JPS60145687A - 半導体レ−ザ− - Google Patents

半導体レ−ザ−

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JPS60145687A
JPS60145687A JP164484A JP164484A JPS60145687A JP S60145687 A JPS60145687 A JP S60145687A JP 164484 A JP164484 A JP 164484A JP 164484 A JP164484 A JP 164484A JP S60145687 A JPS60145687 A JP S60145687A
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JP
Japan
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semiconductor
active layer
graded
layers
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JP164484A
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Mitsunori Sugimoto
杉本 満則
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NEC Corp
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NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
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    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体レーザー特にグレイデッドインデックス
ウエイプガイドセパレイトコン7アイメントヘテロスト
ラクチャ(Graded −IndexWavegui
de 5eparate −Confinement 
Hete−rostructore (GRIN −8
CH) ) 構造半導体レーザー(文献アブライドフィ
ジックスレターズ誌(Appl、 Phys、 Let
t、 、 vol 40 、 Nn3. p217゜1
982) )の改良に関する。
(従来技術とその問題点) 従来のGRIN−8CH構造半導体レーザーにおいては
活性層とクラッド層の中間の屈折率を有し、しかも屈折
率が活性層からクラッド層に近づくにつれて、2乗分布
で/トさくなる様なグレイデッドガイド層を活性層とク
ラッド層の間に備えておシ、これが光ガイド層の役目を
果たしている。したがって、活性層を200A以下の超
薄膜にした場合にも活性層からの光のしみ出しを抑える
ことが出来るためこの構造の半導体レーザーは数百A/
cdの超低閾値電流で発振する。しかしながら、活性層
に接するグレイデッドガイド層の結晶性が室温のPL強
度等で観測するとまだ不充分であった。このためこの種
の半導体レーザーの閾値竜流密贋はまだ充分低くなく改
善の必要があった。
(発明の目的) 本発明の目的は、現在の0RIN−8CH構造半導体レ
ーザーよシもさらに低い閾値電流密度で発振する良好な
半導体tノーザーを提供することにある。
(発明の構成) 本発明の半導体レーザーは、活性層とこの活性層を上下
にはさむ2つのグレイデッドガイド層を少なくとも備え
、これらグレイデッドガイド層が第1半導体と第2牛導
体とを交互に積層されて少なくとも活性層近傍は超格子
構造になっており、前記第1半導体に比し前記第2半導
体の禁制帯幅が大きく、少なくとも前記第1半導体の厚
さが前記活性層から遠ざかるにつれて大きくなっている
構成になっている。
(実施例と発明の効果) 次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
本発明の一実施例の断面図を第1図に示す。図中、1は
n −GaAs基板、2はバッファ一層(n−GaAs
 ) 、3はn型クラッド層(n −AJ Ga1−X
x3 a As 、 0.3≦X、<1)、4は第1グレイデッド
ガイド層(超格子構造からなる。厚さ300〜5000
 A)、5は活性層(AAtx()a、=x5 As 
、’X、、 < X3 、厚さ≦500A)、6は第2
グレイデッドガイド層(超格子構造からなる。厚さ30
0〜5000A ) 、7はp型クラッド層(p −A
JxGap−x、As 、 0.3≦X7) <1.x、>xs)、8はキャップ層(P+GaAs 
)9は8i0.膜、10はp型電極、11はn型電極、
12はストライプ部分である。本実施例では、Sin、
膜9を絶縁膜として用いストライプ部分12にのみ電極
を形成したいわゆる5in2ストライプ型の電流挾窄構
造をとっている。
第2図に本実施例の主要部分のエネルギーバンド図を示
す。第1グレイデッドガイド層4はポテンシャル井戸層
(第1半導体層)20(n型あるいはノンドープAII
x2゜Ga1−、、As 、厚さが活性層に近づくにつ
れ大きくなる)とポテンシャル障壁層(第2半導体層)
21(n型あるいはノンドープkl x21Ga 1−
X 、、1As、1x、o<x、、≦1、厚さく40A
)が交互に積層した超格子構造となっている。ポテンシ
ャル障壁層21の厚さは電子のドブロイ波長以下に設定
されているため、この超格子の量子化準位はミニノ(ラ
ドを形成しておシミ子は容易にポテンシャル障壁をトン
ネルで通過することが出来る。又、ポテンシャル井戸層
21の厚さは活性層5に近づくにつれて大きくなる様に
変化している。−例として、X!1=1の場合には第1
グレイデッドガイド層4はGaAs / AlAsの超
格子となシ、ポテンシャル障壁層21の厚みをl0A一
定、ポテンシャル井戸層21の厚みをIOAから4OA
まで膜厚方向でグレイデッドに変化している場合には、
第1グレイデッドガイド層4の等価的なA1組成比が内
部にてX = O,、2から0.5まで変化することに
なる。この様に本実施例の半導体レーザーにおいてはポ
テンシャル井戸層20の厚みをグレイデッドに変化させ
ることにより等価的にグレイデッドガイド層を形成して
いる。第2グレイデッドガイド層6も同様にポテンシャ
ル井戸層22(P型あるいはnondope AJx!
、 Qal−x2.As %厚さが活性層に近づくにつ
れて大きくなる)とポテンシャル障壁層23(p型ある
いはn o n ’ o p e AJ X !a G
aI−yg zs ASsX2. < X2.≦1、厚
さく4OA)の周期構造になっている。
これらのAJGaAy’GaAs超格子は、結晶性特に
発光効率等が従来のランダムにAlとGaが混ざシあっ
たAl10aAs混晶に比べて良好であることが実験的
に確かめられている。従がって本発明の半導体レーザー
はこの様に発光効率の優れた超格子構造をグレイデッド
ガイド層に用いているため従来のAlGaAs混晶を用
いたグレイデッドガイド層を有する半導体レーザーに比
べより低閾値で発振することが可能となった。
次に製造方法について説明する。まず最初にn−GaA
s基板1上にバッファ一層2.n型クラッド層3.第1
グレイデツドガイド層4.活性層5゜第2グレイデツド
ガイド層6.p型クラッド層7゜キャップ層8を順次結
晶成長する。この結晶成長の際第1及び第2グレイデッ
ド層の超格子構造を形成する。結晶成長後Sin、膜9
を形成しフォトエツチング法等を用いてストライプ部分
12の8102膜を除去する。次にρ型電極10、n型
電極11を形成する。最後に、襞間等を用いてペレット
に切シ出しヒートシンクに融着及びリード線付けを行な
って完成する。
本実施例ではグレイデッドガイド層に膜厚方向に一様に
n型あるいはp型ドーピングあるいはノンドープとしだ
がこれに限らず超格子の一部分のみにドーピングする選
択ドープされた超格子を用いても良い。又、本実施例に
おいては、電流挾亨構造として8i02ストライプ構造
を用いたがこれに限らずプレーナーストライブ構造、リ
ッヂウニイブガイド構造、埋め込み構造等どの構造を用
いても本発明が適用出来ることは明らかである。本実施
例ではn型基板を用いたがこれと反対にp型基板を用い
て導電型を全て反対にした構造にしても良い。又本実施
例ではグレイデッドガイド層の超格子のポテンシャル障
壁層の厚みをほぼ一定としだがこれに限らずポテンシャ
ル障壁層・(第2半導体層、)・の厚みも電子ドブロイ
波長以下の条件のもとで、膜厚方向で変化しても良い。
又、本実施例においてはグレイデッドガイド層全部が超
格子構造となっていたが、低閾値実現に効果のある活性
層近傍のみに超格子構造を用いて活性層から遠庇 い部分はAJGaAs it&晶によるグレイデッドガ
イド層を用いても良い。又、本実施例では活性層が単層
構造となっていたがこれに限らず多1(量子井戸構造等
の多層構造となっていても良い。又、本実施例では材料
として、AlGaAs / GaAs系を用いたがこれ
に限らずInGaA、JAs / InP系、 GaA
JSb/ Garb系、InGaAsP / InP系
等他の材料においても本発明を適用出来ることは明らか
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図である。第2図は、
本発明の一実施例の上狭部分のエネルギーバンド図であ
る。 図中、1はn −GaAs基板、2はバッファ一層、3
はn型クラッド層、4は第1グレイデッドガイド層、5
は活性層、6は第2グレイデッドガイド層、7はp型ク
ラッド層、8はキャップ層、9はStO,膜、10はp
型電極、11はn型電極、■2はストライプ部分、20
はポテンシャル井戸層、21はポテンシャル障壁層、2
2はポテンシャル井戸層、23はポテンシャル障壁層で
ある。 第 1 図 1?

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 活性層とこの活性層を上下にはさむ2つのグレイデッド
    ガイド層とを少なくとも有する多層構造を備え、これら
    グレイデッドガイド層が第1半導体と第2半導体とを交
    互に積層されて少なくとも活性層近傍は超格子構造にな
    っておシ、前記第1半導体に比し前記第2半導体の禁制
    帯幅が大きく、少なくとも前記第1半導体の厚さが前記
    活性層から遠ざかるにつれて大きくなっていることを特
    徴とする半導体レーザー。
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