JPS60143707A - タツチ信号プロ−ブ群のセツテイング装置 - Google Patents
タツチ信号プロ−ブ群のセツテイング装置Info
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- JPS60143707A JPS60143707A JP24779383A JP24779383A JPS60143707A JP S60143707 A JPS60143707 A JP S60143707A JP 24779383 A JP24779383 A JP 24779383A JP 24779383 A JP24779383 A JP 24779383A JP S60143707 A JPS60143707 A JP S60143707A
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- probe
- axis
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- measuring
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野］
本発明は、三次元測定機等に使用されるタッチ信号プロ
ーブのセツティング装置に関する。
ーブのセツティング装置に関する。
［背景技術］
三次元方向へ移動可能なタッチ信号プローブの接触子を
ワークに当接させ、その接触子がワークに当接した時点
の接触子の座標を所望演算してワークの寸法や形状等を
測定する。いわゆる三次元測定機は、高精度時代にあっ
て益々普及拡大されている。
ワークに当接させ、その接触子がワークに当接した時点
の接触子の座標を所望演算してワークの寸法や形状等を
測定する。いわゆる三次元測定機は、高精度時代にあっ
て益々普及拡大されている。
更に、最近では、品質管理上全数的検査が必要とされる
に至り、その作業性等の観点からも自動的にタッチ信号
プローブを移動させ無人測定を行う、いわゆるＣＮＣ三
次元測定機も普及しつつある。
に至り、その作業性等の観点からも自動的にタッチ信号
プローブを移動させ無人測定を行う、いわゆるＣＮＣ三
次元測定機も普及しつつある。
ところで、かかる三次元測定機の測定実際においては１
，１つの問題がある。いま、この問題をＣＮＣ三次元測
定機について述べる。ＣＮＣ三次元測定機では、倣い手
法またはプログラム手法によって得た軌跡に基づいて、
測定毎にタッチ信号プローブを移動変位させる。従って
、原則的には、１ｐＬｆｆｌの精度で測定しようとする
場合には、これに応じた自動的移動が必要となる。
，１つの問題がある。いま、この問題をＣＮＣ三次元測
定機について述べる。ＣＮＣ三次元測定機では、倣い手
法またはプログラム手法によって得た軌跡に基づいて、
測定毎にタッチ信号プローブを移動変位させる。従って
、原則的には、１ｐＬｆｆｌの精度で測定しようとする
場合には、これに応じた自動的移動が必要となる。
一方、ワーク形状は多種多様であるから、１つのタッチ
信号プローブで全点を測定することは至難である。従っ
て、複数のタッチ信号プローブを自動的または手動的に
切換え可能に装着しておくことが望ましい。また、かか
る場合にあっては、測定態様拡大のためには、各タッチ
信号プローブの姿勢を変更可能に形成することが望まれ
る。
信号プローブで全点を測定することは至難である。従っ
て、複数のタッチ信号プローブを自動的または手動的に
切換え可能に装着しておくことが望ましい。また、かか
る場合にあっては、測定態様拡大のためには、各タッチ
信号プローブの姿勢を変更可能に形成することが望まれ
る。
かくして、複数のタッチ信号プローブを備えた場合、−
・の測定工程に対しては、各タッチ信号プローブの接触
部分（以下、接触子と呼ぶ。）の相互位置関係を不変と
しなければならない。
・の測定工程に対しては、各タッチ信号プローブの接触
部分（以下、接触子と呼ぶ。）の相互位置関係を不変と
しなければならない。
ここに、測定途中において、異形ワークに応じて一部の
タッチ信号プローブを交換したり或いはその姿勢を変え
て測定した場合、各タッチ信号プローブの接触子の相互
位置関係を再度元のワークに応じた位置関係に再現する
ことが非常に困難であるという問題が生じる。これは、
長期的に多数の異形ワークを順次繰返えす一般検査スヶ
ージュール上重要な問題である。
タッチ信号プローブを交換したり或いはその姿勢を変え
て測定した場合、各タッチ信号プローブの接触子の相互
位置関係を再度元のワークに応じた位置関係に再現する
ことが非常に困難であるという問題が生じる。これは、
長期的に多数の異形ワークを順次繰返えす一般検査スヶ
ージュール上重要な問題である。
これらの問題を解決するには、ワークに応じて相対位置
調整を行った複数のタッチ信号プローブを群として、例
えば複数のタッチ信号プローブを測定機本体に着脱可能
とされたシャンク等にセットし、このセットをワーク種
類別に準備しておくことが考えられるが、これは経済上
許しがたい。
調整を行った複数のタッチ信号プローブを群として、例
えば複数のタッチ信号プローブを測定機本体に着脱可能
とされたシャンク等にセットし、このセットをワーク種
類別に準備しておくことが考えられるが、これは経済上
許しがたい。
また、三次元測定機自体を利用して、つまり上記セット
をワークとして、別個のタッチ信号プローブで検査する
ことも考えられるが、セットされたタッチ信号プローブ
の相互位置が所定とは限らないので、調整や再検査等の
複数工程を必要とする結果、長時間三次元測定機の本来
的検査作業を中断しなければならず、作業能率上極めて
不利である。もっとも、一度の検査でその差をプログラ
ムしたり或いはデータ変更することも可能であるが、こ
れとて測定精度上或いは専門的作業上更にプログラム等
の普遍性を阻害するので得策でない。
をワークとして、別個のタッチ信号プローブで検査する
ことも考えられるが、セットされたタッチ信号プローブ
の相互位置が所定とは限らないので、調整や再検査等の
複数工程を必要とする結果、長時間三次元測定機の本来
的検査作業を中断しなければならず、作業能率上極めて
不利である。もっとも、一度の検査でその差をプログラ
ムしたり或いはデータ変更することも可能であるが、こ
れとて測定精度上或いは専門的作業上更にプログラム等
の普遍性を阻害するので得策でない。
［発明の１］的］
本発明の目的は、上述した問題点に鑑み、精度や作業性
の要求を満足させつつ、複数のタッチ信号プローグの接
触子相互位置を所定の関係に調整、確認できるようにし
たセラ、ティング装置を提供することにある。
の要求を満足させつつ、複数のタッチ信号プローグの接
触子相互位置を所定の関係に調整、確認できるようにし
たセラ、ティング装置を提供することにある。
［発明の構成］
ここに、本発明は、複数のタッチ信号プローブを所定の
姿勢に保持したプローブ保持部材を支持する支持手段と
、これに支持されたタッチ信号プローブの接触子に当接
可能な測定子を三次元方向へ移動させるための移動機構
とを対峙配設し、かつ測定子には相互直交面を形成する
とともに、測定子をその軸線を中心として回動可能とし
、これにより上記目的を達成しようとするものである。
姿勢に保持したプローブ保持部材を支持する支持手段と
、これに支持されたタッチ信号プローブの接触子に当接
可能な測定子を三次元方向へ移動させるための移動機構
とを対峙配設し、かつ測定子には相互直交面を形成する
とともに、測定子をその軸線を中心として回動可能とし
、これにより上記目的を達成しようとするものである。
［実施例］
第１図は三次元測定機の外観を示している。同図におい
て、基台ｌの上面に設けられた定盤２に対して、前記基
台ｌの両側の案内レール３間に支持された横桁４が前後
方向（Ｙ軸方向）へ、この横桁４にスライダ５が左右方
向（Ｘ軸方向）へ。
て、基台ｌの上面に設けられた定盤２に対して、前記基
台ｌの両側の案内レール３間に支持された横桁４が前後
方向（Ｙ軸方向）へ、この横桁４にスライダ５が左右方
向（Ｘ軸方向）へ。
このスライダ５にＺ軸６が上下方向（Ｘ軸方向）へ、そ
れぞれ移動自在に設けられている。これらの横桁４、ス
ライダ５およびＺ軸６は、手動、半自動または図示しな
い制御装置からの指令により自動的に移動されるように
なっている。なお、これらの移動量は、図示しない変位
検出器により検出され、演算装置において所望の演算が
行なわれた後、デンタル表示される。また、前記Ｚ軸６
の下端には、固定手段１１を介して複数のタッチ信号プ
ローブ２６を保持したプローブ保持手段２１が支持され
ている。
れぞれ移動自在に設けられている。これらの横桁４、ス
ライダ５およびＺ軸６は、手動、半自動または図示しな
い制御装置からの指令により自動的に移動されるように
なっている。なお、これらの移動量は、図示しない変位
検出器により検出され、演算装置において所望の演算が
行なわれた後、デンタル表示される。また、前記Ｚ軸６
の下端には、固定手段１１を介して複数のタッチ信号プ
ローブ２６を保持したプローブ保持手段２１が支持され
ている。
前記固定手段１１は、第２図に示す如く、前記Ｚ軸６の
下端に止めねじ１２によって固定された固定具１３を備
えている。固定具１３には、その中心軸方向に沿って取
付穴１４が、取付穴１４から所定距離離れた下端面に係
合穴１５がそれぞれ形成されているとともに、前記取付
穴１４の途中にその取付穴１４の軸芯と直交する止めね
じ１６が螺合されている。
下端に止めねじ１２によって固定された固定具１３を備
えている。固定具１３には、その中心軸方向に沿って取
付穴１４が、取付穴１４から所定距離離れた下端面に係
合穴１５がそれぞれ形成されているとともに、前記取付
穴１４の途中にその取付穴１４の軸芯と直交する止めね
じ１６が螺合されている。
また、前記プローブ保持手段２１は、第３図に示す如く
、前記固定具１３の取付穴１４に止めねじ１６を介して
固定される保持ブロック２２を備えている。保持ブロッ
ク２２には、その−上面に前記取付穴１４に止めねじ１
６を介して固定されるシャンク２３および前記係合穴１
５に挿入されるピン２４がそれぞれ一体的に形成されて
いるとともに、周面および下面中央に複数本の保持アー
ム２５が取付けられている。これらの保持アーム２５は
、先端に面や穴等測定箇所の種類や大きさ等に適した異
なる形状のタッチ信号プローブ２６を備え、かつ保持し
たタッチ信号プローブ２６の姿勢を可変できるようにな
っている。
、前記固定具１３の取付穴１４に止めねじ１６を介して
固定される保持ブロック２２を備えている。保持ブロッ
ク２２には、その−上面に前記取付穴１４に止めねじ１
６を介して固定されるシャンク２３および前記係合穴１
５に挿入されるピン２４がそれぞれ一体的に形成されて
いるとともに、周面および下面中央に複数本の保持アー
ム２５が取付けられている。これらの保持アーム２５は
、先端に面や穴等測定箇所の種類や大きさ等に適した異
なる形状のタッチ信号プローブ２６を備え、かつ保持し
たタッチ信号プローブ２６の姿勢を可変できるようにな
っている。
第４図は前記プローブ保持手段２１に保持された複数の
タッチ信号プローブ２６の接触子相互位置を所定の関係
にセットするためのセツティング装置を示している。同
図において、ベース３１の上面両側には、前記プローブ
保持手段２１を支持するための支持手段４１と、プロー
ブ保持手段２１に保持された各タッチ信号プローブ２６
の接触子に当接される測定子５１を三次元方向へ移動さ
せるための移動機構６１とが対峙配設されている。前記
支持手段４１は、前記ベース３１の一方何に前記固定手
段１１と同等の構造を備えた支持台４２が立設されてい
る。即ち、支持台４２には、前記プローブ保持手段２１
のシャンク２３が挿入される取付穴４３および前記ピン
２４が挿入される係合穴４４がそれぞれ形成されている
とともに、前記取付穴４３の途中にその取付穴４３の軸
芯と直交する止めねじ４５が螺合されている。
タッチ信号プローブ２６の接触子相互位置を所定の関係
にセットするためのセツティング装置を示している。同
図において、ベース３１の上面両側には、前記プローブ
保持手段２１を支持するための支持手段４１と、プロー
ブ保持手段２１に保持された各タッチ信号プローブ２６
の接触子に当接される測定子５１を三次元方向へ移動さ
せるための移動機構６１とが対峙配設されている。前記
支持手段４１は、前記ベース３１の一方何に前記固定手
段１１と同等の構造を備えた支持台４２が立設されてい
る。即ち、支持台４２には、前記プローブ保持手段２１
のシャンク２３が挿入される取付穴４３および前記ピン
２４が挿入される係合穴４４がそれぞれ形成されている
とともに、前記取付穴４３の途中にその取付穴４３の軸
芯と直交する止めねじ４５が螺合されている。
これにより、プローブ保持手段２１のシャンク２３を取
付穴４３へ挿入し、かつピン２４を係合穴４４へ挿入し
た後、止めねじ４５を螺合すれば、プローブ保持手段２
１を周方向に位置規制された状態で所定の水平姿勢に支
持させることができる。
付穴４３へ挿入し、かつピン２４を係合穴４４へ挿入し
た後、止めねじ４５を螺合すれば、プローブ保持手段２
１を周方向に位置規制された状態で所定の水平姿勢に支
持させることができる。
また、前記移動機構６１は、前記ベース３１の他方側に
２本の案内レール６２を介して前後方向（Ｙ軸方向）へ
移動可能に設けられた可動台６３を備えている。可動台
６３の上面には、その可動台６３を案内レール６２に沿
ってＹ軸方向へ移動させるための操作ハンドル６４およ
σそのＹ軸方向の位置を表示するダイヤルゲージ６５が
それぞれ設けられているとともに、支柱６６が上方へ向
って立設されている。支柱６６には、２木の案内レール
６７を介してスライダ６８が上下方向（Ｘ軸方向）へ移
動自在に設けられている。スライダ６８の上半分には、
そのスライダ６８を案内レール６７に沿ってＸ軸方向へ
移動させるための操作ハンドル６９およびそのＸ軸方向
の位置を表示するためのダイヤルゲージ７０がそれぞれ
設けられている。また、スライダ６８の下半分には、両
端が連結板を介して互いに連結された２本のＸ軸７１が
前記案内レール６２および案内レール６７に対してそれ
ぞれ直交する方向（Ｘ軸方向）へ摺動自在に設けられて
いるとともに、そのＸ軸７１をＸ軸方向へ向って進退さ
せるための操作ハンドル７２およびそのＸ軸方向の位置
を表示するためのダイヤルゲージ７３がそれぞれ設けら
れている。そして、前記Ｘ軸７１の先端には、前記測定
子５１がその軸線を中心として回動可能に装着されてい
る。ここにおいて、前記３つのダイヤルゲージ６５．７
０．７３により、前記測定子５１の三次元方向の移動変
位量を測定する計測手段７４が構成されている。
２本の案内レール６２を介して前後方向（Ｙ軸方向）へ
移動可能に設けられた可動台６３を備えている。可動台
６３の上面には、その可動台６３を案内レール６２に沿
ってＹ軸方向へ移動させるための操作ハンドル６４およ
σそのＹ軸方向の位置を表示するダイヤルゲージ６５が
それぞれ設けられているとともに、支柱６６が上方へ向
って立設されている。支柱６６には、２木の案内レール
６７を介してスライダ６８が上下方向（Ｘ軸方向）へ移
動自在に設けられている。スライダ６８の上半分には、
そのスライダ６８を案内レール６７に沿ってＸ軸方向へ
移動させるための操作ハンドル６９およびそのＸ軸方向
の位置を表示するためのダイヤルゲージ７０がそれぞれ
設けられている。また、スライダ６８の下半分には、両
端が連結板を介して互いに連結された２本のＸ軸７１が
前記案内レール６２および案内レール６７に対してそれ
ぞれ直交する方向（Ｘ軸方向）へ摺動自在に設けられて
いるとともに、そのＸ軸７１をＸ軸方向へ向って進退さ
せるための操作ハンドル７２およびそのＸ軸方向の位置
を表示するためのダイヤルゲージ７３がそれぞれ設けら
れている。そして、前記Ｘ軸７１の先端には、前記測定
子５１がその軸線を中心として回動可能に装着されてい
る。ここにおいて、前記３つのダイヤルゲージ６５．７
０．７３により、前記測定子５１の三次元方向の移動変
位量を測定する計測手段７４が構成されている。
また、前記測定子５１は、第５図に示す如く、互いに直
交する３つの当接面５２．５３．５４を備え、かつ移動
機構６１のＸ軸７１にその軸線を中心として回動可能に
取付けられている。つまり、タッチ信号プローブ２６の
接触子はほとんどが球状であるから、当接面は直交三面
に形成されている。
交する３つの当接面５２．５３．５４を備え、かつ移動
機構６１のＸ軸７１にその軸線を中心として回動可能に
取付けられている。つまり、タッチ信号プローブ２６の
接触子はほとんどが球状であるから、当接面は直交三面
に形成されている。
次に、本実施例の作用を説明する。プローブ保持手段２
１に保持された複数のタッチ信号プローブ２６の接触子
間の相互位置をチェックするにあたっては、プローブ保
持手段２１のシャンク２３を支持手段４１の取付穴４３
へ挿入し、かつピン２４を係合穴４４へ挿入した後、止
めねじ４５を締付ける。すると、プローブ保持手段２１
は、ピン２４が係合穴４４に挿入された回動位置で水平
に支持される。
１に保持された複数のタッチ信号プローブ２６の接触子
間の相互位置をチェックするにあたっては、プローブ保
持手段２１のシャンク２３を支持手段４１の取付穴４３
へ挿入し、かつピン２４を係合穴４４へ挿入した後、止
めねじ４５を締付ける。すると、プローブ保持手段２１
は、ピン２４が係合穴４４に挿入された回動位置で水平
に支持される。
この後、可動台６３をＹ軸方向へ、スライダ６８をＸ軸
方向へ、Ｘ軸７１をＸ軸方向へ、それぞれ移動させ、測
定子５１の当接面５２ 、５３ 、５４を各タッチ信号
プローブ２６の接触子に順次当接させ、そのときのダイ
ヤルゲージ６５ 、７０ 。
方向へ、Ｘ軸７１をＸ軸方向へ、それぞれ移動させ、測
定子５１の当接面５２ 、５３ 、５４を各タッチ信号
プローブ２６の接触子に順次当接させ、そのときのダイ
ヤルゲージ６５ 、７０ 。
７３の値を読取る。これにより、各タッチ信号プローブ
２６間の相互位置を検査し、その値を所望の値になるよ
うにプローブ保持手段２１の各保持アーム２５を調整す
れば、各タッチ信号プローブ２６の相互位置を所定の関
係にセットすることができる。
２６間の相互位置を検査し、その値を所望の値になるよ
うにプローブ保持手段２１の各保持アーム２５を調整す
れば、各タッチ信号プローブ２６の相互位置を所定の関
係にセットすることができる。
一方、被測定物の測定にあたっては、第４図のセツティ
ング装置によって予め各タッチ信号プローブ２６間の位
置調整がなされたプローブ保持手段２１を第１図に示す
三次元測定機のＺ軸６に固定手段１１を介して取付けた
後、横桁４をＹ軸方向へ、スライダ５をＸ軸方向へ、Ｚ
軸６をＸ軸方向へそれぞれ移動させ、各タッチ信号プロ
ーブ２６の接触子を被測定物に順次当接させれば、その
ときのｘ、ｙ、ｚ軸方向の移動量が図示しない表示器に
表示される。従って、各タッチ信号プローブ２６を選択
的に使用し、その接触子を被測定物の所望の測定面間へ
順次当接させれば、被測定物の寸法や形状を測定するこ
とができる。
ング装置によって予め各タッチ信号プローブ２６間の位
置調整がなされたプローブ保持手段２１を第１図に示す
三次元測定機のＺ軸６に固定手段１１を介して取付けた
後、横桁４をＹ軸方向へ、スライダ５をＸ軸方向へ、Ｚ
軸６をＸ軸方向へそれぞれ移動させ、各タッチ信号プロ
ーブ２６の接触子を被測定物に順次当接させれば、その
ときのｘ、ｙ、ｚ軸方向の移動量が図示しない表示器に
表示される。従って、各タッチ信号プローブ２６を選択
的に使用し、その接触子を被測定物の所望の測定面間へ
順次当接させれば、被測定物の寸法や形状を測定するこ
とができる。
従って、本実施例のセツティング装置によれば、ベース
３１の一方に支持手段４１を、他方に測定子５１を三次
元方向へ移動させる移動機構６１をそれぞれ配設したの
で、支持手段４１に複数のタッチ信号プローブ２６を有
するプローブ保持手段２１を支持し、移動機構６１によ
って測定子５１を三次元方向へ移動させ、その当接面５
２゜５３．５４を各タッチ信号プローブ２６の接触子に
順次当接させ、そのときの位置を測定し、その測定値か
ら各タッチ信号プローブ２６の相互位置をチェックする
ようにしたので、つまりプローブ保持手段２１を三次元
測定機から取外し、別のセツティング装置によって各タ
ッチ信号プローブ２６間の相互位置をチェックするよ、
うにしたので、三次元測定機の作業性を阻害することな
く、三次元測定機の作業と各タッチ信号プローブの相互
位置チェック等を別々に続行することができる。また、
予め複数のタッチ信号プローブを取付けたプローブ保持
手段２１を複数用意しておく必要がないので、経済上極
めて安価である。
３１の一方に支持手段４１を、他方に測定子５１を三次
元方向へ移動させる移動機構６１をそれぞれ配設したの
で、支持手段４１に複数のタッチ信号プローブ２６を有
するプローブ保持手段２１を支持し、移動機構６１によ
って測定子５１を三次元方向へ移動させ、その当接面５
２゜５３．５４を各タッチ信号プローブ２６の接触子に
順次当接させ、そのときの位置を測定し、その測定値か
ら各タッチ信号プローブ２６の相互位置をチェックする
ようにしたので、つまりプローブ保持手段２１を三次元
測定機から取外し、別のセツティング装置によって各タ
ッチ信号プローブ２６間の相互位置をチェックするよ、
うにしたので、三次元測定機の作業性を阻害することな
く、三次元測定機の作業と各タッチ信号プローブの相互
位置チェック等を別々に続行することができる。また、
予め複数のタッチ信号プローブを取付けたプローブ保持
手段２１を複数用意しておく必要がないので、経済上極
めて安価である。
なお、実施にあたって、支持手段４１は、上記実施例で
述べた構造に限られるものではない０例えば、三次元測
定機の固定手段ｌｌがテーパ穴の場合には、つまりプロ
ーブ保持手段２１のシャンクがテーパ軸の場合には、支
持手段４１の取付穴４３もテーパ穴としてもよい、要す
るに、三次元測定機の固定手段１１と同種の構造であれ
ば差支えない。
述べた構造に限られるものではない０例えば、三次元測
定機の固定手段ｌｌがテーパ穴の場合には、つまりプロ
ーブ保持手段２１のシャンクがテーパ軸の場合には、支
持手段４１の取付穴４３もテーパ穴としてもよい、要す
るに、三次元測定機の固定手段１１と同種の構造であれ
ば差支えない。
また、移動機構６１は、上記実施例で述べた手動操作に
限らず、例えば電動によって三次元方向へ移動させるも
のであってもよい。
限らず、例えば電動によって三次元方向へ移動させるも
のであってもよい。
また、計測手段７４は、上記実施例で述べたダイヤルゲ
ージ６５．７０．７３のほかに、例えば可動台６３、ス
ライダ６８、Ｘ軸７１の移動量をエンコーダ等によって
検出し、それをデジタル表示するもの、或いは可動台６
３、スライダ６８゜Ｘ軸７１の移動方向に沿って目盛を
刻設し、その目盛によって各移動量を読取るようにして
もよい。要するに、この移動機構６１を含めて、セツテ
ィング装置の構造は、対象となる三次元測定機の測定精
度に応じて決定することが望ましい。
ージ６５．７０．７３のほかに、例えば可動台６３、ス
ライダ６８、Ｘ軸７１の移動量をエンコーダ等によって
検出し、それをデジタル表示するもの、或いは可動台６
３、スライダ６８゜Ｘ軸７１の移動方向に沿って目盛を
刻設し、その目盛によって各移動量を読取るようにして
もよい。要するに、この移動機構６１を含めて、セツテ
ィング装置の構造は、対象となる三次元測定機の測定精
度に応じて決定することが望ましい。
一方、ここで対象とする三次元測定機としては、ＣＮＣ
三次元測定機およびタッチパック機能（特開昭５６−５
８６０６号）を備えた三次元測定機等を含む、なお、タ
ッチバック機能とは、測定点近傍から測定点まで手動で
プローブを移動させ、更に最小実被測定物の寸法を考慮
してオーバードライブさせ、このときの往動軌跡を記憶
し、次いでプローブを測定点近傍まで戻しその往動軌跡
をも記憶させる。そして、実被測定物に対してプローブ
を前１記記憶した往動軌跡によって測定点まで軌跡制御
し、その軌跡範囲内でプローブが測定点に当接したとき
の位置をめるものである。
三次元測定機およびタッチパック機能（特開昭５６−５
８６０６号）を備えた三次元測定機等を含む、なお、タ
ッチバック機能とは、測定点近傍から測定点まで手動で
プローブを移動させ、更に最小実被測定物の寸法を考慮
してオーバードライブさせ、このときの往動軌跡を記憶
し、次いでプローブを測定点近傍まで戻しその往動軌跡
をも記憶させる。そして、実被測定物に対してプローブ
を前１記記憶した往動軌跡によって測定点まで軌跡制御
し、その軌跡範囲内でプローブが測定点に当接したとき
の位置をめるものである。
従って、セツティング装置の精度は当該三次元測定機の
測定精度と同等精度を要求されないから、例えば１ ／
ｌ ＯＯ” １ ／ ２０ ｍ ｍ程度とすることが
できる。
測定精度と同等精度を要求されないから、例えば１ ／
ｌ ＯＯ” １ ／ ２０ ｍ ｍ程度とすることが
できる。
［発明の効果］
以上の通り、本発明に、よれば、精度や作業性の要求を
満足させつつ、複数のタッチ信号プローブの接触子相互
位置を所定の値に調整、確認できるようにしたセツティ
ング装置を提供することができる。
満足させつつ、複数のタッチ信号プローブの接触子相互
位置を所定の値に調整、確認できるようにしたセツティ
ング装置を提供することができる。
第１図は三次元測定機の外観を示す斜視図、第２図はそ
の三次元測定機に使用される固定手段とプローブ保持手
段との結合状態を示す図、第３図はプローブ保持手段の
斜視図、第４図は本発明のセツティング装置の一実施例
を示す斜視図、第５図は測定子の斜視図である。 ６・・・移動軸としてのＺ軸、２１・・・プローブ保持
手段、２６・・・タッチ信号プローブ、４１・・・支持
手段、５１・・・測定子、５２．５３．５４・・・当接
面。 代理人 弁理士 木下 実三（ほか１名）第１図 第２図
の三次元測定機に使用される固定手段とプローブ保持手
段との結合状態を示す図、第３図はプローブ保持手段の
斜視図、第４図は本発明のセツティング装置の一実施例
を示す斜視図、第５図は測定子の斜視図である。 ６・・・移動軸としてのＺ軸、２１・・・プローブ保持
手段、２６・・・タッチ信号プローブ、４１・・・支持
手段、５１・・・測定子、５２．５３．５４・・・当接
面。 代理人 弁理士 木下 実三（ほか１名）第１図 第２図
Claims (1)
- （１）測定機の移動軸に着脱自在に取付けらるプローブ
保持手段に、それぞれ所定姿勢に保持された複数のタッ
チ信号プローブの相互位置を所定の関係にセットするた
めのセツティング装置であって、前記プローブ保持手段
を支持するための支持手段と、この支持手段に支持され
たプローブ保持手段の各タッチ信号プローブに当接され
る測定子を三次元方向へ移動させるための移動機構と、
この移動機構によって移動される測定子の移動変位量を
測定する計測手段とを備え、前記測定子は、互いに直交
する当接面を有し、かつ前記移動機構に測定子の軸線を
中心として回動可能に取付けられていることを特徴とす
るタッチ信号プローブ群のセツティング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24779383A JPS60143707A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | タツチ信号プロ−ブ群のセツテイング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24779383A JPS60143707A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | タツチ信号プロ−ブ群のセツテイング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60143707A true JPS60143707A (ja) | 1985-07-30 |
Family
ID=17168730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24779383A Pending JPS60143707A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | タツチ信号プロ−ブ群のセツテイング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60143707A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62215814A (ja) * | 1986-03-18 | 1987-09-22 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 眼鏡フレ−ムのレンズ玉型形状測定装置 |
| EP0420416A2 (en) * | 1989-09-09 | 1991-04-03 | Renishaw plc | Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine |
| CN106017380A (zh) * | 2016-06-15 | 2016-10-12 | 数码模冲压技术（武汉）有限公司 | 一种三坐标测量支架 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5313451A (en) * | 1976-06-09 | 1978-02-07 | Dea Spa | Tracer apparatus |
| JPS58178209A (ja) * | 1982-04-12 | 1983-10-19 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 三次元測定機の測定方法 |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP24779383A patent/JPS60143707A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5313451A (en) * | 1976-06-09 | 1978-02-07 | Dea Spa | Tracer apparatus |
| JPS58178209A (ja) * | 1982-04-12 | 1983-10-19 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 三次元測定機の測定方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62215814A (ja) * | 1986-03-18 | 1987-09-22 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 眼鏡フレ−ムのレンズ玉型形状測定装置 |
| EP0420416A2 (en) * | 1989-09-09 | 1991-04-03 | Renishaw plc | Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine |
| EP0420416A3 (en) * | 1989-09-09 | 1991-04-17 | Renishaw Plc | Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine |
| CN106017380A (zh) * | 2016-06-15 | 2016-10-12 | 数码模冲压技术（武汉）有限公司 | 一种三坐标测量支架 |
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