JPS60253199A - Ｘ線写真装置 - Google Patents

Ｘ線写真装置

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JPS60253199A
JPS60253199A JP60053203A JP5320385A JPS60253199A JP S60253199 A JPS60253199 A JP S60253199A JP 60053203 A JP60053203 A JP 60053203A JP 5320385 A JP5320385 A JP 5320385A JP S60253199 A JPS60253199 A JP S60253199A
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slit
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radiation
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、Ｘ線源を含み、それによって照射される物体
が、スリット絞りを介して実質上平面ファン型Ｘ線ビー
ムによって走査され、被照射体を通過する走査Ｘ線ビー
ムがＸ＃探知器に当たるようなスリット放射線写真装置
に関する。
スリット絞りと協働する制御可能な減衰要素を含んだ装
置は、係属中のオランダ特許出願８４００８４５に表わ
されており、参考のためにここに加えられる。オランダ
特許出願８４００８４５では、減衰要素のために必要と
する制御信号を発生するいくつかの方法が述べられてい
る。オランダ特許出願８４００８４５に表わされている
ほとんどの場合、その目的のために、用いられるＸ線探
知装置の出口側に備えられた一連の光探知器が使用され
ている。すなわち各光探知器は、スリット絞りのセクシ
ョンに対応し、制御手段を介して、前記セクションと協
働する減衰要素あるいは前記セクションと協働する減良
要素群を制御する。
しかしながら、光の漏れないｘｍフィルムカセットがＸ
線探知器として用いられるとき、この技術は簡単な方法
で行なわれることができない。
したがって、本発明の目的は、光漏れのないＸ線フィル
ムカセットが用いられるときでも、減衰要素に必要な制
御信号が簡単でしかも確かな方法で得ることができるよ
うな、スリット絞りと協働する制御可能な減衰要素を含
んだスリット放射線写真装置を提供することである。
本発明によれば、上記の装置は、スリット絞りと協働す
る制御可能な減衰要素を含み、各要素は、放射線探知装
置によって発生される信号が制御されながら、走査Ｘ線
ビームの領域に作用するようにし、また、放射線探知装
置は被照射体とＸ線探知器との間に置かれ、また放射線
探知装置は、いかなるときでも物体を通過した走査ｘｌ
ｆＱビームに延びかつＸ線ビームの走査動作と同期して
動くような少なくとも１つの放射線探知器を含むという
特徴がある。放射線探知装置は、減衰要素によって作用
されることのできる走査Ｘ線ビームの領域に対応するよ
うなセクションに分割され、操作中においては、放射線
探知装置の各セクションは、減衰要素の制御のために使
用される信号を発生する。
本発明は、光漏れのないＸ線フィルムカセットや他の種
のＸ線探知器が用いられる場合でも使用されることがで
きる。
本発明による実施例は添付図面を参照して説明される。
第１図は、本発明の第１実施例を概略的に示し、Ｘ線焦
点２を有するＸ線源１を示している。Ｘ線源は、操作中
において、Ｘ線ビームＢを発生し、そのうち実質的に平
面なファン型部分Ｂ′は原則としてスリット絞り３のス
リットＳを通過することができる。さらにこの図面は、
被照射体４とその被照射体の後方に配置されるＸ線探知
器５を示し、前記ＸＳ探知器５は、図示しないケーシン
グ内に設けられている。このＸ線探知器５は従来のもの
でよいが、本件実施例では、裏側にＸ線螢光スクリーン
６とｘ＋１１！フィルム７とを収容する光漏れのないＸ
線フィルムカセット１こよって形成されている。成る種
のＸ線フィルムカセットではＸ線フィルムの後方に第２
Ｘ線螢光スクリーンが配置されている。このようなフィ
ルムカセットの代わりに、大型入ロスクリーンを有する
固定されたＸ線像増強管あるいはストリップ状の入口ス
クリーンを有するＸ＃ｊ像増強管を使用してもよい。後
者の場合、Ｘ線像増強管は操作中において走査動作を行
なう。
示されたこの状態においては、スリット絞りを通過した
Ｘ線ビームＢは、被照射体４のストリップ状の部分を照
射するのみで、ｌｏで示されるようにＸ線探知器の入口
スクリーンに像が写し出される。被照射体のより広い部
分の像を得るためには、Ｘ線ビームは紙面上での走査動
作を行なうようになっている。このことは本発明の要素
を形成しない異なった方法で行なうことができる。たと
え・はスリット絞りに矢符８で示されるような動作をさ
せることによってである。スリット絞りは、複数の制御
可能な減衰要素９と協働する。減衰要素は並置されてお
り、たとえばその端部のうちの１つに配置されて、適切
な制御信号の作用によって、減衰要素が、大幅あるいは
小さい程度で、スリットＳを通ったあるいは通るべきビ
ームＢに延びることができるようにされてもよい。この
ようにＸ線ビームは、オランダ特許出願８４００８４５
に述べられているように、瞬間的そして局部的に大幅あ
るいは小さい範囲で減衰される。スリット絞りのスリッ
トは、走査が垂直、水平あるいは中間方向に行な、われ
でいるとき、水平、垂直あるいは中間位置を占めてもよ
い。
減衰要素は、物体を通ったＸ線量に応じて制御されなけ
ればならない。本発明によれば、被照射体４とＸ線探知
器との間に設けられた放射線探知装置が使用され、前記
放射線探知装置は、物体を通り過ぎた放射線をいかなる
時でも探知できるようになっている。すなわち減衰要素
９あるいは減衰要素群に対応する、物体を通過したＸ線
ビームの、各領域について、個別的に探知できる。
本発明によれば、放射線探知装置は、物体とＸ線探知器
との間で、操作中では、Ｘ線ビームＢによって行なわれ
た走査動作に同期して走査を行なう。
この目的のために、放射線探知装置は、Ｘ線ビームが走
査動作を行なわせる手段にメカニカルあるいはエレクト
ロメカニカルに連結される。放射線探知装置はたとえば
Ｘ線探知器５の両に置かれてもよく、操作中には垂直の
走査動作を行なうこともできる。
第１図に示される実施例では、放射線探知装置は、スリ
ット絞りからＸ線探知器の方向に延びているアーム１１
に固着される。このアームは、矢符１２で示されるよう
に、紙面に垂直でＸ線焦点２を通って延びる実際のある
いは実質上の回転軸に関して回転するようになっている
。このアームは、いかなるときでもスリット絞りを通り
過ぎたＸ線ビームを超えている。アーム１１は、第１図
に示されるように、スリット絞りに適切に固定されて、
アーム動作とスリット絞りの動作（すなわちＸ線ビーム
の走査動作）との同期が確実に行なわれる。しかし、そ
のようなアームのスリット絞りへの一体的な結合は不可
欠のものではない。重要なことは、アームがＸ線ビーム
Ｂ′に同期して動作することのみである。
アームは、被照射体を超えて延び、その被照射体を越え
て延びる端部に従属アーム１３を備え、従属アームは、
アーム１１から見た末端部においてＸ線螢光スクリーン
１４を担持する。
ＸＭ螢Ｒスクリーン１４は、いかなる時でも、少なくと
もある程度物体を通ったＸ線ビームに延び、放射線探知
器を適切に形成する。従属アーム１３はまた並置された
一連のレンズ１５を担持する。し／ズ１５の数は減衰要
素（群）の数多こ対応している。レンズはいかなるとき
でも物体を通ったＸ線ビームを超えて位置するように従
属アーム１３に備えられている。各レンズは、Ｘ線螢光
スクリーンに当たるＸｌｓの作用によって、Ｘ線螢光ス
クリーンの任意の領域で発生された光を集める。
前記領域は、スリット絞りを通過したあるいは通過する
べきＸ線ビームＢの領域に再び対応し、減衰要素９ある
いは減衰要素群によって作用されつる。
各レンズは、アーム１１．１３部に同様に固定された対
応する信号送信器１６、たとえば光の輝度に対応する電
気信号を送信する光探知器もに集められた光を束ねる役
目を果す。前記電気信号は、ライン１７を介して概略的
に示された制御装置１８に送られる。制御装置１８は、
受信した信号から、関係する光探知器に対応する減衰要
素のために制御信号を形成する。
螢光スクリーン１４は、この実施例で示されるように、
走査Ｘ線ビームに角度を設けて備えられており、比較的
高い光出力が比較的薄いスクリーンに得られる。しかし
ながら、このことは不可欠なことではない。もちろん螢
光スクリーンは、走査Ｘ線ビームを最小限に照射するよ
うに設計されねばならない。
Ｘ線螢光スクリーン１４は、紙−面を横切る方向に延び
るスクリーンであってもよいが、Ｘ線ビームの種々の領
域の間により適切を間隔が望まれるのなら、スクリーン
は、並置されているが互いｔこ独立した複数のスクリー
ン部分によって構成されていてもよい。
第２図は、第１図で示される放射線探知装置の変形を概
略的に示し、アーム１１．１３あるいは同様に対応する
部分は省略された。スリット絞りを通る走査Ｘ＠ビーム
は第２図参照符２０で示されている。Ｘ線フィルムカセ
ット７あるいは他の偉Ｘ線探知器に当たる前に、Ｘ線ビ
ーム２０は、第２図には１つが示されているけれども、
並置された一連のシンチレーション結晶要素２１を通り
、たとえばゲルマニウムヨウ化結晶体が使われてもよく
、Ｘ放射線の作用で光を生み出す。各シンチレーション
結晶要素は、光探知器２２に光学的に連結され、結合さ
れたシンチレーション結晶要１に応答して、対応する減
衰要素あるいは対応する減衰要素群のための制御信号を
形成するために再び使用されることのできる電気信号を
生み出す。
シンチレーション結晶要素の効果的な光出力を増大させ
るためには、各シンチレーション結晶要素は、好ましく
は光探知器の結合側を除いたすべての側部で、内部的に
反射する層を備える。同時に層は、たとえばシンチレー
ション結晶要素が概して吸湿性の特性を有するために問
題となる湿気作用のような外部の影響に対して、シンチ
レーション結晶要素を保護する。
第３図は、本発明に従う放射線探知装置の第２の変形で
ある。走査Ｘ線ビームは再び参照符２０で示されている
。一連のシンチレーション結晶要素に代えて、一連の並
置された電離箱３０が用いられ、その１つが概略的に示
されている。各′４＃箱は２つの電極３１．３２を含む
。その電極間には差動電圧がかかる。電離箱がエネルギ
の豊富な放射線たとえばＸ線によって照射されるとき、
電極３１．３２に連結される電気回路に電流が流れる結
果となり、さらに、１つあるいはそれ以上の対応する減
衰要素のための制御信号が得られる。
もちろん、走査ビーム２０の方向に向かって少なくとも
前壁と後壁とは、Ｘ線を減衰することのないあるいはほ
とんどないような物質でなければならない。複数の個別
峨離箱に代えて、単一の長手電離箱を、電離箱の全長す
なわち紙面を横切る方向に延びる１つの共通の電極を有
し、また対応する減衰要素のための制御信号が得られる
ような複数の個別電極を有して用いてもよい。
長手電離箱は′ｓ４図に参照符４０で示されている。共
通電極は４１で示され、共通電極と反対の電極は４２ａ
〜４２ｅで示されている。共通成極は複数の個別電極の
相互連結と考えることができる。この連結は、長手電離
箱内と前記電離箱の外部とにおいてありうる。
第３図と第４図に示された放射線探知器の実施例を混合
したものが第５図の平面図で示されている。長手電離箱
５０は、たとえばマイラーのような合成可塑性物質の複
数の隔壁５１を含んでいる。
隔壁間の隔室はさらに電離箱を形成する。走査Ｘ線ビー
ム２０は、平面で表わされ、矢符５２によって示される
方向を有する。隔壁は、好ましくはＸ線焦点２に向けら
れている。
上記内容を読めば、種々の変更は当業者に簡単に行なわ
れることができるっその修正は、本発明の範囲を逸脱す
ることはない。
本発明は下記の態様で実施が可能である。
＋ｔｌ　Ｘ＃ｊ源を含み、Ｘ線源によって照射される物
体が、実質上平面ファン型Ｘ線ビームによってスリット
絞りを介して走査され、物体を通過した走査Ｘ線ビーム
がＸ線探知器に当たるようなスリット放射線写真装置に
おいて、装置は、スリット絞りと協働する制御可能な減
衰要素を含み、各要素は、放射線探知装置によって発生
される信号に制御されて、走査Ｘ＃ｌビームの領域に作
用するようにし、放射線探知装置は、被照射体と、Ｘ＠
探知器との間に配置され、放射線探知装置は、いかなる
ときでも物体を通過した走査Ｘ線ビームに延びかつＸ、
Ｗビームの走査動作と同期して動くような少なくとも１
つの放射線探知器を含み、放射線探知装置は、減衰要素
によって作用されることのできる走査Ｘ線ビームの領域
に対応Ｖるようなセクションに分割され、操作中におい
ては放射線探知装置の各セクションは、減衰要素の制御
のために使用される信号を発生することを特徴とするス
リット放射線写真装置。
（２）放射線探知器はＸ線螢光スクリーンを含ｂ、放射
線探知装置はさらに走査Ｘ線ビームを越えて並置された
複数のし／ズを含み、各レンズは、走査Ｘ線ビームの作
用によってＸ線螢光スクリーンの任意の領域に発生され
た光を集め、前記光を連結された光探知器に送り、光信
号を電気信号１こ変えるようにしたことを特徴とするス
リット放射線写真装置。
（３）Ｘ線螢光スクリーンは、互いに独立し並置された
複数のセクショ／に分割されることを特徴とするスリッ
ト放射線写真装置。
（４）Ｘ線螢光スクリーンは、走査ＸＳビームへ鋭角に
延びていることを特徴とするスリット放射線写真装置。
（５）放射線探知器は、並置された複数のシンチレー７
ヨ／結晶要素を含み、各々は、走査Ｘ線ビームを超えた
側で、電気信号を生み出す光探知器１こ光学的に連結さ
れることを特徴とするスリット放射線写真装置。
（６）各シンチレーション結晶要素は、その全外表面に
おいて、光探知器が連結される部分を除し）て内部に反
射する膜を備えていることを特徴とするスリット放射線
写真装置。
＼ （７）放射線探知器は並置された複数の電離箱を含み、
その各々は、２つの対立する電極を有し、操作中には電
流を導通して、それによって減衰要素のための制御信号
が得られることを特徴とするスリット放射線写真装置。
（８）電離箱は、間隔をあけて配置された複数の第１電
極と、共通の第２１！極とを有する単一の長手電離箱に
結合されることを特徴とするスリット放射線写真装置。
（９）　長手電離箱内１こおいて、隔壁が隣接する第１
電極のそれぞれの対の間に設けられていることを特徴と
するスリット放射線写真装置。
ＬＩＩＪ　隔壁は、それぞれＸ線源の焦点に向けられて
いることを特徴とするスリット放射線写真装置。　′ｕ
１）放射線探知装置は、スリット絞りからＸ線探知器の
方向に被照射体を超えて延びるアーム４こ固着され、前
記アームは、ＸＭ源の焦点を通って水平および垂直に延
びるそれぞれのラインに関して、垂直および水平の面内
にそれぞれ回転するようにし、前記アームは、Ｘ線探知
器に近接する端部で、放射線探知器を保持する従属アー
ムを備えていることを特徴とするスリット放射線写真装
置。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明に従う装置の第１実施例を概略的に示す
図、第２図は第１図の変形″を概略的に示す図、第３図
は第２図の他の変形図、第４図は第３図の変更図、１５
図は第４図の変更図である。 ｌ・・・Ｘ線源、２・・・Ｘ線焦点、３・・・スリット
絞り、４・・・被照射体、５・・・Ｘ線探知器、６，１
４・・・Ｘ線螢光スクリーン、７・・・Ｘ線フィルム、
８，１２゜５２・・・矢符、９・・・減衰要素、１１・
・・アーム、１３・・・従属アーム、１５・・・レンズ
、１６・・・信号送信器、１８・・・制御装置、Ｂ、Ｂ
、２０・・・Ｘ線ビーム、２１・・・シンチレーション
結晶要素、２２・・・光探知器、３１．３２・・・電極
、４０．５０・・・長手電離箱、４１．４２ａ〜４２ｅ
・・・電極、５１・・・隔壁、Ｓ・・・スリット 代理人　弁理士西教圭一部 第１図 手続補正書（方式） ％式％ ２、発明の名称 スリット放射線写真装置 ３、補正をする者 事件との関係　出願人 住　所　オランダ国２６１２イクスエーデル７ト・７ア
ンミーレベルトラーン９ 名　称　エヌ・ベー・オブティッシェ・インダストリエ
・“デ・オーダ・デル７ト” 代表者　シモン・ディンカー 国籍　オラング国 ４、代理人 住　所　大阪市西区西本町１丁目１３番３８号　新興産
ビル国装置ＥＸ　０５２５−５９８５　ＩＮＴＡＰＴ　
Ｊ国際ＦＡｘＧＩｌｌ＆Ｇ［Ｉ　（０６）５３８−０２
４７６、補正の対象 明細書 ７、補正の内容 明細書の浄書（内容に変更なし）。 以　上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 （１）Ｘ線源を含み、Ｘ線源によって照射される物体が
    、実質上平面ファン型ｘｍビー　ムによってスリット絞
    りを介して走査され、物体を通過した走査Ｘ線ビームが
    Ｘ線探知器に当たるようなスリット放射線写真装置にお
    いて、装置は、スリット絞りと協働する制御可能な減衰
    要素を含み、各要素は、放射線探知装置によって発生さ
    れる信号の制御によって、走査Ｘ線ビームの領域に作用
    するようにし、放射線探知装置は、被照射体と、Ｘ線探
    知器との間に配置され、放射線探知装置は、いかなると
    きでも物体を通過した走査Ｘ線ビームの中へ延びかつＸ
    線ビームの走査動作と同期して動くような、少なくとも
    １つの放射線探知器を含み、放射線探知装置は、減衰要
    素によって作用されることのできる走査Ｘ線ビームの領
    域に対応するようなセクションに分割され、操作中にお
    いては、放射線探知装置の各セクションは、減衰要素の
    制純のために使用される信号を発生することを特徴とす
    るスリット放射線写真装置。 （２）放射線探知器はＸ線螢光スクリーンを含み、放射
    線−釦装置はさらに走査Ｘ線ビームを越えて並置された
    複数のレンズを含み、各レンズは、走査Ｘ線ビームの作
    用によってＸ線螢光スクリーンの任意の領域に発生され
    た光を集め、前記光に関連する光探知器に送り、光信号
    を電気信号に変えるようにしたことを特徴とする特許請
    求の範囲第１項記載のスリット放射線写真装置。 （３）Ｘ線螢光スクリーンは、互いに独立し並置された
    複数のセクションに分割されることを特徴とする特許請
    求の範囲第２項記載のスリット放射線写真装置。 （４）Ｘ線螢光スクリーンは、走査Ｘａビームへ鋭角に
    延びていることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載
    のスリット放射線写真装置。 （５）放射線探知器は、並置された複数のシンチレーシ
    ョン結晶要素を含み、この要素の各々は、走査Ｘ線ビー
    ムを超えた側で、電気信号を生み出す光探知器に光学的
    に連結されることを特徴とする特許請求の範囲第１項記
    載のスリット放射線写真装置。 （６１各シンチレーション結晶要素は、その全外表面に
    おいて、光探知器が連結される部分を除いて内部に反射
    する膜を備えていることを特徴とする特許請求の範囲第
    ５項記載のスリット放射線写真装置。 （７）放射線探知器は並置された複数の電離箱を含み、
    その各々は、２つの対立する電極を有し、操作中には電
    流を導通して、それによって減衰要素のための制御信号
    が得られることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
    のスリット放射線写真装置。 （８）電離箱は、間隔をあけて配置された複数の第１電
    極と、共通の第２電極とを有する単一の長手電離箱に結
    合されることを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の
    スリット放射線写真装置。 （９１長手電離箱内において、隔壁が隣接する第１装置
    。 （１（Ｉ　隔壁は、それぞれＸ線源の焦点に向けられて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第９項記載のスリ
    ット放射線写真装置。 （Ｉｌｌ　放射線探知装置は、スリット絞りからＸ線探
    知器の方向に被照射体を超えて延びるアームに固着され
    、前記アームは、Ｘ線源の焦点を通って水平および垂直
    に延びるそれぞれのライ／ζこ関して、垂直および水平
    の面内にそれぞれ回転するようにし、前記アームは、Ｘ
    線探知器に近接する端部で、放射線探知器を保持する従
    属アームを備えていることを特徴とする特許請求の範囲
    第１項記載のスリット放射線写真装置。
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