JPS60192418A - 高速度入力バツフア - Google Patents

高速度入力バツフア

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JPS60192418A
JPS60192418A JP60021592A JP2159285A JPS60192418A JP S60192418 A JPS60192418 A JP S60192418A JP 60021592 A JP60021592 A JP 60021592A JP 2159285 A JP2159285 A JP 2159285A JP S60192418 A JPS60192418 A JP S60192418A
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JP
Japan
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transistor
channel
voltage
signal
well
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JP60021592A
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Inventor
ラル・チヤンド・スツド
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Motorola Inc
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    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
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    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
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    • H03K19/01855Interface arrangements synchronous, i.e. using clock signals
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    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0018Special modifications or use of the back gate voltage of a FET

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 本発明は、高速度人力バッファに関するものであり、よ
り詳細には、入力レベルが電源レベルに対応しない高速
度人力バッファに関する。
発明の背景 代表的なCMO5入力段階は、電源の正と負の端子間に
直列接続のPチャネル、Nチャネルトランジスタを有し
、入力信号を受けるためゲートを一緒に接続した普通の
CAl0Sインバータである。
CMO5集積回路が、TTL信号を受けるように設計さ
れるとき、この部分は、量も悪い場合のTTL入力状態
に対し所定の電流と速度の問題に合致させなければなら
ない。TTL信号は、0.8ボルトの電圧レベルを有す
る論理低を有するであろう。高速度動作に対し、CuO
2)ランジスタはPチャネル、 〜Nチャネルの両者と
も0.8ボルトよりかはかなシ低い9例えば0.5ボル
トのしきい値電圧を持つであろう。したがってトヤネル
・トランジスタは、入力信号が論理低のときでさえ、望
ましくない導通となるであろう。これは望ましくない電
流ドレーンである。逆に入力信号は、2.0ボルトの電
圧でも論理高であシうる。供給電圧は普通約5ボルトで
あるから。
入力Pチャネル・デバイスは望ましくないほど導通し、
また望ましくない電流ドレーンをおこすであろう。しだ
がって、入力Nチャネル及びPチャネル・トランジスタ
は、充分大きくして所望の速度を達成するため、出力ノ
ードのキャパシタンスを充電と放電するためのみならず
、非導通が望ましいトランジスタによシ、望ましくない
ほど供給される電流を処理するためにも、充分に大きく
する必要がある。
発明の要約 本発明の目的は、改良された高速度人力バッファを提供
することである。
本発明の他の目的は、改良された速度を有する高速度人
力バッファを提供することである。
本発明のさらに他の目的は、電流ドレーンの減少した高
速度入力バツ7アを提供することである。
本発明のこれら及び他の目的は、高速度動作を得るため
に比較的に低いしきい値電圧を持つ代表的トランジスタ
の集積回路で達成される。集積回路から外部信号を受け
る入力バッファは、直列に接続したPチャネルとNチャ
ネルのトランジスタよシなるCMOS インバータを有
する。これらP及びNチャネル・トランジスタの少なく
とも1個は。
代表的な低しきい値電圧デバイスにょシ受けられ実施例
の説明 第1図には、一般的にクロックされたイ/バータ11.
インバータ12.及びラッチングPチャネル・トランジ
スタ15よシなる入力バッファ10が示さレル。インバ
ータ11は、Pチャネル・トランジスl’ 14. N
チャネル・トランジスタ15.及びN−f−ヤネル・ト
ランジスタ16よシなる。インバータ12は、Pチャネ
ル・トランジスタ17とNチャネル・トランジスタ18
よシなる。 トランジスタのすべては、エンハンスメン
ト・モードの絶縁ゲート形電界効果トランジスタである
。Pチャネル・トランジスタ13,14 、及び17は
、−0,4〜−0,6ボルトのしきい値電圧を有する。
Nチャネル・トランジスタ16と18は、0.4〜0.
6のしきい値電圧を有する。
トランジスタ15は、特別の逆バイアス電圧により1.
4〜1.6ボルトのしきい値電圧を有する。
トランジスタ14は、ソースを、正の電圧2例えば5ボ
ルトを受ける電源端子”DDに接続させ、入力信号Vl
を受けるゲートを有し、ドレインをインバータ11の出
力として作用するノード19に接続させる。トランジス
タ15は、ドレインをノード19に接続させ、ゲートを
信号Vlを受けるトランジスタ14のゲートに接続させ
、かつソースを具える。トランジスタ16は、ドレイン
をトランジスタ15 のソースへ接続させ、ソースを接
地へ接続させ、チップ選択信号CSを受けるゲートを有
する。
トランジスタ17は、ソースを’DDに接続させ、ゲー
トをノード19に接続させ、出力信号VOを供給するド
レインを有する。トランジスタ18 は、ドレインをト
ランジスタ17のドレインへ接続させ。
ゲートをノード19へ接続させ、ソースを接地へ接続さ
せる。トランジスタ13 は、ソースを’DDに接続さ
せ、ゲートをトランジスタ17のドレインに接続させ、
ドレインをノード19へ接続させる。
信号Vlに応する動作では、信号CSは論理高であるの
で、トランジスタ16 は導通である。インバータ11
は、信号Vlの論理状態とは補数の論理状態の出力をノ
ード19に供給する。次いで、インバータ12は、ノー
ド19の論理状態とは補数の論理状態の信号VOを供給
する。信号CSが論理低のときは、トランジスタ16は
非導通であるので。
インバータ11は、もはや信号vrに応答しない。
そのような場合、トランジスタ13は、ノード19の論
理状態を論理低に低下させることで、ノード19におけ
る漏洩を阻止するのに有効である。信号CSが論理低に
スイッチするとき、ノード19が論理低であれば、信号
VOが論理高となることにより、トランジスタ13は非
導通となるから。
ノード19の論理低は乱されないであろう。
信号Vlは論理低のあいだ0.8ボルトの高さである。
トランジスタ15のしきい値電圧は、1.4〜1.6ボ
ルトであるから、トランジスタ15 は非導通であるの
は確かである。トランジスタ14は導通であるので、ノ
ード19をVDDの電圧に到達させる。
ノード19がVDDの電虜惜ることにより、トランジス
タ17 が非導通であるのは確実である。したがって、
インバータ11.!、たは12を介してVDDと接地と
の間に電流通路は存在しない。これは望ましい結果であ
る。もしトランジスタ15のしきい値電圧が、他のトラ
ンジスタのように0.4ないし0.6ボルトであれば、
トランジスタ15は、信号Vlが0.8ボルトの時には
、電流を導通するであろう。
しかし、信号vrが0.8ボルトの時にトランジスタ1
5が導通でないことは、この条件のもとてインバータ1
1を通る電流ドレーンを除去するのに有利であるのみな
らず、速度を改善するのにもまた有効である。ノード1
9が論理低から論理高にスイッチするためには、ノード
19のキャパシタンスが充電されなければならない。ト
ランジスタ14により供給される電流は、トランジスタ
15がなにも電流ドレーンを起こさないから、充電ノー
ド19 に加えられるであろう。したがって、ノード1
9は、トランジスタ15が導通である場合より速い速度
で電圧が上昇するであろう。
トランジスタ14 は、望ましい速度を得るため選択さ
れる利得を興えている。チャネル長は9通常あるプロセ
スによシ許された最小の長さに固定されるか又はそれに
近いから、利得の増加はチャネル幅の増加を意味し、こ
れはつぎにはサイズ(寸法:5ize)の増加を意味す
る。したがってトランジスタ15が非導通の保証があれ
ば、トランジスタ14は、トランジスタ15が非導通で
ない場合と同様の速度を得るために、サイズは小さく出
来るし、チップ面積も節約される。
トランジスタ15が導通でないことは、このように、電
流ドレーンを減少させることの他に、速度の上昇やチッ
プ面積の減少、または両者の組合せの何れかに利用され
る。
トランジスタ15は9選択的な逆バイアスの適用によシ
、他のNチャネル・トランジスタの電圧以上に都合よく
電圧が増大される。第1図において、トランジスタ15
は、電圧”BBによってそのチャネル又はウェル(we
ll)をバイアスさせる如く図示されている。単純化さ
れた形式において第2図には、N型基板21の中に製作
された通常のNチャネル・トランジスタ20 を断面図
にて示されている。トランジスタ20は、P−ウェルの
中にソース/ドレイン領域22と23と、絶縁層26を
被うゲート25とを有する。 このような構成では、基
板21は、この実施例ではl ”Of)において与えら
れる電圧即ち5ボルトである。P−ウェル24のよりな
P−ウェルは1本実施例において2代表的には負の電源
電圧、即ち接地電位である。したがって。
基板21とP−ウェル24との間のP−N接合は、逆バ
イアスである。トランジスタ20は、P−ウェル24に
与えられた電圧を、より負に印加することによる逆バイ
アスで、そのしきい値電圧を容易に増加させることが出
来る。Nチャネル・トランジスタが、この方法によりそ
のしきい値電圧を逆バイ □アスで増大させるのは2周
知のことである。
更に、Nチャネル・トランジスタを逆バイアスにするそ
のような負電圧を発生する技術は周知のことである。導
体27は1発生した負電圧をP−ウェルへ結合させるた
め2通常の技術を使用して。
P−ウェルに接触するように容易に製作される。導体2
7は、絶縁層28によシ他の領域より絶縁されているよ
うに図示されている。他の適当な材料も使用出来るが、
好ましい実施例においては、基板21は単結晶シリコン
であり、絶縁物26と絶縁層2日は酸化シリコンであり
、ゲート25は多結晶シリコンであシ、導体27は多結
晶シリコン、または金属である。
この逆バイアス技術は、負の電圧をP−ウェル24′に
加えることにより、他のPウェルのトランジスタのしき
い値電圧が影響を受けないように選択さ 、れる。基板
21とP−ウェル24との間のF−N接合は、基板21
と他のP−ウェル(図示せず)の間に形成された他のP
−N接合より、簡単に、更に多 ゛−く逆バイアスされ
る。したがって、低しきい値電圧により促進される他の
回路の高速度特性は、インバータ11の入力バッファ特
性を改善するため。
トランジスタ15のしきい値を増加することにより損傷
されない。
ゲート長は現在は1ミクロン範囲に減少し続けるので、
逆バイアス−2,5ボルトのしきい値電圧への逆バイア
ス効果は、接地P−ウェルの中のNチャネル・トランジ
スタのしきい値電圧以上に1ボルトのしきい値電圧増加
を起すことができる。このような増加は、0.8ボルト
の論理低が受けられたとき、トランジスタ15が導通し
ないであろうということを確実に保証する。最新の回路
モデル技術では、しきい値電圧の望ましい変化を得るた
めの逆バイアスの量は、容易にめられる。
第3図には、一般に、クロックされた( cl ock
ed)インバータ31.インバータ32.及びクランピ
ングNチャネル・トランジスタ33 より成る入力バッ
ファ50が示される。インバータ31は、Pチャネル・
トランジスタ64.Nチャネル・トランジスタ35、及
びPチャネル・トランジスタ56より成る。
インバータ52は、Pチャネル・トランジスタ37とN
チャネル・トランジスタ58よυ成る。 トラy シス
タ!13−!181d、 t ヘて、エンハンンメント
・モード絶縁ゲート電界効果トランジスタである。
トランジスタ36は、ソースをV。0に接続させ。
否定された(nagated)チップ選択信号CSを受
けるゲート及びドレインを有する。トランジスタ64は
、ソースをトランジスタ36のドレインに接続させ、ド
レインをインバータ31 の出力として作用するノード
39に接続させ、入力信号Vlを受けるゲートを有する
。トランジスタ35は、ドレインをノード39に接続さ
せ、ソースを接地に接続させ、入力信号Vlを受けるゲ
ートを有する。 トランジスタ33 は、ドレインをノ
ード39 に接続させ、否定(negated)信号己
−を受けるゲートを有し、ソースを接地に接続させる。
トランジスタ37は、ソースを”DD に接続させ、ゲ
ートをノード39に接続させ、出力信号VOを供給する
ドレインを有する。トランジスタ38は、ドレインをト
ランジスタ37のドレインに接続させ、ゲートをノード
39に接続させ、ソースを接地に接続させる。
バッファ50の動作は、実質的に第1図のバッファ10
の動作と同様である。チップが選択された時、信号C5
は論理高で否定(rut gat ad )信号ハは論
理低であるので、トランジスタ36は導通し。
トランジスタ53は非導通である。インバータ31は、
そこで、信号Vlの論理状態の反転状態をノード39へ
供給する。インバータ32は、つぎに、ノード39に与
えられる状態の補数の論理状態の信号VOを供給する。
論理状態間の推移のあいだを除けば、ノード39はV。
Dの電圧か、または、それに近いので、トランジスタ3
7は非導通であるか。
あるいはノード39 は、接地電位かまたそれに近いの
で、トランジスタ38 は導通でない。チップが選択さ
れない場合、トランジスタ36は非導通であり、トラン
ジスタ33は導通となる。 トランジスタ36は、それ
によシ、インバータ31が信号Vlに応答することを不
可能にし、トランジスタ36はノード39を接地にクラ
ンプするので、信号VOは、チップが非選択の時には常
に、論理高にて供給される。この動作は第1図のバッフ
ァ10 とは異なり、入力インバータ31は、Nチャネ
ル・トランジスタの代りにPチャネル・トランジスタで
あるトランジスタ36によりクロックされ、トランジス
タ13の動作によシ前の論理状態にラッチされる代りに
チップが非選択の時には、信号VOは、トランジスタ3
3 の動作により論理高に保たれる点で、異なっている
しかし、TTL信号を受けることに関連する電流ドレー
ン問題は残る。第1図のバッファ10の場合におけると
同様に、信号Vlが論理高である時。
Pチャネル・トランジスタ34が非導通であり、信号V
lが論理低である時、Nチャネル・トランジスタ35が
非導通になることは、バッファ50において望ましい。
第1図と第2図で説明した技術を利用して、トランジス
タ35は、信号VIが論理低で0.8ボルトであるとき
、導通になるのを避けるため、そのしきい値電圧を増加
させることが可能である。
信号Vlが論理高にスイッチする場合の特性を改善する
ため、トランジスタ34のしきい値電圧を増加すること
は、他の別の方法である。信号Vlが、単に2.0ボル
トの論理高にスイッチするとき。
トランジスタ65は、ノード39を接地の電圧か又はそ
の近くまで低下させなければならない。これは、トラン
ジスタ34 が電流を供給していないか。
または減少した電流量を供給しておりさえすれば。
よシ急速に達成される。これは、トランジスタ34のし
きい値電圧の量を増加することにより達成される。完全
に非導通であるためには、しきい値電圧は9本実施例に
おいて、少なくともFDD電圧よシ、論理高である2ボ
ルトの最低電圧に対し信号Vlの電圧、を引いた値まで
増加されなければならない。FDD の電圧が5.0 
ボルトの場合、しきい値電圧の量は、少なくとも(5ボ
ルドー2ボルト)である3、0 ボルトとならなければ
ならない。少しの増加でもなお、ある利益を与えるであ
ろう。
第2図には、N形基板におけるNチャネル・トランジス
タは、そのしきい値電圧を選択的に非常に好都合に増加
させることが出来ることが図示された。第4図には、簡
単化した形式にて、P形基板41に製作されたPチャネ
ル・トランジスタ40の断面図が図示されている。トラ
ンジスタ4oは。
N−ウェル44中のソース/ドレイン領域42 ト43
と、絶縁層46の上を被っているゲート45とを有する
。このような構成では、基板41 は負の電源電圧であ
り1本例では接地電圧即ち、ある他の別に発生された負
電圧であるだろう。N−ウェル44のようなM−ウェル
は2代表的にはFDD に与えられる電圧、この実施例
の場合は5ボルトであるだろう。したがって、基板41
とN−ウェル44の間のPN接合は、逆バイアスされる
であろう。トランジスタ40は、N−ウェル44により
高い電圧を加えることによる逆バイアスによって、容易
にそのしきい値電圧の量を増加させることが出来る。第
2図のトランジスタ2oと全く同様に、トランク □メ
タ40は、そのしきい値電圧の量を選択的に増加させる
ことが可能であシ、他方、他のN−ウェルのトランジス
タのしきい値電圧に影響を与えない。 1N−ウェル4
4に接触し、絶縁層48を覆う導体47は、高電圧をN
−ウェル44に結合させるものである。高電圧は周知の
ボンピング技術により発生可能である。現在使用されて
いるそのような技術の1例は、高電圧プログラミング信
号が内部的に発生される。単一電源EEFROMである
与えられたCMOSデバイスに対して、Pチャネル及び
Nチャネルの双方ではなく代表的なPチャネル・トラン
ジスタか、またはNチャネル・トランジスタのみが、し
きい値電圧を選択的に増加させることが可能である。例
えば第2図において。
別個のN−ウェルがPチャネル・トランジスタに対して
作り出されうるが、しかし、これらのN−ウェルはN形
基板21 の中にあり、その間には逆バイアスのPN接
合は存在しないので、基板の電圧と異なる電圧は持つこ
とは出来ないであろう。第4図に図示されるP形基板4
1に形成されるP−ウェルに対しても同様のことが真実
である。Nチャネル・トランジスタに対しP−ウェルが
製作されたとしても、このP−ウェルは、ただ基板41
と同一の電圧のみである。しかしながら、多くのエビタ
キカバツファ特性の改善のため説明された都合のよなプ
ロセスが開発されうろことが、予見される。
そのような場合には、Pチャネル・トランジスタ及びN
チャネル・トランジスタは両方ともに、入い技術によシ
しきい値電圧を選択的に増加させることが出来るであろ
う。
たもの以外にも、多くの実施例を想定てきること ”本
発明は好ましい実施例にて説明されたが、商業技術者に
とって開示された発明は多くの方法にて変形可能であり
、この特別に詳述し、説明されは明らかである。したが
って9本発明の真の精神と範囲に含まれる本発明のいか
なる変更も、添〉の特許請求の範囲により包含されるこ
とが意図される。
以下本発明の実施の態様を列記する。
1、比較的に低い振幅特性の第1電圧のしきい値電圧を
有するPチャネル形トランジスタ、比較的 1゛に低い
振幅特性の第2電圧のしきい値電圧を有するNチャネル
形トランジスタ、及び直列に接続されたPチャネル形入
力トランジスタとNチャネル形入力トランジスタよりな
り、外部的に集積回路より入力信号を受けるゲートを有
するCuO2インバータ、を興える(:MOs集積回路
において、入力トランジスタの少なくとも1個のしきい
値電圧の振幅値を、対応するチャネル形の比較的低いし
きい値電圧の振幅値より大きい振幅値に増加させるステ
ップ、を興える高速変人カパツ7ア方法。
2、Nチャネル・トランジスタは、第3電圧の逆バイア
スを受ける手段を有するP−ウェルの中にあり、Nチャ
ネル形入力トランジスタのしきい値電圧の振幅値は、第
6電圧よシ負の電圧の逆バイアスを、そのP−ウェルに
印加することにより増加される。前記第1項記載の方法
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の第1実施例による高速度人力バッフ
ァの回路図である。 第2図は、第1図の回路を理解するのに有効なトランジ
スタの簡単化した断面図である。 第3図は2本発明の第2実施例による高速度人力バッフ
ァの回路図である。 第4図は、第3図の回路を理解するのに有効なトランジ
スタの簡単化した断面図である。 第1図において。 10は入力バッファ 11はクロックされたインバータ(clocked i
merter)12はインバータ 13はラッチングPチャネル・トランジスタ14.17
はPチャネル・トランジスタ15.16.18はNチャ
ネル・トランジスタFl)D は電源端子 Vl は入力信号 CS はチップ選択信号 VOは出力信号 特許出願人モトローラ・インコーボレーテツド代理人弁
理士玉蟲久五部 \ O Hθ、l ’30 FンG、3 \ 0 FI6.4

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 Nチャネル・トランジスタはP−ウェルの中に形成され
    、そのウェルの少なくとも1個は第1電圧の逆バイアス
    を受ける手段を有するCAlO3集積回路において、入
    力バッファは。 第1電流電極を第1電源端子に接続させ、入力信号を受
    ける制御電極と出力を供給する第2電流電極を有する第
    1Pチヤネル・トランジスタ;第1電圧より負である第
    2電圧の逆バイアスを受ける手段を有するP−ウェルに
    より形成され、第1電流電極を第1Pチヤネル・トラン
    ジスタの第2電流電極に結合させ、入力信号を受ける制
    御電極を有し、第2電流電極を第2電源端子に結合させ
    た第1Nチヤネル・トランジスタ; を具える入力バッファ。
JP60021592A 1984-02-09 1985-02-06 高速度入力バツフア Pending JPS60192418A (ja)

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US06/578,718 US4612461A (en) 1984-02-09 1984-02-09 High speed input buffer having substrate biasing to increase the transistor threshold voltage for level shifting
US578718 1984-02-09

Publications (1)

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JPS60192418A true JPS60192418A (ja) 1985-09-30

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JP60021592A Pending JPS60192418A (ja) 1984-02-09 1985-02-06 高速度入力バツフア

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4760560A (en) * 1985-08-30 1988-07-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Random access memory with resistance to crystal lattice memory errors
US4820937A (en) * 1985-09-19 1989-04-11 Xilinx, Incorporated TTL/CMOS compatible input buffer
US4717836A (en) * 1986-02-04 1988-01-05 Burr-Brown Corporation CMOS input level shifting circuit with temperature-compensating n-channel field effect transistor structure
US4791323A (en) * 1986-10-23 1988-12-13 Silicon Systems, Inc. Level translation circuit
US4783607A (en) * 1986-11-05 1988-11-08 Xilinx, Inc. TTL/CMOS compatible input buffer with Schmitt trigger
US4791318A (en) * 1987-12-15 1988-12-13 Analog Devices, Inc. MOS threshold control circuit
JPH0814781B2 (ja) * 1988-07-18 1996-02-14 三菱電機株式会社 Icメモリカード
KR910007434B1 (ko) * 1988-12-15 1991-09-26 삼성전자 주식회사 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 반도체 메모리장치 및 그 소거 및 프로그램 방법
KR910007785B1 (ko) * 1988-12-20 1991-10-02 삼성전자 주식회사 전원공급전압 변동에 대해 안정한 씨모스 입력 버퍼회로
US5017811A (en) * 1989-10-27 1991-05-21 Rockwell International Corporation CMOS TTL input buffer using a ratioed inverter with a threshold voltage adjusted N channel field effect transistor
US5151622A (en) * 1990-11-06 1992-09-29 Vitelic Corporation CMOS logic circuit with output coupled to multiple feedback paths and associated method
US5130569A (en) * 1991-03-12 1992-07-14 Harris Corporation Power-on reset circuit
US5128560A (en) * 1991-03-22 1992-07-07 Micron Technology, Inc. Boosted supply output driver circuit for driving an all N-channel output stage
US5144167A (en) * 1991-05-10 1992-09-01 Altera Corporation Zero power, high impedance TTL-to-CMOS converter
US5266849A (en) * 1992-02-19 1993-11-30 Hal Computer Systems, Inc. Tri state buffer circuit for dual power system
EP0653843A3 (en) * 1993-11-17 1996-05-01 Hewlett Packard Co CMOS circuits with adaptive voltage threshold.
US6002618A (en) * 1994-08-15 1999-12-14 Creative Integrated Systems NMOS input receiver circuit
KR100275721B1 (ko) * 1997-09-08 2000-12-15 윤종용 반도체장치의 입력버퍼
US5936433A (en) * 1998-01-23 1999-08-10 National Semiconductor Corporation Comparator including a transconducting inverter biased to operate in subthreshold
US6147550A (en) * 1998-01-23 2000-11-14 National Semiconductor Corporation Methods and apparatus for reliably determining subthreshold current densities in transconducting cells
US6091264A (en) * 1998-05-27 2000-07-18 Vanguard International Semiconductor Corporation Schmitt trigger input stage
US5973530A (en) * 1998-05-29 1999-10-26 Lucent Technologies Inc. Low power, high voltage-tolerant bus holder circuit in low voltage technology
JP3147869B2 (ja) * 1998-08-31 2001-03-19 日本電気株式会社 半導体集積回路
US6239649B1 (en) 1999-04-20 2001-05-29 International Business Machines Corporation Switched body SOI (silicon on insulator) circuits and fabrication method therefor
US7512019B2 (en) * 2005-11-02 2009-03-31 Micron Technology, Inc. High speed digital signal input buffer and method using pulsed positive feedback

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53103371A (en) * 1977-02-22 1978-09-08 Nec Corp Field effect transistor complementary circuit

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5472691A (en) * 1977-11-21 1979-06-11 Toshiba Corp Semiconductor device
US4384300A (en) * 1978-06-21 1983-05-17 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Negative resistance device
JPS5939904B2 (ja) * 1978-09-28 1984-09-27 株式会社東芝 半導体装置
JPS5591861A (en) * 1978-12-29 1980-07-11 Fujitsu Ltd Cmos logic circuit
US4300061A (en) * 1979-03-15 1981-11-10 National Semiconductor Corporation CMOS Voltage regulator circuit
US4435652A (en) * 1981-05-26 1984-03-06 Honeywell, Inc. Threshold voltage control network for integrated circuit field-effect trransistors
US4430582A (en) * 1981-11-16 1984-02-07 National Semiconductor Corporation Fast CMOS buffer for TTL input levels
US4501978A (en) * 1982-11-24 1985-02-26 Rca Corporation Level shift interface circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53103371A (en) * 1977-02-22 1978-09-08 Nec Corp Field effect transistor complementary circuit

Also Published As

Publication number Publication date
KR920006014B1 (ko) 1992-07-25
KR850006277A (ko) 1985-10-02
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