JPS60195578A - 電子写真用感光体の畫像欠陥評価装置 - Google Patents
電子写真用感光体の畫像欠陥評価装置Info
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- JPS60195578A JPS60195578A JP59051836A JP5183684A JPS60195578A JP S60195578 A JPS60195578 A JP S60195578A JP 59051836 A JP59051836 A JP 59051836A JP 5183684 A JP5183684 A JP 5183684A JP S60195578 A JPS60195578 A JP S60195578A
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- electrode
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- photosensitive surface
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/50—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
- G03G15/5033—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
- G03G15/5037—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は電子写真用感光体−ζよって形成される誉像の
ノイズ等の欠陥（畳１＃欠陥き呼ぶ）を非接触で評価す
る評価装置Ｃζ関する。
ノイズ等の欠陥（畳１＃欠陥き呼ぶ）を非接触で評価す
る評価装置Ｃζ関する。
以下各図の説明において同一の符号は同−又は相当部分
を示す。
を示す。
第１図はこの種の電子写真用感光体（以下ドラムと呼ぶ
）の主な用途のとしての複写機の構成を示す。同図ｔこ
おいてＤは円筒状のドラムでその外周面ｌこ靜１１Ｆ
！ 儂を形成する半導体の感光層からなる感光面をもち
図中矢印の回転方向ＡＸＲＩこ回転自在に支持されてい
る。ＣＨＩはドラムＤｒｃ前記潜像形成のため事前にコ
ロナ放電による帯電を施すコロナ放電器、ＥＸはドラム
Ｄｔｃ露光を施すし文字パターンなどの潜像を形成させ
る半導体レーＰは前記の現像された査像を転写するコピ
ー用紙などの転写材、ＣＨ２はこの転写を行うための転
写コロナ帯電器、ＣＬはドラムＤ上に残留する現する（
光除電という）蛍光燈などの除電器である。
）の主な用途のとしての複写機の構成を示す。同図ｔこ
おいてＤは円筒状のドラムでその外周面ｌこ靜１１Ｆ
！ 儂を形成する半導体の感光層からなる感光面をもち
図中矢印の回転方向ＡＸＲＩこ回転自在に支持されてい
る。ＣＨＩはドラムＤｒｃ前記潜像形成のため事前にコ
ロナ放電による帯電を施すコロナ放電器、ＥＸはドラム
Ｄｔｃ露光を施すし文字パターンなどの潜像を形成させ
る半導体レーＰは前記の現像された査像を転写するコピ
ー用紙などの転写材、ＣＨ２はこの転写を行うための転
写コロナ帯電器、ＣＬはドラムＤ上に残留する現する（
光除電という）蛍光燈などの除電器である。
従来ドラムＤの普像欠陥評価法としては官能検査及び複
写機による誓像出しにより評価する方法が知られている
。
写機による誓像出しにより評価する方法が知られている
。
複写機で書像出しをするためには、第１図で述べたよう
な複写機にドラムＤを装着し、書像出しをする。そして
、豊像出しの後ドラムＤを脱着し、ドラム表面疹こ付着
した現像剤などを取り除く作業が必要であり、さらＩこ
、転写材Ｐ、現像剤などを費やすので、合せてかなりの
時間と費用を費やすという欠点がある。
な複写機にドラムＤを装着し、書像出しをする。そして
、豊像出しの後ドラムＤを脱着し、ドラム表面疹こ付着
した現像剤などを取り除く作業が必要であり、さらＩこ
、転写材Ｐ、現像剤などを費やすので、合せてかなりの
時間と費用を費やすという欠点がある。
又ドラムＤの装着・脱着を簡単にした豊像評価装置とし
て１ノイズ・テスター１といわれるものもあるが、やは
り豊像出しをした後、ドラム表面に付着した現像剤を取
り除く作業が必要である。
て１ノイズ・テスター１といわれるものもあるが、やは
り豊像出しをした後、ドラム表面に付着した現像剤を取
り除く作業が必要である。
このようｌこしてこれら装置より積り出した誉像は、い
ずれも人間が目で見て合否の判定（官能検査）をするた
め測定誤差が生じたり、測定精度を上げようとすると時
間がかかつてしまうという欠点がある。
ずれも人間が目で見て合否の判定（官能検査）をするた
め測定誤差が生じたり、測定精度を上げようとすると時
間がかかつてしまうという欠点がある。
本発明は萌述の欠点を除き複写機での豊像出し及び豊像
出しｔこおける複雑な作業等を必要とせず、非接触でド
ラム１こ起因する静電潜像の欠陥を正確多こ評価する評
価装置を提供することを目的とする。
出しｔこおける複雑な作業等を必要とせず、非接触でド
ラム１こ起因する静電潜像の欠陥を正確多こ評価する評
価装置を提供することを目的とする。
外周面又は該平面−Ｅ１こ、静電書像用の感光層を附し
感光面を形成せしめた電子写真用の感光体（ドラムなど
）と、前記感光層＃Ｃはぼ均一に所定電位の帯電を行わ
せるコロナ帯電器などの手段と、前記感光面に対し空隙
を介して対向するよう−こ設けらｎた複数個の金属の電
極（センサ電極）と、誼複数個の電極を一体１こ保持す
る保持手段（電極支持体＞ｈ、該保持手段と前記感光体
とを相対的憂こ駆動して前記感光面を前記の各電極ｉこ
より走査するモータなどの手段と、前記感光面上ｔζお
ける前記電極の走査位置を検出する走査位置検出手段（
ドラム回転位置検知部など）と、前記の各電極の電位を
検出する電極電位検出手段（分圧コンデンサ。
感光面を形成せしめた電子写真用の感光体（ドラムなど
）と、前記感光層＃Ｃはぼ均一に所定電位の帯電を行わ
せるコロナ帯電器などの手段と、前記感光面に対し空隙
を介して対向するよう−こ設けらｎた複数個の金属の電
極（センサ電極）と、誼複数個の電極を一体１こ保持す
る保持手段（電極支持体＞ｈ、該保持手段と前記感光体
とを相対的憂こ駆動して前記感光面を前記の各電極ｉこ
より走査するモータなどの手段と、前記感光面上ｔζお
ける前記電極の走査位置を検出する走査位置検出手段（
ドラム回転位置検知部など）と、前記の各電極の電位を
検出する電極電位検出手段（分圧コンデンサ。
増巾器、Ａ／Ｄマルチプレクサ、ＣＰＵなど）と、前記
走査位置検出手段、ａ極電位検出手段の各手段の検出信
号を入力し、前記感光面上のｗ１位マツ） プ勾作成する手段（ＣＰＵなど）、！：、からなるよう
にするととも１こ、前記複数個の電極は少くとも前記の
走査の一つの方向（例えばドラムの軸の方向）＃こ順次
所定の間隔を置いて設けられるよう蚤こした点と、前記
電極を該電極が対向する前記感光面の法線方向に投影し
た投影の最大の外径がα１〜５■の範囲にあるようにし
た点と、前記ＩＦ極の間隔は１〜１００ｍの範囲にある
ようにした点と、前記感光面と、電極との間の最小空隙
は０．３〜５ｍの範囲にあるようにした点とにある。
走査位置検出手段、ａ極電位検出手段の各手段の検出信
号を入力し、前記感光面上のｗ１位マツ） プ勾作成する手段（ＣＰＵなど）、！：、からなるよう
にするととも１こ、前記複数個の電極は少くとも前記の
走査の一つの方向（例えばドラムの軸の方向）＃こ順次
所定の間隔を置いて設けられるよう蚤こした点と、前記
電極を該電極が対向する前記感光面の法線方向に投影し
た投影の最大の外径がα１〜５■の範囲にあるようにし
た点と、前記ＩＦ極の間隔は１〜１００ｍの範囲にある
ようにした点と、前記感光面と、電極との間の最小空隙
は０．３〜５ｍの範囲にあるようにした点とにある。
以下本発明を第守図〜第５図に基づいて説明する。第２
図は本発明の原理装置を示す構成図、第３図は第２図で
得られた測定値の例を示す図、第４図は本発明の構成例
を示す図、第５図は第４図装置の測定結果の１例を示す
図である。
図は本発明の原理装置を示す構成図、第３図は第２図で
得られた測定値の例を示す図、第４図は本発明の構成例
を示す図、第５図は第４図装置の測定結果の１例を示す
図である。
第２図において、ＡＸＤはドラムＤの軸（回転軸−ζも
なる）、ＤｌはドラムＤ上の感光層、Ｄ２は感光層の基
部となるアルミなどの金属筒である。
なる）、ＤｌはドラムＤ上の感光層、Ｄ２は感光層の基
部となるアルミなどの金属筒である。
ＤＰは感光層Ｄｌ内の欠陥部であり、この場合円形状の
欠陥部を想定したときその直径（欠陥径と呼ぶ）を２８
とする。２はドラムＤの円筒面憂こギャップｇで対向す
る円形断面の細い金属柱状のセンサ電極で、ＡＸ２はそ
の軸、２ａはその直径（電極径と呼ぶ）であり、軸ＡＸ
２はドラムＤの感光面の法線方向ｔこ向っている。Ｘは
欠陥部ＤＦの中心とセンサ電極２が中心との距離（欠陥
距離と呼ぶ）である。また３はセンサ電極２Ｉこ誘起す
る電圧を増巾する高入力インピーダンスの増巾器、４は
センサ電極２と天地間に設けられた分圧用コンデンサ、
ＳＧは増巾器３から取出さｎる検出電圧である。なおド
ラムＤは第１図のようＩＣ図外のコロナ帯電器ＣＨ１ｒ
こより所定の電位ｆこほぼ均−昏こ帝１ｔさｎると共擾
こ、図外の除電器により的記検出電圧の測定後除電が行
われる。
欠陥部を想定したときその直径（欠陥径と呼ぶ）を２８
とする。２はドラムＤの円筒面憂こギャップｇで対向す
る円形断面の細い金属柱状のセンサ電極で、ＡＸ２はそ
の軸、２ａはその直径（電極径と呼ぶ）であり、軸ＡＸ
２はドラムＤの感光面の法線方向ｔこ向っている。Ｘは
欠陥部ＤＦの中心とセンサ電極２が中心との距離（欠陥
距離と呼ぶ）である。また３はセンサ電極２Ｉこ誘起す
る電圧を増巾する高入力インピーダンスの増巾器、４は
センサ電極２と天地間に設けられた分圧用コンデンサ、
ＳＧは増巾器３から取出さｎる検出電圧である。なおド
ラムＤは第１図のようＩＣ図外のコロナ帯電器ＣＨ１ｒ
こより所定の電位ｆこほぼ均−昏こ帝１ｔさｎると共擾
こ、図外の除電器により的記検出電圧の測定後除電が行
われる。
さてほぼ均−ｔこ帯電さｎたドラムＤではあるが、これ
−こよってセンサ電極２上Ｉこ誘起される電荷は主とし
で、ドラムＤの表面上の欠陥部ＤＦを含む電極近傍の感
光面の作る電解成分のうち、センサ電極２の表面の洗練
成分に比例する。従って前記電荷従ってセンサ電極２の
電位は欠陥部ＤＦの影響を受けることＩｃなる。
−こよってセンサ電極２上Ｉこ誘起される電荷は主とし
で、ドラムＤの表面上の欠陥部ＤＦを含む電極近傍の感
光面の作る電解成分のうち、センサ電極２の表面の洗練
成分に比例する。従って前記電荷従ってセンサ電極２の
電位は欠陥部ＤＦの影響を受けることＩｃなる。
第３図は第２図の原理装置で測定された測定値の例を示
し１図（２）は電極径２ ａ ＝ １．００ ｍ、ギャ
ップｇ ＝１．５０ ｍ、欠陥距離Ｘ＝１．２５ｓｏ＊
、の条件のもとて欠陥径２８ （ｗ ）の大きさが変化
した場合の検出電圧８Ｇの変化の比率（低下率）を示す
。
し１図（２）は電極径２ ａ ＝ １．００ ｍ、ギャ
ップｇ ＝１．５０ ｍ、欠陥距離Ｘ＝１．２５ｓｏ＊
、の条件のもとて欠陥径２８ （ｗ ）の大きさが変化
した場合の検出電圧８Ｇの変化の比率（低下率）を示す
。
すなわち同図は欠陥径２Ｓが０の場合の検出電圧８Ｇを
１とし、欠陥径２Ｓの増大と共ｔこ検出電、圧８Ｇが低
下する量を比率で示したものである。
１とし、欠陥径２Ｓの増大と共ｔこ検出電、圧８Ｇが低
下する量を比率で示したものである。
この結果では検出電圧ＳＧの低下率１０チ。
２０１．５０％＃Ｃ対応する欠陥径２Ｓはそれぞわ０．
６２． １．２４． ２．７８ （各Ｗ）であり、所定
の条件でこの低下率又は低下量を測定することｌこよっ
て欠陥部の大きさを評価できることが判る。
６２． １．２４． ２．７８ （各Ｗ）であり、所定
の条件でこの低下率又は低下量を測定することｌこよっ
て欠陥部の大きさを評価できることが判る。
図βは欠陥距離Ｘ−０、すなわちセンサ電極２の真下ｆ
こ欠陥部ＤＦがある場合ｌこおいて、電極径２ａ％パラ
メータとしてそれぞれ２．０ 、１．０ 。
こ欠陥部ＤＦがある場合ｌこおいて、電極径２ａ％パラ
メータとしてそれぞれ２．０ 、１．０ 。
０．５（各−１）としたときのギャップｇと有効検出可
能な欠陥径２ｓ（欠陥径分解能と呼ぶ）との関係を示す
。ただしこの場合、この欠陥径分解能は欠陥径２８−〇
すなわち欠陥なしの場合の検出電圧ＳＧの大きさを１と
し、この大きさが２０チ低下したときの欠陥径２Ｓの値
を示している。
能な欠陥径２ｓ（欠陥径分解能と呼ぶ）との関係を示す
。ただしこの場合、この欠陥径分解能は欠陥径２８−〇
すなわち欠陥なしの場合の検出電圧ＳＧの大きさを１と
し、この大きさが２０チ低下したときの欠陥径２Ｓの値
を示している。
この図から仮に０．５の欠陥径２Ｓを検出するものとす
れば、次の条件が得られる。
れば、次の条件が得られる。
１）ドラムＤとセンサ電極２とのギャップｇを１ｍ以下
とする。
とする。
２）センサ電極２の電極径２ａとしては１畷以下であれ
ばよい。
ばよい。
ただしセンサ電極２の軸ＡＸ２１こ直交する平面ｌこよ
る断面は円形に限られず四角形などの任意の形状でもよ
く、上記の電極径２ａの値はセンサ電極２の断面の最大
外径の目安を示すものと考えてよい。又センサ電極２の
ドラムＤへの対向面Ｓ１の形状は第２図のよう１こ平面
であることは必ずしも必要でなく、センサ電極２とドラ
ムＤＪ［ｉこ形成される静電容量が所定の値であれば、
球面９円錐面などの形状であっても差支えない。なおこ
の時は前記ギャップｇは最小のギャップをいう。従って
電極２の柱状部の長さｔｌはＯを含む所定の任意の長さ
とすることもできる。
る断面は円形に限られず四角形などの任意の形状でもよ
く、上記の電極径２ａの値はセンサ電極２の断面の最大
外径の目安を示すものと考えてよい。又センサ電極２の
ドラムＤへの対向面Ｓ１の形状は第２図のよう１こ平面
であることは必ずしも必要でなく、センサ電極２とドラ
ムＤＪ［ｉこ形成される静電容量が所定の値であれば、
球面９円錐面などの形状であっても差支えない。なおこ
の時は前記ギャップｇは最小のギャップをいう。従って
電極２の柱状部の長さｔｌはＯを含む所定の任意の長さ
とすることもできる。
次醗こ図（Ｃ）は電極径２ａ＝１．０＋ｗとした場合優
こオイて、ギャップｇをそｎぞｎｌ、５ 、１．０．０
．５（各間）としたときの、欠陥距離Ｘと図（Ｂ）と同
様な欠陥径分解能との関係を示す。この図から図（Ｂ）
と同様ｔこ０．５ｍの欠陥径２Ｓを有効ｆこ検出するも
のとすれば次の条件が得られる。
こオイて、ギャップｇをそｎぞｎｌ、５ 、１．０．０
．５（各間）としたときの、欠陥距離Ｘと図（Ｂ）と同
様な欠陥径分解能との関係を示す。この図から図（Ｂ）
と同様ｔこ０．５ｍの欠陥径２Ｓを有効ｆこ検出するも
のとすれば次の条件が得られる。
３）欠陥部ＤＦ’とセンサ電極２との中心距離としての
欠陥部＠ｘは０．５叫以下とする必要がある。
欠陥部＠ｘは０．５叫以下とする必要がある。
従って後述のよう−こドラムＤを回転させなからセンサ
電極２をドラムＤの軸ＡＸＤの方向暑こ平行移動させて
ドラム円筒局面の欠陥部ＤＦを検出する場合ドラムＤの
１回転ｔこ対するセンサ電極２の送りピッチは０．５期
以下とする必要がある。
電極２をドラムＤの軸ＡＸＤの方向暑こ平行移動させて
ドラム円筒局面の欠陥部ＤＦを検出する場合ドラムＤの
１回転ｔこ対するセンサ電極２の送りピッチは０．５期
以下とする必要がある。
他方この場合の試験時間としては、ドラム軸長Ｌ＝３０
０ｍｍとして、このようなセンサ電極２をアレイ状壷こ
１００間隔で３０個等間隔１こ並べれば、送りピッチ０
．５■で１を極当り１０鵡の送り距離を走査する時間は
ドラム２０回転分、従ってドラムＤを２Ｏｒｐｍで回転
させれば約１分で終了することになる。
０ｍｍとして、このようなセンサ電極２をアレイ状壷こ
１００間隔で３０個等間隔１こ並べれば、送りピッチ０
．５■で１を極当り１０鵡の送り距離を走査する時間は
ドラム２０回転分、従ってドラムＤを２Ｏｒｐｍで回転
させれば約１分で終了することになる。
このため曇こは山径１２０ｍのドラムの場合、２０ｒｐ
ｍｌこおける周速度は１２６■／ｓｅｃとなるので、０
．５−の欠陥部ＤＦの通過時間は約４ｍ５ｅｃである。
ｍｌこおける周速度は１２６■／ｓｅｃとなるので、０
．５−の欠陥部ＤＦの通過時間は約４ｍ５ｅｃである。
これを精度良く検出するｔこけ、サンプリング時間は少
くとも０．４ ｍ ｓｅｃで行う必要がある。
くとも０．４ ｍ ｓｅｃで行う必要がある。
また検出回路の時定数もこの程度は必要である。
また、３０ケのアレイで検出するため、Ａ／Ｄ変換速度
は１０〜２０μｓｅｃでなければならない。
は１０〜２０μｓｅｃでなければならない。
この時のデータ数はセンサ１ヶ当り、１周分で７、５
ｋ ｗｏｒｄである。
ｋ ｗｏｒｄである。
と首うように各種の試験条件が得られる。
次ｔＣ”’−＠ ４図について説明すると、同図は第２
図。
図。
第３図で述べた原理９条件などを基ｔこ実際ＩＣドラム
Ｄ上の欠陥部ＤＦを検出するための葺像欠陥評価装置で
あり、１はドラム駆動モータ、２はアレイ状のセンサ電
極、５は前記の多数のセンサ電極２の支持体（電極支持
体と呼ぶ）２ＦをドラムＤの軸ＡＸＤの方向ｔこ前後Ｅ
こ駆動する電極駆動モータ、６はドラムＤの回転位置を
検出するドラム回転位置検出部、９は同じく回転位置検
出のためのエンコーダである。
Ｄ上の欠陥部ＤＦを検出するための葺像欠陥評価装置で
あり、１はドラム駆動モータ、２はアレイ状のセンサ電
極、５は前記の多数のセンサ電極２の支持体（電極支持
体と呼ぶ）２ＦをドラムＤの軸ＡＸＤの方向ｔこ前後Ｅ
こ駆動する電極駆動モータ、６はドラムＤの回転位置を
検出するドラム回転位置検出部、９は同じく回転位置検
出のためのエンコーダである。
また７はドラム回転位置検出部６の出力信号を入力しド
ラムＤの回転位置などを表示するドラム回転表示部、８
はセンサ電極２の各々に対応して設けられている増巾器
３の出力電圧をＡ／Ｄ変換して ＋８０ Ｐ ｕ ｔこ入力するＡ／Ｄマルチプレクサ、
１０はドラム駆動モータ１と電極駆動モータ５を制御す
るとともに、ドラム回転表示部を介して得られるドラム
Ｄの回転位置信号、Ａ／Ｄマルチプレクサ８から入力さ
君るセンサ電極２の検出電圧を入力して欠陥部ＤＦの位
置を判別する制御用のＣＰＵである。
ラムＤの回転位置などを表示するドラム回転表示部、８
はセンサ電極２の各々に対応して設けられている増巾器
３の出力電圧をＡ／Ｄ変換して ＋８０ Ｐ ｕ ｔこ入力するＡ／Ｄマルチプレクサ、
１０はドラム駆動モータ１と電極駆動モータ５を制御す
るとともに、ドラム回転表示部を介して得られるドラム
Ｄの回転位置信号、Ａ／Ｄマルチプレクサ８から入力さ
君るセンサ電極２の検出電圧を入力して欠陥部ＤＦの位
置を判別する制御用のＣＰＵである。
すなわちドラムＤがドラム駆動モータ１を介して回転方
向ＡＸＲ＋こ回転せしめらｎるとき、ドラムＤの感光面
はコロナ帯電器ＣＨ目こよってほぼ均一＋こ所定の電位
に帯電さｎつつ、センサ電極２の下に来て、電極２の各
々を介して各増巾器２カベ検出電圧８Ｇを出力させる。
向ＡＸＲ＋こ回転せしめらｎるとき、ドラムＤの感光面
はコロナ帯電器ＣＨ目こよってほぼ均一＋こ所定の電位
に帯電さｎつつ、センサ電極２の下に来て、電極２の各
々を介して各増巾器２カベ検出電圧８Ｇを出力させる。
又ドラム回転位ｉｉｓ出部６はドラムＤの端面に附され
たエンコーダ９を介してドラムＤの回転とその位置を検
出し、その出力信号をドラム回転表示部７１こ与えて回
転付置を表示するとともに、表示部７の出力信号はＣＰ
ＩＪ＋こ与えられてＣＰＵはドラムＤのその時々の回転
位置を知る。
たエンコーダ９を介してドラムＤの回転とその位置を検
出し、その出力信号をドラム回転表示部７１こ与えて回
転付置を表示するとともに、表示部７の出力信号はＣＰ
ＩＪ＋こ与えられてＣＰＵはドラムＤのその時々の回転
位置を知る。
他方センサ電極２の各々は電極駆動モータ５゜電極支持
体２Ｆを介してドラムＤの回転と同期してＣＰＵ１０＋
こより所定の送りピッチで軸ＡＸＤの方向ｔこ送られ、
ドラムＤの周上を走査する。
体２Ｆを介してドラムＤの回転と同期してＣＰＵ１０＋
こより所定の送りピッチで軸ＡＸＤの方向ｔこ送られ、
ドラムＤの周上を走査する。
このようにして検出電圧ＳＧはＡ／Ｄマルチプレクサ８
を介して、ＣＰＵ１０＋こより読取られ、ＣＰＵｌ０は
ドラムＤの感光面上の電位マ゛ンプを作成する。ＣＰＵ
ｌ０にはあらかじめ査像評価の基準のデータをインプッ
トしておくこと１こより、合否の判定および欠陥部ＤＦ
の位置や大きさを表示することなどができる。
を介して、ＣＰＵ１０＋こより読取られ、ＣＰＵｌ０は
ドラムＤの感光面上の電位マ゛ンプを作成する。ＣＰＵ
ｌ０にはあらかじめ査像評価の基準のデータをインプッ
トしておくこと１こより、合否の判定および欠陥部ＤＦ
の位置や大きさを表示することなどができる。
第５図は第４図の１：像欠陥評価装置を用いて実際にド
ラムＤ表面上曇こ種々の大きさの疵をつけ。
ラムＤ表面上曇こ種々の大きさの疵をつけ。
これを光学顕微鏡で確認した値と、豊像欠陥評価装置で
測定した値とを対比したものである。同図から明らかな
ように本装置で実用上充分な精度をもって欠陥部の検出
を行えることが判る。
測定した値とを対比したものである。同図から明らかな
ように本装置で実用上充分な精度をもって欠陥部の検出
を行えることが判る。
なお本発明において欠陥評価の対象としての感光体は、
平面状の感光面を有するものであっても、これはドラム
Ｄの感光面の曲率半径が無限大となったものと考えるこ
とができ、本発明による欠陥評価が可能である。
平面状の感光面を有するものであっても、これはドラム
Ｄの感光面の曲率半径が無限大となったものと考えるこ
とができ、本発明による欠陥評価が可能である。
又前記の複数のセンサ電極２は互擾こ軸ＡＸ２が平行曇
こ所定間隔で並ぶものとしたが、このよう１こすること
は電位マツプの作成が容易となる利点はあるが、必須の
条件ではなく、例えばドラムＤの感光面ｌζ沿う所定ピ
ッチのスパイラル曲線上ｌこおいて、所定の間隔で並ぶ
ようなものであってもよい。
こ所定間隔で並ぶものとしたが、このよう１こすること
は電位マツプの作成が容易となる利点はあるが、必須の
条件ではなく、例えばドラムＤの感光面ｌζ沿う所定ピ
ッチのスパイラル曲線上ｌこおいて、所定の間隔で並ぶ
ようなものであってもよい。
以上の説明から明らかなようｔこ、本発明ｌこよれば、
円柱面又は平面状の感光面と空隙をもって対向する、細
い棒状などの複数個のセンサ電極を設け、これらの電極
を一体憂こ保持して、感光面の走査を行うようｔこした
ため、短時間で感光面の電位分布を検知すること−こよ
って、感光面上の欠陥の評価を行うことができる。
円柱面又は平面状の感光面と空隙をもって対向する、細
い棒状などの複数個のセンサ電極を設け、これらの電極
を一体憂こ保持して、感光面の走査を行うようｔこした
ため、短時間で感光面の電位分布を検知すること−こよ
って、感光面上の欠陥の評価を行うことができる。
第１図は通常の複写機の構成例を示す図、第２図は本発
明の原理装置を示す構成図、第３図は第２図装置で得ら
ｎた測定値の例を示す図、第４図は本発明装置の構成例
を示す図、第５図は第４図の装置の測定結果の１例を示
す図である。 Ｄ・・・・・・宵、子写真用感光体（ドラム）、ＣＨＩ
・・・・・・コロナ帯電器、ｌ・・・・・・ドラム駆動
モータ、２・・・・・・センサ電極、２Ｆ・・・・・・
電極支持体、３・・・・・・増巾器、ＳＧ・・・・・・
検出電圧、４・・・・・・分圧用コンデンサ、５・・・
・・・電極駆動モータ、６・・・・・・ドラム回転位置
検出部、７・・・・・・ドラム回転表示部、８・・川・
Ａ／Ｉ）マルチプレクサ、９・・・・・・エンコーダ％
１０・・・・・ＣＰＵ。 ２Ｆ・・・・・・電極支持体、ＡＸＤ・・曲軸、ＡＸＦ
ｔ・・・・・・回転方向。 ＾ ■ く 。 ばミ空たΦ添挺Ｒ 牙４図 第５図
明の原理装置を示す構成図、第３図は第２図装置で得ら
ｎた測定値の例を示す図、第４図は本発明装置の構成例
を示す図、第５図は第４図の装置の測定結果の１例を示
す図である。 Ｄ・・・・・・宵、子写真用感光体（ドラム）、ＣＨＩ
・・・・・・コロナ帯電器、ｌ・・・・・・ドラム駆動
モータ、２・・・・・・センサ電極、２Ｆ・・・・・・
電極支持体、３・・・・・・増巾器、ＳＧ・・・・・・
検出電圧、４・・・・・・分圧用コンデンサ、５・・・
・・・電極駆動モータ、６・・・・・・ドラム回転位置
検出部、７・・・・・・ドラム回転表示部、８・・川・
Ａ／Ｉ）マルチプレクサ、９・・・・・・エンコーダ％
１０・・・・・ＣＰＵ。 ２Ｆ・・・・・・電極支持体、ＡＸＤ・・曲軸、ＡＸＦ
ｔ・・・・・・回転方向。 ＾ ■ く 。 ばミ空たΦ添挺Ｒ 牙４図 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｌ）円筒又は平面上の全域の基体の外周面又は該平面上
ｔこ、静電豊像用の感光層を附し感光面を形成せしめた
電子写真用の感光体と、前記感光層ｆこほぼ均一に所定
電位の帯電を行わせる手段と、前記感光面ｔζ対し空隙
を介して対向するようｔこ設けられた複数個の金属の電
極と、該複数個の電極を一体−こ保持する保持手段と、
該保持手段と前記感光体とを相対的Ｉこ駆動して前記感
光面を前記の各電極多こより走査する手段と、前記感光
面上における前記電極の走査位置を検出する走査位置検
出手段と、前記の各電極の電位を検出する電極電位検出
手段と、前記走査位置検出手段、電極電位検出手段の各
手段の検出信号を入力し、前記感光面上の電位マツプを
作成する手段と、からなることを特徴とする電子写真用
感光体の棗像欠陥評価装置。 ２、特許請求の範囲第１項ｌこ記載の装置ＩＣおいて、
前記複数個の電極は少くとも前記の走査の一つの方向に
順次所定の間隔を置いて設けられたものであることを特
徴とする電子写真用感光体の豊像欠陥評価装置。 ３）特許請求の範囲第１項又は第２項に記載の装置にお
いて、前記電極を該電極が対向する前記感光面の法線方
向に投影した投影の最大の外径が０．１〜５期の範囲ｌ
こあるこきを特徴とする電子写真用感光体の誉像欠陥評
価装置。 ４）特許請求の範囲第２項に記載の装置において、前記
電極の間隔は１〜１００ｍの範囲にあるこ電 とを特徴とする電子写真用感光体の豊像欠陥評価装置。 ５）特許請求の範囲第１項ないし第４項の何れかの項ｌ
こ記載の装置において、前記感光面と、電極との間の最
小空隙は０．３〜５１ＩＩ＋の範囲にあることを特徴と
する電子写真用感光体の豊像欠陥評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59051836A JP2674002B2 (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電子写真用感光体の畫像欠陥評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59051836A JP2674002B2 (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電子写真用感光体の畫像欠陥評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60195578A true JPS60195578A (ja) | 1985-10-04 |
| JP2674002B2 JP2674002B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=12897942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59051836A Expired - Fee Related JP2674002B2 (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | 電子写真用感光体の畫像欠陥評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674002B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007108173A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Xerox Corp | 帯電可能表面上の欠陥点を検出するためのコンタクトレスシステム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53131848A (en) * | 1977-04-22 | 1978-11-17 | Hitachi Ltd | Surface defect detector of photoreceptor |
| JPS5937581A (ja) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | Fuji Electric Co Ltd | 電子写真用感光体試験機 |
-
1984
- 1984-03-16 JP JP59051836A patent/JP2674002B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53131848A (en) * | 1977-04-22 | 1978-11-17 | Hitachi Ltd | Surface defect detector of photoreceptor |
| JPS5937581A (ja) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | Fuji Electric Co Ltd | 電子写真用感光体試験機 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007108173A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Xerox Corp | 帯電可能表面上の欠陥点を検出するためのコンタクトレスシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2674002B2 (ja) | 1997-11-05 |
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