JPS60127646A - 真空装置の試料交換装置 - Google Patents

真空装置の試料交換装置

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JPS60127646A
JPS60127646A JP23577683A JP23577683A JPS60127646A JP S60127646 A JPS60127646 A JP S60127646A JP 23577683 A JP23577683 A JP 23577683A JP 23577683 A JP23577683 A JP 23577683A JP S60127646 A JPS60127646 A JP S60127646A
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JP
Japan
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sample
yoke
bearing
thrust
sample holder
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JP23577683A
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English (en)
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JPS64781B2 (ja
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Makoto Tamai
玉井 誠
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は電子線露光装置等の真空装置における試料交
換装置に関するものである。
〔従来技術〕
電子線露光装置などの超高真空を要求される電子線露光
装置では、大気側から真空内に試料を導入し交換する必
要があるが、○リングバッキングを真空シールとして使
用することができないので、大気側からの力を真空内の
試料交換棒に伝えるには、金属ベローズや磁気の結合力
を利用することが行われる。通常このような試料交換装
置では、交換棒を前進または後退させるときには小さい
出力で十分であるが、最終段階の試料ホルダを試料ステ
ージに装着するとき、および脱着するときに大きい力を
必要とするため、磁石の結合力を利用する場合は最終段
階での必要出力に見合った磁石の結合力を得る必要があ
り、このため装置が大形化するという欠点があった。
〔発明の目的〕
この発明は上記のような従来の欠点を改善するためのも
ので、試料ホルダの着脱位置において、交換棒に取(=
Jけられたヨークを軸方向軸受に固定して磁石を回転さ
せ、交換棒の回転力を減速的に試料ホルダの推力に変換
することにより、小形の磁気回路で試料ホルダの着脱が
可能で、これにより装置を小形化できる真空装置の試料
交換装置を提供することを目的としている。
〔発明の構成〕
この発明は、ケーシング内を軸方向に移動して試料ホル
ダを前進後退させる交換棒と、この交換棒の軸方向の移
動を許容しかつ固定軸受に回転可能に支持される軸方向
軸受と、前記交換棒に固定されたヨークと、このヨーク
と磁路を形成するように前記ケーシングの外周に沿って
軸方向に移動しかつ前進位置において外周に沿って回転
可能に設けられた磁石と、試料ホルダ着脱位置において
前記ヨークを軸方向軸受に固定するクラッチと、前記交
換棒の回転力を減速的に試料ホルダの推力に変換する機
構とを備えたことを特徴とする真空装置の試料交換装置
である。
〔発明の実施例〕
以下、この発明を図示実施例により説明する。
第1図はこの発明の一実施例による試料交換装置の概要
を示す一部を断面で表わした分解斜視図、第2図はその
要部断面図、第3図はそのA−A断面図、第4図はB−
B断面図である。
図面において、1は試料室で、試料ステージ2がX方向
およびY方向に移動できるように設けられている。試料
ステージ2には受台3が改番づられ、そのアリ溝4に試
料ホルダ5の係合部6がガイド部7から挿入されるよう
になっている。試料ホルダ5は上面に試料8を保持し、
後面にねじ穴9を有する。試料室1には仕切弁10およ
び排気口11を有する試料交換室12が接続し、その着
脱可能の蓋13にはケーシング14が取付けられている
ケーシング14内には軸方向に移動する交換棒15が設
けられ、その先端にはねじ穴9にねしつけられるねじ部
16を有し、試料ホルダ5を試料交換室12から試料室
1の着脱位置まで前進または後退させるようになってい
る。交換棒15L±ケーシング14の前部において、軸
方向に複数のベアリング17を有する軸方向軸受18に
より軸方向の移動ができるように支持されている。軸方
向軸受18はそのハウジング19が円周方向のベアリン
グ20を有する固定軸受21に回転可能に支持されてお
り、ハウジング19の後部にはフック部19aが形成さ
れている。交換棒15の後部は、複数のローラ22によ
って軸方向の移動が可能とされた移動軸受23にベアリ
ング24を介して回転可能に支持されている。
移動軸受23に隣接してヨーク25がねじ25aにより
交換棒15に取付けられており、ヨーク25の前部には
フック部25bが形成されている。ヨーク25の前進位
置25cにおいて、フック部19aおよび25bが重合
する位置の外周にはクラッチ26が配置され、フック部
19a、25bをスラスト方向に結合するようになって
いる。クラッチ26は、ベローズ27によりケーシング
14に支持されるシャフト28、このシャツ1〜28に
数句けられた外環29、およびこの外環29にベアリン
グ30を介して回転可能に取付けられた内環31からな
り、内環31は偏心によりフック部19a。
25bを緊結して挟持するように断面口字状に形成され
ている。
ケーシング14の後半部外周の両側に設けられたガイド
32.’33により、ケーシング14の外周に沿って軸
方向に移動するようにヨーク34゜35が設けられ、そ
の両側に馬蹄形磁石36.37が接続し、ヨーク25を
通して磁路が形成されるようになっている。38は磁力
線、39はヨーク34と馬蹄形磁石36.37を固定す
る金具である。
ヨーク34.35および磁石36.37は結合した状態
で移動し、前進位置34aにおいてケーシング14の外
周に沿って回転できるように、ガイド32.33の前半
部が欠除した形状になっている。
上記のように構成された試料交換装置においては、第2
図の位置からガイド32,33に沿ってヨーク34.3
5および磁石36.37を前進させると、これらと磁路
を形成するヨーク25もこれに従ってケーシング14内
を前進する。このとき移動軸受23はローラ22によっ
て軸方向に移動し、交換棒15はこれに支持されている
ため、軸方向軸受18に摺動して前進する。ヨーク25
が前進位置25cまで前進すると、交換棒15の先端に
ねじ付けられた試料ホルダ5は試料交換室12から試料
室1の着脱位置に前進し、ガイド部7がアリ溝4に挿入
される。
この状態でヨーク34は前進位i!34aに前進してガ
イド32,33の前端部から外れた位置に達し、ヨーク
25のフック部25bは前進位置25cにおいてハウジ
ング19のフック部19aと重合するので、クラッチ2
6のシャフト28を押して外環29および内環31を偏
心させると、内環31はフック部19a、25bを重合
状態でつかみ込み、スラスト方向に結合する。この状態
からヨーク34.35および磁石36.37をガイド3
2゜33の前端に沿ってケーシング14の外周を回転(
ねじ部16が右ねしの場合は左方向回転)させると、ヨ
ーク25および軸方向軸受18とともに交換棒15がベ
アリング20および24に支持されて回転する。このと
き交換棒15は軸方向には定位置の状態で回転し、試料
ホルダ5は受台3によって回転を規制されるから、回転
力はねじ部16により減速的な推力に変換され、ねじつ
けられた試料ホルダ5を軸方向に前進させる。こうして
係合部6!よアリ溝4に挿入され、試料ホルダ5は試料
ステージ2に装着される。 、 この時の力に関する関係式は以下の通りである。
F:ねじ山中央部で円周方向に作用する力Q:軸方向の
力 α:ねじのピッチ角 2p:ねじ山の角度 μ:ねじ部の摩擦係数 FPL=F身r+QTra・μa 川(2)Fm:磁気
結合力 L:磁気結合力のモーメントの腕の長さraミニスラス
ト支持する軸受の平均半径μaミニスラスト支持する軸
受の摩擦係数r:ねじ山の平均半径 このようにして、磁気結合力よりも十分に大きい軸方向
の出力を得ることができ、小形の磁気回路により試料ホ
ルダ5を試料ステージ2に装着することができる。試料
ホルダ5を試料ステージ2から脱着する場合は逆の操作
により行うことができる。
なお上記の説明において、回転力を減速的な推力に変換
する機構として、ねじを使用したが、ボールねじ、バヨ
ネッI・その他の機構でもよい。また磁気回路、軸受、
およびクラッチ等も図示のものに限らず、他の構造のも
のでもよい。さらに本発明は電子線露光装置に限らず、
他の真空装置の試料交換装置にも適用可能である。
〔発明の効果〕
この発明によれば、磁石の結合力を利用する試料交換装
置において、試料ホルダの着脱時に、交換棒に取付けら
れたヨークを軸方向軸受に固定して磁石を回転させ、交
換棒の回転力を減速的に推力に変換して試料ホルダを着
脱するようにしたので、磁気結合力よりも大きい軸方向
の推力を得ることができ、このため小形の磁気回路によ
り試料ホルダの着脱が可能となり、装置を小形化するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による試料交換装置の概要
を示す一部を断面で表わした分解斜視図、第2図はその
要部断面図、第3図はそのA−A断面図、第4図はB−
B断面図である。 各図中、同一符号は同一部分を示し、1は試料室、2は
試料ステージ、3は受台、4はアリ溝、5は試料ホルダ
、9はねし穴、12は試料交換室、14はケージング、
15は交換棒、16はねじ部、18は軸方向軸受、21
は固定軸受、23は移動軸受、25,34.35はヨー
ク、26はクラッチ、32.33はガイド、36.37
は磁石である。 代理人 弁理士 柳 原 成

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ケーシング内を軸方向に移動して試料ホルダを前
    進後退させる交換棒と、この交換棒の軸方向の移動を許
    容しかつ固定軸受に回転可能に支持される軸方向軸受と
    、前記交換棒に固定されたヨークと、このヨークと磁路
    を形成するように前記ケーシングの外周に沿って軸方向
    に移動しかつ前進位置において外周に沿って回転可能に
    設けられた磁石と、試料ホルダ着脱位置において前記ヨ
    ークを軸方向軸受に固定するクラッチと、前記交換棒の
    回転力を減速的に試料ホルダの推力に変換する機構とを
    備えたことを特徴とする真空装置の試料交換装置。
  2. (2)交換棒が後815を移動軸受により支持さゎた特
    許請求の範囲第1項記載の真空装置の試料交換装置。
  3. (3)磁石がケーシングの外周に設けられたガイドに沿
    って移動するヨークに接続した特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項記載の真空装置の試料交換装置。
  4. (4)クラッチが軸方向軸受およびヨークのフック部を
    重合状態でスラスト方向に結合する特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれかに記載の真空装置の試料交換
    装置。
  5. (5)推力に変換する機構がねじ、ボールねしまたはバ
    ヨネットである特許請求の範囲第1項・ないし第4項の
    いずれかに記載の真空装置の試料交換装置。
JP23577683A 1983-12-14 1983-12-14 真空装置の試料交換装置 Granted JPS60127646A (ja)

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JPS60127646A true JPS60127646A (ja) 1985-07-08
JPS64781B2 JPS64781B2 (ja) 1989-01-09

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008010718A2 (en) * 2006-07-21 2008-01-24 Technische Universiteit Delft Method for sample preparation for cryoelectron microscopy (cem), microreactor and loading platform
JP2012028009A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子応用装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008010718A2 (en) * 2006-07-21 2008-01-24 Technische Universiteit Delft Method for sample preparation for cryoelectron microscopy (cem), microreactor and loading platform
WO2008010718A3 (en) * 2006-07-21 2008-04-10 Univ Delft Tech Method for sample preparation for cryoelectron microscopy (cem), microreactor and loading platform
JP2012028009A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子応用装置

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