想の抵抗
を発生させるには、測定電流Ｉを知り、所望の抵抗値Ｒ
に対応した端子電圧Ｖを発生させるようにすれば良く、
これにより端子間に仮想の等価抵抗Ｒeq（＝Ｖ／Ｉ）を
発生させることができる。このような等価抵抗Ｒeqを用
いて抵抗計を校正すれば、任意の点での校正が可能とな
り、固体抵抗器を用いて行う場合より極めて高精度でそ
の校正を行うことができる特徴がある。
【発明が解決しようとする課題】本発明は、種々の種類
の抵抗計の校正を、等価抵抗により極めて高精度で行う
ことができる抵抗計校正装置を実現することを課題とし
たものである。以下図面を用いて本発明を説明する。
の抵抗計の校正を、等価抵抗により極めて高精度で行う
ことができる抵抗計校正装置を実現することを課題とし
たものである。以下図面を用いて本発明を説明する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の課題を達成する為
の本発明は、設定値に対応したパルス幅と入力電圧とを
乗算する時分割乗算形ポテンショメータよりなるＤ／Ａ
変換器、演算増幅器とこの演算増幅器の帰還回路に切換
接点を介して夫々接続された複数個の帰還抵抗よりなり
前記Ｄ／Ａ変換器の出力が与えられる出力回路、この出
力回路の出力を取り出す出力端子、演算増幅器とこの演
算増幅器の帰還回路に切換接点を介して夫々接続された
複数個の帰還抵抗よりなり前記出力端子に接続される被
校正の抵抗計の内部電流源から前記出力端子に流入する
電流を電圧に変換しその出力電圧を前記Ｄ／Ａ変換器に
入力として与える電流・電圧変換回路、この電流・電圧
変換回路の出力電圧を絶対値回路を介した後一対の基準
電圧と比較するコンパレータ、及びこのコンパレータの
出力が取り込まれるマイクロプロセッサよりなり、この
マイクロプロセッサの出力により前記出力回路及び電流
・電圧変換回路における切換接点を夫々切り換えて前記
Ｄ／Ａ変換器に入力される電圧が前記コンパレータにお
ける一対の基準電圧で規制される一定の範囲内に入るよ
うに制御したものである。
の本発明は、設定値に対応したパルス幅と入力電圧とを
乗算する時分割乗算形ポテンショメータよりなるＤ／Ａ
変換器、演算増幅器とこの演算増幅器の帰還回路に切換
接点を介して夫々接続された複数個の帰還抵抗よりなり
前記Ｄ／Ａ変換器の出力が与えられる出力回路、この出
力回路の出力を取り出す出力端子、演算増幅器とこの演
算増幅器の帰還回路に切換接点を介して夫々接続された
複数個の帰還抵抗よりなり前記出力端子に接続される被
校正の抵抗計の内部電流源から前記出力端子に流入する
電流を電圧に変換しその出力電圧を前記Ｄ／Ａ変換器に
入力として与える電流・電圧変換回路、この電流・電圧
変換回路の出力電圧を絶対値回路を介した後一対の基準
電圧と比較するコンパレータ、及びこのコンパレータの
出力が取り込まれるマイクロプロセッサよりなり、この
マイクロプロセッサの出力により前記出力回路及び電流
・電圧変換回路における切換接点を夫々切り換えて前記
Ｄ／Ａ変換器に入力される電圧が前記コンパレータにお
ける一対の基準電圧で規制される一定の範囲内に入るよ
うに制御したものである。
【０００５】
【発明の実施の形態】図１は本発明に係わる抵抗校正装
置の一実施例を示す回路構成図ある。図において、１０
はその内部の出力側にフイルタを備えた時分割乗算形の
ポテンショメータよりなる公知のディジタル・アナログ
変換器（Ｄ／Ａ変換器）である。このＤ／Ａ変換器は、
その設定値Ｄとして図２に示す如く周期ｔｏが一定で、
パルス幅ｔ１が可変，即ちデューティレシオが可変のパ
ルス幅信号が与えられると、そのパルス幅とパルスの波
高値に対応した入力電圧との積に応じた信号を発生し、
その信号は内部のフイルタにより平滑され、その平均値
が出力として取り出されるようになっている。なお、フ
イルタはＤ／Ａ変換器３０の外部に設けるようにしても
良い。
置の一実施例を示す回路構成図ある。図において、１０
はその内部の出力側にフイルタを備えた時分割乗算形の
ポテンショメータよりなる公知のディジタル・アナログ
変換器（Ｄ／Ａ変換器）である。このＤ／Ａ変換器は、
その設定値Ｄとして図２に示す如く周期ｔｏが一定で、
パルス幅ｔ１が可変，即ちデューティレシオが可変のパ
ルス幅信号が与えられると、そのパルス幅とパルスの波
高値に対応した入力電圧との積に応じた信号を発生し、
その信号は内部のフイルタにより平滑され、その平均値
が出力として取り出されるようになっている。なお、フ
イルタはＤ／Ａ変換器３０の外部に設けるようにしても
良い。
【０００６】２０は出力回路で、演算増幅器２１、入力
抵抗２２及び切換接点２３ａ，２３ｂと共に演算増幅器
２１の帰還回路に接続された抵抗２４ａ，２４ｂよりな
るものである。３０はバッファ・アンプ、４１，４２は
等価抵抗Ｒｅｑが発生する端子である。出力回路２０と
バッファ・アンプ３０は、Ｄ／Ａ変換器１０と端子４１
との間に直列に接続されている。５０は電流・電圧変換
回路で、演算増幅器５１及び切換接点５２ａ〜５２ｄと
共に演算増幅器５１の帰還回路に接続された抵抗５３ａ
〜５３ｄよりなるものである。６０は絶対値回路、７０
と８０は夫々コンパレータ、９０はマイクロプロセッサ
である。コンパレータ７０には基準電圧源ＶＨが接続さ
れ、コンパレータ８０にはＶＨより低い基準電圧源ＶＬ
が接続されている。電流・電圧変換回路５０の出力端は
前記Ｄ／Ａ変換器１０の入力端に接続されると共に、絶
対値回路６０を介してコンパレータ７０と８０に接続さ
れている。コンパレータ７０と８０は電流・電圧変換回
路５０が出力する電圧Ｖ１とＶＨ，ＶＬを夫々比較し、
その比較信号Ｖch,Ｖclをマイクロプロセッサ９０に送
出する。出力回路２０の切換接点２３ａ，２３ｂ及び電
流・電圧変換回路５０の切換接点５２ａ〜５２ｄは夫々
マイクロプロセッサ９０の出力によって切り換えられる
ようになっている。等価抵抗発生端子４１，４２には被
校正対象の抵抗計が接続される。
抵抗２２及び切換接点２３ａ，２３ｂと共に演算増幅器
２１の帰還回路に接続された抵抗２４ａ，２４ｂよりな
るものである。３０はバッファ・アンプ、４１，４２は
等価抵抗Ｒｅｑが発生する端子である。出力回路２０と
バッファ・アンプ３０は、Ｄ／Ａ変換器１０と端子４１
との間に直列に接続されている。５０は電流・電圧変換
回路で、演算増幅器５１及び切換接点５２ａ〜５２ｄと
共に演算増幅器５１の帰還回路に接続された抵抗５３ａ
〜５３ｄよりなるものである。６０は絶対値回路、７０
と８０は夫々コンパレータ、９０はマイクロプロセッサ
である。コンパレータ７０には基準電圧源ＶＨが接続さ
れ、コンパレータ８０にはＶＨより低い基準電圧源ＶＬ
が接続されている。電流・電圧変換回路５０の出力端は
前記Ｄ／Ａ変換器１０の入力端に接続されると共に、絶
対値回路６０を介してコンパレータ７０と８０に接続さ
れている。コンパレータ７０と８０は電流・電圧変換回
路５０が出力する電圧Ｖ１とＶＨ，ＶＬを夫々比較し、
その比較信号Ｖch,Ｖclをマイクロプロセッサ９０に送
出する。出力回路２０の切換接点２３ａ，２３ｂ及び電
流・電圧変換回路５０の切換接点５２ａ〜５２ｄは夫々
マイクロプロセッサ９０の出力によって切り換えられる
ようになっている。等価抵抗発生端子４１，４２には被
校正対象の抵抗計が接続される。
【０００７】なお、マイクロプロセッサ９０により、出
力回路２０の切換接点２３ａと電流・電圧変換回路５０
の切換接点５２ａ，５２ｃとが連動して切り換えられ、
又出力回路２０の切換接点２３ｂと電流・電圧変換回路
５０の切換接点５２ｂ，５２ｄとが連動して切り換えら
れるようになっている。即ち、出力回路２０と電流・電
圧変換回路５０の各切換接点を切り換えることによりレ
ンジが切り換えられるが、その切り換えは出力回路２０
を２段階で切り換え、夫々のレンジの中で更に電流・電
圧変換回路５０において２段階に切り換えるようになっ
ている。このような本発明に係わる装置の動作を以下に
説明する。なお、出力端子４１，４２間に発生する電圧
をＶとする。
力回路２０の切換接点２３ａと電流・電圧変換回路５０
の切換接点５２ａ，５２ｃとが連動して切り換えられ、
又出力回路２０の切換接点２３ｂと電流・電圧変換回路
５０の切換接点５２ｂ，５２ｄとが連動して切り換えら
れるようになっている。即ち、出力回路２０と電流・電
圧変換回路５０の各切換接点を切り換えることによりレ
ンジが切り換えられるが、その切り換えは出力回路２０
を２段階で切り換え、夫々のレンジの中で更に電流・電
圧変換回路５０において２段階に切り換えるようになっ
ている。このような本発明に係わる装置の動作を以下に
説明する。なお、出力端子４１，４２間に発生する電圧
をＶとする。
【０００８】前記したように、被校正対象の抵抗計はそ
の内部に測定用の電流源を備えている。ＩＳはその電流
源を示すものである。被校正対象の抵抗計を出力端子４
１，４２に接続することにより、その内部電流源ＩＳよ
り得られる電流Ｉｍは出力端子４２より本装置内に流入
し、その流入した電流は電流・電圧変換回路５０に供給
される。前記した出力回路２０の切換接点２３ａと２３
ｂの内の１つの接点は予めオンになっており、又電流・
電圧変換回路５０では帰還回路に接続された切換接点５
２ａ〜５２ｄの内の何れか１つの接点がオンになってい
る。出力端子４２より流入した電流Ｉｍは、電流・電圧
変換回路５０におけるオンの切換接点に接続された帰還
抵抗を介して電圧Ｖ１に変換される。変換された電圧Ｖ
１はＤーＡ変換器１０に入力として与えられると共に、
絶対値回路６０を介してその絶対値が取られた後、コン
パレータ７０と８０に供給される。コンパレータ７０で
は電圧|Ｖ1|をＶＨと、又コンパレータ８０では電圧|Ｖ
1|をＶＬと夫々比較し、|Ｖ1|＞ＶＨの場合にはコンパ
レータ７０はＶch信号を、|Ｖ1|＜ＶＬの場合にはコン
パレータ８０はＶcl信号を夫々マイクロプロセッサ９０
に出力する。マイクロプロセッサ９０は入力されたＶch
信号及びＶcl信号を基にして電圧Ｖ１がＶＨより低く，
ＶＬより高くなるように、即ちＶ１がＶＨ〜ＶＬの中に
入るように電流・電圧変換回路７０の切換接点５２ａ〜
５２ｄを切り換えると共に、これと連動して出力回路２
０の切換接点２３ａ，２３ｂを夫々切り換える。これに
より、レンジの切り換えが行われる。
の内部に測定用の電流源を備えている。ＩＳはその電流
源を示すものである。被校正対象の抵抗計を出力端子４
１，４２に接続することにより、その内部電流源ＩＳよ
り得られる電流Ｉｍは出力端子４２より本装置内に流入
し、その流入した電流は電流・電圧変換回路５０に供給
される。前記した出力回路２０の切換接点２３ａと２３
ｂの内の１つの接点は予めオンになっており、又電流・
電圧変換回路５０では帰還回路に接続された切換接点５
２ａ〜５２ｄの内の何れか１つの接点がオンになってい
る。出力端子４２より流入した電流Ｉｍは、電流・電圧
変換回路５０におけるオンの切換接点に接続された帰還
抵抗を介して電圧Ｖ１に変換される。変換された電圧Ｖ
１はＤーＡ変換器１０に入力として与えられると共に、
絶対値回路６０を介してその絶対値が取られた後、コン
パレータ７０と８０に供給される。コンパレータ７０で
は電圧|Ｖ1|をＶＨと、又コンパレータ８０では電圧|Ｖ
1|をＶＬと夫々比較し、|Ｖ1|＞ＶＨの場合にはコンパ
レータ７０はＶch信号を、|Ｖ1|＜ＶＬの場合にはコン
パレータ８０はＶcl信号を夫々マイクロプロセッサ９０
に出力する。マイクロプロセッサ９０は入力されたＶch
信号及びＶcl信号を基にして電圧Ｖ１がＶＨより低く，
ＶＬより高くなるように、即ちＶ１がＶＨ〜ＶＬの中に
入るように電流・電圧変換回路７０の切換接点５２ａ〜
５２ｄを切り換えると共に、これと連動して出力回路２
０の切換接点２３ａ，２３ｂを夫々切り換える。これに
より、レンジの切り換えが行われる。
【０００９】電流・電圧変換回路７０の出力電圧Ｖ１は
前記のようにＤ／Ａ変換器３０に加えられる。Ｄ／Ａ変
換器３０においては、設定値Ｄとして図２に示す如くデ
ューティレシオ（ｔ１／ｔｏ）が可変のパルス幅信号が
与えられており、そのパルス幅信号と入力された電圧Ｖ
１とが乗算される。その乗算結果は内部のフイルタによ
って平均化され、下式（１）で示す出力Ｖ２がこのＤ／
Ａ変換器３０より取り出される。 Ｖ２＝（ｔ１／ｔｏ）・Ｖ１ …（１） （１）式に示す電圧Ｖ２は出力回路２０及びバッファア
ンプ３０を介して出力電圧Ｖｏとして端子４１，４２よ
り取り出される。その出力電圧Ｖｏは下式（２）で表わ
される。 Ｖｏ＝Ｖ１・ｋ１・ｋ２ …（２） ここで、ｋ１＝Ｖ２／Ｖ１＝ｔ１／ｔｏ ｋ２＝出力回路２０とバッファアンプ３０の合計のゲイ
ン 出力端子４２の電位は等価的に零電位であるので、出力
端子４１，４２間の電圧ＶはＶ＝Ｖｏとなる。よって、
Ｖは Ｖ＝Ｖｏ＝Ｖ１・ｋ１・ｋ２ …（３） （３）式で表わさられる電圧Ｖは、Ｄ／Ａ変換器３０の
設定値Ｄでｋ１を変えることにより、その値を任意に変
えることができる。電流・電圧変換回路５０の帰還回路
に接続された抵抗５３ａ〜５３ｄの内の任意の１つの抵
抗をｒとするとＶ１はＩｍ・ｒであるので、（３）式の
Ｖは Ｖ＝Ｉｍ・ｒ・ｋ１・ｋ２ …（４） 出力端子４１，４２間より本装置側を見た抵抗をＲｅｑ
とすると、 Ｒｅｑ＝Ｖ／Ｉｍ ＝ｒ・ｋ１・ｋ２ …（５） となる。（５）式においてｋ１はＤ／Ａ変換器３０の設
定値Ｄに対応するものである。よって、設定値Ｄでｋ１
を変えることにより、所望の等価抵抗Ｒｅｑを出力端子
４１，４２間に発生させることが出来る。従って、出力
端子４１，４２に被校正の抵抗計を接続し、Ｄ−Ａ変換
器１０の設定値Ｄを変えることにより、その抵抗計を校
正することができる。このような仮想の等価抵抗Ｒｅｑ
による校正では、任意の点での校正が可能となり、固体
の標準抵抗器を用いて行う場合より極めて高精度でその
校正を行うことができる。
前記のようにＤ／Ａ変換器３０に加えられる。Ｄ／Ａ変
換器３０においては、設定値Ｄとして図２に示す如くデ
ューティレシオ（ｔ１／ｔｏ）が可変のパルス幅信号が
与えられており、そのパルス幅信号と入力された電圧Ｖ
１とが乗算される。その乗算結果は内部のフイルタによ
って平均化され、下式（１）で示す出力Ｖ２がこのＤ／
Ａ変換器３０より取り出される。 Ｖ２＝（ｔ１／ｔｏ）・Ｖ１ …（１） （１）式に示す電圧Ｖ２は出力回路２０及びバッファア
ンプ３０を介して出力電圧Ｖｏとして端子４１，４２よ
り取り出される。その出力電圧Ｖｏは下式（２）で表わ
される。 Ｖｏ＝Ｖ１・ｋ１・ｋ２ …（２） ここで、ｋ１＝Ｖ２／Ｖ１＝ｔ１／ｔｏ ｋ２＝出力回路２０とバッファアンプ３０の合計のゲイ
ン 出力端子４２の電位は等価的に零電位であるので、出力
端子４１，４２間の電圧ＶはＶ＝Ｖｏとなる。よって、
Ｖは Ｖ＝Ｖｏ＝Ｖ１・ｋ１・ｋ２ …（３） （３）式で表わさられる電圧Ｖは、Ｄ／Ａ変換器３０の
設定値Ｄでｋ１を変えることにより、その値を任意に変
えることができる。電流・電圧変換回路５０の帰還回路
に接続された抵抗５３ａ〜５３ｄの内の任意の１つの抵
抗をｒとするとＶ１はＩｍ・ｒであるので、（３）式の
Ｖは Ｖ＝Ｉｍ・ｒ・ｋ１・ｋ２ …（４） 出力端子４１，４２間より本装置側を見た抵抗をＲｅｑ
とすると、 Ｒｅｑ＝Ｖ／Ｉｍ ＝ｒ・ｋ１・ｋ２ …（５） となる。（５）式においてｋ１はＤ／Ａ変換器３０の設
定値Ｄに対応するものである。よって、設定値Ｄでｋ１
を変えることにより、所望の等価抵抗Ｒｅｑを出力端子
４１，４２間に発生させることが出来る。従って、出力
端子４１，４２に被校正の抵抗計を接続し、Ｄ−Ａ変換
器１０の設定値Ｄを変えることにより、その抵抗計を校
正することができる。このような仮想の等価抵抗Ｒｅｑ
による校正では、任意の点での校正が可能となり、固体
の標準抵抗器を用いて行う場合より極めて高精度でその
校正を行うことができる。
【００１０】一般に、被校正対象の抵抗計における測定
電流Ｉｍは、抵抗測定レンジが１桁変ればその電流値も
１桁変る。又、同じ抵抗値でも被校正対象の抵抗計によ
って測定電流Ｉｍの大きさに差がある。レンジに応じて
電流・電圧変換回路の帰還回路に接続された基準抵抗値
ｒを切り換えて設定するが、それでも１つのレンジに１
種類のｒ値を固定すると、乗算形ポテンショメータ（Ｄ
−Ａ変換器）に入力される電圧の大きさが大幅に変化
し、その分精度が損なわれる。本発明では一対のコンパ
レータを用い、測定電流Ｉｍに応じて得られる電圧Ｖ１
が一定の範囲に入るように出力回路２０及び電流・電圧
変換回路５０における複数個の帰還抵抗を切り換えるよ
うに構成したので、被校正対象の抵抗計の種類が異なり
測定電流Ｉｍの大きさが異なっても、その大きさに影響
されずに精度の向上が計られた校正装置を得ることがで
きる。
電流Ｉｍは、抵抗測定レンジが１桁変ればその電流値も
１桁変る。又、同じ抵抗値でも被校正対象の抵抗計によ
って測定電流Ｉｍの大きさに差がある。レンジに応じて
電流・電圧変換回路の帰還回路に接続された基準抵抗値
ｒを切り換えて設定するが、それでも１つのレンジに１
種類のｒ値を固定すると、乗算形ポテンショメータ（Ｄ
−Ａ変換器）に入力される電圧の大きさが大幅に変化
し、その分精度が損なわれる。本発明では一対のコンパ
レータを用い、測定電流Ｉｍに応じて得られる電圧Ｖ１
が一定の範囲に入るように出力回路２０及び電流・電圧
変換回路５０における複数個の帰還抵抗を切り換えるよ
うに構成したので、被校正対象の抵抗計の種類が異なり
測定電流Ｉｍの大きさが異なっても、その大きさに影響
されずに精度の向上が計られた校正装置を得ることがで
きる。
【００１１】なお、実施例においては所望の等価抵抗Ｒ
eqを得る為に、このＲeqに対応してＤ−Ａ変換器１０の
設定値Ｄによりｋ１を設定したとき、コンパレータ７
０，８０の動作により電流・電圧変換器５０における帰
還抵抗ｒが切り換わるが、その場合等価抵抗Ｒeqを所望
値に一定とする為、連動して出力回路２０の帰還抵抗２
４ａ，２４ｂの切り換えによりｋ２が切り換えられるよ
うになっている。
eqを得る為に、このＲeqに対応してＤ−Ａ変換器１０の
設定値Ｄによりｋ１を設定したとき、コンパレータ７
０，８０の動作により電流・電圧変換器５０における帰
還抵抗ｒが切り換わるが、その場合等価抵抗Ｒeqを所望
値に一定とする為、連動して出力回路２０の帰還抵抗２
４ａ，２４ｂの切り換えによりｋ２が切り換えられるよ
うになっている。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
乗算形ポテンショメータよりなるＤ−Ａ変換器を用い、
このＤ−Ａ変換器への入力電圧を一定の範囲に入るよう
に構成したので、電子的に発生した等価抵抗により種々
の抵抗計の校正を極めて高精度で行うことが可能な校正
装置を簡単な構成により実現することができる。
乗算形ポテンショメータよりなるＤ−Ａ変換器を用い、
このＤ−Ａ変換器への入力電圧を一定の範囲に入るよう
に構成したので、電子的に発生した等価抵抗により種々
の抵抗計の校正を極めて高精度で行うことが可能な校正
装置を簡単な構成により実現することができる。
【図１】本発明装置の一実施例を示した回路構成図であ
る。
る。
【図２】図１の装置の動作を説明する為の図である。
１０ Ｄ／Ａ変換器 ２０ 出力回路 ３０ バッファアンプ ４１，４２ 出力端子 ５０ 電流・電圧変換回路 ６０ 絶対値回路 ７０，８０ コンパレータ ９０ マイクロプロセッサ
Claims (1)
- 【請求項１】設定値に対応したパルス幅と入力電圧とを
乗算する時分割乗算形ポテンショメータよりなるＤ／Ａ
変換器、演算増幅器とこの演算増幅器の帰還回路に切換
接点を介して夫々接続された複数個の帰還抵抗よりなり
前記Ｄ／Ａ変換器の出力が与えられる出力回路、この出
力回路の出力を取り出す出力端子、演算増幅器とこの演
算増幅器の帰還回路に切換接点を介して夫々接続された
複数個の帰還抵抗よりなり前記出力端子に接続される被
校正の抵抗計の内部電流源から前記出力端子に流入する
電流を電圧に変換しその出力電圧を前記Ｄ／Ａ変換器に
入力として与える電流・電圧変換回路、この電流・電圧
変換回路の出力電圧を絶対値回路を介した後一対の基準
電圧と比較するコンパレータ、及びこのコンパレータの
出力が取り込まれるマイクロプロセッサよりなり、この
マイクロプロセッサの出力により前記出力回路及び電流
・電圧変換回路における切換接点を夫々切り換えて前記
Ｄ／Ａ変換器に入力される電圧が前記コンパレータにお
ける一対の基準電圧で規制される一定の範囲内に入るよ
うに制御してなる抵抗計校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31525195A JP3189866B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 抵抗計校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31525195A JP3189866B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 抵抗計校正装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09159704A true JPH09159704A (ja) | 1997-06-20 |
| JP3189866B2 JP3189866B2 (ja) | 2001-07-16 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31525195A Expired - Fee Related JP3189866B2 (ja) | 1995-12-04 | 1995-12-04 | 抵抗計校正装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3189866B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103048542A (zh) * | 2011-10-14 | 2013-04-17 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 电流校准电阻的测定装置及系统 |
| JP2019060767A (ja) * | 2017-09-27 | 2019-04-18 | 日本電産リード株式会社 | 抵抗測定装置の校正方法、抵抗測定装置、基板検査装置、及び基準抵抗器 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109683021A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-04-26 | 合肥市芯海电子科技有限公司 | 电子烟雾化器阻抗检测方法 |
-
1995
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|---|---|
| JP3189866B2 (ja) | 2001-07-16 |
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