JPS60189019A - スライデイングモ−ド制御方式 - Google Patents
スライデイングモ−ド制御方式Info
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- JPS60189019A JPS60189019A JP4524584A JP4524584A JPS60189019A JP S60189019 A JPS60189019 A JP S60189019A JP 4524584 A JP4524584 A JP 4524584A JP 4524584 A JP4524584 A JP 4524584A JP S60189019 A JPS60189019 A JP S60189019A
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/19—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
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- G05B2219/41029—Adjust gain as function of position error and position
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、可変構造系(variable struc
turesystem)におりるスライディングモード
制御を用いた位置決め制御又は速度制御方式(以下両者
を総称して単に位置決め制御ということがある。)のゲ
イン調節方法に関するものである。
turesystem)におりるスライディングモード
制御を用いた位置決め制御又は速度制御方式(以下両者
を総称して単に位置決め制御ということがある。)のゲ
イン調節方法に関するものである。
スライディングモード制御とは、状態空間の中にあらか
しめ設定されたずベリ面に沿って被制御対象が動作する
ように制御入力を切り換える制御方法である。
しめ設定されたずベリ面に沿って被制御対象が動作する
ように制御入力を切り換える制御方法である。
まず、本発明が対象とするスライディングモード制御に
ついて説明する。
ついて説明する。
第1図はこの制御を用いた位置決め制御系のブロック図
を示すものである。まず、状態変数X1゜x2を次のよ
うに定義する。
を示すものである。まず、状態変数X1゜x2を次のよ
うに定義する。
Xl =p(ol−IXI 、 x2−交1−−−−−
−−−一一一−il1式但しp(0)は位置指令、χ1
は位置のフィートハック、Xl ば位置偏差、x2は速
度である。サンプリング周期をT、に時点での状態変数
及び制御入力をそれぞれxl (kl、x2 (kl、
u[klと略記すると、離散形式の状態方程式は、 となる。ここでq =exp(−d−T/J)、p =
、I(]−q)/d。
−−−一一一−il1式但しp(0)は位置指令、χ1
は位置のフィートハック、Xl ば位置偏差、x2は速
度である。サンプリング周期をT、に時点での状態変数
及び制御入力をそれぞれxl (kl、x2 (kl、
u[klと略記すると、離散形式の状態方程式は、 となる。ここでq =exp(−d−T/J)、p =
、I(]−q)/d。
m =−Kt −Kg−P/J、 14 =−KL −
KH(’r−p)/d。
KH(’r−p)/d。
r =J(T−p)/d、、 f =Kg −F/Jで
ある。
ある。
また1、Jはイナーシャ、dはダンピング係数、kgは
ギヤ比、klは1−ルク定数である。
ギヤ比、klは1−ルク定数である。
いま、例えばスライディングカーブ(指定1ifLFA
O3,を、 で与える。この式において、移動装置の加速度をaとす
るとα−1/2dである。また最大a′]容速変速度、
位相面での定席点近傍の傾きをCとしている。
O3,を、 で与える。この式において、移動装置の加速度をaとす
るとα−1/2dである。また最大a′]容速変速度、
位相面での定席点近傍の傾きをCとしている。
一方、制御人力11を次式で表す。
u =kl ・x+ 十に2 ・X2+kf、5Bn(
S、、) −””’−(/Ill:IQkl、 k2.
kチが制御ゲインであり、次のようにして決められる
。
S、、) −””’−(/Ill:IQkl、 k2.
kチが制御ゲインであり、次のようにして決められる
。
スライディングモードの存在条件式を
S5・奴く0(ルー1〜4)−−−(5)式とし、この
式に前記の(2)、(3)、(4)民を適用して、各ス
ライディングカーフごとに不等1.(の形でり“イン範
囲かめられろ。このゲイン範囲は、イナーシャ、J、ダ
ンピング係数d1 ;・ルク定数1<シ、外乱I?の変
動を考慮した修正を行なう。これと、制御人力Uの制限
(11(≦111、及び各スライう一インクカーブに対
応した4ツク態変数の範囲とから特定のゲインを設定す
る。
式に前記の(2)、(3)、(4)民を適用して、各ス
ライディングカーフごとに不等1.(の形でり“イン範
囲かめられろ。このゲイン範囲は、イナーシャ、J、ダ
ンピング係数d1 ;・ルク定数1<シ、外乱I?の変
動を考慮した修正を行なう。これと、制御人力Uの制限
(11(≦111、及び各スライう一インクカーブに対
応した4ツク態変数の範囲とから特定のゲインを設定す
る。
スライディングモート制御による位置決め制御系あるい
は速度制御系の設計では、既知である’111制御糸の
パラメータを用いて、スラ・イう一イングモードの存在
条件から制限されるゲイン領域において、想定されるパ
ラメータの変動範囲を勘案し、強めのゲインを設定する
のが一般的である。弱いゲイン設定は、小さな外乱−や
パラメータ変’IiJ+にりjしてスライプインクカー
ブからの大きな]゛れを引き起ごずか、またはスライデ
ィングモー1か発生しなくなるからである。
は速度制御系の設計では、既知である’111制御糸の
パラメータを用いて、スラ・イう一イングモードの存在
条件から制限されるゲイン領域において、想定されるパ
ラメータの変動範囲を勘案し、強めのゲインを設定する
のが一般的である。弱いゲイン設定は、小さな外乱−や
パラメータ変’IiJ+にりjしてスライプインクカー
ブからの大きな]゛れを引き起ごずか、またはスライデ
ィングモー1か発生しなくなるからである。
従って、この設定ケインは、考えているパラメータ変動
や外乱に対して強ずぎる設定になっている。そごで、一
般に制1al1人力に1、制限値引、で正負の極性に振
れる、ハンハン制御(t)ang−bangc。
や外乱に対して強ずぎる設定になっている。そごで、一
般に制1al1人力に1、制限値引、で正負の極性に振
れる、ハンハン制御(t)ang−bangc。
ntrol )の顔向を呈する。
この強いゲ・イン設定で番J、実−1i1j h’lF
のリップルが過大となり、I”Ii ll’?j度の位
置決めでは:〃)影−蓼を及ぼず。
のリップルが過大となり、I”Ii ll’?j度の位
置決めでは:〃)影−蓼を及ぼず。
また、不頷定ty外乱に対し−(どの程度強いケイン設
定にするのかの判定基準はな(、経験的なものとなって
いる。更に初期設定ケインのままであると、外乱の向き
(正、負)によって軌跡に偏りが出る。また制御時間
遅れ(サンプリング周期)か大きくなると、比例的に実
il!IL跡のリップルは大き(なる。また高いザンプ
リング周波数は、検出器に11’f+連の応答を強いる
のめならず、ili制御演算はσL用マイクし!プl、
I十)9では不iiJ能となり、1rllIilliな
ハード回路にf衣存しなtdれはならないこととなる。
定にするのかの判定基準はな(、経験的なものとなって
いる。更に初期設定ケインのままであると、外乱の向き
(正、負)によって軌跡に偏りが出る。また制御時間
遅れ(サンプリング周期)か大きくなると、比例的に実
il!IL跡のリップルは大き(なる。また高いザンプ
リング周波数は、検出器に11’f+連の応答を強いる
のめならず、ili制御演算はσL用マイクし!プl、
I十)9では不iiJ能となり、1rllIilliな
ハード回路にf衣存しなtdれはならないこととなる。
従って、強めの設定ゲインを弱くするかまたは予想外の
パラメータ変動が起こった時は史にゲーインを強化し、
制御入力を可能な限りl?fらかにすると共に、指定’
1ifL跡からのずれを小さく留めるよう、適応的にゲ
インを変える制御方策の導入が必要である。
パラメータ変動が起こった時は史にゲーインを強化し、
制御入力を可能な限りl?fらかにすると共に、指定’
1ifL跡からのずれを小さく留めるよう、適応的にゲ
インを変える制御方策の導入が必要である。
本発明は、実1lJt跡の、指定iI!lL跡に対して
の存在領域の判別と距離のす屁を評価しながら、ゲイン
を外乱やパラメータ変化に・つれて適応的に変えること
により、大きな制御遅れでも軌跡のリップルを小さくし
、外乱及びパラメータ変化に強いiH1精度位置決め又
は速度制御(以下、両者を総合して位置決め制御と称す
る場合かある。)をiJJ能とした制御万代を提供する
ことを目的とするものである。
の存在領域の判別と距離のす屁を評価しながら、ゲイン
を外乱やパラメータ変化に・つれて適応的に変えること
により、大きな制御遅れでも軌跡のリップルを小さくし
、外乱及びパラメータ変化に強いiH1精度位置決め又
は速度制御(以下、両者を総合して位置決め制御と称す
る場合かある。)をiJJ能とした制御万代を提供する
ことを目的とするものである。
本発明GIJ、スライディングモート制御を用いた位置
決め制御において、予め指定したスライディングカーブ
にり]して実軌跡の存在領域の用足をtjない、前記カ
ーブからの、ずれの距141[に応じて、制御入力を決
定するゲインを調(修するごとをqh徴とするものであ
る。
決め制御において、予め指定したスライディングカーブ
にり]して実軌跡の存在領域の用足をtjない、前記カ
ーブからの、ずれの距141[に応じて、制御入力を決
定するゲインを調(修するごとをqh徴とするものであ
る。
以下に、本発明を具体的に説明する。
前記の(4)式の制御入力を決定するkL k2. k
lの初期設定ゲインは、 スライディングカーブS、に対して、 スライディングカーブS2に対して、 スライディングカーブS3に対し−C、スライディング
カーブS4に対して、 というように設定する。
lの初期設定ゲインは、 スライディングカーブS、に対して、 スライディングカーブS2に対して、 スライディングカーブS3に対し−C、スライディング
カーブS4に対して、 というように設定する。
この初期設定ゲインを1サンプリンタ1iiiの状態点
の座標[:x+(K−1)、x2(k−1) )と、現
サンプリング時点の座標(x+tkl、’ x2(kl
’)の検出信号から演嘗される、指定並り跡からのずれ
の距離及びその増減判定を基礎にして、前記のkl、
k2. klをサンプリング毎に、前回の指令状態を参
照して調節していく。
の座標[:x+(K−1)、x2(k−1) )と、現
サンプリング時点の座標(x+tkl、’ x2(kl
’)の検出信号から演嘗される、指定並り跡からのずれ
の距離及びその増減判定を基礎にして、前記のkl、
k2. klをサンプリング毎に、前回の指令状態を参
照して調節していく。
指定!ilt跡からのずれの距離D fklを(6]
isでめる。
isでめる。
V2
1)ikl−(fx+(kl−x+h(kit −l−
、(x2tkl−X2” (kll 3ここでx+h(
kl、 X2h(klは、1(サンプリング時点の状態
点XI (kl 、 X2 (k)から指定ll1lt
跡(スライディングカーブ)へ下ろした垂線の足の状態
点(位相面における座標)である。
、(x2tkl−X2” (kll 3ここでx+h(
kl、 X2h(klは、1(サンプリング時点の状態
点XI (kl 、 X2 (k)から指定ll1lt
跡(スライディングカーブ)へ下ろした垂線の足の状態
点(位相面における座標)である。
また、座標リップルL IQ)を(7)式でめる。
L[kl= l SI!n(St (kl)IHkl−
Sgn(S4 (k−1))l)(kl) l・−−−
−−−−−−−−−−一−−+71式第3図はD (k
l 、L (klの説明図である。
Sgn(S4 (k−1))l)(kl) l・−−−
−−−−−−−−−−一−−+71式第3図はD (k
l 、L (klの説明図である。
変化する、または想定した外乱やパラメータ値に対して
、適切なゲイン(kL k2. kl)になっていなけ
れば、(6)式で定義した距離D fklが大きいとい
う考えに立脚して、これを小さくするようにゲインを第
4図に示ずフl’J−チャー1・で調節する。
、適切なゲイン(kL k2. kl)になっていなけ
れば、(6)式で定義した距離D fklが大きいとい
う考えに立脚して、これを小さくするようにゲインを第
4図に示ずフl’J−チャー1・で調節する。
検出器精度、制御演算精度などから決まるゲイン調節の
モードを選定するD (klに対する2つの距離基?$
d*fとεを予め設定する。同様に、I−Fklに対し
てd*文を設定する。
モードを選定するD (klに対する2つの距離基?$
d*fとεを予め設定する。同様に、I−Fklに対し
てd*文を設定する。
位置と速度検出信号から、kサンプリング時点の位置偏
差x+ (kl及び速度X2 (klをめる。これから
x+’fkl及び速度X2h(k)をめる演q−を行な
い、(6)式を用いてD (klを得る。また、(3)
式によって5t(kl、更にSgn(Si(kl)をめ
る。
差x+ (kl及び速度X2 (klをめる。これから
x+’fkl及び速度X2h(k)をめる演q−を行な
い、(6)式を用いてD (klを得る。また、(3)
式によって5t(kl、更にSgn(Si(kl)をめ
る。
1サンプリング前のSgr+(Si (k−1))とS
gn (S i fkl )との積の符号をεIi、I
べることによって、実軌跡が指定軌跡(Si=0)を横
切ったか否かを判定することができる。これにより大き
く2つの場合に分りてゲインを2周節する。
gn (S i fkl )との積の符号をεIi、I
べることによって、実軌跡が指定軌跡(Si=0)を横
切ったか否かを判定することができる。これにより大き
く2つの場合に分りてゲインを2周節する。
イ)指定軌跡を横切らない場合;
Sgn(Si (k)) ・Sにn(Si(kl))
> 0この場合は、klの調節を行なう。1サンプリン
グ前のゲインを更に強めた設定が必要である。
> 0この場合は、klの調節を行なう。1サンプリン
グ前のゲインを更に強めた設定が必要である。
但しI) (klかk f#I61節判定レヘルεしベ
小さいときは、前シ′ンブリング時に調節されたゲイン
にチ(k−1)のままとする。
小さいときは、前シ′ンブリング時に調節されたゲイン
にチ(k−1)のままとする。
Sgn(Si(kl)の符υ判定により、kl(k−1
)のゲインkpi(k−])、kni(k−IL k’
pi(k−IL k’n1(k−1)のいずれが制御人
力u(kl)の算定に使われたかが判る。制御人力u(
k−1)の算定に使用された力 (1列えばkpi(k
−1))のゲイン調節にウェイI−をかり、D (kl
の比例ケイン係数wG、w+−(Wc > WL )の
うらWcを用いて、J(kl(=kpi(k))をめる
。制御人力u (kl)の算定に関与しなかった方(例
えばkni (k−1))のゲイン調節は、W 1.を
用いて、kl(kl (−kni (k))をめる。し
かしこの後者の方は、D (kl > d*チのとき、
オンオフ制御変数Wによって、これが0 (オフ)に設
定され、結果的ににチ(kl −にチ(k−1) とす
る。
)のゲインkpi(k−])、kni(k−IL k’
pi(k−IL k’n1(k−1)のいずれが制御人
力u(kl)の算定に使われたかが判る。制御人力u(
k−1)の算定に使用された力 (1列えばkpi(k
−1))のゲイン調節にウェイI−をかり、D (kl
の比例ケイン係数wG、w+−(Wc > WL )の
うらWcを用いて、J(kl(=kpi(k))をめる
。制御人力u (kl)の算定に関与しなかった方(例
えばkni (k−1))のゲイン調節は、W 1.を
用いて、kl(kl (−kni (k))をめる。し
かしこの後者の方は、D (kl > d*チのとき、
オンオフ制御変数Wによって、これが0 (オフ)に設
定され、結果的ににチ(kl −にチ(k−1) とす
る。
口)指定jilt跡を横切る場合;
(S++n (Si (k)) ・5IXn (Si
(k−1)) < (] 〕この場合は、kl、 k2
. klのゲインを前より弱めた設定にする。(7)式
によりL (klの演算を行ない、比軸リノプルレベル
(1本。より小さいとき、即ちL (kl < d’o
であれば、実軌跡は指定軌跡をほぼ中心にして、両側に
11”&小距離でイY存する望ましい形である。従って
、前サンプリング量産でのゲインを保揚する。klfk
l=kl(k−1)、l+2ikl=に2(k−1)、
kl(kl=にす(k−])である。逆に、1゜fk
l>d*Qのとき、前サンプリング時に調節したゲイン
が強すぎであるため起ごった現象であり、kl(k−1
) 、 k2(k−1)をそれぞれl−(klに比例定
数W12を乗した割合だけ弱め−ζいる。klについて
は、制御人力u(k−1)の算定に使用した方のゲイン
(例えばk pi (k−1) )のめ、I−(klに
比例定数w+−を乗した割合を弱め−Cいる。
(k−1)) < (] 〕この場合は、kl、 k2
. klのゲインを前より弱めた設定にする。(7)式
によりL (klの演算を行ない、比軸リノプルレベル
(1本。より小さいとき、即ちL (kl < d’o
であれば、実軌跡は指定軌跡をほぼ中心にして、両側に
11”&小距離でイY存する望ましい形である。従って
、前サンプリング量産でのゲインを保揚する。klfk
l=kl(k−1)、l+2ikl=に2(k−1)、
kl(kl=にす(k−])である。逆に、1゜fk
l>d*Qのとき、前サンプリング時に調節したゲイン
が強すぎであるため起ごった現象であり、kl(k−1
) 、 k2(k−1)をそれぞれl−(klに比例定
数W12を乗した割合だけ弱め−ζいる。klについて
は、制御人力u(k−1)の算定に使用した方のゲイン
(例えばk pi (k−1) )のめ、I−(klに
比例定数w+−を乗した割合を弱め−Cいる。
ゲインを強めたり、・j−1めたり制御する係数がQ5
.Q皆であり、(2+、 +31.(4)、(5)式か
ら誘導されるゲイン領域を決める不等式の向き及び限界
値の符号から、初期ゲイン設定の強弱の方向で、+1か
−1かを採る。
.Q皆であり、(2+、 +31.(4)、(5)式か
ら誘導されるゲイン領域を決める不等式の向き及び限界
値の符号から、初期ゲイン設定の強弱の方向で、+1か
−1かを採る。
以」−のようにして、kザンブリング11.+Jでのケ
イン調節により、kHkl、 k2ik1. kl(I
()かめられると、制御人力u fklは、x2(kl
、 、5i(kl ×+(kl、 5i(k、l −X
2 (k)などの♀、1!−+判定によりkHkl、
k2!k1. kチtklから適当な3つが選定され、
(4)式から121られる。
イン調節により、kHkl、 k2ik1. kl(I
()かめられると、制御人力u fklは、x2(kl
、 、5i(kl ×+(kl、 5i(k、l −X
2 (k)などの♀、1!−+判定によりkHkl、
k2!k1. kチtklから適当な3つが選定され、
(4)式から121られる。
このu iklが1(ザンブリング期間のトルク指令に
相当する。第1図の制御系のゾ1−Jノクダイートダラ
ムのブ11ツクklから右側は、従来のサーホコントロ
ーラと電動機・機械系である。
相当する。第1図の制御系のゾ1−Jノクダイートダラ
ムのブ11ツクklから右側は、従来のサーホコントロ
ーラと電動機・機械系である。
更にu (klの決定において、kチー(lで、kl、
k2の一方を0に設定すると、位置制御ループ、ある
いは速度制御ループのめとなり、従来制御ループでの運
転が可能である。ループ切換信号を2ビツトの情報とし
て受&]取るようにしておき (例えば1.1− スラ
イディングモート制御、1.0 位置ループ制御、0.
1−速度ルニブ制御 のように設定する。)、これとk
l、 k2との論理積をとり、ゲインを設定する方法で
実現できる。
k2の一方を0に設定すると、位置制御ループ、ある
いは速度制御ループのめとなり、従来制御ループでの運
転が可能である。ループ切換信号を2ビツトの情報とし
て受&]取るようにしておき (例えば1.1− スラ
イディングモート制御、1.0 位置ループ制御、0.
1−速度ルニブ制御 のように設定する。)、これとk
l、 k2との論理積をとり、ゲインを設定する方法で
実現できる。
本発明のノrイン調節力法において、距離I〕、リップ
ル1、の大きさをいくつかの区間に細区分し、この各区
間に対応したゲインSlt+徐j’lの比例ゲインを設
定し、初期設定ゲインを更に早く適正な稙へ収束させる
ようにすることは容易である。
ル1、の大きさをいくつかの区間に細区分し、この各区
間に対応したゲインSlt+徐j’lの比例ゲインを設
定し、初期設定ゲインを更に早く適正な稙へ収束させる
ようにすることは容易である。
また、本フζ施例ては位置と速度の制御を行な−。
だが、速度・加速度−速度・力等の;til+御にも適
用できる。また3次元的に、位;6°・速度・JJII
速度の制御に拡張するごともできる。
用できる。また3次元的に、位;6°・速度・JJII
速度の制御に拡張するごともできる。
上述したように本発明によれば、下記の効果を奏するも
のである。
のである。
■低いザンプリング周期の制御でも、軌跡リップルを小
さくできる。
さくできる。
■外乱やパラメータ変動が原因とな−、ている指定1l
ilt跡からのずれを/lli近的に小さくすることが
できる。
ilt跡からのずれを/lli近的に小さくすることが
できる。
■誤った初期設定ゲインでも修正可能となった。
第1図はスライディングモート制御を用いた制御系の構
成例を示ずブ1コックダイヤグラム、第2図はスライデ
ィングカーブの例を示す説明図、第3図はスライディン
グカーブS1近傍の指定軌跡からのずれの距離D (k
lとリップルL (klを説明するだめの説明図、第4
図は本発明によるゲイン調節のためのフローチャー1・
である。 特許出願人 株式会社 安川電機製作所代理人 手掘
益(はか1名)
成例を示ずブ1コックダイヤグラム、第2図はスライデ
ィングカーブの例を示す説明図、第3図はスライディン
グカーブS1近傍の指定軌跡からのずれの距離D (k
lとリップルL (klを説明するだめの説明図、第4
図は本発明によるゲイン調節のためのフローチャー1・
である。 特許出願人 株式会社 安川電機製作所代理人 手掘
益(はか1名)
Claims (1)
- 1、 スライディングモード制御を用いた位置決め制御
において、予め指定したスライディングカーブに対して
実軌跡の存在領域の判定を行ない、前記カーブからの、
ずれの距離に応して、制御入力を決定するゲインを調整
することを特徴とするスライディングモード制御方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59045245A JPH0614293B2 (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | スライデイングモ−ド制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59045245A JPH0614293B2 (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | スライデイングモ−ド制御方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60189019A true JPS60189019A (ja) | 1985-09-26 |
JPH0614293B2 JPH0614293B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=12713870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP59045245A Expired - Fee Related JPH0614293B2 (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | スライデイングモ−ド制御方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0614293B2 (ja) |
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-
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- 1984-03-08 JP JP59045245A patent/JPH0614293B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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---|---|
JPH0614293B2 (ja) | 1994-02-23 |
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