JPS6224292Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電子写真感光体の感度および解像を評
価するための特性測定装置に関し、特に走査光入
力に対する特性を評するための上記装置に関す
る。

最近、電子写真記録法と陰極線管やレーザー光
等による走査光との組合せによる記録装置が実用
化されつつある。装置に使用される電子写真感光
体の感度は、従来、一様な光を感光体に照射した
ときの入射露光量に対する電荷像の潜像電位の変
化から求められていた。しかし、一様光と走査光
とでは露光量は同一でも露光時間や光強度等露光
条件が異なるため、一様光露光に対して行なつた
感度評価を必らずしも走査光露光に対して適用す
ることはできない。一方、直接走査光を入射して
形成された電荷潜像の電位分布を測定するために
は分解能の高い表面電位測定装置が必要である
が、そのような装置は高価で扱いにくく、かつ分
解能に限界があつた。

本考案の目的は、走査光記録に対する感度や解
像度を測定するための手軽で安価な特性測定装置
を提供することにある。

本考案によれば、電子写真感光体と、前記電子
写真感光体の感光面に一定の主走査速度で走査光
を入射する光学的手段と、前記走査光の副走査速
度を変化させる手段と、前記走査光の光強度を変
化させる手段と、前記感光面に入射した前記走査
光に対応した電荷像を電荷像保持面上に形成する
像形成手段と、前記電荷像保持面の一定の面積当
りの平均的な表面電位を測定する手段とから成る
ことを特徴とする前記電子写真感光体の特性測定
装置が得られる。

以下に図面を用いて本考案について述べる。

第１図を参照すると、本考案による第１の実施
例は、陰極線管１０１の表示面１０２に一定の走
査速度の走査光を表示し、この走査光を光学レン
ズ１０４によつてゼログラフイー感光ドラム１０
５の表面に投影する。一方、副走査はゼログラフ
イー感光ドラムを駆動用モーター１０６によつて
図中矢印１０７の向きに回転することによつて行
なう。副走査速度は駆動用モーター１０６の回転
数を変えることによつて変化させることができ
る。感光面上に投影された走査光の光強度は絞り
108によつて変化させている。ゼログラフイー電
子写真法の場合感光体表面が電荷像保持面になつ
ている。すなわち電荷像の形成は走査光を投影す
る前にまづコロナ帯電器１０９によつて感光体表
面を一様に帯電し、その後走査光を投影すること
によつて光が当つた部分の帯電電荷を放電させる
手順によつて行なわれる。従つてゼログラフイー
感光体の感度は入射露光量に対して初期帯電電位
がどれだけ減少したかということから評価され
る。電荷潜像が形成された後の感光体の表面電位
は振動容量型の電位計１１０によつて測定され
る。この電位計は測定プローブ１１１が感光体表
面に近接配置されていて、プローブの電極面積に
よつて感光体表面上の被測定面積が決まり、表面
電位としてはこの面積内の平均値が求められる。
表面電位測定後感光体表面は螢光燈１１２によつ
て均一露光され表面電位がゼロ又は初期帯電電位
に比べて十分に小さくなる。この均一露光によつ
てコロナ帯電器１０９による初期帯電の状態を常
に一定に保つことが容易となる。

さて、以上の構成をもつ特性測定装置による電
子写真感光体の感度測定は次のように行なう。絞
り１０８を全開にして、入射光強度を最大にして
おき、駆動用モーター１０６の回転数を変えて副
走査速度を変化させる度に感光体表面の電位を測
定する。その結果を横軸に記録密度を縦軸に表面
電位を共にリニアスケール上にとつてプロツトす
ると第２図に示すようになる。すなわち記録密度
が小さくて走査線が一本一本分離しているときは
記録密度と共に表面電位は２０１のように直線的
に増加する。一方、記録密度が十分に大きくなつ
て走査線が重なつてくると表面電位は２０２のよ
うに飽和するようになる。入射光強度が十分強い
場合は表面電位は走査線の重なりが１回で十分飽
和するが、入射光強度が小さい場合は表面電位が
飽和するためには多数回の重なりが必要となる。
このように走査線が重なつた状態では光強度分布
におけるリツプルが小さくなり、一様光が入射し
た場合と同様に考えることができる。光感度の測
定は副走査速度を表面電位が飽和した点に固定し
ておき、絞り１０８を絞つて入射光エネルギー密
度を変化させてゆく毎に感光体表面の電位を求め
ればよい。その結果を横軸に入射した光のエネル
ギー密度を縦軸に表面電位をとつてプロツトすれ
ば第３図に示すような光感度特性が得られる。

次に解像度は第２図に示した表面電位対記録密
度の関係と第３図に示した表面電位対光エネルギ
ー密度の関係の他に入射走査線１本のパワーの分
布が分かれば求められる。走査光のパワーの分布
はいくつかの既知の方法によつて求めることがで
きる。測定法の一例を第４図に示した。すなわ
ち、第１の実施例と同様の走査光学系の焦点面に
走査光よりも十分小さな巾のスリツトを走査光に
直角になるように配置し、スリツトを通過した光
のパワーをホトダイオードや光電子増倍管等の検
出器４０２で測定すればよい。

さて、解像度を求めるには第３図の表面電位対
光エネルギー密度の関係を用いて走査光のピーク
パワーに対する電荷潜像のピーク電位を求める。
次に第２図の表面電位対記録密度の関係において
直線部分を延長して先に求めたピーク電位２０３
になる点２０４の記録密度２０５を求めると、こ
の値が電荷像形成における解像度となる。このよ
うに本考案による測定装置によれば電子写真感光
体の感度と解像度が容易に求まる。

次に第５図を参照すると、本考案による特性測
定装置の第２の実施例は、TESI電子写真法に使
用される感光体の特性測定装置を示しており、電
子写真感光ドラム５０１と、レーザー光源５０
２、回転多面鏡５０３、および光学レンズ５０４
から成るレーザー走査光学系と、副走査速度を変
化することができる駆動用モーター５０５と、レ
ーザー光強度を変化させるための光学フイルター
５０６と、感光ドラム５０１に接しながら移動す
る電荷保持用誘電体フイルム５０７と、表面電位
計５０８とから構成される。誘電体フイルム５０
７は透明であり、走査レーザー光は感光ドラム５
０１と誘電体フイルム５０７との接触部５０９に
誘電体フイルム５０７を通して入射する。このと
き電源５１０から記録用電圧を感光ドラムと誘電
体フイルムに直列的に印加することによつて誘電
体フイルム５０７の感光ドラム５０１と接触した
面上に入射レーザー光に対応した電荷潜像が形成
される。第１の実施例と同様に潜像の平均的な表
面電位がプローブ５１１を通して表面電位計５０
８により測定される。しかし、本実施例では先の
第１の実施例と異なつて電荷保持用誘電体フイル
ム５０８ははじめ帯電電位がゼロであり、光が入
射された部分に電荷潜像が形成される。従つて感
光体の光感度および解像度を求める測定手順は第
１の実施例と同様であるが、第２図および第３図
に示すような測定結果と傾きが異なり、表面電位
と記録密度の関係は第６図に、また感光体の光感
度は第７図に示すように測定される。解像度も第
１の実施例と同様第６図において電荷潜像のピー
ク電位４０３と直線部分４０１との交点４０４の
記録密度４０５が感光体の解像度となる。

以上のとうり、本考案による特性測定装置は各
種の電子写真感光体の光感度や解像度を容易に測
定することを可能にする。

なお、第１の実施例で示した走査光光学系を第
２の実施例で使用することも可能であり、また逆
も可能である。さらに、これら２つの実施例では
副走査速度は機械的手段によつて変化させている
が走査光の繰り返し周期を電気的または機械的手
段によつて変化させても機能は全く変らない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による一実施例の構成概要を示
しており、それぞれ１０１陰極線管、１０２表示
面、１０４光学レンズ、１０５ゼログラフイー感
光ドラム、１０６駆動用モーター、１０７回転の
向き、１０８絞り、１０９コロナ帯電器、１１０
振動容量型電位計、１１１測定プローブ、１１２
螢光燈を示す。 第２図は、表面電位と記録密度との関係を示す
もので、それぞれ２０１直線部分、２０２飽和
値、２０３潜像のピーク電位、２０４直線部分と
ピーク電位との交点、２０５潜像の解像度を示
す。 第３図は表面電位と光エネルギー密度との関係
を示す。 第４図は走査光のパワー分布測定のための構成
概略図で、それぞれ４０１スリツト、４０２検出
器を示す。 第５図は本考案による特性測定装置の第２の実
施例の構成概要を示しており、それぞれ５０１感
光ドラム、５０２レーザー光源、５０３回転多面
鏡、５０４光学レンズ、５０５駆動用モーター、
５０６光学フイルター、５０７誘電体フイルム、
５０８表面電位計、５０９誘電体フイルムとの接
触部、５１０電源、５１１プローブを示す。 第６図は表面電位と記録密度との関係を示して
おり、それぞれ４０１直線部分、４０２飽和値、
４０３潜像ピーク電位、４０４直線部分と直線部
分の交点、４０５記録密度を示す。 第７図は表面電位と光エネルギー密度との関係
を示す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 電子写真感光体と、前記電子写真感光体の感
   光面に一定の主走査速度で走査光を入射する光
   学的手段と、前記走査光に対する副走査速度を
   変化させる手段と、前記走査光の光強度を変化
   させる手段と、前記感光面に入射した前記走査
   光に対応した電荷像を電荷像保持面上に形成す
   る像形成手段と、前記電荷像保持面の定められ
   た面積当りの平均的な表面電位を測定する手段
   とから成ることを特徴とする前記電子写真感光
   体の特性測定装置。 ２ 光学的手段が陰極線管と光学レンズと絞りと
   から成り、前記陰極線管表示面上の走査光を前
   記光学レンズによつて感光体表面に投影するよ
   うになした実用新案登録請求の範囲第１項に記
   載の特性測定装置。 ３ 光学的手段がレーザー光源と、回転多面鏡と
   光学レンズと光学フイルターとから成る実用新
   案登録請求の範囲第１項に記載の特性測定装
   置。 ４ 像形成手段がゼログラフイー感光体とコロナ
   帯電器とから成り、前記コロナ帯電器により一
   様に前記感光体表面を帯電した後走査光を入射
   して照射部における電荷を減少させるようにな
   した、実用新案登録請求の範囲第２項および第
   ３項に記載の特性測定装置。 ５ 像形成手段が電子写真感光体と前記感光体に
   接する透明誘電体フイルムと電圧印加手段とか
   ら成り、前記透明誘電体フイルムを通して走査
   光を前記感光体表面に入射すると共に、前記電
   圧印加手段により前記感光体および前記誘電体
   フイルムに直列的に電圧を印加することによつ
   て前記誘電体フイルム表面に電荷像を形成する
   ようになした、実用新案登録請求の範囲第２項
   および第３項に記載の特性測定装置。