JPS60167153A - Ｖｔｒシリンダのテ−プ走行面検査装置 - Google Patents
Ｖｔｒシリンダのテ−プ走行面検査装置Info
- Publication number
- JPS60167153A JPS60167153A JP2354284A JP2354284A JPS60167153A JP S60167153 A JPS60167153 A JP S60167153A JP 2354284 A JP2354284 A JP 2354284A JP 2354284 A JP2354284 A JP 2354284A JP S60167153 A JPS60167153 A JP S60167153A
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- Japan
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- tape running
- defect
- running surface
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、ビデオテープレコーダ（この明細書におい
てＶＴＲと略記する）における回転シリンダのテープ走
行面検査装置に関するものである。
てＶＴＲと略記する）における回転シリンダのテープ走
行面検査装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
一般にＶＴＲシリンダ（以下シリンダと記す）は、アル
ミの鋳造物に精密機械加工を施して！Ｉ！遺される。そ
の製造工程でシリンダのテープ走行面に傷、凹凸、異物
の付着等の欠陥が生じる。そのため、作業者の目視検査
により、これら欠陥を検出１選別している。
ミの鋳造物に精密機械加工を施して！Ｉ！遺される。そ
の製造工程でシリンダのテープ走行面に傷、凹凸、異物
の付着等の欠陥が生じる。そのため、作業者の目視検査
により、これら欠陥を検出１選別している。
しかしながら、作業者による目視検査では検査時間が長
くかかり、判別精度にばらつきがあるし、信頼性、コス
ト・アップなどの点で問題があった。
くかかり、判別精度にばらつきがあるし、信頼性、コス
ト・アップなどの点で問題があった。
そこで、シリンダのテープ走行面をレーザ光で走査し、
欠陥による回折光をセンサで検出する方式が考えられる
が、ＶＴＲシリンダの場合、テープ走行面に溝加工が施
されており、溝による回折光が生じ、これがセンサで検
出され、欠陥と区別ができない。また、欠陥はシリンダ
の端縁にも多く生じるが、レーザ光の端縁での回折と欠
陥の回折が重なると、欠陥が検出されにくい。
欠陥による回折光をセンサで検出する方式が考えられる
が、ＶＴＲシリンダの場合、テープ走行面に溝加工が施
されており、溝による回折光が生じ、これがセンサで検
出され、欠陥と区別ができない。また、欠陥はシリンダ
の端縁にも多く生じるが、レーザ光の端縁での回折と欠
陥の回折が重なると、欠陥が検出されにくい。
発明の目的
この発明の目的は、溝あるいは溝と端縁による回折光と
欠陥による回折光とを弁別して欠陥検出を正確に行うＶ
ＴＲシリンダのテープ走行面検査装置を提供することで
ある。
欠陥による回折光とを弁別して欠陥検出を正確に行うＶ
ＴＲシリンダのテープ走行面検査装置を提供することで
ある。
発明の構成
第１の発明のＶＴＲシリンダのテープ走行面検査装置は
、シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ走行面
に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査するレー
ザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光のセン
サと、このセンサからの出力パルスを入力し前記シリン
ダの溝によるパルスと前記テープ走行面における欠陥に
よるパルスとを弁別して前記欠陥によるパルスが入力さ
れたときに出力する欠陥検出装置とを備えたものである
。
、シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ走行面
に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査するレー
ザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光のセン
サと、このセンサからの出力パルスを入力し前記シリン
ダの溝によるパルスと前記テープ走行面における欠陥に
よるパルスとを弁別して前記欠陥によるパルスが入力さ
れたときに出力する欠陥検出装置とを備えたものである
。
また、第２の発明のＶＴＲシリンダのテープ走行面検査
装置は、シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ
走行面に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査す
るレーザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光
を捕捉する第１のセンサと、この第１のセンサからの出
力パルスを入力し前記シリンダの溝によるパルスと前記
テープ走行面における欠陥によるパルスとを弁別して前
記欠陥によるパルスが入力されたときに出力する第１の
欠陥検出装置と、前記シリンダの両端縁自体による回折
光を除去するマスクと、前記両端縁における欠陥による
回折光を捕捉して出方する第２のセンサをもつ第２の欠
陥検出装置とを備えたものである。
装置は、シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ
走行面に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査す
るレーザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光
を捕捉する第１のセンサと、この第１のセンサからの出
力パルスを入力し前記シリンダの溝によるパルスと前記
テープ走行面における欠陥によるパルスとを弁別して前
記欠陥によるパルスが入力されたときに出力する第１の
欠陥検出装置と、前記シリンダの両端縁自体による回折
光を除去するマスクと、前記両端縁における欠陥による
回折光を捕捉して出方する第２のセンサをもつ第２の欠
陥検出装置とを備えたものである。
実施例の説明
説明の都合上、第２の発明の一実施例を第１図および第
２図に基づいて説明する。第１図において、１は検査さ
れるシリンダ、２はシリンダ１の回転装置、３はレーザ
発生器、４は投光レンズ、５はレーザ光を走査する振動
ミラーである。回転装置２により回転しているシリンダ
１のテープ走行面１ａを、投光レンズ４によって絞られ
たレーザ光Ｒが振動ミラー５により走査する。以上の構
成がレーザ光走査装置Ａである。
２図に基づいて説明する。第１図において、１は検査さ
れるシリンダ、２はシリンダ１の回転装置、３はレーザ
発生器、４は投光レンズ、５はレーザ光を走査する振動
ミラーである。回転装置２により回転しているシリンダ
１のテープ走行面１ａを、投光レンズ４によって絞られ
たレーザ光Ｒが振動ミラー５により走査する。以上の構
成がレーザ光走査装置Ａである。
６は第１のセンサ、７はシリンダｌの端縁１ｃ＋１ｄの
回折光を除去するマスク、７ａは第１のセンサ６の背後
のマスク、８は集光レンズ、９は端縁欠陥検出用の第２
のセンサ、１０．１１は各センサ６．９に接続された第
１．第２の増幅器、１２゜１３はｍｌの増幅器１ｏに接
続されたレベルコンパレータ、１４はコンパレータ１２
に接続された６進カウンタ、１５は走行面欠陥出力端、
１６は端縁欠陥出力端である。
回折光を除去するマスク、７ａは第１のセンサ６の背後
のマスク、８は集光レンズ、９は端縁欠陥検出用の第２
のセンサ、１０．１１は各センサ６．９に接続された第
１．第２の増幅器、１２゜１３はｍｌの増幅器１ｏに接
続されたレベルコンパレータ、１４はコンパレータ１２
に接続された６進カウンタ、１５は走行面欠陥出力端、
１６は端縁欠陥出力端である。
第１の増幅器１０．コンパレータ１２および６進カウン
、り１４が第１の欠陥検出装置Ｂを構成し、第２の増幅
器１１およびコンパレータ１３が第２の欠陥検出装置Ｃ
を構成している。
、り１４が第１の欠陥検出装置Ｂを構成し、第２の増幅
器１１およびコンパレータ１３が第２の欠陥検出装置Ｃ
を構成している。
被検査面１ａを走査するレーザ光Ｒはシリンダ１の溝１
ｂ・・・１両端縁１ ｃ ＋ ｌ ｄおよび欠陥で回折
される。この回折光の変化をセンサ１で検出し、第１の
増幅器１０で増幅すると、例えば第２図に示すようなパ
ルス波形が得られる。この波形をコンパレータ１２によ
り適当なレベルで切り、波形の立上がりを６進カウンタ
１４で１回の走査毎に計数する。カウンタ１４を６進と
しているのは、溝１ｂの数が５つであり、これに一端縁
１ｄの１パルスを加えたからである。すなわち、第２図
において、１７は溝１ｂ・・・によるパルス、１８は欠
陥によるパルス、１９．２０は両端縁１ｃ、１ｄによる
パルスである。レーザ光Ｒの１走査の範囲はＴである。
ｂ・・・１両端縁１ ｃ ＋ ｌ ｄおよび欠陥で回折
される。この回折光の変化をセンサ１で検出し、第１の
増幅器１０で増幅すると、例えば第２図に示すようなパ
ルス波形が得られる。この波形をコンパレータ１２によ
り適当なレベルで切り、波形の立上がりを６進カウンタ
１４で１回の走査毎に計数する。カウンタ１４を６進と
しているのは、溝１ｂの数が５つであり、これに一端縁
１ｄの１パルスを加えたからである。すなわち、第２図
において、１７は溝１ｂ・・・によるパルス、１８は欠
陥によるパルス、１９．２０は両端縁１ｃ、１ｄによる
パルスである。レーザ光Ｒの１走査の範囲はＴである。
したがって、欠陥が全くなければ、５つのパルス１７と
１つのパルス２０との合計６パルスが入力される。欠陥
があれば６パルスを超えるパルスが入力され、カウンタ
１４は桁上信号すなわち走行面、欠陥出力を出力し、欠
陥が検出される。
１つのパルス２０との合計６パルスが入力される。欠陥
があれば６パルスを超えるパルスが入力され、カウンタ
１４は桁上信号すなわち走行面、欠陥出力を出力し、欠
陥が検出される。
シリンダ１の両端縁１ｃ、ｌｄの形状は機械加工により
一様にできており、その回折パターンも一様である。し
たがって、その回折光はマスク７により除去可能である
。他方、欠陥の形状は一様でなく、その回折パターンも
一様でない。そのため、マスク７で両端縁１ｃ、ｌｄの
回折光を除去し、集光レンズ８で欠陥の回折光を集め第
２のセンサ９で検出し、増幅器１１で増幅し、コンパレ
ータ１３で前述と同様に処理すれば端縁の欠陥が検出で
きる。
一様にできており、その回折パターンも一様である。し
たがって、その回折光はマスク７により除去可能である
。他方、欠陥の形状は一様でなく、その回折パターンも
一様でない。そのため、マスク７で両端縁１ｃ、ｌｄの
回折光を除去し、集光レンズ８で欠陥の回折光を集め第
２のセンサ９で検出し、増幅器１１で増幅し、コンパレ
ータ１３で前述と同様に処理すれば端縁の欠陥が検出で
きる。
この実施例によれば、従来の作業者による目視検査に比
べて信頼性、感度が改善され、かつ自動化による高速検
査が可能である。
べて信頼性、感度が改善され、かつ自動化による高速検
査が可能である。
第１の発明の実施例としては、上記の実施例からマスク
？、７ａ、 レンズ８．第２のセンサ９および第２の欠
陥検出装置Ｃを省略したものがあげられる。
？、７ａ、 レンズ８．第２のセンサ９および第２の欠
陥検出装置Ｃを省略したものがあげられる。
発明の効果
第１あるいは第２の発明によれば、シリンダのテープ走
行面に生じている欠陥を高速度かつ高精度に検査できる
という効果がある。
行面に生じている欠陥を高速度かつ高精度に検査できる
という効果がある。
第１図は第２の発明のＶＴＲシリンダのテープ走行面検
査装置の一実施例を示す概略構成図、第２図は同装置の
第１の増幅器の出力波形図である。 １・・・シリンダ、１ａ・・・テープ走行面、１ｂ・・
・溝、ｌｃ、ｌｄ・・・端縁、２・・・回転装置、６・
・・センサ（第１のセンサ）、７・・・マスク、９・・
・第２のセンサ、１４・・・カウンタ、Ａ・・・レーザ
光走査装置、Ｂ・・・欠陥検出装置（第１の欠陥検出装
置）、Ｃ・・・第２の欠陥検出装置、Ｒ・・・レーザ光
査装置の一実施例を示す概略構成図、第２図は同装置の
第１の増幅器の出力波形図である。 １・・・シリンダ、１ａ・・・テープ走行面、１ｂ・・
・溝、ｌｃ、ｌｄ・・・端縁、２・・・回転装置、６・
・・センサ（第１のセンサ）、７・・・マスク、９・・
・第２のセンサ、１４・・・カウンタ、Ａ・・・レーザ
光走査装置、Ｂ・・・欠陥検出装置（第１の欠陥検出装
置）、Ｃ・・・第２の欠陥検出装置、Ｒ・・・レーザ光
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１） シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ
走行面に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査す
るレーザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光
のセンサと、このセンサからの出力パルスを入力し前記
シリンダの溝によるパルスと前記テープ走行面における
欠陥によるパルスとを弁別して前記欠陥によるパルスが
入力されたときに出力する欠陥検出装置とを備えたＶＴ
Ｒシリンダのテープ走行面検査装置。 （２） 前記欠陥検出装置が、前記シリンダの溝の数よ
りも多い数のパルスを入力したときに出力するカウンタ
を備えたものである特許請求の範囲第（１）項記載のＶ
ＴＲシリンダのテープ走行面検査装置。 （３） シリンダの回転装置と、前記シリンダのテープ
走行面に対しレーザ光をこのシリンダの軸方向に走査す
るレーザ光走査装置と、前記テープ走行面からの回折光
を捕捉する第１のセンサと、この第１のセンサからの出
力パルスを入力し前記シリンダの溝によるパルスと前記
テープ走行面における欠陥によるパルスとを弁別して前
記欠陥によるパルスが入力されたときに出力する第１の
欠陥検出装置と、前記シリンダの両端縁自体による回折
光を除去するマスクと、前記両端縁に判ける欠陥による
回折光を捕捉して出力する第２のセンサをもつ第２の欠
陥検出装置とを備えたＶＴＲシリンダのテープ走行面検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2354284A JPS60167153A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | Ｖｔｒシリンダのテ−プ走行面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2354284A JPS60167153A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | Ｖｔｒシリンダのテ−プ走行面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60167153A true JPS60167153A (ja) | 1985-08-30 |
Family
ID=12113354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2354284A Pending JPS60167153A (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | Ｖｔｒシリンダのテ−プ走行面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60167153A (ja) |
-
1984
- 1984-02-09 JP JP2354284A patent/JPS60167153A/ja active Pending
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