JPS60130833A - 熱処理炉 - Google Patents
熱処理炉Info
- Publication number
- JPS60130833A JPS60130833A JP58238804A JP23880483A JPS60130833A JP S60130833 A JPS60130833 A JP S60130833A JP 58238804 A JP58238804 A JP 58238804A JP 23880483 A JP23880483 A JP 23880483A JP S60130833 A JPS60130833 A JP S60130833A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafers
- wafer
- heat treatment
- gas
- core tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H10P14/60—
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、半導体製造プロセスの際用いられる熱処理炉
に関する。
に関する。
従来、半導体製造プロセスの酸化、拡散に用いられる熱
処理炉としては、第1図及び第2図に示すものが知られ
てい矛。図中の1は、外周に螺旋状のヒータ2を巻装し
た均熱管である。
処理炉としては、第1図及び第2図に示すものが知られ
てい矛。図中の1は、外周に螺旋状のヒータ2を巻装し
た均熱管である。
この均熱管1内には、一端に雰囲気ガス3の導入口4を
有する炉芯管5が設けられている。この炉芯管5内の底
部には、複数のウェー/% 5 、。
有する炉芯管5が設けられている。この炉芯管5内の底
部には、複数のウェー/% 5 、。
6□・・・を植設すべきボート7が設けられ、該ボート
7の端部にはボート7の出し入れを行なう押し棒8が係
止されている。
7の端部にはボート7の出し入れを行なう押し棒8が係
止されている。
こうした構造の熱処理炉において、雰囲気ガス3の流れ
がウェーッ’61t6!・・・に対して垂直であるため
、ボート2の中央部に植設されている例えばウェーハ6
3の表面に沿って流れるガス流は非常に少ないとともに
、ガス自身の熱伝導度の小さいことも起因してウェーッ
・63への雰囲気ガスからの熱伝導は非常に少ない。つ
まシ、高温においては、一般に雰囲気ガス3の熱伝導に
よる成分よシも炉芯管5の内壁からの輻射熱への依存度
の方が大きい。具体的には、第2図においてウェー7・
6.の中央部、周辺部上の2点をP、、P、とすれば、
P、とウェー・・6.の端部を結んだ直線とウェーハ6
2のなす角a3は、P、のそれα、よシ大きく、輻射熱
による温度上昇はウェーハ6、周辺部P、の方がウェー
・・6.の中央部P、よシ早い。そのため、ウェーハ6
、.62・・・を炉芯管5に出し入れする際、ウェーハ
の中央部と周辺部で温度差を生じ、これによシクエーハ
61*6t・・・中に応力を生じる。そして、この応力
がある臨界値を越えた場合、ウェーハ6Is6!・・・
が塑性変形し、ひいては半導体製品の歩留りを低下させ
る。
がウェーッ’61t6!・・・に対して垂直であるため
、ボート2の中央部に植設されている例えばウェーハ6
3の表面に沿って流れるガス流は非常に少ないとともに
、ガス自身の熱伝導度の小さいことも起因してウェーッ
・63への雰囲気ガスからの熱伝導は非常に少ない。つ
まシ、高温においては、一般に雰囲気ガス3の熱伝導に
よる成分よシも炉芯管5の内壁からの輻射熱への依存度
の方が大きい。具体的には、第2図においてウェー7・
6.の中央部、周辺部上の2点をP、、P、とすれば、
P、とウェー・・6.の端部を結んだ直線とウェーハ6
2のなす角a3は、P、のそれα、よシ大きく、輻射熱
による温度上昇はウェーハ6、周辺部P、の方がウェー
・・6.の中央部P、よシ早い。そのため、ウェーハ6
、.62・・・を炉芯管5に出し入れする際、ウェーハ
の中央部と周辺部で温度差を生じ、これによシクエーハ
61*6t・・・中に応力を生じる。そして、この応力
がある臨界値を越えた場合、ウェーハ6Is6!・・・
が塑性変形し、ひいては半導体製品の歩留りを低下させ
る。
ところで、ウェーハ6I *62・・・を出し入れする
際の上記温度差は当然の事ながら、出し・入れのスピー
ドを早めるか、あるいはウェーハ61+62・・・の径
を大きくするか、あるいはウェー・・61+62・・・
間の距離d、を小さくすることによシ犬きくなる。しか
るに、今日の様にウェー・・が大きくなってくると、塑
性変形を起さないようにするためζニは、ウェーハの出
し入れのスピードを落すか、あるいはウェーハ間の距離
dを大きくするかのいずれかの手段をとらねばなちない
。しかしながら、前者の場合、ウェーハを熱処理炉に出
し入れする時間が炉の中で熱処理する時間と同根あるい
はそれ以上となるため、ウェーハのボート7上の位置に
よシ、酸化膜厚あるいは拡散長にバラツキが生じる0ま
た、後者の場合、スループットが低下する。
際の上記温度差は当然の事ながら、出し・入れのスピー
ドを早めるか、あるいはウェーハ61+62・・・の径
を大きくするか、あるいはウェー・・61+62・・・
間の距離d、を小さくすることによシ犬きくなる。しか
るに、今日の様にウェー・・が大きくなってくると、塑
性変形を起さないようにするためζニは、ウェーハの出
し入れのスピードを落すか、あるいはウェーハ間の距離
dを大きくするかのいずれかの手段をとらねばなちない
。しかしながら、前者の場合、ウェーハを熱処理炉に出
し入れする時間が炉の中で熱処理する時間と同根あるい
はそれ以上となるため、ウェーハのボート7上の位置に
よシ、酸化膜厚あるいは拡散長にバラツキが生じる0ま
た、後者の場合、スループットが低下する。
また、前述した雰囲気ガスの流れ(二おける問題点を解
゛消する手段として、ウェーハ6.。
゛消する手段として、ウェーハ6.。
6i・・・をボート7の出し入れ方向に対して平行、す
なわち雰囲気ガス3に平行となるようにボート1上に並
べることが考えられるが、ウェーッ・6I v62・・
・の径が大きくなるに従い、ボート7の出し入れ方向に
平行な炉内の温度分布の影響により、ウェーハ61*6
2・・・に大きな温度差をもたらし、塑性変形が生ずる
。
なわち雰囲気ガス3に平行となるようにボート1上に並
べることが考えられるが、ウェーッ・6I v62・・
・の径が大きくなるに従い、ボート7の出し入れ方向に
平行な炉内の温度分布の影響により、ウェーハ61*6
2・・・に大きな温度差をもたらし、塑性変形が生ずる
。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、酸化もし
くは拡散時に酸化膜厚、拡散長にバラツキを生じたシ、
酸化、拡散工程のスループットを低下させることなく、
ウェーハの塑性変形を抑制して歩留シを向上し得る熱拡
散炉を提供することを目的とするものである。
くは拡散時に酸化膜厚、拡散長にバラツキを生じたシ、
酸化、拡散工程のスループットを低下させることなく、
ウェーハの塑性変形を抑制して歩留シを向上し得る熱拡
散炉を提供することを目的とするものである。
本発明は、ウェーハの出し入れ方向に直角でかつ各ウェ
ーハの主面に平行にガスを送給する手段、具体的(ニは
例えば炉芯管内の上方に、ウェー・・のセット位置に対
応する部分にウェーハ主面に対して平行にガスを送給す
る複数の噴出口を有したガス導入管を設けることにより
、前述した目的を達成することを図ったものである。
ーハの主面に平行にガスを送給する手段、具体的(ニは
例えば炉芯管内の上方に、ウェー・・のセット位置に対
応する部分にウェーハ主面に対して平行にガスを送給す
る複数の噴出口を有したガス導入管を設けることにより
、前述した目的を達成することを図ったものである。
以下、本発明の一実施例を第3図を参照して説明する。
なz11I図及び第2図の熱処理炉と同部材のものは同
符号を付して説明を省略する。図中の11は、炉芯管1
2内の上方に設けられたガス導入管である。このガス導
入管11の炉芯管入口付近にはウェーハ61+62・・
・の出し入れ方向(−直角に複数の噴出口13・・・が
開孔され、これら噴出口13・・・から雰囲気ガス3が
ウェーハ6.+61・・・の主面に対して平行に送給さ
れるようになっている。
符号を付して説明を省略する。図中の11は、炉芯管1
2内の上方に設けられたガス導入管である。このガス導
入管11の炉芯管入口付近にはウェーハ61+62・・
・の出し入れ方向(−直角に複数の噴出口13・・・が
開孔され、これら噴出口13・・・から雰囲気ガス3が
ウェーハ6.+61・・・の主面に対して平行に送給さ
れるようになっている。
しかして、本発明によれば、炉芯管5内の上方に、雰囲
気ガス3をウェーハ61+62・・・の主面に対して平
行に送給可能なガス導入管11を設けた構造となってい
るため、ウェーハ6、。
気ガス3をウェーハ61+62・・・の主面に対して平
行に送給可能なガス導入管11を設けた構造となってい
るため、ウェーハ6、。
6、・・・の中央部と周辺部で温度差を生ずることを回
避し、もって塑性変形を抑制し、半導体製品の一留シ奪
向上でさる。勿論、酸化時や拡散時に、酸化膜厚、拡散
長のバラツキが生じたり、スルーブツトが低下すること
を阻止できる。事実、M1図及び第2図の従来の熱処理
炉、並びに第3図の本発明に係る熱処理炉を用いてウェ
ーハを炉に出し入れし7こときの塑性変形の有無を調べ
にどころ、第4図(a) 、 (b)に示す分布図が得
られた。但し、ウェーハとしでは、直径125 ””%
厚さ625 ttm %結晶力位(100)のP型のシ
リコン基板を用いた。そして、これら基板を30枚並べ
たボートを、乾燥酸素ガスを噴出口13・・・よシ計1
0t/分流しながら出し入れし、炉芯管5のガス導入口
4から12Ll分流した。なお、噴出口13・・・から
のガスは、基板が炉の中央部の所定の位置にセットされ
るとともに止めるようにした。これによシ、ガスの浪費
が防止される。また、熱処理温度は950℃、炉芯管中
央部における熱処理時間は1時間であった。第4図−)
の従来の装置を用いた場合によれば、例えばウェーハ間
隔dが21Llの場合、出し入れ速さは10cWL/m
lnが限界である。これに対し、第4図(b)の本発明
装置を用いた場合によれば、d=2smの場合、出し入
れ速さは20cm/miy。
避し、もって塑性変形を抑制し、半導体製品の一留シ奪
向上でさる。勿論、酸化時や拡散時に、酸化膜厚、拡散
長のバラツキが生じたり、スルーブツトが低下すること
を阻止できる。事実、M1図及び第2図の従来の熱処理
炉、並びに第3図の本発明に係る熱処理炉を用いてウェ
ーハを炉に出し入れし7こときの塑性変形の有無を調べ
にどころ、第4図(a) 、 (b)に示す分布図が得
られた。但し、ウェーハとしでは、直径125 ””%
厚さ625 ttm %結晶力位(100)のP型のシ
リコン基板を用いた。そして、これら基板を30枚並べ
たボートを、乾燥酸素ガスを噴出口13・・・よシ計1
0t/分流しながら出し入れし、炉芯管5のガス導入口
4から12Ll分流した。なお、噴出口13・・・から
のガスは、基板が炉の中央部の所定の位置にセットされ
るとともに止めるようにした。これによシ、ガスの浪費
が防止される。また、熱処理温度は950℃、炉芯管中
央部における熱処理時間は1時間であった。第4図−)
の従来の装置を用いた場合によれば、例えばウェーハ間
隔dが21Llの場合、出し入れ速さは10cWL/m
lnが限界である。これに対し、第4図(b)の本発明
装置を用いた場合によれば、d=2smの場合、出し入
れ速さは20cm/miy。
まで早くしてもウェーハに塑性変形が生じないことが明
らかである。以上より、本発明装置が従来のそれと比べ
て優れていることが確認できる。なお、第4図(a)
、 (b)中の曲線は、夫々クエー・・の塑性変形の有
無の境界線を示す0なお、本発明に係る熱処理炉は、上
記実施例の場合に限らず、例えば第5図に示す如く炉芯
管14を2重構造にし、噴出口1δ゛°°を炉芯管14
の内壁に多数設けたものでもよい。また、図示しないが
、第3図中のガス導入管を複数個炉芯管の内壁に取シ付
けた構造のものでもよい。
らかである。以上より、本発明装置が従来のそれと比べ
て優れていることが確認できる。なお、第4図(a)
、 (b)中の曲線は、夫々クエー・・の塑性変形の有
無の境界線を示す0なお、本発明に係る熱処理炉は、上
記実施例の場合に限らず、例えば第5図に示す如く炉芯
管14を2重構造にし、噴出口1δ゛°°を炉芯管14
の内壁に多数設けたものでもよい。また、図示しないが
、第3図中のガス導入管を複数個炉芯管の内壁に取シ付
けた構造のものでもよい。
以上詳述した如く本発明によれば、酸化膜厚や拡散長に
バラツキを生じたシ、スループットを低下することなく
、ウェーハの塑性変形を抑制して歩留シを向上し得る高
信頼性の熱処理炉を提供できるものである。
バラツキを生じたシ、スループットを低下することなく
、ウェーハの塑性変形を抑制して歩留シを向上し得る高
信頼性の熱処理炉を提供できるものである。
第1図は従来の熱処理炉の断面図、第2図は第1図の部
分拡大断面図、第3図は本発明の一実施例に係る熱処理
炉の断面図、第4図(a)は従来の熱処理炉によるウェ
ーッ・の塑性変形の有無を説明するための分布図、同図
(b)は第3図の熱処理炉によるウェーッ・の塑性変形
の有無を説明するだめの分布図、第5図は本発明の他の
実施例に係る熱処理炉の断面図である。 J・・・均熱管、2・・・ヒータ、4・・・導入口、6
゜〜66・・・ウェーハ、7・・・ボート、11・・・
ガス導入管、12.14・・・炉芯管、13・・・噴出
口。
分拡大断面図、第3図は本発明の一実施例に係る熱処理
炉の断面図、第4図(a)は従来の熱処理炉によるウェ
ーッ・の塑性変形の有無を説明するための分布図、同図
(b)は第3図の熱処理炉によるウェーッ・の塑性変形
の有無を説明するだめの分布図、第5図は本発明の他の
実施例に係る熱処理炉の断面図である。 J・・・均熱管、2・・・ヒータ、4・・・導入口、6
゜〜66・・・ウェーハ、7・・・ボート、11・・・
ガス導入管、12.14・・・炉芯管、13・・・噴出
口。
Claims (2)
- (1)外周にヒータを巻装した筒状の均熱管と、この均
熱管内に設けられた□炉芯管とを具備する熱処理炉にお
いて、ウェーハの出し入れ方向に直角で、かっ各ウェー
ハの主面に平行にガスを送給する手段を有することを特
徴とする熱処理炉。 - (2) ウェーハの主面に平行に送給されるガスの流れ
が、ウェーハが炉芯管内の所定位置に達したときに停止
することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の熱処
理炉。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238804A JPS60130833A (ja) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | 熱処理炉 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238804A JPS60130833A (ja) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | 熱処理炉 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60130833A true JPS60130833A (ja) | 1985-07-12 |
Family
ID=17035533
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58238804A Pending JPS60130833A (ja) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | 熱処理炉 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60130833A (ja) |
-
1983
- 1983-12-20 JP JP58238804A patent/JPS60130833A/ja active Pending
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