JPS60122794A - ダイヤモンドの低圧気相合成法 - Google Patents
ダイヤモンドの低圧気相合成法Info
- Publication number
- JPS60122794A JPS60122794A JP58227678A JP22767883A JPS60122794A JP S60122794 A JPS60122794 A JP S60122794A JP 58227678 A JP58227678 A JP 58227678A JP 22767883 A JP22767883 A JP 22767883A JP S60122794 A JPS60122794 A JP S60122794A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diamond
- furnace
- base body
- gaseous mixture
- heated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
- C30B29/04—Diamond
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、低圧ダイヤモンド気相合成法の改良にかかわ
るものである。
るものである。
従来ダイヤモンドは鉄族金属、特にNi等の触られてい
る。
る。
l)熱電子放射材による熱分解により励起すJ【た炭素
を作りダイヤモンドを合成1−る。
を作りダイヤモンドを合成1−る。
2)プラズマを用い、炭化水Iをプラズマで励起してダ
イヤモンドを合成1−る。
イヤモンドを合成1−る。
しかしいI′れの方法も、現時点では大きい反応ゾーン
なとれた”い(大型化しに(い)という欠点を持ってい
る。
なとれた”い(大型化しに(い)という欠点を持ってい
る。
1)の熱分解方法は装置がfIHH単であるが、反応ゾ
ーンが竹に小さいという欠点//4、−って℃・る。こ
れは熱電子放射材に、Lつて励起され、活性化状態にあ
る炭化水素と水素の活fI化状態の寿命が短かく、熱′
電子放射材と基体との間に、ダイヤモンド生成のために
最適な距離が必要であり、かつ、この距離範囲(すなわ
ち反応ゾーン)が非常に狭いという理由によるものであ
る。このため、反応ゾーンを大きく取ることが必要な工
業化において大きな障害となっていた。
ーンが竹に小さいという欠点//4、−って℃・る。こ
れは熱電子放射材に、Lつて励起され、活性化状態にあ
る炭化水素と水素の活fI化状態の寿命が短かく、熱′
電子放射材と基体との間に、ダイヤモンド生成のために
最適な距離が必要であり、かつ、この距離範囲(すなわ
ち反応ゾーン)が非常に狭いという理由によるものであ
る。このため、反応ゾーンを大きく取ることが必要な工
業化において大きな障害となっていた。
一方、(2)の外部、あるいは内部に高周波な印荷して
プラズマを発生させる方法及び(4)のマイクロ波を導
入してプラズマを発生させる方法は、いずれも反応炉中
のプラズマの状態を均一に制御することが困難であり、
贅に、工具類、耐摩耗部拐といった様々の形状のものを
コーティングしようとする場合、なかなか均一なコーテ
ィング層を得られ難いという問題点があり、まだ工業化
の段階までいたっていない。
プラズマを発生させる方法及び(4)のマイクロ波を導
入してプラズマを発生させる方法は、いずれも反応炉中
のプラズマの状態を均一に制御することが困難であり、
贅に、工具類、耐摩耗部拐といった様々の形状のものを
コーティングしようとする場合、なかなか均一なコーテ
ィング層を得られ難いという問題点があり、まだ工業化
の段階までいたっていない。
柚だ(3)の方法は、°蒸着速度が遅い上に、アトモル
ファス構造の膜を生成し易く、今のところ明確なダイヤ
モンド膜を生成したと言う報告はない。
ファス構造の膜を生成し易く、今のところ明確なダイヤ
モンド膜を生成したと言う報告はない。
本発明者らは、これらの問題、特に(1)の熱電子放射
材方式の欠点を改良すべく、鋭意検討を1(ねたところ
、上記問題点を解決しうる方法を見い出した。
材方式の欠点を改良すべく、鋭意検討を1(ねたところ
、上記問題点を解決しうる方法を見い出した。
即ち、直流電界放電によって、プラズマを発生せしめた
炉中に、炭化水素と水素の混合ガスを0,1〜I Ol
、’o r rになるように調整してダ7人し、加熱し
た熱電子放射により活性化した後、300℃から110
0℃に加熱した基体に流し、ダイヤモンドを基体表面上
に反応生成させることにより、基体表面全面に安定して
ダイヤモンド膜が生成すること及び、均一に反応するゾ
ーンが従来に比較して10倍以にになることを見い出し
たものである。この理由は明確ではないが、活性化され
た状態にある炭化水4・ガスや水素ガスの寿命が炉内に
プラズマ状態を生成せしめることによって延長さ才]る
、寸なわち前記ガスが長時間活性状態を保持し畳面付近
に均一に生成するため、先に述べた高周波プラズマの欠
点でル)つたプラズマ状態の不均一性に起因する問題点
もなく、良好なつき回り、付着強度のものを得ることが
できる。
炉中に、炭化水素と水素の混合ガスを0,1〜I Ol
、’o r rになるように調整してダ7人し、加熱し
た熱電子放射により活性化した後、300℃から110
0℃に加熱した基体に流し、ダイヤモンドを基体表面上
に反応生成させることにより、基体表面全面に安定して
ダイヤモンド膜が生成すること及び、均一に反応するゾ
ーンが従来に比較して10倍以にになることを見い出し
たものである。この理由は明確ではないが、活性化され
た状態にある炭化水4・ガスや水素ガスの寿命が炉内に
プラズマ状態を生成せしめることによって延長さ才]る
、寸なわち前記ガスが長時間活性状態を保持し畳面付近
に均一に生成するため、先に述べた高周波プラズマの欠
点でル)つたプラズマ状態の不均一性に起因する問題点
もなく、良好なつき回り、付着強度のものを得ることが
できる。
炭化水素ガスとしては、メタン、エタン、グロパ/、ブ
タン等のパラフィン系炭化水素をはじめ、オレフィン系
、アセチレン系、ジオレフィン系、炭化水素系等々の全
ての炭化水素を利用しつる。炭化水素に対するII2ガ
スの比率は5〜1000で、5以下ではグラファイトが
析出し、l000以J二ではダイヤモンドは生成しない
。
タン等のパラフィン系炭化水素をはじめ、オレフィン系
、アセチレン系、ジオレフィン系、炭化水素系等々の全
ての炭化水素を利用しつる。炭化水素に対するII2ガ
スの比率は5〜1000で、5以下ではグラファイトが
析出し、l000以J二ではダイヤモンドは生成しない
。
熱電子放射材としては、W、 Ta、 Alo等のフィ
ラメントがよいっ熱電子放射シの表面温1yは1200
℃以上がよく、この温度以下ではダイヤモンドは生成し
tCu・。
ラメントがよいっ熱電子放射シの表面温1yは1200
℃以上がよく、この温度以下ではダイヤモンドは生成し
tCu・。
好rトシ<は1500℃以−ヒがよい。
又、基体の表面4.11度は300℃以下、1100℃
以りではダイヤモンドが生成しない。
以りではダイヤモンドが生成しない。
炉内圧力は0.01Torr−100Torrが望まし
い。
い。
次に本発明を実施する装置する装置り図1に示ずつ
■によって基体を加熱し、(6)によって負の白波電界
をかげて放電−14Lめる。直流電解は基体が導電性物
質の場合、基体にも負のミツ+II(がかかり、グロー
放電を生ずる。放電は、熱電子放射材があるたy)牛じ
易く、真空度)iZもしるが一250V #、度カラ生
シZ+。−5oov 以1 (t・ムーると、スバツメ
ーの効果や水素を膜中に1.lVり込んでアモルファス
化し易くなるため好ましくない、陽極は反応管が金属製
の場合を1反応管であるが、石莢等の絶縁物の場合は別
に設ける必要がある。(秒は炉内圧力の制御用として作
用せしめる。■の炉は基体加熱用で;I;・るが基体表
面はフィラメントによって加執さ才するのでなくてもよ
し・場合がル、4つ 以1に実施例を、示す。
をかげて放電−14Lめる。直流電解は基体が導電性物
質の場合、基体にも負のミツ+II(がかかり、グロー
放電を生ずる。放電は、熱電子放射材があるたy)牛じ
易く、真空度)iZもしるが一250V #、度カラ生
シZ+。−5oov 以1 (t・ムーると、スバツメ
ーの効果や水素を膜中に1.lVり込んでアモルファス
化し易くなるため好ましくない、陽極は反応管が金属製
の場合を1反応管であるが、石莢等の絶縁物の場合は別
に設ける必要がある。(秒は炉内圧力の制御用として作
用せしめる。■の炉は基体加熱用で;I;・るが基体表
面はフィラメントによって加執さ才するのでなくてもよ
し・場合がル、4つ 以1に実施例を、示す。
(実施例1>
WC−6%CO超硬合金を基体として炉内に装]、し、
反応ガスとして11□ガスをI 000cc/分、C1
14を100cc/分の流量で入れ、炉内月−力かIT
orrになるように調整した。
反応ガスとして11□ガスをI 000cc/分、C1
14を100cc/分の流量で入れ、炉内月−力かIT
orrになるように調整した。
放電は300V 15 X l OAmpとして炉内に
グロー放電を発生せしめた。
グロー放電を発生せしめた。
熱し、Lt度を6(10℃として4時間反応を行った。
面に出来ていた。これを電子A?1iii1.tl’r
ならびにレーザーラマン分光分析で分析したところダん
は生成されなかった。放電のない條件では中央部にのみ
ダイヤモンドが生成した。また、反応ゾーンの広さを調
べたところ、本装置では熱電子放射材より距離が30m
から130m+の範囲内で均一にコーティングされたの
に対し、放電のない条件ではl−から20咽の範囲しか
均/ V == 500rri/mn、1(=O1lIIII
l吟rev1、を二1.omII、 T= 15分の條
件で切削したところ、0.0511III+の逃げ面摩
耗と溶着が発生した。
ならびにレーザーラマン分光分析で分析したところダん
は生成されなかった。放電のない條件では中央部にのみ
ダイヤモンドが生成した。また、反応ゾーンの広さを調
べたところ、本装置では熱電子放射材より距離が30m
から130m+の範囲内で均一にコーティングされたの
に対し、放電のない条件ではl−から20咽の範囲しか
均/ V == 500rri/mn、1(=O1lIIII
l吟rev1、を二1.omII、 T= 15分の條
件で切削したところ、0.0511III+の逃げ面摩
耗と溶着が発生した。
多結晶ダイヤモンド焼結体を炉内に装入し混合ガスとし
て700cc/分、C1l、ガスを70cc/分υ)流
量で導入し、炉内圧力が0.5To r rになるよう
の膜が全面生成しており、ピッカス圧Jでマークがつか
ないほど硬い膜となっていた。電子線回折ならびにレー
勺−ノーンン分九分引でダイヤモンドのピークが得られ
た。
て700cc/分、C1l、ガスを70cc/分υ)流
量で導入し、炉内圧力が0.5To r rになるよう
の膜が全面生成しており、ピッカス圧Jでマークがつか
ないほど硬い膜となっていた。電子線回折ならびにレー
勺−ノーンン分九分引でダイヤモンドのピークが得られ
た。
放電していない條件でダイヤモンド膜の生成を行ったと
ころ、基体コーナ一部には膜が生成していなかった。
ころ、基体コーナ一部には膜が生成していなかった。
第1図は本発明の実施態様をノj<す図である。。
■はフィラメント(熱電子放射材)、■は基体、■は基
体支楠台、■は反応炉、■は加熱炉、■は電極、■はガ
ス管、■は排気装置、■は炭化水素供給装置、■は水素
供給装置、0〜(1荀は弁である。
体支楠台、■は反応炉、■は加熱炉、■は電極、■はガ
ス管、■は排気装置、■は炭化水素供給装置、■は水素
供給装置、0〜(1荀は弁である。
Claims (1)
- 炭化水素と水素の混合ガスを、直流電解放電によってプ
ラズマを発生せしめた炉中に、全圧がO1〜l OTo
r rとなるように調整して導入し、熱電子放射材に
よって活性化した後、30ffc〜1100℃に加熱さ
れた基体に接触せしめ、ダイヤモンドな基体上に反応生
成せしめることを特徴とするダイヤモンドの低圧合成法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58227678A JPS60122794A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | ダイヤモンドの低圧気相合成法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58227678A JPS60122794A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | ダイヤモンドの低圧気相合成法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60122794A true JPS60122794A (ja) | 1985-07-01 |
Family
ID=16864611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58227678A Pending JPS60122794A (ja) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | ダイヤモンドの低圧気相合成法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60122794A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60145995A (ja) * | 1984-01-10 | 1985-08-01 | Nec Corp | ダイヤモンド状カ−ボンの製造方法 |
US4859490A (en) * | 1986-07-23 | 1989-08-22 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for synthesizing diamond |
US5110405A (en) * | 1988-06-09 | 1992-05-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of manufacturing single-crystal diamond particles |
US5201986A (en) * | 1990-08-07 | 1993-04-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Diamond synthesizing method |
US5252174A (en) * | 1989-06-19 | 1993-10-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for manufacturing substrates for depositing diamond thin films |
US5258206A (en) * | 1989-01-13 | 1993-11-02 | Idemitsu Petrochemical Co., Ltd. | Method and apparatus for producing diamond thin films |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58156594A (ja) * | 1982-03-08 | 1983-09-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 硬質被膜の製造法 |
JPS59232991A (ja) * | 1983-06-16 | 1984-12-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイヤモンド薄膜の製造法 |
-
1983
- 1983-12-01 JP JP58227678A patent/JPS60122794A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58156594A (ja) * | 1982-03-08 | 1983-09-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 硬質被膜の製造法 |
JPS59232991A (ja) * | 1983-06-16 | 1984-12-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイヤモンド薄膜の製造法 |
Cited By (6)
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US5201986A (en) * | 1990-08-07 | 1993-04-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Diamond synthesizing method |
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