JPS60146134A - 表面疵検出用照明装置 - Google Patents
表面疵検出用照明装置Info
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- JPS60146134A JPS60146134A JP281684A JP281684A JPS60146134A JP S60146134 A JPS60146134 A JP S60146134A JP 281684 A JP281684 A JP 281684A JP 281684 A JP281684 A JP 281684A JP S60146134 A JPS60146134 A JP S60146134A
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- illuminance
- point
- lighting
- instruments
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は熱間連続鋳造設備によって製造される熱間連続
鋳造スラブの表面疵を非接触式で検出する装置に用いる
照明装置に関するものである。
鋳造スラブの表面疵を非接触式で検出する装置に用いる
照明装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、熱間連続鋳造スラブＣ以下、スラブと称する）の
連続鋳造方式は、従来のインゴットにょる分塊鋳造法の
もつ諸欠点、すなわちエネルギー・ロス、工程所要時間
の増加などを根本的に解決するものとして急速に普及し
つつある。
連続鋳造方式は、従来のインゴットにょる分塊鋳造法の
もつ諸欠点、すなわちエネルギー・ロス、工程所要時間
の増加などを根本的に解決するものとして急速に普及し
つつある。
第１図はスラブの連続鋳造方式の概略構成図を示すもの
で、転炉から送られた溶鋼は容器１に移送され、鋳型２
を経て徐々に冷却されてスラブ３を形成し、連続して配
設されたロール群４０間を下方に向かって引き抜かれる
。さらに、スラブはアンベンディングロール６以降は水
平にＸ方向に移動し、ガス切断機６によシ所定のスラブ
３′の長さに切断され、次工程へ移送される。
で、転炉から送られた溶鋼は容器１に移送され、鋳型２
を経て徐々に冷却されてスラブ３を形成し、連続して配
設されたロール群４０間を下方に向かって引き抜かれる
。さらに、スラブはアンベンディングロール６以降は水
平にＸ方向に移動し、ガス切断機６によシ所定のスラブ
３′の長さに切断され、次工程へ移送される。
この連続鋳造工程で発生するスラブ３０表面の疵は、通
常、ガス切断機６以降のたとえば地点Ｂで検査されてい
たが、近年はスラブ３が水平に移動しはじめるアンベン
ディングロール６付近の地点人（詳しくはアンベンディ
ングロール６より後の地点）で表面疵を検出する方法を
用いている。
常、ガス切断機６以降のたとえば地点Ｂで検査されてい
たが、近年はスラブ３が水平に移動しはじめるアンベン
ディングロール６付近の地点人（詳しくはアンベンディ
ングロール６より後の地点）で表面疵を検出する方法を
用いている。
この理由として、
■ 地点人では表面温度が低く、またスケールの発生も
少ない。
少ない。
■ 地点ムでのスラブ移動速度は１〜２１１１１／ｍｉ
ｎとガス切断機６以降の地点Ｂにおける移動速度に比べ
て格段に低い。
ｎとガス切断機６以降の地点Ｂにおける移動速度に比べ
て格段に低い。
というように、表面疵を検出する検出装置にとって有利
々条件になっている。
々条件になっている。
以下に従来のスラブの表面疵検出装置について説明する
。
。
第２図は、第１図の地点Ａにおける熱間連続鋳造スラブ
の表面疵検出装置の断Ｗｉ図を示すもので、スラブ３は
、これを連続して案内する案内手段である上部ロール８
および下部ロール１ｏによって挾まれ、上部ロール８は
、フレーム７に固定されたロール受は軸９により回動自
在に支持されている。下部口〜ル１ｏは図示しないが、
上部ロール８と同様にロール受は軸により回動自在に支
」、５されている。スラブ３の上部には点光源からなる
照明装置１１を設け、この照明装置１１にょシスラブ３
の表面を照射し、フレーム７の上方に設置した撮像素子
（たとえばリニアイメージセンサ）１２により、スラブ
３の表面の反射光を検出している。
の表面疵検出装置の断Ｗｉ図を示すもので、スラブ３は
、これを連続して案内する案内手段である上部ロール８
および下部ロール１ｏによって挾まれ、上部ロール８は
、フレーム７に固定されたロール受は軸９により回動自
在に支持されている。下部口〜ル１ｏは図示しないが、
上部ロール８と同様にロール受は軸により回動自在に支
」、５されている。スラブ３の上部には点光源からなる
照明装置１１を設け、この照明装置１１にょシスラブ３
の表面を照射し、フレーム７の上方に設置した撮像素子
（たとえばリニアイメージセンサ）１２により、スラブ
３の表面の反射光を検出している。
第３図は第２図のｃ−ｃ’断面図であシ、相隣り合う上
部ロール８，８およびフレーム７ｙ７間の間隔は３０〜
”＋ｏｏｍｙｔｔ以内に設置されている。
部ロール８，８およびフレーム７ｙ７間の間隔は３０〜
”＋ｏｏｍｙｔｔ以内に設置されている。
このため、第１図の地点Ｂで疵を検出する際に用いた照
明装置によっては、フレーム７、了（７）間から効率良
く照明することが困難である。また、レーザービームの
ようなスポット状の照明光をつなぎ合せれば効率良く照
明できるが、スラブ面で均一な照度を得ることは困難で
ある。
明装置によっては、フレーム７、了（７）間から効率良
く照明することが困難である。また、レーザービームの
ようなスポット状の照明光をつなぎ合せれば効率良く照
明できるが、スラブ面で均一な照度を得ることは困難で
ある。
発明の目的
本発明は、前記従来の欠点を解決するもので、スラブ表
面をフレーム間から効率良く照明し、しかもスラブ面で
均一な照度分布を得ることができる熱間連続鋳造スラブ
の表面疵検出用照明装置を提供することを目的とする。
面をフレーム間から効率良く照明し、しかもスラブ面で
均一な照度分布を得ることができる熱間連続鋳造スラブ
の表面疵検出用照明装置を提供することを目的とする。
発明の構成
本発明は、放物線性反射鏡と線状光源とから構成した照
明器具を撮像装置の両側に片側２つ以上備えた熱間連続
鋳造スラブの表面疵検出用前ＩＪＩＩ装置であり、照明
器具の光軸が１点で交差し、しかもこの照明器具を構成
する放物線性反射鏡の焦点に線状光源の一端を配設し、
他端をずらして配設することにより、スラブ面で均一な
照度分布が得ることのできるものである。
明器具を撮像装置の両側に片側２つ以上備えた熱間連続
鋳造スラブの表面疵検出用前ＩＪＩＩ装置であり、照明
器具の光軸が１点で交差し、しかもこの照明器具を構成
する放物線性反射鏡の焦点に線状光源の一端を配設し、
他端をずらして配設することにより、スラブ面で均一な
照度分布が得ることのできるものである。
実施例の説明
第４図は、第１図の人地点に設けらｈた本発明の一実施
例における熱間連続鋳造スラブの表面疵検出装置の断面
図を示すものである。第４図において、撮像装置１２は
、照ψ」装置１３によって照明されたスラブ３の表面疵
を検出する。照明装置１３は照明器具１４ａおよび１４
ｂから構成する。
例における熱間連続鋳造スラブの表面疵検出装置の断面
図を示すものである。第４図において、撮像装置１２は
、照ψ」装置１３によって照明されたスラブ３の表面疵
を検出する。照明装置１３は照明器具１４ａおよび１４
ｂから構成する。
照明器具１４ａおよび１４ｂは第６図に示すように放物
線柱鏡１６と線状光源１６とから構成する。なお、本実
施例では、線状光源１６としてハロゲン電球を用いる。
線柱鏡１６と線状光源１６とから構成する。なお、本実
施例では、線状光源１６としてハロゲン電球を用いる。
以下に本実施例の詳細について、第４図および第５図に
もとづいて説明する。
もとづいて説明する。
本発明の照明装置１３を構成する照明器具１４ａおよび
１４ｂは、第５図に示すように、放物線性反射鏡１６と
ハロゲン電球１６からなる。第５図において、Ｆｌおよ
びＦ２は放物線性反射鏡１６の焦点であり、ハロゲン電
球１６は、その一端が焦点Ｆ１上に、他端が焦点Ｆ２上
からαだけずらした位置に配設する二なお、ハロゲン電
球１６の位置は電球のフィラメントの位置を基準とする
。
１４ｂは、第５図に示すように、放物線性反射鏡１６と
ハロゲン電球１６からなる。第５図において、Ｆｌおよ
びＦ２は放物線性反射鏡１６の焦点であり、ハロゲン電
球１６は、その一端が焦点Ｆ１上に、他端が焦点Ｆ２上
からαだけずらした位置に配設する二なお、ハロゲン電
球１６の位置は電球のフィラメントの位置を基準とする
。
上記のように構成した照明器具１４ａおよび１４ｂを第
４図に示すように配設する。このとき、照明器具１４ａ
および１４ｂは、器具内のハロゲン電球１６の管軸方向
をスラブ３の移動方向に対して直角とし、ハロゲン電球
１６を放物線性反射鏡１６の焦点Ｆ２からαだけ離した
側が撮像装置１２側に位置するように設置する。また、
照明器具１４ａは、照射角３６°とし、照明器具１４ｂ
は、照射角４６°とする。これら照明器具１４＆オヨび
１４ｂの光軸１７は、１点で交差してスラブ３の表面を
照明する。
４図に示すように配設する。このとき、照明器具１４ａ
および１４ｂは、器具内のハロゲン電球１６の管軸方向
をスラブ３の移動方向に対して直角とし、ハロゲン電球
１６を放物線性反射鏡１６の焦点Ｆ２からαだけ離した
側が撮像装置１２側に位置するように設置する。また、
照明器具１４ａは、照射角３６°とし、照明器具１４ｂ
は、照射角４６°とする。これら照明器具１４＆オヨび
１４ｂの光軸１７は、１点で交差してスラブ３の表面を
照明する。
本実施例における照明器具１４ａおよび１４ｂの構造は
、第６図に示すように、−・ロゲン電球１６の一端を放
物線杆反射鏡１５の焦点Ｆ１ 上に。
、第６図に示すように、−・ロゲン電球１６の一端を放
物線杆反射鏡１５の焦点Ｆ１ 上に。
他端を焦点Ｆ２からαだけ離して設置している。
以下、この原理について説明する。
第６図は、第４図のＣ−Ｃ断面を示す図であり、この図
に示す放物線杆反射鏡１６と−・ロゲン電球１６とスラ
ブ３表面との関係を第７図に模式的に示す。
に示す放物線杆反射鏡１６と−・ロゲン電球１６とスラ
ブ３表面との関係を第７図に模式的に示す。
第７図において、４ＡＰＦ２＝ ＬｏｐＢであり、θは
十分小さいので、 ω ２α −−−である。
十分小さいので、 ω ２α −−−である。
２氾 ω
放物線杆反射鏡１６において、焦点Ｆ２から出た光は反
射鏡１５によって平行光としてスラブ３を照射する。線
状光源（・・ロゲン電球）１６を焦点Ｆ２からαだけ移
すことによって、第７図に示すように、線状光源（）・
ロゲン電球）１６からの光が反射鏡１５へ入射するとき
の入射角がＬ ＡＰＦ２だけ小さくなるから、反射角も
１ＯＰＢだけ小さくなり集光性が高する。ここで、放物
線反躬説１６の焦線ＦＩＦ２（焦点Ｆ１と焦点Ｆ２を結
ぶ直線）に対して平行にハロゲン電球１６を設けた照明
器具では、第８図に破線で示すように照明器具の直下が
高照度となシ、スラブ３表面で均一な照度が得られ々い
。これに対して、本実施例の照明器具１４ａおよび１４
ｂの如く、放物線杆反射鏡１５の焦点Ｆ１上に、へＯゲ
ン電球１６の一端を、他端ヲ煕点Ｆ２からαだけずらし
た位置に配設することによって、照明器具１４とスラブ
３表面までの距離の差によって生じる照度分布の不均一
性を解消し、第８図に実線で示すような照度分布が得ら
れる。すなわち、スラブ３表面の照度は、照明器具１４
とスラブ３表面との距離が大きい程低いので、この距離
の大きくなる部分の集光性を高めて均一な照度分布を得
るものである。
射鏡１５によって平行光としてスラブ３を照射する。線
状光源（・・ロゲン電球）１６を焦点Ｆ２からαだけ移
すことによって、第７図に示すように、線状光源（）・
ロゲン電球）１６からの光が反射鏡１５へ入射するとき
の入射角がＬ ＡＰＦ２だけ小さくなるから、反射角も
１ＯＰＢだけ小さくなり集光性が高する。ここで、放物
線反躬説１６の焦線ＦＩＦ２（焦点Ｆ１と焦点Ｆ２を結
ぶ直線）に対して平行にハロゲン電球１６を設けた照明
器具では、第８図に破線で示すように照明器具の直下が
高照度となシ、スラブ３表面で均一な照度が得られ々い
。これに対して、本実施例の照明器具１４ａおよび１４
ｂの如く、放物線杆反射鏡１５の焦点Ｆ１上に、へＯゲ
ン電球１６の一端を、他端ヲ煕点Ｆ２からαだけずらし
た位置に配設することによって、照明器具１４とスラブ
３表面までの距離の差によって生じる照度分布の不均一
性を解消し、第８図に実線で示すような照度分布が得ら
れる。すなわち、スラブ３表面の照度は、照明器具１４
とスラブ３表面との距離が大きい程低いので、この距離
の大きくなる部分の集光性を高めて均一な照度分布を得
るものである。
次に、前述のような照明器具１４ａおよび１４ｂでスラ
ブ３の表面全幅を照明することについて説明する。照明
器具１４ａおよび１４ｂの照射角全それぞれ３６°、４
５° とし、照明器具１４ｂの光軸の交差量を第９図に
示すように固定して照明器具１４ ａの光軸の交差量を
変える。このときの平均照度および均斉度を第１０図に
示す。第１０図から明らかなように、照明器具１４ａの
光軸の交点と照明器具１４ｂの光軸の交点との距離Ｉが
Ｘ＝Ｏのとき、平均照度および均斉度共に比較的高い値
が得られる。すなわち、平均照度および均斉寒が共に比
較的高くなる条件は照ψ」器具１４ａおよび１４ｂの光
軸が一点で交差することである。
ブ３の表面全幅を照明することについて説明する。照明
器具１４ａおよび１４ｂの照射角全それぞれ３６°、４
５° とし、照明器具１４ｂの光軸の交差量を第９図に
示すように固定して照明器具１４ ａの光軸の交差量を
変える。このときの平均照度および均斉度を第１０図に
示す。第１０図から明らかなように、照明器具１４ａの
光軸の交点と照明器具１４ｂの光軸の交点との距離Ｉが
Ｘ＝Ｏのとき、平均照度および均斉度共に比較的高い値
が得られる。すなわち、平均照度および均斉寒が共に比
較的高くなる条件は照ψ」器具１４ａおよび１４ｂの光
軸が一点で交差することである。
これは、以下のことから説明できる。
第８図に示すように照射角の大きい照り」器具１４ｂの
方が最大照度が大きく、しかもその位置が光軸から離れ
ている。したがって、定性的に次の二点がいえる。第１
に、照明器具１４ａと１４ｂでは、照射角の小さな照明
器具１４ａのＪ′Ｍ大照度位置が照明器具１４ｂの最大
照度位置よシやや光軸側にとると均一で高い照度分布が
一？４）られる。すなわち、照明器具１４ａと１４ｂの
光軸がスラブ・中央で交差したとき、上の条件にあては
まる。第２には、照明器具１４ａまたは１４ｂを左右対
称に配置させることによシ、よシ均一な照度分布が得ら
れることである。
方が最大照度が大きく、しかもその位置が光軸から離れ
ている。したがって、定性的に次の二点がいえる。第１
に、照明器具１４ａと１４ｂでは、照射角の小さな照明
器具１４ａのＪ′Ｍ大照度位置が照明器具１４ｂの最大
照度位置よシやや光軸側にとると均一で高い照度分布が
一？４）られる。すなわち、照明器具１４ａと１４ｂの
光軸がスラブ・中央で交差したとき、上の条件にあては
まる。第２には、照明器具１４ａまたは１４ｂを左右対
称に配置させることによシ、よシ均一な照度分布が得ら
れることである。
この２つの条件を満たすものの中に、均斉度も高く、照
度もともに比較的高い場合があり、これが第１０図から
明らかなように、光軸が１点で交差したときである。
度もともに比較的高い場合があり、これが第１０図から
明らかなように、光軸が１点で交差したときである。
以上のように本実施例によれば、ハロゲン電球１ｅをそ
の一端を放物線杆反射鏡１６の焦点Ｆ１に他端を放物線
杆反射鏡１５の焦点Ｆ２からαだけ離して配設した照明
器具を、移動中のスラブ３０両側に片側２つづつ設けて
照明することによって、均一な照度分布をスラブ３全幅
で得ることができる。
の一端を放物線杆反射鏡１６の焦点Ｆ１に他端を放物線
杆反射鏡１５の焦点Ｆ２からαだけ離して配設した照明
器具を、移動中のスラブ３０両側に片側２つづつ設けて
照明することによって、均一な照度分布をスラブ３全幅
で得ることができる。
発明の効果
前記実施例の説明より明らかなように本発明の熱間連続
鋳造スラブの表面疵検出用照明装置は、スラブを切断す
る切断機までスラブを連続して案内する案内手段の途中
で、移動中のスラブの表面疵を検出する撮像装置の両側
に片側２つ以上の照明器具を、その光軸が１点で交差す
るように設けることにより、スラブ表面において、高い
照度と均一な照度分布を得ることができ、その実用的効
果は大きい。
鋳造スラブの表面疵検出用照明装置は、スラブを切断す
る切断機までスラブを連続して案内する案内手段の途中
で、移動中のスラブの表面疵を検出する撮像装置の両側
に片側２つ以上の照明器具を、その光軸が１点で交差す
るように設けることにより、スラブ表面において、高い
照度と均一な照度分布を得ることができ、その実用的効
果は大きい。
第１図は熱間連続鋳造スラブの連続ＶＪ造設備の概略構
成図、第２図は従来の熱間連続鋳造スラブの表面疵検出
装置の断面図、第３図は第２図におけるａ−ａ断面図、
第４図は本発明の一実施例における熱間連続鋳造スラブ
の表面疵検出用照明装置の構成を示した図、第６図は同
装置に用いる照明器具の構成図、第６図は第４図におけ
るＣＣ断面図、第７図は照明器具とスラブ而との関係を
模式的に示した図、第８図は実施例における熱間連続鋳
造スラブの表面疵検出用照明装置に用いる照明器具によ
る照度分布を示した図、第９図は照明装置の配置を説明
する図、第１０図は照明器具の光軸の交差量を変えたと
きの平均照度と均斉度を示した図である。 ２・・・・・・鋳型、３・・・・・・熱間連続鋳造スラ
ブ（スラブ）、４・・・・・・ロール群、６・・・・・
・ガス切断機、７・・・・・・フレーム、８・・・・・
・上部ロール、１０・・・・・・下ｉロール、１２・・
・・・・撮像装置、１３・・・・・・照明装置、１４ａ
、 １４ｂ・・・・・照明器具、１５・ニ・・・・放
物線柱反射鏡、１６・・・・・・線状光源（ハロゲン電
球）、Ｆｊ＋Ｆ２・・・・・・放物線柱反射鏡の焦点。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第３
図 第 ４ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第７図 ＯＢ′ 菰 ８ 図 光軸から別振れ 第（１図 第１０図 交差量
成図、第２図は従来の熱間連続鋳造スラブの表面疵検出
装置の断面図、第３図は第２図におけるａ−ａ断面図、
第４図は本発明の一実施例における熱間連続鋳造スラブ
の表面疵検出用照明装置の構成を示した図、第６図は同
装置に用いる照明器具の構成図、第６図は第４図におけ
るＣＣ断面図、第７図は照明器具とスラブ而との関係を
模式的に示した図、第８図は実施例における熱間連続鋳
造スラブの表面疵検出用照明装置に用いる照明器具によ
る照度分布を示した図、第９図は照明装置の配置を説明
する図、第１０図は照明器具の光軸の交差量を変えたと
きの平均照度と均斉度を示した図である。 ２・・・・・・鋳型、３・・・・・・熱間連続鋳造スラ
ブ（スラブ）、４・・・・・・ロール群、６・・・・・
・ガス切断機、７・・・・・・フレーム、８・・・・・
・上部ロール、１０・・・・・・下ｉロール、１２・・
・・・・撮像装置、１３・・・・・・照明装置、１４ａ
、 １４ｂ・・・・・照明器具、１５・ニ・・・・放
物線柱反射鏡、１６・・・・・・線状光源（ハロゲン電
球）、Ｆｊ＋Ｆ２・・・・・・放物線柱反射鏡の焦点。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第３
図 第 ４ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第７図 ＯＢ′ 菰 ８ 図 光軸から別振れ 第（１図 第１０図 交差量
Claims (1)
- 熱間連続鋳造スラブを形成する鋳型から熱間連続鋳造ス
ラブを切断する切断機まで熱間連続鋳造スラブを連続し
て案内する案内手段と、その案内手段の途中で、移動中
の前記熱間連続νｊ造ススラブ表面疵を陰影像として撮
像装置で検出する表面疵検出装置とにおいて、放物線柱
反射鏡とこの反射鏡の焦点上に線状光源の一端を配設し
、他端は焦点からずらして配設した照明器Ａを前記撮像
装置の両側に片側２つ以上設け、しかもこれらの照明器
具の光軸がスラブ中央の１点で交差するにうに構成した
ことを特徴とする表面疵検出用熱ｌＪｌ］装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP281684A JPS60146134A (ja) | 1984-01-11 | 1984-01-11 | 表面疵検出用照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP281684A JPS60146134A (ja) | 1984-01-11 | 1984-01-11 | 表面疵検出用照明装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60146134A true JPS60146134A (ja) | 1985-08-01 |
Family
ID=11539927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP281684A Pending JPS60146134A (ja) | 1984-01-11 | 1984-01-11 | 表面疵検出用照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60146134A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5363901A (en) * | 1991-11-22 | 1994-11-15 | Elkem Technology A/S | Method for detecting pinholes in continuously cast billets |
| EP1798543A1 (fr) * | 2005-12-16 | 2007-06-20 | Siemens VAI Metals Technologies SAS | Rampe et procédé d'éclairage à diodes électroluminescentes de puissance pour un système de détection automatique de défauts |
-
1984
- 1984-01-11 JP JP281684A patent/JPS60146134A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5363901A (en) * | 1991-11-22 | 1994-11-15 | Elkem Technology A/S | Method for detecting pinholes in continuously cast billets |
| EP1798543A1 (fr) * | 2005-12-16 | 2007-06-20 | Siemens VAI Metals Technologies SAS | Rampe et procédé d'éclairage à diodes électroluminescentes de puissance pour un système de détection automatique de défauts |
| FR2895084A1 (fr) * | 2005-12-16 | 2007-06-22 | Vai Clecim Soc Par Actions Sim | Rampe et procede d'eclairage a diodes electroluminescentes de puissance pour un systeme de detection automatique de defauts |
| US7503680B2 (en) | 2005-12-16 | 2009-03-17 | Siemens Vai Metals Technologies Sas | Striplight and system with high-power light-emitting diodes for an automatic fault detection system |
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