CN103048542A - 电流校准电阻的测定装置及系统 - Google Patents
电流校准电阻的测定装置及系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103048542A CN103048542A CN201110311434XA CN201110311434A CN103048542A CN 103048542 A CN103048542 A CN 103048542A CN 201110311434X A CN201110311434X A CN 201110311434XA CN 201110311434 A CN201110311434 A CN 201110311434A CN 103048542 A CN103048542 A CN 103048542A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- resistance
- current
- controller
- control chip
- digital
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/14—Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M1/00—Details of apparatus for conversion
- H02M1/0003—Details of control, feedback or regulation circuits
- H02M1/0009—Devices or circuits for detecting current in a converter
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明提供一种电流校准电阻的测定装置,用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值,所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器,控制该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流,该控制器用于比对所述负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值,数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流,以使所述内部电流与负载电流保持一致。本发明还提供一种电流校准电阻的测定系统,该电流校准电阻的测定装置无需多次更换电流校准电阻,测试方便。
Description
技术领域
本发明涉及一种电阻测定装置,尤其涉及一种电流校准电阻的测定装置及系统。
背景技术
在利用数字电源控制芯片为中央处理器(Central Processing Unit,CPU)提供工作电压时,常需要校准数字电源控制芯片的内部电流。现有的方法是通过安装于电脑内的第一测试软件获取数字电源控制芯片的负载电流,并以该负载电流为基准;再通过安装于电脑内的第二测试软件获取数字电源控制芯片的内部电流,并通过人工的方法为数字电源控制芯片不断更换不同阻值的校准电阻进行调试,以使内部电流与负载电流保持一致。然而,该方法需要在测试过程中不断的更换校准电阻方可确定其精确的电阻值,需要花费较多的测试时间及成本。
发明内容
鉴于以上情况,有必要提供一种测试便捷的电流校准电阻的测定装置。
另,还有必要提供一种电流校准电阻的测定系统。
一种电流校准电阻的测定装置,用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值,所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器,控制该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流,该控制器用于比对所述负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值,数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流,以使所述内部电流与负载电流保持一致。
一种电流校准电阻的测定系统,用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值,所述电流校准电阻的测定系统包括控制器、同时与该控制器电性连接的测试机及数字电位器,该测试机用于测得数字电源控制芯片的负载电流与内部电流,该控制器与测试机通信以获取所述负载电流与内部电流,该控制器用于比对所述负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值,数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流,以使所述内部电流与负载电流保持一致。
本发明的电流校准电阻的测定装置利用控制器获取数字电源控制芯片的负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值调整数字电位器的电阻值,以校准数字电源控制芯片的内部电流。操作者可依据数字电位器的实时电阻值一次性地选择对应阻值的电流校准电阻,在测试过程中无需多次更换不同阻值的电流校准电阻,操作简便。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的电流校准电阻的测定系统的功能模块图。
主要元件符号说明
电流校准电阻的测定系统 | 100 |
测试机 | 10 |
电流校准电阻的测定装置 | 30 |
控制器 | U |
初始化引脚 | RB4、RB5、RB6、RB7 |
数据引脚 | RC4 |
时钟引脚 | RC5 |
数字电位器 | D |
地址端子 | A0、A1、A2、A3 |
数据端子 | SDA |
时钟端子 | SCL |
电阻测定端子 | RH1、RH2 |
信号接口 | I |
显示屏 | L |
数字电源控制芯片 | 200 |
电容 | C |
第一电阻 | R1 |
第二电阻 | R2 |
第三电阻 | R3 |
温度补偿电阻 | Rh |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明的较佳实施方式提供一种电流校准电阻的测定系统100,其包括一测试机10及一电流校准电阻的测定装置30。该电流校准电阻的测定系统100用于测定一数字电源控制芯片200的电流校准电阻的理想电阻值。
在本实施例中,该数字电源控制芯片200为脉冲宽度调制(Pulse Width Modulation,PWM)控制器,其用以为一中央处理器(图未示)提供工作电压。该数字电源控制芯片200与一外围电路电性连接,该外围电路包括电容C、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3及温度补偿电阻Rh。该电容C、第三电阻R3及温度补偿电阻Rh并联,第一电阻R1与第二电阻R2并联,并均电性连接于电容C与第三电阻R3之间。其中,该第一电阻R1作为数字电源控制芯片200的电流校准电阻,通过不断调整第一电阻R1的电阻值可校准该数字电源控制芯片200的内部电流。
在本实施例中,该测试机10为电脑,其内部装设有第一测试软件及第二测试软件。该测试机10通过I2C总线与数字电源控制芯片200电性连接,以通过第一测试软件测得该数字电源控制芯片200的负载电流(即中央处理器的供电电源电流),通过第二测试软件测得数字电源控制芯片200的内部电流。该负载电流和内部电流均可通过测试机10显示。
该电流校准电阻的测定装置30包括控制器U、信号接口I、数字电位器D及显示屏L。该信号接口I、数字电位器D及显示屏L均与控制器U电性连接。
该控制器U为单片机,其通过信号接口I与测试机10电性连接,以获取数字电源控制芯片200负载电流及内部电流。该信号接口I可为MAX232接口或USB接口。该控制器U用于以第一测试软件测得的数字电源控制芯片200的负载电流为基准,将其与第二测试软件测得的数字电源控制芯片200的内部电流作比对,并依据二者的电流差值,计算出一对应的电阻值调整数据,以控制数字电位器D,直至上述内部电流与负载电流相同。
该控制器U包括初始化引脚RB4、RB5、RB6及RB7、数据引脚RC4及时钟引脚RC5。该初始化引脚RB4、RB5、RB6及RB7与数字电位器D电性连接,用以初始化该数字电位器D,以便与其建立通信。该数据引脚RC4与数字电位器D电性连接,用以向数字电位器D传送所述电阻值调整数据,以便改变该数字电位器D的电阻值。该时钟引脚RC5与数字电位器D电性连接,以向数字电位器D传送同步时钟信号。
该数字电位器D包括地址端子A0、A1、A2和A3、数据端子SDA、时钟端子SCL及电阻测定端子RH1、RH2。该地址端子A0、A1、A2和A3分别与控制器U的初始化引脚RB7、RB6、RB5及RB4电性连接,以便数字电位器D完成初始化。该数据端子SDA与控制器U的数据引脚RC4电性连接,以接收电阻值调整数据,并藉此控制数字电位器D改变电阻值,同时该数据端子SDA还用于向控制器U传送数字电位器D的实时电阻值。该时钟端子SCL与控制器U的时钟引脚RC5电性连接。该电阻测定端子RH1、RH2分别电性连接于第一电阻R1两端,以便在第一电阻R1不安装时,使该数字电位器D代替第一电阻R1的功能。
该显示屏L与控制器U电性连接,以便在控制器U接收到数字电位器D的实时电阻值后,通过该显示屏L显示该实时电阻值。
当需要测定第一电阻R1的理想电阻值时,首先将数字电位器D的电阻测定端子RH1、RH2分别电性连接于第一电阻R1两端,再取下第一电阻R1。其后,控制器U读取第一测试软件测得的数字电源控制芯片200的负载电流及第二测试软件测得的数字电源控制芯片200的内部电流,并依据二者的电流差值产生一电阻值调整数据。该电阻值调整数据通过数据引脚RC4传送至数字电位器D,以控制数字电位器D改变自身电阻值。由于数字电位器D的电阻值的改变使得数字电源控制芯片200的内部电流发生变化,当该数字电源控制芯片200的内部电流与负载电流一致时,数字电位器D的实时电阻值可认定为数字电源控制芯片200的电流校准电阻的理想电阻值。最后,显示屏L显示此时数字电位器D的实时电阻值,如此,操作者可据此安装阻值对应的第一电阻R1,以校准数字电源控制芯片200的内部电流。
可以理解,本发明的显示屏L也可省略,对应的增加一个扬声器,该扬声器与控制器U电性连接,并通过音频的方式播报该数字电位器D的实时电阻值。
本发明的电流校准电阻的测定装置30通过控制器U比对数字电源控制芯片20的负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值调整数字电位器D的电阻值,进而校准数字电源控制芯片200的内部电流直至与负载电流一致。该电流校准电阻的测定装置100在测定第一电阻R1(数字电源控制芯片200的电流校准电阻)的理想电阻值时,无需多次更换不同阻值的第一电阻R1,测试简便,且安装上第一电阻R1后,数字电源控制芯片200的内部电流更为精确。
Claims (10)
1.一种电流校准电阻的测定装置,用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值,其特征在于:所述电流校准电阻的测定装置包括控制器及与该控制器电性连接的数字电位器,该控制器用于获取数字电源控制芯片的负载电流与内部电流,该控制器用于比对所述负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值,数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流,以使所述内部电流与负载电流保持一致。
2.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:当数字电源控制芯片的内部电流与负载电流一致时,数字电位器的实时电阻值即为数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值。
3.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:所述控制器包括初始化引脚,所述数字电位器包括地址端子,所述初始化引脚与地址端子电性连接,以初始化所述数字电位器。
4.如权利要求1所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:所述控制器依据数字电源控制芯片的负载电流与内部电流之间的电流差值,向数字电位器传送一电阻值调整数据,以改变该数字电位器的电阻值。
5.如权利要求4所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:所述控制器包括数据引脚,所述数字电位器包括数据端子,所述数据引脚与数据端子电性连接,以传送所述电阻值调整数据。
6.如权利要求5所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:所述数字电位器通过数据端子向控制器传送该数字电位器的实时电阻值。
7.如权利要求6所述的电流校准电阻的测定装置,其特征在于:所述电流校准电阻的测定装置还包括显示屏,所述显示屏与控制器电性连接,以显示数字电位器的实时电阻值。
8.一种电流校准电阻的测定系统,用于测定数字电源控制芯片的电流校准电阻的电阻值,其特征在于:所述电流校准电阻的测定系统包括控制器、同时与该控制器电性连接的测试机及数字电位器,该测试机用于测得数字电源控制芯片的负载电流与内部电流,该控制器与测试机通信以获取所述负载电流与内部电流,该控制器用于比对所述负载电流及内部电流,并依据二者的电流差值改变数字电位器的电阻值,数字电位器用于调节数字电源控制芯片的内部电流,以使所述内部电流与负载电流保持一致。
9.如权利要求8所述的电流校准电阻的测定系统,其特征在于:所述电流校准电阻的测定系统还包括信号接口,所述控制器通过信号接口连接于测试机。
10.如权利要求9所述的电流校准电阻的测定系统,其特征在于:所述测试机为电脑,所述信号接口为MAX232接口或USB接口。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201110311434XA CN103048542A (zh) | 2011-10-14 | 2011-10-14 | 电流校准电阻的测定装置及系统 |
TW100137630A TWI468701B (zh) | 2011-10-14 | 2011-10-18 | 電流校準電阻的測定裝置及系統 |
US13/594,853 US20130096859A1 (en) | 2011-10-14 | 2012-08-26 | Resistance determining system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201110311434XA CN103048542A (zh) | 2011-10-14 | 2011-10-14 | 电流校准电阻的测定装置及系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103048542A true CN103048542A (zh) | 2013-04-17 |
Family
ID=48061253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201110311434XA Pending CN103048542A (zh) | 2011-10-14 | 2011-10-14 | 电流校准电阻的测定装置及系统 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130096859A1 (zh) |
CN (1) | CN103048542A (zh) |
TW (1) | TWI468701B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109164404A (zh) * | 2018-08-10 | 2019-01-08 | 烽火通信科技股份有限公司 | 对电路板中采样电路自动校准的系统及方法 |
CN113804962A (zh) * | 2021-08-10 | 2021-12-17 | 上海贝岭股份有限公司 | 计量芯片以及测量系统 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102623677B1 (ko) * | 2018-12-11 | 2024-01-11 | 삼성전자주식회사 | 피엠아이씨(pmic) 모델링 시스템 및 이의 구동 방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN88100509A (zh) * | 1987-01-29 | 1988-08-10 | 约翰弗兰克制造公司 | 从内部校准电测校准器的装置和方法 |
JPH09159704A (ja) * | 1995-12-04 | 1997-06-20 | Yokogawa Electric Corp | 抵抗計校正装置 |
CN101236439A (zh) * | 2006-12-22 | 2008-08-06 | 凯尔西-海耶斯公司 | 自校准电流反馈的设备和方法 |
US20090234612A1 (en) * | 2002-11-29 | 2009-09-17 | Panasonic Corporation | Parameter correction circuit and parameter correction method |
CN101626229A (zh) * | 2008-07-10 | 2010-01-13 | 英飞凌科技股份有限公司 | 具有校准电路部分的电路 |
CN102164010A (zh) * | 2010-02-03 | 2011-08-24 | 特里奎恩特半导体公司 | 自动校准电路 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5297056A (en) * | 1990-03-30 | 1994-03-22 | Dallas Semiconductor Corp. | Directly-writable digital potentiometer |
US7266136B2 (en) * | 2004-03-25 | 2007-09-04 | Finisar Corporation | Temperature compensation for fiber optic transceivers using optimized convergence algorithms |
US7224154B2 (en) * | 2004-04-16 | 2007-05-29 | Dell Products L.P. | System and method for adjusting the current limit of a power supply |
US7042380B2 (en) * | 2004-06-02 | 2006-05-09 | Catalyst Semiconductor, Inc. | Digital potentiometer with resistor binary weighting decoding |
US20080061634A1 (en) * | 2006-09-07 | 2008-03-13 | Ricoh Company, Limited | Power-supply control device, interlock device, and electric apparatus |
US7672107B2 (en) * | 2006-10-13 | 2010-03-02 | Advanced Analogic Technologies, Inc. | Current limit control with current limit detector |
US7876083B2 (en) * | 2007-04-06 | 2011-01-25 | Semiconductor Components Industries, L.L.C. | Digital compensation tuning for switching power supply control |
US7558039B2 (en) * | 2007-04-19 | 2009-07-07 | International Business Machines Corporation | Method, apparatus, and computer program product for detecting excess current flow in a pluggable component |
DE102007035339A1 (de) * | 2007-07-27 | 2009-02-05 | Sitronic Ges. für elektrotechnische Ausrüstung GmbH & Co. KG | Schaltungsanordnung zur Regelung eines Stroms durch eine Last |
JP4960179B2 (ja) * | 2007-08-28 | 2012-06-27 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | データ処理装置、電源電圧生成回路及びその電源電圧生成方法 |
JP5133657B2 (ja) * | 2007-11-15 | 2013-01-30 | 三菱電機株式会社 | 高電圧電源装置 |
JP2009140957A (ja) * | 2007-12-03 | 2009-06-25 | Oki Semiconductor Co Ltd | レギュレータ回路、集積回路、及び集積回路のテスト方法 |
DE102007058314B4 (de) * | 2007-12-04 | 2018-11-15 | Diehl Aerospace Gmbh | Vorrichtung zum Messen eines Laststroms |
JP5097664B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2012-12-12 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 定電圧電源回路 |
TWM366243U (en) * | 2009-06-01 | 2009-10-01 | Bcd Semiconductor Mfg Ltd | Switch-mode power source system and its control device of switch-mode power controller |
US20110031984A1 (en) * | 2009-07-14 | 2011-02-10 | Advantest Corporation | Test apparatus |
GB2488484B (en) * | 2009-12-21 | 2014-11-19 | Siemens Industry Inc | An algorithmic approach to PWM SMPS current sensing and system validation |
CN201886299U (zh) * | 2010-08-10 | 2011-06-29 | 广州中浩控制技术有限公司 | 一种电子电抗器电流微分电路 |
US8611106B2 (en) * | 2011-01-12 | 2013-12-17 | On-Bright Electronics (Shanghai) Co., Ltd. | Systems and methods for adjusting current consumption of control chips to reduce standby power consumption of power converters |
-
2011
- 2011-10-14 CN CN201110311434XA patent/CN103048542A/zh active Pending
- 2011-10-18 TW TW100137630A patent/TWI468701B/zh not_active IP Right Cessation
-
2012
- 2012-08-26 US US13/594,853 patent/US20130096859A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN88100509A (zh) * | 1987-01-29 | 1988-08-10 | 约翰弗兰克制造公司 | 从内部校准电测校准器的装置和方法 |
JPH09159704A (ja) * | 1995-12-04 | 1997-06-20 | Yokogawa Electric Corp | 抵抗計校正装置 |
US20090234612A1 (en) * | 2002-11-29 | 2009-09-17 | Panasonic Corporation | Parameter correction circuit and parameter correction method |
CN101236439A (zh) * | 2006-12-22 | 2008-08-06 | 凯尔西-海耶斯公司 | 自校准电流反馈的设备和方法 |
CN101626229A (zh) * | 2008-07-10 | 2010-01-13 | 英飞凌科技股份有限公司 | 具有校准电路部分的电路 |
CN102164010A (zh) * | 2010-02-03 | 2011-08-24 | 特里奎恩特半导体公司 | 自动校准电路 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109164404A (zh) * | 2018-08-10 | 2019-01-08 | 烽火通信科技股份有限公司 | 对电路板中采样电路自动校准的系统及方法 |
CN109164404B (zh) * | 2018-08-10 | 2020-12-01 | 烽火通信科技股份有限公司 | 对电路板中采样电路自动校准的系统及方法 |
CN113804962A (zh) * | 2021-08-10 | 2021-12-17 | 上海贝岭股份有限公司 | 计量芯片以及测量系统 |
CN113804962B (zh) * | 2021-08-10 | 2024-04-02 | 上海贝岭股份有限公司 | 计量芯片以及测量系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130096859A1 (en) | 2013-04-18 |
TWI468701B (zh) | 2015-01-11 |
TW201316008A (zh) | 2013-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107607851B (zh) | 电压调整系统和方法 | |
CN101907689B (zh) | 测试电路的生成方法、装置和电源测试系统 | |
TWI472787B (zh) | 溫度補償電阻測定電路及方法 | |
US20170067848A1 (en) | Potentiostat/galvanostat with digital interface | |
CN104517554A (zh) | 基于FPGA的MIPI液晶模组Vcom调校装置及方法 | |
CN105070264A (zh) | 一种液晶显示面板的公共电压调整系统及方法 | |
CN103048542A (zh) | 电流校准电阻的测定装置及系统 | |
CN103376365A (zh) | 接地阻抗测试装置及具有其的探棒 | |
TW201316149A (zh) | 數位電源電流校準裝置 | |
CN104198091A (zh) | 一种智能型铂电阻温度测量校验仪及其校验方法 | |
CN104991214A (zh) | 数字集成电路直流参数标准复现方法及标准装置 | |
CN105606180B (zh) | 一种车用燃油表的采样电路及其故障诊断方法 | |
CN105092095A (zh) | 温度标定方法及装置 | |
CN204288758U (zh) | 基于FPGA的MIPI液晶模组Vcom调校装置 | |
CN202522693U (zh) | 一种电能表测量准确度的检测装置 | |
CN106468736B (zh) | 用于确定介质电导率的方法 | |
CN211717670U (zh) | 一种温度变送器的自动校验仪 | |
CN102636695A (zh) | 一种电阻温度系数测量的方法 | |
CN105429096A (zh) | 一种电表过流保护方法及过流保护电路 | |
CN103791954A (zh) | 电磁流量计的励磁电路及其励磁电流控制方法 | |
CN102608560A (zh) | 一种电能表测量准确度的检测装置 | |
CN111351983A (zh) | 功耗测量系统及其方法 | |
CN203719711U (zh) | 电磁流量计的励磁电路 | |
CN207487876U (zh) | 高压隔离开关触指压力测试仪 | |
JP6965013B2 (ja) | 測定データ処理装置および測定システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130417 |