JPS60240146A - 電子素子冷却用パツケ−ジ - Google Patents

電子素子冷却用パツケ−ジ

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Publication number
JPS60240146A
JPS60240146A JP9792784A JP9792784A JPS60240146A JP S60240146 A JPS60240146 A JP S60240146A JP 9792784 A JP9792784 A JP 9792784A JP 9792784 A JP9792784 A JP 9792784A JP S60240146 A JPS60240146 A JP S60240146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bubbles
yielded
partition plate
cooling
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9792784A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Fujii
雅雄 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9792784A priority Critical patent/JPS60240146A/ja
Publication of JPS60240146A publication Critical patent/JPS60240146A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/427Cooling by change of state, e.g. use of heat pipes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明はIC,LSI等の電子素子の冷却用パッケージ
に関するものである。
〈従来技術〉 第1図は従来の電子素子冷却用パッケージを示すもので
あり、図中1は発熱体である電子素子、2は基板、3は
冷却液体、4は容器、5はフィン、6は気相空間である
電子素子1が発熱すると、この素子1に接触する冷却液
体3が沸騰し、その時発生離脱する気はう7による液体
3の撹乱および液体3が気はう7に相変化する際に奪わ
れる蒸発潜熱による熱輸送によって、素子1は良好に冷
却される。発生した気はう7は上昇し、気相空間6に面
した容器4の内壁面で凝縮液化する。凝縮液8は、重力
の作用で容器4の内壁面に沿って落下し、冷却液体3中
に還流する。上記が凝縮する際に放出する潜熱はフィン
5を介して容器4の外周に放熱される。
ところで、従来の冷却用パッケージの場合、素子1が発
熱し、素子1の表面から気はう7が発生する沸腋状態に
なるまでにかなりの発熱密度を要し、そのため素子lの
温度が上昇するという欠点があった。これは、気はう7
が発生するためには、素子1等発熱体近傍の冷却液体3
が過熱され、過熱境界層が発達し、その過熱境界層があ
る厚み以上になって初めて気はうが発生するためである
素子1がかなり広い自由空間内にある場合には、素子1
から発生する熱は伝導と対流によって拡散されるため、
過熱境界層が発達しにくく、そのため、発熱密度を大き
くして、過熱境界層を発達させる必要がある。過熱境界
層が厚いと、それだけ熱伝達率も低下する。
〈発明の概要〉 本発明は以上のような従来の実情に鑑み、低い発熱密度
で気はうの発生を可能にするとともに、沸騰熱伝達特性
を改善することを目的とするものである。
〈発明の実施例〉 以下、本発明の実施例を第2図〜第6図に基づいて説明
する。
尚、これらの図において、第1図と同一要素のものには
同一符号を付して説明を簡単にする。
第2図において、9は容器4内において電子素子1に対
向して設置された隔板である。
かかる構成によれば、過熱境界層の発達する冷却液体3
の部分10が、基板2と隔板9の間に制限されるため、
その部分の冷却液体10が早く過熱されやすくなる。そ
のため気はう7がより低い発熱密度で発生するようにな
る。一度、気はう7が素子1表面より発生すると、その
発ぼう点からは、発ぼう開始の発熱密度以下の発熱密度
でも気はうが発生するようになる。即ち、発ぼう点が活
性化される。発ぼう点が活性化され、気はうが発生しや
すくなると、過熱境界層の厚みは薄い程、熱伝達特性は
良くなる。然るに発生した気はう7が基板2と隔板9の
間の制限流路内を上昇して通過する際、この過熱境界層
を剥脱するため、熱伝達特性は改善される。但し、制限
流路内を上昇する気はう7と素子1の表面の間に薄い液
膜が存在し、そこで微細な気はうが発生するため、気は
うの発生が抑制されることはない。この熱伝達特性の改
善例を第3図のグラフに示す。図中、横軸は、素子など
発熱体表面と、隔板9の間隙長Gである。
このグラフから、間隙長Gが小さくなる程、熱伝達率の
上昇することがわかる。そして、G≦3ffl111で
は、急激に熱伝達率が上昇する。第3図は冷却液体3と
して、電子材器の冷却液体に良(用いられるR−113
を用いた場合であるが、蒸留水の場合でも、Cy=3m
mを境にして、同じ傾向が得られる。
第4図は本発明の他の実施例を示したものであり、隔板
9が、素子1と同程度の大きさに分断されている。第2
図の実施例の場合、制限流路内に供給される液体3は必
ず、隔板9の下端から流入するため、各素子1の発熱量
が多くなって制限流路内の蒸気量が増大すると、特に上
部の素子1に対して、液体3が欠落し、乾く危険性があ
る。第4図の実施例では隔板9が分断されているため、
各素子1ごとに、気液二相の流れが可能となる。
また、隔板9の効果は、素子など発熱体表面に対しての
み有効であることから、素子程度の大きさで良い。
第5図は本発明の更に他の実施例を示すものであり、隔
板9と、基板2の素子1以外の部分と、を多孔を有する
部分にしたものである。この実施例のものも第4図の場
合と略同等の効果が得られる。この場合、基板2全体が
冷却液体3中に浸されている。
又、第6図の実施例では、隔板9と基板2が容器4の一
部を構成している場合で、小型化が図れるという利点を
有する。
〈発明の効果〉 本発明は以上説明したように、発熱体である素子に対向
して隔板を設置することにより、発ぼうを低発熱密度で
生じせしめると共に、沸騰熱伝達特性を改善できるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
用パッケージを示す側面断面図、第3図は素子と隔板の
間隙長に対する熱伝達特性の変化を説明するグラフ、第
4図〜第6図はそれぞれ本発明の他の実施例を示す図で
、第4図、第5図及び第6図(A)は夫々側面断面図、
第6図(B)は正面断面図である。 1・・・電子素子 2・・・基板 3・・・冷却液体4
・・・容器 9・・・隔板 代理人 大 岩 増 雄 (ほか2名)第1図 第2m 第4図 第5図 り 第6図(B)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) Q熱する電子素子が実装された基板と、該電子
    素子に対向する隔板と、電子素子と隔板とが浸される冷
    却液体が収納される容器と、からなることを特徴とする
    電子素子冷却用パッケージ。
  2. (2)隔板が、電子素子と同程度の大きさであることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子素子冷却用
    パッケージ。
  3. (3)隔板が多孔板からなることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の電子素子冷却用パッケージ。
  4. (4)電子素子以外の基板部分が多孔を有する部分から
    なることを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第3項の
    うちいずれか1つに記載の電子素子冷却用パッケージ。
  5. (5)隔板及び基板が容器の一部を構成していることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子素子冷却用
    バゾケージ。 【6)電子素子と対向する該隔板の距離が3mm以下で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項〜第5項の
    うちいずれか1つに記載の電子素子冷却用パンケージ。
JP9792784A 1984-05-14 1984-05-14 電子素子冷却用パツケ−ジ Pending JPS60240146A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9792784A JPS60240146A (ja) 1984-05-14 1984-05-14 電子素子冷却用パツケ−ジ

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JP9792784A JPS60240146A (ja) 1984-05-14 1984-05-14 電子素子冷却用パツケ−ジ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60240146A true JPS60240146A (ja) 1985-11-29

Family

ID=14205308

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9792784A Pending JPS60240146A (ja) 1984-05-14 1984-05-14 電子素子冷却用パツケ−ジ

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JP (1) JPS60240146A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4949164A (en) * 1987-07-10 1990-08-14 Hitachi, Ltd. Semiconductor cooling apparatus and cooling method thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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