JPS60147621A - 電子体温計 - Google Patents

電子体温計

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Publication number
JPS60147621A
JPS60147621A JP420784A JP420784A JPS60147621A JP S60147621 A JPS60147621 A JP S60147621A JP 420784 A JP420784 A JP 420784A JP 420784 A JP420784 A JP 420784A JP S60147621 A JPS60147621 A JP S60147621A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
section
time
data
comparison
Prior art date
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Pending
Application number
JP420784A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Kaneko
金子 政夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP420784A priority Critical patent/JPS60147621A/ja
Publication of JPS60147621A publication Critical patent/JPS60147621A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/42Circuits effecting compensation of thermal inertia; Circuits for predicting the stationary value of a temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は生体の体温等を電気的に測温する電子体温計
において、短時間に温度を予測出来る様にするための新
規な方法に関するものである。
従来の電子体温計では、温度検出素子として、サーミス
タや半導体等が用いられており、それらは、温度検出部
の内部に装備されている。一般にこのような温度検出素
子を用いた場合、温度検出素子が検温部と熱平衡に達す
るまでには、数分以上の時間がかかつてしまい1.これ
では水銀体温計による測温所要時間と大差はなく、測温
作業がたいへん非能率である等の欠点があった。
本発明は上記のとおり従来の欠点を除去するためになさ
れたもので、温度検出部よりの測温値をある基準クロッ
クごとに読み込み、それとそれの時間軸に対する勾配と
その時の時間をめて、デ ゛−タ格納部に収納しておき
、次の基準クロックごとに読み出して、予測温度演算ヲ
し、その時の基準クロックよりの時間’ii0.632
で除した値と比較し、一致した時に、それを予測温度と
して、平均処理演算をして、温度表示部へ出力し、温度
予測表示を行う。これにより、短時間で温度予測が出来
、時間が増すごとに、予測温度の精度が向上し、正確な
体温測定が実現出来る。
以下、図面に示す実施例によって本発明を詳述する。ま
ず、構成について説明すれば、第1図は本発明の概略ブ
ロック図で、1は温度検出部で温度検出素子等で構成さ
れており、2は温度予測回路、3は温度表示部で液晶表
示や液晶表示駆動回路等で構成されている。第2図は電
子体温計外観図でちゃ、前述した温度検出部1.温度予
測回路2、温度表示部3が各々内蔵されている。WJs
図は本発明の温度予測回路の回路構成およびプログラム
を含む実施例で、4は基準クロック部で、温度検出部1
よシの検出温度θnの入力タイミングや演算部で使用す
る時間tn f発生している。5は温度対時間勾配演算
部で温度検出部1よりの温度θnと基準クロック部4よ
りの時間tn との勾配dθn÷dtn =An 演算
をする。6は比較1部で温度対時間勾配演算部5よりの
温度対時間勾配Anと零との比較を行い、大きい場合、
又は、正の場合は次の7の比較2部へデータを入力する
ここでは温度対時間勾配AnとそのAnの直前の温度対
時間勾配An−,との比較を行い、An(A n−、の
場合のみ次の8のデータ格納部へデータ、この場合はθ
n、tn、An が一対のデータを入力し、格納する。
尚、格納されたデータは便宜上、記号にダッシュ(θn
’、 tn’、 An’)を付ける。9は予測温度演算
部でθon=An’(tn−tn’)+θn′の演算を
基準クロック部4よりの時間tnが入力されるごとに、
データ格納部8より、各対のデータを出力してきて、行
う。10は比較3部で時間tn と同期して温度検出部
1よりの検出温度θnを入力して、予測温度演算部9よ
シの各対のθonと叱較し、θon”>θn でない時
は11のデータ削除部にそのデータ(一対)を入力して
、データ格納部B内の同一データ(一対)を削除する、
もしθOn〉θnの時は、次の15の比較4部へθOn
 を入力し、やはり、時間tn と同期して、検出温度
θnを0.632で除した値Bnが12の比較温度演算
部より入力されるので、θon=Bn の比較を行う。
もし、一致していれば、そのθOnはその時間tnにお
ける予測温度であるので、次の14の平均処理演算部へ
入力される。θon = Bnでない時は次データ(一
対)の予測温度演算を行うべく、データ格納部8へ制御
が移る。平均処理演算部14では、各予測温度が入力さ
れるたびにΣθon÷Σnの平均処理演算部して、その
平均値θtを温度表示部3へ入力して、温度予測値θt
を表示する。
次に、動作について概略説明すれば、第4図は本発明の
動作説明図で、今時間t1の時の検出温度をθ、として
、その温度対時間勾配dJn÷atnをAnとすれば、
第4図の一点鎖線のように図示出来るっそして、″時間
t、近傍で、θ、とθO,間fx対yすなわち、自動制
御理論で公知である予測データ式である0、 368対
0.632の位置(a点)に温度が来た時、An’(t
n−tn’)+βn′=θn÷0.632の演算と比較
を行えば、この時の値θonが予測温劇値・となる。第
4図では図面の関係で、t3とt4間にa点があるが、
時間tHを十分密にすれば、a点と時間tn との一致
が得られる。次に第3図と第4図を用いて動作の詳細を
説明すると、温度対時間勾配演算部5で演算され′fc
An とその時の検出温度θnと時間tnは、比較1部
6でAn>0でないものは廃棄される。これは、温度勾
配が時間に対して上向き(正)方向でなければ、データ
として採用しない事を意味している。次にA n > 
0 +on。
tnのデータは比較2部7でAn(An−、の比較をす
るが、これは、温度対時間曲線がイクスポーネンシャル
(θxp)曲線に近いところから、時間tnの経過と共
に傾いてくる事を意味しており、An(An−、は、こ
のexp曲線から、はずれたデータを廃棄するために行
われる。そして、データ格納部8では、データθrh 
、 tn 、 Anが格納される。次に新しい時間tn
が来た時には、tn−、以前のデータは全て予測温度演
算部9に入力され、θon=A n ’ (t n −
t n ’ )+θn′演算が行われる。比較5部10
へ入力されたθonは時間tn時の検出温度θnと比較
され、θon)θnでないデータθn’、tn’。
An’はデータ削除部11によ、す、データ格納部8内
より削除される。これは、前述したeXp、曲線上に乗
らないデータは削除するためである。次に、比較4部1
3で14、予測温度演算部θOnと比較温度演算部12
で時間tn時の検出温度θy1i0.1s!’!で除し
た比較温度Bnとを比較して、θon = Bnの時の
θOnを温度予測値として、次の平均処理演算部14へ
入力する。θon+BnO時は、データ格納部8へ制御
が移って予測温度演算部?ヘデータを入力して繰り返し
演算が行われる。平均処理演算部14では、入力された
温度予測値θonを加算し、そのoOn値の個数分で割
る事により、平均処理演算を行う。これにより、時間の
経過と共に温度予測値の確度が向上し、それを、次の温
度表示部3で表示する。これにより、測温開始後、短時
間で正確な温度予測値が得られ、時間の経遺と共に、確
度が向上するので、第4図に示されるように約数土砂と
云う短時間の測温が可能になる。
以上述べたように、本発明は、短時間で正確な測温が出
来るので、測温作業がたいへん能率的になり、また、子
供等の測温作業が著しく改善される等の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の概略ブロック図、第2図は電子体温計
外観図、第3図は本発明の温度予測回路の実施例、第4
図は本発明の動作説明図である。 1・・・温度検出部 2・・・温度予測回路 3・・・温度表示部 4・・・基準クロック部 5・・・温度対時間勾配演算部 6・・・比較1部 7・・・比較2部 8・・・データ格納部 9・・・予測温度演算部 10・・・比較5部 11・・・データ削除部 12・・・比較温度演算部 13・・・比較4部 14・・・平均処理演算部 以 十 代理人 最 上 務 第1図 第2図 第4図 1−0.:168

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 温度検出部、温度予測回路および温度表示部とを有し、
    温度予測を行ないつつ最終確定温度を検出する電子体温
    計において、前記温度予測回路に設けられた基準クロッ
    ク部と、この基準クロック部に接続されると共に前記温
    度検出部からの出力onを入力するための温度対時間勾
    配演算部と、この温度対時間勾配演算部の出力AnをA
    n>0およびA n < A n −1の比較を行なう
    ための比較部と、この比較部からのデータを収納するデ
    ータ格納部と、このデータ格納部からのデータを入力す
    ると共に前記基準クロック部からのクロック信号で制御
    される予測温度演算部と、前記温度検出n 部に接続され。、632を演算し出力Bnを出力するた
    めの比較温度演算部と、前記予測温度演算部浄らの出力
    00n1前記温度検出部の出力0nおよび前記比較温度
    演算部の出力Bnft比較するための比較部と、この比
    較部からのデータの一部を削除するためのデータ削除部
    と、この比較部からの出力を演算処理するための平均処
    理演算部とを備え、この平均処理演算部からの出力θt
    により前記温度表示部に表示するようにしたことを特徴
    とする電子体温計。
JP420784A 1984-01-12 1984-01-12 電子体温計 Pending JPS60147621A (ja)

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JP420784A JPS60147621A (ja) 1984-01-12 1984-01-12 電子体温計

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JPS60147621A true JPS60147621A (ja) 1985-08-03

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ID=11578191

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62175627A (ja) * 1986-01-29 1987-08-01 Omron Tateisi Electronics Co 電子体温計
EP0234236A1 (en) * 1986-01-16 1987-09-02 Kai, Isao Electronic thermometer
JPS62280629A (ja) * 1986-05-28 1987-12-05 Omron Tateisi Electronics Co 電子体温計

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