JPS60145687A - 半導体レ−ザ− - Google Patents
半導体レ−ザ−Info
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- JPS60145687A JPS60145687A JP164484A JP164484A JPS60145687A JP S60145687 A JPS60145687 A JP S60145687A JP 164484 A JP164484 A JP 164484A JP 164484 A JP164484 A JP 164484A JP S60145687 A JPS60145687 A JP S60145687A
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- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体レーザー特にグレイデッドインデックス
ウエイプガイドセパレイトコン7アイメントヘテロスト
ラクチャ(Graded −IndexWavegui
de 5eparate −Confinement
Hete−rostructore (GRIN −8
CH) ) 構造半導体レーザー(文献アブライドフィ
ジックスレターズ誌(Appl、 Phys、 Let
t、 、 vol 40 、 Nn3. p217゜1
982) )の改良に関する。
ウエイプガイドセパレイトコン7アイメントヘテロスト
ラクチャ(Graded −IndexWavegui
de 5eparate −Confinement
Hete−rostructore (GRIN −8
CH) ) 構造半導体レーザー(文献アブライドフィ
ジックスレターズ誌(Appl、 Phys、 Let
t、 、 vol 40 、 Nn3. p217゜1
982) )の改良に関する。
(従来技術とその問題点)
従来のGRIN−8CH構造半導体レーザーにおいては
活性層とクラッド層の中間の屈折率を有し、しかも屈折
率が活性層からクラッド層に近づくにつれて、2乗分布
で/トさくなる様なグレイデッドガイド層を活性層とク
ラッド層の間に備えておシ、これが光ガイド層の役目を
果たしている。したがって、活性層を200A以下の超
薄膜にした場合にも活性層からの光のしみ出しを抑える
ことが出来るためこの構造の半導体レーザーは数百A/
cdの超低閾値電流で発振する。しかしながら、活性層
に接するグレイデッドガイド層の結晶性が室温のPL強
度等で観測するとまだ不充分であった。このためこの種
の半導体レーザーの閾値竜流密贋はまだ充分低くなく改
善の必要があった。
活性層とクラッド層の中間の屈折率を有し、しかも屈折
率が活性層からクラッド層に近づくにつれて、2乗分布
で/トさくなる様なグレイデッドガイド層を活性層とク
ラッド層の間に備えておシ、これが光ガイド層の役目を
果たしている。したがって、活性層を200A以下の超
薄膜にした場合にも活性層からの光のしみ出しを抑える
ことが出来るためこの構造の半導体レーザーは数百A/
cdの超低閾値電流で発振する。しかしながら、活性層
に接するグレイデッドガイド層の結晶性が室温のPL強
度等で観測するとまだ不充分であった。このためこの種
の半導体レーザーの閾値竜流密贋はまだ充分低くなく改
善の必要があった。
(発明の目的)
本発明の目的は、現在の0RIN−8CH構造半導体レ
ーザーよシもさらに低い閾値電流密度で発振する良好な
半導体tノーザーを提供することにある。
ーザーよシもさらに低い閾値電流密度で発振する良好な
半導体tノーザーを提供することにある。
(発明の構成)
本発明の半導体レーザーは、活性層とこの活性層を上下
にはさむ2つのグレイデッドガイド層を少なくとも備え
、これらグレイデッドガイド層が第1半導体と第2牛導
体とを交互に積層されて少なくとも活性層近傍は超格子
構造になっており、前記第1半導体に比し前記第2半導
体の禁制帯幅が大きく、少なくとも前記第1半導体の厚
さが前記活性層から遠ざかるにつれて大きくなっている
構成になっている。
にはさむ2つのグレイデッドガイド層を少なくとも備え
、これらグレイデッドガイド層が第1半導体と第2牛導
体とを交互に積層されて少なくとも活性層近傍は超格子
構造になっており、前記第1半導体に比し前記第2半導
体の禁制帯幅が大きく、少なくとも前記第1半導体の厚
さが前記活性層から遠ざかるにつれて大きくなっている
構成になっている。
(実施例と発明の効果)
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
本発明の一実施例の断面図を第1図に示す。図中、1は
n −GaAs基板、2はバッファ一層(n−GaAs
) 、3はn型クラッド層(n −AJ Ga1−X
x3 a As 、 0.3≦X、<1)、4は第1グレイデッド
ガイド層(超格子構造からなる。厚さ300〜5000
A)、5は活性層(AAtx()a、=x5 As
、’X、、 < X3 、厚さ≦500A)、6は第2
グレイデッドガイド層(超格子構造からなる。厚さ30
0〜5000A ) 、7はp型クラッド層(p −A
JxGap−x、As 、 0.3≦X7) <1.x、>xs)、8はキャップ層(P+GaAs
)9は8i0.膜、10はp型電極、11はn型電極、
12はストライプ部分である。本実施例では、Sin、
膜9を絶縁膜として用いストライプ部分12にのみ電極
を形成したいわゆる5in2ストライプ型の電流挾窄構
造をとっている。
n −GaAs基板、2はバッファ一層(n−GaAs
) 、3はn型クラッド層(n −AJ Ga1−X
x3 a As 、 0.3≦X、<1)、4は第1グレイデッド
ガイド層(超格子構造からなる。厚さ300〜5000
A)、5は活性層(AAtx()a、=x5 As
、’X、、 < X3 、厚さ≦500A)、6は第2
グレイデッドガイド層(超格子構造からなる。厚さ30
0〜5000A ) 、7はp型クラッド層(p −A
JxGap−x、As 、 0.3≦X7) <1.x、>xs)、8はキャップ層(P+GaAs
)9は8i0.膜、10はp型電極、11はn型電極、
12はストライプ部分である。本実施例では、Sin、
膜9を絶縁膜として用いストライプ部分12にのみ電極
を形成したいわゆる5in2ストライプ型の電流挾窄構
造をとっている。
第2図に本実施例の主要部分のエネルギーバンド図を示
す。第1グレイデッドガイド層4はポテンシャル井戸層
(第1半導体層)20(n型あるいはノンドープAII
x2゜Ga1−、、As 、厚さが活性層に近づくにつ
れ大きくなる)とポテンシャル障壁層(第2半導体層)
21(n型あるいはノンドープkl x21Ga 1−
X 、、1As、1x、o<x、、≦1、厚さく40A
)が交互に積層した超格子構造となっている。ポテンシ
ャル障壁層21の厚さは電子のドブロイ波長以下に設定
されているため、この超格子の量子化準位はミニノ(ラ
ドを形成しておシミ子は容易にポテンシャル障壁をトン
ネルで通過することが出来る。又、ポテンシャル井戸層
21の厚さは活性層5に近づくにつれて大きくなる様に
変化している。−例として、X!1=1の場合には第1
グレイデッドガイド層4はGaAs / AlAsの超
格子となシ、ポテンシャル障壁層21の厚みをl0A一
定、ポテンシャル井戸層21の厚みをIOAから4OA
まで膜厚方向でグレイデッドに変化している場合には、
第1グレイデッドガイド層4の等価的なA1組成比が内
部にてX = O,、2から0.5まで変化することに
なる。この様に本実施例の半導体レーザーにおいてはポ
テンシャル井戸層20の厚みをグレイデッドに変化させ
ることにより等価的にグレイデッドガイド層を形成して
いる。第2グレイデッドガイド層6も同様にポテンシャ
ル井戸層22(P型あるいはnondope AJx!
、 Qal−x2.As %厚さが活性層に近づくにつ
れて大きくなる)とポテンシャル障壁層23(p型ある
いはn o n ’ o p e AJ X !a G
aI−yg zs ASsX2. < X2.≦1、厚
さく4OA)の周期構造になっている。
す。第1グレイデッドガイド層4はポテンシャル井戸層
(第1半導体層)20(n型あるいはノンドープAII
x2゜Ga1−、、As 、厚さが活性層に近づくにつ
れ大きくなる)とポテンシャル障壁層(第2半導体層)
21(n型あるいはノンドープkl x21Ga 1−
X 、、1As、1x、o<x、、≦1、厚さく40A
)が交互に積層した超格子構造となっている。ポテンシ
ャル障壁層21の厚さは電子のドブロイ波長以下に設定
されているため、この超格子の量子化準位はミニノ(ラ
ドを形成しておシミ子は容易にポテンシャル障壁をトン
ネルで通過することが出来る。又、ポテンシャル井戸層
21の厚さは活性層5に近づくにつれて大きくなる様に
変化している。−例として、X!1=1の場合には第1
グレイデッドガイド層4はGaAs / AlAsの超
格子となシ、ポテンシャル障壁層21の厚みをl0A一
定、ポテンシャル井戸層21の厚みをIOAから4OA
まで膜厚方向でグレイデッドに変化している場合には、
第1グレイデッドガイド層4の等価的なA1組成比が内
部にてX = O,、2から0.5まで変化することに
なる。この様に本実施例の半導体レーザーにおいてはポ
テンシャル井戸層20の厚みをグレイデッドに変化させ
ることにより等価的にグレイデッドガイド層を形成して
いる。第2グレイデッドガイド層6も同様にポテンシャ
ル井戸層22(P型あるいはnondope AJx!
、 Qal−x2.As %厚さが活性層に近づくにつ
れて大きくなる)とポテンシャル障壁層23(p型ある
いはn o n ’ o p e AJ X !a G
aI−yg zs ASsX2. < X2.≦1、厚
さく4OA)の周期構造になっている。
これらのAJGaAy’GaAs超格子は、結晶性特に
発光効率等が従来のランダムにAlとGaが混ざシあっ
たAl10aAs混晶に比べて良好であることが実験的
に確かめられている。従がって本発明の半導体レーザー
はこの様に発光効率の優れた超格子構造をグレイデッド
ガイド層に用いているため従来のAlGaAs混晶を用
いたグレイデッドガイド層を有する半導体レーザーに比
べより低閾値で発振することが可能となった。
発光効率等が従来のランダムにAlとGaが混ざシあっ
たAl10aAs混晶に比べて良好であることが実験的
に確かめられている。従がって本発明の半導体レーザー
はこの様に発光効率の優れた超格子構造をグレイデッド
ガイド層に用いているため従来のAlGaAs混晶を用
いたグレイデッドガイド層を有する半導体レーザーに比
べより低閾値で発振することが可能となった。
次に製造方法について説明する。まず最初にn−GaA
s基板1上にバッファ一層2.n型クラッド層3.第1
グレイデツドガイド層4.活性層5゜第2グレイデツド
ガイド層6.p型クラッド層7゜キャップ層8を順次結
晶成長する。この結晶成長の際第1及び第2グレイデッ
ド層の超格子構造を形成する。結晶成長後Sin、膜9
を形成しフォトエツチング法等を用いてストライプ部分
12の8102膜を除去する。次にρ型電極10、n型
電極11を形成する。最後に、襞間等を用いてペレット
に切シ出しヒートシンクに融着及びリード線付けを行な
って完成する。
s基板1上にバッファ一層2.n型クラッド層3.第1
グレイデツドガイド層4.活性層5゜第2グレイデツド
ガイド層6.p型クラッド層7゜キャップ層8を順次結
晶成長する。この結晶成長の際第1及び第2グレイデッ
ド層の超格子構造を形成する。結晶成長後Sin、膜9
を形成しフォトエツチング法等を用いてストライプ部分
12の8102膜を除去する。次にρ型電極10、n型
電極11を形成する。最後に、襞間等を用いてペレット
に切シ出しヒートシンクに融着及びリード線付けを行な
って完成する。
本実施例ではグレイデッドガイド層に膜厚方向に一様に
n型あるいはp型ドーピングあるいはノンドープとしだ
がこれに限らず超格子の一部分のみにドーピングする選
択ドープされた超格子を用いても良い。又、本実施例に
おいては、電流挾亨構造として8i02ストライプ構造
を用いたがこれに限らずプレーナーストライブ構造、リ
ッヂウニイブガイド構造、埋め込み構造等どの構造を用
いても本発明が適用出来ることは明らかである。本実施
例ではn型基板を用いたがこれと反対にp型基板を用い
て導電型を全て反対にした構造にしても良い。又本実施
例ではグレイデッドガイド層の超格子のポテンシャル障
壁層の厚みをほぼ一定としだがこれに限らずポテンシャ
ル障壁層・(第2半導体層、)・の厚みも電子ドブロイ
波長以下の条件のもとで、膜厚方向で変化しても良い。
n型あるいはp型ドーピングあるいはノンドープとしだ
がこれに限らず超格子の一部分のみにドーピングする選
択ドープされた超格子を用いても良い。又、本実施例に
おいては、電流挾亨構造として8i02ストライプ構造
を用いたがこれに限らずプレーナーストライブ構造、リ
ッヂウニイブガイド構造、埋め込み構造等どの構造を用
いても本発明が適用出来ることは明らかである。本実施
例ではn型基板を用いたがこれと反対にp型基板を用い
て導電型を全て反対にした構造にしても良い。又本実施
例ではグレイデッドガイド層の超格子のポテンシャル障
壁層の厚みをほぼ一定としだがこれに限らずポテンシャ
ル障壁層・(第2半導体層、)・の厚みも電子ドブロイ
波長以下の条件のもとで、膜厚方向で変化しても良い。
又、本実施例においてはグレイデッドガイド層全部が超
格子構造となっていたが、低閾値実現に効果のある活性
層近傍のみに超格子構造を用いて活性層から遠庇 い部分はAJGaAs it&晶によるグレイデッドガ
イド層を用いても良い。又、本実施例では活性層が単層
構造となっていたがこれに限らず多1(量子井戸構造等
の多層構造となっていても良い。又、本実施例では材料
として、AlGaAs / GaAs系を用いたがこれ
に限らずInGaA、JAs / InP系、 GaA
JSb/ Garb系、InGaAsP / InP系
等他の材料においても本発明を適用出来ることは明らか
である。
格子構造となっていたが、低閾値実現に効果のある活性
層近傍のみに超格子構造を用いて活性層から遠庇 い部分はAJGaAs it&晶によるグレイデッドガ
イド層を用いても良い。又、本実施例では活性層が単層
構造となっていたがこれに限らず多1(量子井戸構造等
の多層構造となっていても良い。又、本実施例では材料
として、AlGaAs / GaAs系を用いたがこれ
に限らずInGaA、JAs / InP系、 GaA
JSb/ Garb系、InGaAsP / InP系
等他の材料においても本発明を適用出来ることは明らか
である。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。第2図は、
本発明の一実施例の上狭部分のエネルギーバンド図であ
る。 図中、1はn −GaAs基板、2はバッファ一層、3
はn型クラッド層、4は第1グレイデッドガイド層、5
は活性層、6は第2グレイデッドガイド層、7はp型ク
ラッド層、8はキャップ層、9はStO,膜、10はp
型電極、11はn型電極、■2はストライプ部分、20
はポテンシャル井戸層、21はポテンシャル障壁層、2
2はポテンシャル井戸層、23はポテンシャル障壁層で
ある。 第 1 図 1?
本発明の一実施例の上狭部分のエネルギーバンド図であ
る。 図中、1はn −GaAs基板、2はバッファ一層、3
はn型クラッド層、4は第1グレイデッドガイド層、5
は活性層、6は第2グレイデッドガイド層、7はp型ク
ラッド層、8はキャップ層、9はStO,膜、10はp
型電極、11はn型電極、■2はストライプ部分、20
はポテンシャル井戸層、21はポテンシャル障壁層、2
2はポテンシャル井戸層、23はポテンシャル障壁層で
ある。 第 1 図 1?
Claims (1)
- 活性層とこの活性層を上下にはさむ2つのグレイデッド
ガイド層とを少なくとも有する多層構造を備え、これら
グレイデッドガイド層が第1半導体と第2半導体とを交
互に積層されて少なくとも活性層近傍は超格子構造にな
っておシ、前記第1半導体に比し前記第2半導体の禁制
帯幅が大きく、少なくとも前記第1半導体の厚さが前記
活性層から遠ざかるにつれて大きくなっていることを特
徴とする半導体レーザー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP164484A JPS60145687A (ja) | 1984-01-09 | 1984-01-09 | 半導体レ−ザ− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP164484A JPS60145687A (ja) | 1984-01-09 | 1984-01-09 | 半導体レ−ザ− |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60145687A true JPS60145687A (ja) | 1985-08-01 |
Family
ID=11507226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP164484A Pending JPS60145687A (ja) | 1984-01-09 | 1984-01-09 | 半導体レ−ザ− |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60145687A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61144089A (ja) * | 1984-12-18 | 1986-07-01 | Canon Inc | 半導体レ−ザ |
JPS61154191A (ja) * | 1984-12-27 | 1986-07-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レ−ザ素子 |
JPS6346788A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Tokyo Inst Of Technol | 超格子構造体 |
US4750183A (en) * | 1986-02-19 | 1988-06-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device |
US4999844A (en) * | 1988-04-15 | 1991-03-12 | Omron Tateisi Electronics Co. | Semiconductor quantum well laser |
FR2749447A1 (fr) * | 1996-06-04 | 1997-12-05 | France Telecom | Dispositif optique a guide de lumiere semi-conducteur, a faisceau emergent de faible divergence, application aux lasers de fabry-perot et a contre-reaction distribuee |
US6078602A (en) * | 1996-02-12 | 2000-06-20 | Nec Corporation | Separate confinement heterostructured semiconductor laser device having high speed characteristics |
JP2003536264A (ja) * | 2000-06-02 | 2003-12-02 | アジリティー コミュニケイションズ インコーポレイテッド | 高出力で、製造可能な抽出格子分散型ブラッグ反射器レーザー |
Citations (1)
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1984
- 1984-01-09 JP JP164484A patent/JPS60145687A/ja active Pending
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