JPS60123754A - 放射線透視装置 - Google Patents
放射線透視装置Info
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- JPS60123754A JPS60123754A JP58230507A JP23050783A JPS60123754A JP S60123754 A JPS60123754 A JP S60123754A JP 58230507 A JP58230507 A JP 58230507A JP 23050783 A JP23050783 A JP 23050783A JP S60123754 A JPS60123754 A JP S60123754A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は移動する被検査物の非破壊検査を行なう放射
線透視装置に関するものである。
線透視装置に関するものである。
被検査物の非破壊検査を行なうに際して、放射線透視法
例えばＸ線透視法はフィルムの現像を伴なうＸ ａフィ
ルム法と比較し、直ちに結果が得られるので、溶接施工
等へのフィードバックができる大きな利点を有している
〇 しかし工挙用非破壊検査では、ＪＩＳ規格（日本）寸た
はＡ Ｓ Ｍ Ｅ規格（米国）等で１４質が規定されて
おり、Ｘ線透視画像はＸ線フィルム画像に比べて１象質
が悪いため、上記各規定を潤たすことかできない。
例えばＸ線透視法はフィルムの現像を伴なうＸ ａフィ
ルム法と比較し、直ちに結果が得られるので、溶接施工
等へのフィードバックができる大きな利点を有している
〇 しかし工挙用非破壊検査では、ＪＩＳ規格（日本）寸た
はＡ Ｓ Ｍ Ｅ規格（米国）等で１４質が規定されて
おり、Ｘ線透視画像はＸ線フィルム画像に比べて１象質
が悪いため、上記各規定を潤たすことかできない。
Ｘ＋ｖ！透視画像の像質が悪い主な原因はＸ線素子ノイ
ズとイメージ増倍管の空間分解能による。イメージ増倍
管の空間分解能は欠陥の投影面上の大きさが大きい場合
はあまりｊｌｊ７．題にならず、Ｘ線和子ノイズの影響
は多数の透視ｉｉ！ｉｌ像を重ね合わせることによって
改善することができる。。
ズとイメージ増倍管の空間分解能による。イメージ増倍
管の空間分解能は欠陥の投影面上の大きさが大きい場合
はあまりｊｌｊ７．題にならず、Ｘ線和子ノイズの影響
は多数の透視ｉｉ！ｉｌ像を重ね合わせることによって
改善することができる。。
多数の、−透ネμ画１象をｆ、ね合わせる訂１分器は従
来から存在するが、この積分器な移動する被検査物のＸ
線透祈１画ｆ象による検査に適／ｌ”＋すると第１１’
Ｊｌｌ（ａｌｌ生芋ｅｌに示すようになる。第１１！＆
１ｔａｌ乃至（（））に移動する被検査物のＸ線透視画
像を示Ｉ７、図において１は画面１．２は移動する被検
査物の欧、ろは被検査物上にある欠陥の像である。図（
ａｔは被＠査物が図の矢印方向に移動するに従って被検
査物土シこある欠陥の像６が画１ｆｉｉ ｉに表われた
状態を示し、図（ｈｌ乃至（ｄｌは被検査物の移動に従
って欠陥のけ６が順次移動する状態を示す。この図（ａ
ｌ乃至（ｄｌに示した透視直円２を本櫨分した結果を図
ｔｅｌに示す。欠陥の像６が順次移動しているため積分
画像４は連続した画像となり、欠陥の汀質の改善とはな
らない。
来から存在するが、この積分器な移動する被検査物のＸ
線透祈１画ｆ象による検査に適／ｌ”＋すると第１１’
Ｊｌｌ（ａｌｌ生芋ｅｌに示すようになる。第１１！＆
１ｔａｌ乃至（（））に移動する被検査物のＸ線透視画
像を示Ｉ７、図において１は画面１．２は移動する被検
査物の欧、ろは被検査物上にある欠陥の像である。図（
ａｔは被＠査物が図の矢印方向に移動するに従って被検
査物土シこある欠陥の像６が画１ｆｉｉ ｉに表われた
状態を示し、図（ｈｌ乃至（ｄｌは被検査物の移動に従
って欠陥のけ６が順次移動する状態を示す。この図（ａ
ｌ乃至（ｄｌに示した透視直円２を本櫨分した結果を図
ｔｅｌに示す。欠陥の像６が順次移動しているため積分
画像４は連続した画像となり、欠陥の汀質の改善とはな
らない。
従って、積分器により多数の透視両俄を重ね合わせるこ
とによってｆ樹質を改善することは、Ｘ線発生器、被検
査物及びＸ＃けい元増倍管の相対的位置関係が固定され
ているときのみ可能である。
とによってｆ樹質を改善することは、Ｘ線発生器、被検
査物及びＸ＃けい元増倍管の相対的位置関係が固定され
ているときのみ可能である。
このためオンラインにおいての検査では被検査物をオン
ラインからはずし、被検査物をＸ線発生器とＸ線けいつ
ｔ増倍管の中間に一定時間静止させ、静止している被検
査物のＸ線透視両凹を積分器で戸ね合わせている。
ラインからはずし、被検査物をＸ線発生器とＸ線けいつ
ｔ増倍管の中間に一定時間静止させ、静止している被検
査物のＸ線透視両凹を積分器で戸ね合わせている。
しかし、オンラインから被検査物をはずして検査する方
法は小物物品の検査には適用できるが、被検査物の移動
を短時間でも止めることができない例えは大型の省内周
溶接部の溶接施工中の検査■には適用することができな
い という問題点を有する。
法は小物物品の検査には適用できるが、被検査物の移動
を短時間でも止めることができない例えは大型の省内周
溶接部の溶接施工中の検査■には適用することができな
い という問題点を有する。
この発明は上記した問題点を解決し、移動する被検査物
の放射線透視画像の像質を改善した放射線透視装置を提
供することを目的とするものである。
の放射線透視画像の像質を改善した放射線透視装置を提
供することを目的とするものである。
この発明の放射線透視装置は移動する被検査物を透過し
た放射線を受け放射線透視画像を得るカメラと、被検査
物の移動量を検出する移動量検出装置と、この移動量検
出装置で検出した被検査物の移動量に応じて前記カメラ
によって得た透視画像を被検査物の移動方向と逆の方向
にシフトさせる画像シフターと、この画像シフターから
出力される画像を所定枚数積分する画像積分器と、この
画像積分器の出力を画像表示するＣＲＴとを備えて、移
動している被検査物の放射線透視画像の積分画像を作成
するものである。
た放射線を受け放射線透視画像を得るカメラと、被検査
物の移動量を検出する移動量検出装置と、この移動量検
出装置で検出した被検査物の移動量に応じて前記カメラ
によって得た透視画像を被検査物の移動方向と逆の方向
にシフトさせる画像シフターと、この画像シフターから
出力される画像を所定枚数積分する画像積分器と、この
画像積分器の出力を画像表示するＣＲＴとを備えて、移
動している被検査物の放射線透視画像の積分画像を作成
するものである。
次に、この発明を実施例に基いて説明する。
第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
図において５は円筒状の被検査物で円筒部が矢印Ａ方向
に回転移動している。６はＸ線発生器で＄！柊査物５の
円筒部にＸ線を照射する。７けＸ線けい光」）°９倍管
からなるカメラで、被検査物５を透過したＸ線を受けて
被検査物５のＸ線透視画滓を得る。８ ＆ｊ移動量検出
装置で、被検査物５に接触して回転するタイヤ８Ａと、
このタイヤ８Ａの回転角を検出するエンコーダからなり
、被検査物５の移ＱＩＪ 「４に応じたパルス信号を出
力する１、９は画像シフターで、移動５検出装置８のパ
ルス出力を受１１てパルス数を積算し、’４″８’ｉ
ｎ数に応じてカメラ７によっで得た被検査物５の透視画
ｆ象を被検査物５の、移動方向と逆の方向にシフトさせ
る。
に回転移動している。６はＸ線発生器で＄！柊査物５の
円筒部にＸ線を照射する。７けＸ線けい光」）°９倍管
からなるカメラで、被検査物５を透過したＸ線を受けて
被検査物５のＸ線透視画滓を得る。８ ＆ｊ移動量検出
装置で、被検査物５に接触して回転するタイヤ８Ａと、
このタイヤ８Ａの回転角を検出するエンコーダからなり
、被検査物５の移ＱＩＪ 「４に応じたパルス信号を出
力する１、９は画像シフターで、移動５検出装置８のパ
ルス出力を受１１てパルス数を積算し、’４″８’ｉ
ｎ数に応じてカメラ７によっで得た被検査物５の透視画
ｆ象を被検査物５の、移動方向と逆の方向にシフトさせ
る。
１１〕は両１！積分器で、画像シフター９から送り出さ
れてくる直門ヲ、あらかじめツリセットされＩＣｍ 定
ｊｊｊｃ 数１２１分スル、、１１ ＋１ ｃ ｒｔ
Ｔ−ｃ＝ｒｉ’１ｒｒ＝＋ｘ’ｓ分器１０に入力し２ζ
シフトした画像を表示する３、１２は両ＩＴメモリで、
ｉｉ’１ｉ ｆ’！４積分器１０によつ１規定枚数の積
分を超重した積分画像を入力し、次の積分画像が入力す
るまで保持する。１３Ｆ、ｔＣＲ’ｒで、画像メモリ１
２で保持Ｌｆｃ積分両像を表示する。
れてくる直門ヲ、あらかじめツリセットされＩＣｍ 定
ｊｊｊｃ 数１２１分スル、、１１ ＋１ ｃ ｒｔ
Ｔ−ｃ＝ｒｉ’１ｒｒ＝＋ｘ’ｓ分器１０に入力し２ζ
シフトした画像を表示する３、１２は両ＩＴメモリで、
ｉｉ’１ｉ ｆ’！４積分器１０によつ１規定枚数の積
分を超重した積分画像を入力し、次の積分画像が入力す
るまで保持する。１３Ｆ、ｔＣＲ’ｒで、画像メモリ１
２で保持Ｌｆｃ積分両像を表示する。
上記した両日シフター９によってシフトされる量は次に
示す計算式でめられる。
示す計算式でめられる。
×（ＣＩｔＴの縦又は横の画素数）
すなわち画像をシフトすべき稍ヤパルス数を指示するこ
とによって画像をシフトさせるシフトＨが定まる。
とによって画像をシフトさせるシフトＨが定まる。
次に、この実施例の動作を説明する。
第６図はこの動作を示しｆｃフローチャートである。
スタート信号（２０ステツフ）によって、カメラ７で得
た被検査物５のＸ線透視画ｆ象（２４ステツフー）を画
像シフター９に、汎み込み（２５ステツプ）、読み込ん
だｊｒＩ＋１＊をシフト険零で両歌４：ｉ分器１０へ送
り込む（２日ステップ）。同時にＣｆζＴ１１１にの画
像を表示する（′５２ステップ）。
た被検査物５のＸ線透視画ｆ象（２４ステツフー）を画
像シフター９に、汎み込み（２５ステツプ）、読み込ん
だｊｒＩ＋１＊をシフト険零で両歌４：ｉ分器１０へ送
り込む（２日ステップ）。同時にＣｆζＴ１１１にの画
像を表示する（′５２ステップ）。
第４図（−Ｌ）乃至ｆｄｌ ＆：を画誓シフター９から
画像積分器１ＵＪへ送り込７＜７だ画像を示し、 ｆａ
ｔ ｋ、ｌ’上記シフト分が零の、１１１、合を示す。
画像積分器１ＵＪへ送り込７＜７だ画像を示し、 ｆａ
ｔ ｋ、ｌ’上記シフト分が零の、１１１、合を示す。
次にＩｙ帥［ｊ、 ｔ、ｑ出装置８でｆ７． ！ｆＩＩ
Ｉｌ、ている被検青物５ ）Ｊ！ｉ＋！＋ ＋’、ヲＰ
； 出り、 （２［，１スｆ ッ７ ）、８ ’ｆＪｂ
景に応じたパルス化けを画１象シフター９で「１児み
込み（２２ステ−ラフ）、このパルス数を積ｔｔシ（２
３ステツプ） 、ｔ’４＋ 尊パルス数があらかじめフ
リセットした７９ｉ定１０目りに達すると、被４６査物
５のＸ線透視両ｆ薯旨ｙ、み込み（２５ステツプ）、同
時に曲目オのシフト負°をＨｐｊ 豹しく２６スデツプ
）、第４図（ｂｌに示すように演算したシフト指だけｉ
ｉ！ｊ像を被′＠査物５の７忰動方向と逆の方向にシフ
トする（２７ステツプ）。このシフトした画像を画像積
分器１０に送り込み、Ｑｊｌに送シ込んだ画像と重ね合
わせ（２８ステツプ）、同時に積分した画像をＣＲＴｌ
ｌに着示する（６２ステツプ） （＋このＱ、１作をｔ
′！・返し行ない、画像シフター９から１ｌＴｉｉ像積
分器１［］に送り込壕れた画像枚数があらがじめプリセ
ットした枚数に達したら、第４図（。）に示す画１？！
積分器１０の積分画像を画（象メモリ１２に送シ（３０
ステツプ）、さらにこの画１訃が両像メモリ１２で一定
時間保持されて、（１’ｔＴ１２に写し出される（′５
１ステップ）。
Ｉｌ、ている被検青物５ ）Ｊ！ｉ＋！＋ ＋’、ヲＰ
； 出り、 （２［，１スｆ ッ７ ）、８ ’ｆＪｂ
景に応じたパルス化けを画１象シフター９で「１児み
込み（２２ステ−ラフ）、このパルス数を積ｔｔシ（２
３ステツプ） 、ｔ’４＋ 尊パルス数があらかじめフ
リセットした７９ｉ定１０目りに達すると、被４６査物
５のＸ線透視両ｆ薯旨ｙ、み込み（２５ステツプ）、同
時に曲目オのシフト負°をＨｐｊ 豹しく２６スデツプ
）、第４図（ｂｌに示すように演算したシフト指だけｉ
ｉ！ｊ像を被′＠査物５の７忰動方向と逆の方向にシフ
トする（２７ステツプ）。このシフトした画像を画像積
分器１０に送り込み、Ｑｊｌに送シ込んだ画像と重ね合
わせ（２８ステツプ）、同時に積分した画像をＣＲＴｌ
ｌに着示する（６２ステツプ） （＋このＱ、１作をｔ
′！・返し行ない、画像シフター９から１ｌＴｉｉ像積
分器１［］に送り込壕れた画像枚数があらがじめプリセ
ットした枚数に達したら、第４図（。）に示す画１？！
積分器１０の積分画像を画（象メモリ１２に送シ（３０
ステツプ）、さらにこの画１訃が両像メモリ１２で一定
時間保持されて、（１’ｔＴ１２に写し出される（′５
１ステップ）。
第４図ｔｅｌに示した積分画像は、第４図（Ｒ１乃至（
ｄｉに示すように順次シフトした両（様を紹介するため
、各画像に表われた欠陥の像３は第４図１（ｅ）の積分
画像の同一位置に積分される。従って１象ηが改善され
た欠陥の１象１４を観察することができる。。
ｄｉに示すように順次シフトした両（様を紹介するため
、各画像に表われた欠陥の像３は第４図１（ｅ）の積分
画像の同一位置に積分される。従って１象ηが改善され
た欠陥の１象１４を観察することができる。。
なお上記実施例において被検査物が一定の速度で移動す
る場合には、あらかじめ移動速度を移動量検出装置で検
出し、この移動速度を両画シフターに入力しておいて、
画像をシフトさせることも出来る。
る場合には、あらかじめ移動速度を移動量検出装置で検
出し、この移動速度を両画シフターに入力しておいて、
画像をシフトさせることも出来る。
この発明は以上説明したとおり、移動する被検査物の放
射線透視画像を移動速度に応じてシフトさせた後に積分
することから、透視画曲の像質を格段に向上させること
ができ、さらにオンライン上で移動している状態で被検
査物の非破ｊ（％検査を行うことができ、実施上の効果
も大である。
射線透視画像を移動速度に応じてシフトさせた後に積分
することから、透視画曲の像質を格段に向上させること
ができ、さらにオンライン上で移動している状態で被検
査物の非破ｊ（％検査を行うことができ、実施上の効果
も大である。
第１図（ａｌ乃至（ｅｌは従来装置の］■ｈ作説明図で
、（ａｔ乃至ｔｄｌは移ｆｉｌ！＋する被検青物のＸ線
透視画像図、ｔｅｌは’ｔＹ”↑分画（１図、第２図は
この発明の一実施例のブロック図１、第６図は第２図に
示した実施例の動作を示したフローチャート、第４図（
ａｌ乃至（ｅｌは第２図に示した実施例の動作説明図で
、（ａｔ乃至（（１）は移１・１ノする被検査物のＸ線
透視画１里図、（ｅｌは積分画像図である。 １・・・両面、２・・・移動する被検査物のｆ：Ｌ ３
・・・欠陥のけ、４．１４・・・欠陥の積分画ｆ象、５
・・被検査物、６・・Ｘ線発生器、７・・・カメラ、８
・・・移動量検出装置、９・・画像シフター、１０・・
・画像積分器、１１．１６・・ＣＲＴ、１２・・・画］
象メモリー１、代理人 弁理士 木 ＋１ 三 朗
、（ａｔ乃至ｔｄｌは移ｆｉｌ！＋する被検青物のＸ線
透視画像図、ｔｅｌは’ｔＹ”↑分画（１図、第２図は
この発明の一実施例のブロック図１、第６図は第２図に
示した実施例の動作を示したフローチャート、第４図（
ａｌ乃至（ｅｌは第２図に示した実施例の動作説明図で
、（ａｔ乃至（（１）は移１・１ノする被検査物のＸ線
透視画１里図、（ｅｌは積分画像図である。 １・・・両面、２・・・移動する被検査物のｆ：Ｌ ３
・・・欠陥のけ、４．１４・・・欠陥の積分画ｆ象、５
・・被検査物、６・・Ｘ線発生器、７・・・カメラ、８
・・・移動量検出装置、９・・画像シフター、１０・・
・画像積分器、１１．１６・・ＣＲＴ、１２・・・画］
象メモリー１、代理人 弁理士 木 ＋１ 三 朗
Claims (1)
- 移動する被検査物を透溝した放射線を受け放射線透ネ１
２．１ｉｌｉｉ田゛をに’Ｊるカメラと、被検査物の移
動量を検出する移動量検出装置と、該移動量検出装置で
検出した被検査物の移動量に応じて前記カメラによって
イ［すた透析両像を被検査物のｆＩ／動方向と逆の方向
にシフトさせる雨間シフターと、該画［象シフターから
出力される画像を所定枚数積分する画像積分器と、該画
像積分器の出力を画数表示するＣ）七Ｔとを４Ｉｉｉ＋
えた放射線透視装置代。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58230507A JPS60123754A (ja) | 1983-12-08 | 1983-12-08 | 放射線透視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58230507A JPS60123754A (ja) | 1983-12-08 | 1983-12-08 | 放射線透視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60123754A true JPS60123754A (ja) | 1985-07-02 |
Family
ID=16908840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58230507A Pending JPS60123754A (ja) | 1983-12-08 | 1983-12-08 | 放射線透視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60123754A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2604258A1 (fr) * | 1986-09-19 | 1988-03-25 | Gen Electric | Procede et appareil d'inspection d'objets a rapport signal sur bruit ameliore et flou d'image reduit |
| FR2721402A1 (fr) * | 1994-06-21 | 1995-12-22 | Commissariat Energie Atomique | Procédé d'obtention par radiographie tangentielle d'une image d'un objet en rotation autour d'un axe. |
| JP2016061583A (ja) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 新日鐵住金株式会社 | Ｘ線撮像システム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910085A (ja) * | 1972-05-24 | 1974-01-29 | ||
| JPS5263751A (en) * | 1975-11-21 | 1977-05-26 | Nippon Steel Corp | Automatic detection of translating specific pattern |
| JPS57169662A (en) * | 1981-03-25 | 1982-10-19 | Philips Nv | Inspection of matter |
-
1983
- 1983-12-08 JP JP58230507A patent/JPS60123754A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4910085A (ja) * | 1972-05-24 | 1974-01-29 | ||
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| JPS57169662A (en) * | 1981-03-25 | 1982-10-19 | Philips Nv | Inspection of matter |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2604258A1 (fr) * | 1986-09-19 | 1988-03-25 | Gen Electric | Procede et appareil d'inspection d'objets a rapport signal sur bruit ameliore et flou d'image reduit |
| FR2721402A1 (fr) * | 1994-06-21 | 1995-12-22 | Commissariat Energie Atomique | Procédé d'obtention par radiographie tangentielle d'une image d'un objet en rotation autour d'un axe. |
| EP0689048A1 (fr) * | 1994-06-21 | 1995-12-27 | Commissariat A L'energie Atomique | Procédé d'obtention par radiographie tangentielle d'une image d'un objet en rotation autour d'un axe |
| JP2016061583A (ja) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 新日鐵住金株式会社 | Ｘ線撮像システム |
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