JPS60117475A - 磁気バブルメモリ素子 - Google Patents

磁気バブルメモリ素子

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Publication number
JPS60117475A
JPS60117475A JP58224102A JP22410283A JPS60117475A JP S60117475 A JPS60117475 A JP S60117475A JP 58224102 A JP58224102 A JP 58224102A JP 22410283 A JP22410283 A JP 22410283A JP S60117475 A JPS60117475 A JP S60117475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic bubble
magnetic
bubble
diameter
memory element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58224102A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuru Sekino
充 関野
Minoru Hiroshima
実 広島
Masahiro Yanai
雅弘 箭内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58224102A priority Critical patent/JPS60117475A/ja
Publication of JPS60117475A publication Critical patent/JPS60117475A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は磁気バブルメモリ素子に係わシ、特にマイナル
ープ部の磁気バブル転送バイアス磁界マージン向上に好
適な磁気バブルメモリ素子に関するものである。
〔発明の背景〕
磁気バブルメモリ素子の高集積、高密度化に伴なって磁
気バブル転送路をパーマロイパターンテ形成するパーマ
ロイ形素子においては、パターン周期りが8μおから6
μお以下の寸法へ縮/J%される傾向にある。また、パ
ターン周期りの縮小に伴力い、下記の式(1)の関係か
ら、 L=4d −―・・・・・・@(1) 磁気バブル径dも比例して縮小され、その大きさdは2
μm以下となっている。この結果、磁気バブルの出力低
下を防止するため、磁気バブルの背の高さhは一般的に
h≧0.8dであった。
しかしながら、このように構成される磁気バブルメモリ
素子は、パーマロイパターン、磁気バブル径の縮小によ
)、以下に示すような問題点が発生する。すムわち、 α)パーマロイパターンの縮小化による磁気バブル駆動
力の低下によシ、転送マージンが減少する。
バブル転送舎も転磁界)−1izm、inが増大する。
dエ σy / %&、” e e m 11 @ @
 @ II 11 (2)ただし、σW: 磁壁エネル
ギー密度 Ms: 飽和磁化 〔発明の目的〕 したがって本発明は前述した従来の問題点に鑑みてなさ
れたものであシ、その目的とするところは、マイナルー
プ部の磁気バブル転送バイアス磁界マージンを向上させ
た高密度形磁気バブルメモリ素子を提供することKある
〔発明の概要〕
このような目的を達成するために本発明による磁気バブ
ルメモリ素子は、径が2μm以下の磁気バブルを用いる
場合、磁気二(プル径dと背の高さhをh/d < 0
.8の関係をもたせるとともに、異常バブル抑制用イオ
ンインブタチージョン層のイオンドーズ量を規正したも
のである。
〔発明の実施例〕
次に、本発明を実施例により詳細に説明する。
前述したようにパーマロイパターンの微小化時、磁気バ
ブル相互間の干渉による磁気バブル転送特性低下を防止
するため、磁気バブル径dが縮小されるが、この時の問
題点は4πM、 (飽和磁束密度)の増大である。この
解決策としては、磁気バブル形状を変えて磁気パズルか
らの反磁界により下記0)式に示すように実効的な4π
M、を減少させることが出来る。
* 4πMs=4πMg (I N ) * e a * 
(3)背の高さhを低くすることにより増加する。すな
わち、h<0.8dの条件を満足する偏平磁気バブルと
することにより、従来のh≧0.8dの磁気バブルHm
minを10〜15%程度低減させることが可能となシ
1磁気バブル転送駆動力を向上できる効果が得られる。
また、出力特性は磁気バブル径dに大スマージンは従来
と大差がないことが明らかとな1、異常バブル抑制用イ
オンインプラチージョン層 の条件を磁気バブル転送特性向上の観点からドーズ量を
lXl0N、/−以下とすることにより、磁気バブル転
送バイアス磁界マージンを向上させることができた。
第1図は従来から用いられていた磁気バブルメモリ素子
のマイナループ部の要部断面構成図である。同図におい
て、1はG、G、G、(ガドリニウム・ガリウム・ガー
ネット)基板、2は磁気バブル媒体となる磁気バブル磁
性膜%2aは磁気バブル、3は磁性膜20表面に打込ま
れて異常バブルの発生を抑制するイオンインプラチージ
ョン層、4は乙 イオンインプラチージョン層3上に5t(h 、高分子
樹脂などによ多形成されたスペーサ層、5はスペーサ層
4上に導電体にょ多形成されて電気信号等を導通するコ
ンダクタパターン層、6はスペーサ層4.コンダクタパ
ターン層5上に5lOs、高分子樹脂などによ多形成さ
れた絶縁層、7は絶縁層6上にパーマロイ等で形成され
たマイナループ部の磁気バブル転送用パーマロイパター
フ層テする。
このような構成において、従来の磁気バブル2aは、直
径なd、その背の高さをhとしたとき、h>0.8の関
係を有して形成されていた。また、イ第2図は本発明に
よる磁気バブルメモリ素子)−例を示すマイナループ部
の要部断面構成図であり、第1図と同一部分は同一符号
を付し、その説明は省略する。同図において、第1図と
異なる点は−磁気バブル磁性膜2は磁気バブル2&′が
hく0.8dの関係を満足する偏平磁気バブルを形成す
るような膜厚を有して形成されている。また、イオ乙 ンインプラテーション層3にはNe イオンが1×1O
Ne/cIIi以下のドーズ量でドーズされて異常バブ
ル抑制膜が形成されている。
第3図は前述したh < 0.8dの関係を有する偏平
磁気バブル2a′を用いた磁気バブルメモリ素子の、乙 イオンインプラチージョンドーズ量を変えた場合の磁気
バブル転送バイアス磁界マージンΔHa特性を示したも
のであυ、この場合、Ne イオンをドーズする加速電
圧は異常バブル抑制効果のある50〜80に、Vの範囲
で行ない、回転磁界iは約55δeの条件で測定した。
同図におい′て、Ne+イオンドーズ量が2X10 N
e/(’dの点Aで示す従来素子に比較してxxxON
e/−以下とする領域Bにおいて磁気バブル転送バイア
スマージンΔHBを向上させることができた。この場合
、N6+イオンドーズ量がI X 10 Ne 764
未満とすると、異常バブル抑制効果が得られ表いため、
lX10”〜 1×1ONe10T!の範囲のドーズ量
とし、d≦2μm。
h≦0.8dの偏平磁気バブル2a を用いることによ
シ、約1006程度の磁気バブル転送バイアス磁界マー
ジンΔH1を向上させることができた。
以上の実施例においては、Ne についてであったが、
Ne に代えてHm またはHでも全く同様の効果が得
られている。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、磁気バブル転送駆
動力が増加するので、磁気バブル転送バイアス磁界マー
ジンを向上でき、高密度形磁気バブルメモリ素子が実現
可能となるなどの極めて優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の磁気バブルメモリ素子のマイナループ部
の要部断面構成図、第2図は本発明による磁気バブルメ
モリ素子のマイナループ部の要部乙 断面構成図、第3図はイオンインプラチージョンドーズ
量に対する磁気バブル転送バイアス磁界マージンΔHH
の関係を示す図である。 111・−・G、G、G、基板、2・・拳・磁気バブル
磁性膜、2a ・・・・磁気バブル、3・・・・乙 イオンインプラチージョン層、4・・・・スペーサ層、
5e・・・コンダクタパターン層、6・φΦ・絶a層、
y・・・・パーマロイパターン層。 城 憾 図 C) 城 ω;

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 乙 磁気バブル磁性膜の表面にイオンインプラチーと ジョン層を形成しさらにこのイオンインプラチージョン
    層上にコンダクタパターン層、磁気バフル転送用パター
    ン層を設け、径が2μm以下の磁気バブルを用いた高密
    度形磁気バブルメモリ素子にお乙 いて、前記イオンインプラチージョン層のイオンドーズ
    量をI X 10”〜I X 10”/crlの範囲と
    し、磁気バブル径をd、背の高さをhとしたとき、h/
    d≦0.8に設定したことを特徴とする磁気バブルメモ
    リ素子。
JP58224102A 1983-11-30 1983-11-30 磁気バブルメモリ素子 Pending JPS60117475A (ja)

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