JPS60236033A - 流量制御装置 - Google Patents

流量制御装置

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JPS60236033A
JPS60236033A JP9202784A JP9202784A JPS60236033A JP S60236033 A JPS60236033 A JP S60236033A JP 9202784 A JP9202784 A JP 9202784A JP 9202784 A JP9202784 A JP 9202784A JP S60236033 A JPS60236033 A JP S60236033A
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JP
Japan
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flow rate
pipe
main pipe
gas
rate measuring
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JP9202784A
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JPH0352812B2 (ja
Inventor
Kenji Murakami
賢二 村上
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F1/00Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
    • G01F1/68Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は流量測定装置に係り、特に半導体製造装置に適
用してガス流量制御を高信頼度で実施するに好適な流量
制御装置に関する。
(発明の技術的背景) このような流量測定装置は、半導体製造装置においてガ
スの精密な流量制御が必要な拡散が、トライエッチング
装置、プラズマCVD (Chemical Vapor Depositio
n)装置、連続CVD装置、LP(low Press
ure)CVD装置等多岐にわたって利用されている。
第1図は上述の装置に用いられる従来の流量測定装置の
概略の構成図である。ガスは本管2中を矢印A方向に流
れると共に、本管2から分岐するように配置された細管
4中にも流れる。細管4にはヒータ6が設けられており
、細管4中を流れるガスを加熱する。細管4のヒータ6
による加熱部の上流側と下流側にはそれぞれ温度センサ
8,10が設けられ、加熱前のガス温度と加熱後のガス
温度を測定する。バルブ12は本管2中のガス流量の制
御のためのものである。
かかる構成において、細管4中に流れるガス流量V1は
本管4中に流れるガス流量V2に比例しており、従って
細管4中のガス流量V1を測定することによって本管2
中のガス流量測定が可能である。細管4中のヒータ6に
よる加熱前後のガスの温度差を温度センサ8,10を通
じて測定することにより、ガスの熱量を導出できるが、
ガスのモル比熱があらかじめ判っていれば、ガスのモル
当量を知ることができる。その結果、細管4中のガス流
量V1が分り、設計時点であらかじめ設定されている本
管2と細管4の管径の比により本管2中に流れるガス流
量V2を知ることが可能である。従って、各流量V1,
V2から総流量V0が判り、バルブ12の開閉により本
管2中のガス総流量を制御することができる。
(背景技術の問題点) ガスのモル当量を測定するための細管4は管径が小さい
ため、小さなごみ等により目詰まりを起し易く、本管2
との間であらかじめ設定されている流量比のガスが流れ
なくなることが多い。その結果、本管2中のガス流量V
2の算出に大きな誤差を生じ、総流量V0を正確に制御
することができなくなってしまう。
例えば、半導体製造装置で上のような不都合が発生した
とすると、その影響は極めて重大である。
一般的に半導体製造装置は1枚から数100枚のウェハ
ーを同時処理するが、ここで平均的に見て100mm径
のウェハーを100枚同時処理する場合を考えてみる。
工程の進行にもよるが平均的に1ウェハー当り20,0
00円と仮定し、1ヵ月に発生する事故率を1%と考え
ると、1事故あたりの損失は20,000円(−20,
000(円)×100(枚)×0.01)となる。従っ
て、同様の装置を1000台使用しているプラントで考
えると、損失総額は2,000万円にも達してしまう。
つまり、半導体製造装置に用いられる流量測定装置は半
導体製造工程の信頼性に重大なかかわりをもっており、
その工程で用いられるガスの流量を高い信頼性で測定で
きることが重要な要件である。
特に、半導体製造装置は発火性の高いガスや毒性の強い
ガスを多用するため、ガス流量制御の不具合により火災
が発生すれば事態はさらに深刻となり、最悪の場合は人
命の危険まで伴なうこととなってしまう。このため、単
に経済的な理由だけでなく、安全上の理由からも流量測
定装置の信頼性向上に対する要求が強かった。
(発明の目的) 本発明は上記の従来技術の問題点を解決するためになさ
れたもので、高信頼度で流量測定を実施しうると共に、
測定誤差を自己判断して表示することを可能にした流量
測定装置を提供することを目的とする。
(発明の概要) 上記の目的を達成するため本発明は、流体を通す本管か
ら分岐した複数の細管と、各細管毎に流量を測定する流
部測定手段と、各流量測定手段の出力信号と本管および
細管の管径比から総流量を演算する手段を備える流量測
定装置を提供するものである。
(発明の実施例) 以下、添付図面の第2図を参照して本発明のいくつかの
実施例を説明する。
第2図は一実施例に係る流量測定装置の概略の構成図で
ある。第1図に示す構成例と異なる点は、本管4から分
岐するパスとして管径の異なる細管4A,4Bを設けた
ことと、各々ヒータ6A,6B並びに温庶センサ8A,
8B,10A,10Bを設けたことである。
かかる構成において、流れるガスの総流量(分岐する前
に本管2に通じる流量)をV0とすると、本管2と細管
4A,4Bの各管径の比に基いて、流量V2,V3,V
4のガスが各々本管2、細管4A,4Bに分岐すること
になる。細管4A,4Bに分岐したガスはそれぞれヒー
タ6A,6Bにより加熱され、加熱前後の温度差が温度
センサ8A,10A及び8B,10Bで測定されるため
、細管4A,4Bを流れるガスのモル当量、つまり流量
V3,V4を知ることができる。このため、設計時点に
あらかじめ設定されている管径比に基いて分岐した後の
本管2のガス流量B2の計算が可能となり、全ての管2
,4A,4Bの各流量V2・V3・V4を加算すること
によって、総流量V0を所望の値に制御することが可能
となる。
さて、本実施例の構成においては、細管4A,4Bのい
ずれかに目詰まりが発生した場合には、それぞれに流れ
るガスの流量V3,V4の比が予め設定した比と異なっ
てくる。これによって、流量の少なくなった側の細管に
口詰まりが発生したことを推測できるため、流量が大き
くなった側の細管と本管2の管径比から本管2の流量を
計算することが可能であり、ガスの総流量V0を継続し
て知り流量制御を続行することができる。一方、細管4
A,4Bの流量比が設定値からはずれた場合には、目詰
まり発生を自己診断で判定することが可能であり、これ
が測定精度外になった場合には警告表示を行なうように
することができる。
なお、上記実施例は細管4A,ABの管径が異なる場合
のものであるが、本発明の実施はこれに限定されるもの
ではなく、細管4A,4Bの管径比があらかじめ判って
いることが必要である点を鑑みれば、両者の管径は同じ
であっても良く、全く同様の効果を得することができる
また、上記実施例は、流量比から見て流量不足の側の細
管での流量測定結果を本管2の流量計算に用いない場合
のものであるが、流量比が許容範囲外になった場合、流
量制御不可として系全体を停止することにより、より安
全で確実な流量制御を実施することができる。
更に、上記実施例は、流量側測定用の細管を2個設ける
場合のものであるが、これらを3個以上設けることによ
って、更に信頼性を向上し得ることは勿論である。
そして、モル当量測定方法はモル当量を精密に測定でき
る方法であれば、本発明に係る方法とことなっていても
よい。
(発明の効果) 上記の如く本発明によれば、本管から分岐する細管を複
数設け、かつ流量測定部を複数設けることにより、流量
測定の信頼性を高め、併せて正確で信頼性の高い流量制
御をすることのできる流量測定装置が得られる。また、
流量測定部の故障を白己診断でき、これを表示警告する
ことにより系全体の保守能力を高めることもできるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】 第1図は従来装置の一構成例の概略の構成図、第2図は
本発明の一実施例の概略の構成図である。 2・・・木管、4,4A,4B・・・細管、6,6A,
6B・・・ヒータ、8,8A,8B,10,10A,1
0B・・・温度センサ、12・・・バルブ。 − 13 − 第1図 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.流体を通す本管と、この本管から分岐した複数の細
    管と、この細管毎の流量を測定する流量測定手段と、こ
    の流量測定手段の出力信号と前記本管および細管の管径
    比から総流量を演算する演算手段とを備える流量測定装
    置。
  2. 2.流体を通す本管と、この本管から分岐した複数の細
    管と、この細管毎の流量を測定する流量測定手段と、こ
    の流量測定手段の出力信号と前記本管および細管の管径
    比から総流量を演算する演算手段と、前記流量測定手段
    の出力信号と前記複数の細管の管径比から目詰まり等の
    異常状態の有無を判別する判別手段とを備える流量測定
    装置。
  3. 3.前記判別手段が異常状態有と判別したときは、前記
    演算手段は異常の無い前記流量測定手段の出力信号と前
    記本管および異常のない細管の管径比から総流量を演算
    する特許請求の範囲第2項記載の流量測定装置。
JP9202784A 1984-05-09 1984-05-09 流量制御装置 Granted JPS60236033A (ja)

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JP9202784A JPS60236033A (ja) 1984-05-09 1984-05-09 流量制御装置

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JP9202784A JPS60236033A (ja) 1984-05-09 1984-05-09 流量制御装置

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JPS60236033A true JPS60236033A (ja) 1985-11-22
JPH0352812B2 JPH0352812B2 (ja) 1991-08-13

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JP9202784A Granted JPS60236033A (ja) 1984-05-09 1984-05-09 流量制御装置

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JP2004020395A (ja) * 2002-06-17 2004-01-22 Osaka Gas Co Ltd 流量計
JP2018136842A (ja) * 2017-02-23 2018-08-30 アズビル株式会社 メンテナンス判断指標推定装置、流量制御装置およびメンテナンス判断指標推定方法

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JPS5826224A (ja) * 1981-08-08 1983-02-16 Tominaga Oil Pump Mfg Co Ltd 流体計量装置における計量異常検出方法

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