JPS60111389A - 誘電体記憶装置の情報入出力装置 - Google Patents
誘電体記憶装置の情報入出力装置Info
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- JPS60111389A JPS60111389A JP58219168A JP21916883A JPS60111389A JP S60111389 A JPS60111389 A JP S60111389A JP 58219168 A JP58219168 A JP 58219168A JP 21916883 A JP21916883 A JP 21916883A JP S60111389 A JPS60111389 A JP S60111389A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、誘電体物質を情報保持素子とする誘電体記憶
装置の悄−入出力装置に関する。
装置の悄−入出力装置に関する。
誘電体物質を情報保持素子とする記憶装置としては、情
報の表示機能と保持機能を備えたメモリ形の液晶表示装
置や、PLZT等の強誘電体物質を用いたものが知られ
ているが、以下、メモリ形の液晶表示装置を例にとり説
明する。
報の表示機能と保持機能を備えたメモリ形の液晶表示装
置や、PLZT等の強誘電体物質を用いたものが知られ
ているが、以下、メモリ形の液晶表示装置を例にとり説
明する。
液晶表示装置としては、ネマチック液晶、コレステリッ
ク液晶あるいは、スメクチック液晶を用いたものが知ら
れている。いずれも、液晶分子の配鹿状態を何らかの外
部場(電場、磁場、熱等)によシ変化させ、これによる
光学的性質の変化を利用して表示をするものである。
ク液晶あるいは、スメクチック液晶を用いたものが知ら
れている。いずれも、液晶分子の配鹿状態を何らかの外
部場(電場、磁場、熱等)によシ変化させ、これによる
光学的性質の変化を利用して表示をするものである。
これらの液晶表示装置として米国特許第3.796,9
99号及び特開昭51−12728に示されたものが知
られておシ、スメクチック液晶からなる液晶表示素子に
、レーザ等め熱又は電界を印加して情報を書き込むよう
になっている。
99号及び特開昭51−12728に示されたものが知
られておシ、スメクチック液晶からなる液晶表示素子に
、レーザ等め熱又は電界を印加して情報を書き込むよう
になっている。
このようなメモリ形液晶表示装置は情報の保持機能があ
るため、走査線数の大規模化が可能であり、高精細なデ
ィスプレイに適している。
るため、走査線数の大規模化が可能であり、高精細なデ
ィスプレイに適している。
しかしながら、書き込まれた情報を読み出す機能がない
ため情報の表示装置としてのみ利用されているにすぎな
い。したがって、例えばライトベン入力機能を有したマ
ン−マシン装置等の高機能装置に適用することができな
かった。
ため情報の表示装置としてのみ利用されているにすぎな
い。したがって、例えばライトベン入力機能を有したマ
ン−マシン装置等の高機能装置に適用することができな
かった。
本発明の目的は、誘電体物質からなる情報保持素子に書
き込まれた情報を読魯出す機能を有する誘電体記憶装置
の情報入出力装置を提供することにある。
き込まれた情報を読魯出す機能を有する誘電体記憶装置
の情報入出力装置を提供することにある。
本発明は、対向する一対の電極間に誘電体物質を封入し
てなる情報保持点に書き込まれた情報を、その電極間の
静電容量の変化を検出することによシ読み出そうとする
ものである。
てなる情報保持点に書き込まれた情報を、その電極間の
静電容量の変化を検出することによシ読み出そうとする
ものである。
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
第1図及び第2図に、本発明の適用可能な誘電体記憶素
子の断面図及び平面図をそれぞれ示す。
子の断面図及び平面図をそれぞれ示す。
図示のように、それぞれ複数の帯状の電極2及び電極4
の列設された基板1を、電極2と4とが格子状になるよ
うに対向させ、スペーサ3を挿入して基板1間のギャッ
プを一定に保持させ、それら基板1間に誘電体5を封入
して形成されている。
の列設された基板1を、電極2と4とが格子状になるよ
うに対向させ、スペーサ3を挿入して基板1間のギャッ
プを一定に保持させ、それら基板1間に誘電体5を封入
して形成されている。
ここでは、誘電体5にスメクチック液晶を適用したもの
として説明する。この場合、基板1にはガラス板やプラ
スチック板等の透明基板、もしくは81基板等の不透明
基板が用いられ、電極2゜4には、一般にネサ膜と呼ば
れている酸化インジウムと酸化スズの混合物、又はkL
、cr等の金属が用いられる。液晶材料には p 、
p /−アルキルシアノビフェニールの混合物のように
、室温でスメクチック人相を呈し、42Cでスメクチッ
ク液晶相からネマチック液晶相へ、さらに45Cにおい
てネマチック液晶相から等方性液体相へ転移するもの、
又は、4.4’−アルコキシビフェニルカルボン酸アル
キルエステル(!:4.4’−yルキルシアノトランと
の混合物、あるいは4−アルコキシフェニル−4′−ア
ルキル安息香酸−r−ステルとp、p’−アルキルシア
ノピフェニルとの混合物などのように、スメクチック液
晶相を示す液晶材料が用いられる。電極2、電極4とス
メクチック液晶との界面を、シラン系界面活性剤で処理
し、初期状態でホメオトロピック配向、すなわちスメク
チック液晶分子を基板1に対し垂直に配向させるように
する。しかし、水平配向としても本発明を適用すること
ができる。
として説明する。この場合、基板1にはガラス板やプラ
スチック板等の透明基板、もしくは81基板等の不透明
基板が用いられ、電極2゜4には、一般にネサ膜と呼ば
れている酸化インジウムと酸化スズの混合物、又はkL
、cr等の金属が用いられる。液晶材料には p 、
p /−アルキルシアノビフェニールの混合物のように
、室温でスメクチック人相を呈し、42Cでスメクチッ
ク液晶相からネマチック液晶相へ、さらに45Cにおい
てネマチック液晶相から等方性液体相へ転移するもの、
又は、4.4’−アルコキシビフェニルカルボン酸アル
キルエステル(!:4.4’−yルキルシアノトランと
の混合物、あるいは4−アルコキシフェニル−4′−ア
ルキル安息香酸−r−ステルとp、p’−アルキルシア
ノピフェニルとの混合物などのように、スメクチック液
晶相を示す液晶材料が用いられる。電極2、電極4とス
メクチック液晶との界面を、シラン系界面活性剤で処理
し、初期状態でホメオトロピック配向、すなわちスメク
チック液晶分子を基板1に対し垂直に配向させるように
する。しかし、水平配向としても本発明を適用すること
ができる。
ところで、電極2と電極4が対向交差した矩形領域が情
報保持点7となるが、以後、情報保持点7を画素、情報
保持素子6を液晶素子と呼ぶ。
報保持点7となるが、以後、情報保持点7を画素、情報
保持素子6を液晶素子と呼ぶ。
第3図に、本発明の一実施例の全体の構成を概略的に示
す。なお、説明を簡単にするため各電極が4列のものを
示す。
す。なお、説明を簡単にするため各電極が4列のものを
示す。
液晶索子6のX電極4a〜4dは、それぞれ選択スイッ
チ11a〜11dを介してX電極駆動回路13と静電容
量検出回路14とに接続されている。一方、X電極2a
〜2dの一端は、それぞれスイッチ121〜12dを介
して接地され、他端は、それぞれ選択スイッチ108〜
10dを介してY電極駆動回路8と静電容量読み出し電
圧発生回路9とに接続されている。
チ11a〜11dを介してX電極駆動回路13と静電容
量検出回路14とに接続されている。一方、X電極2a
〜2dの一端は、それぞれスイッチ121〜12dを介
して接地され、他端は、それぞれ選択スイッチ108〜
10dを介してY電極駆動回路8と静電容量読み出し電
圧発生回路9とに接続されている。
ここで、液晶素子6に情報を書き込む第1の手段を説明
する。書き込みの場合は、選択スイッチioa〜10d
は、Y電極駆動回路8を選択し、選択スイッチlla〜
lidは、X電極駆動回路13を選択するよう設定する
。そして、まず、選択スイッチ128〜12dのいずれ
かをオンし、Y電極4に電圧VHを印加して電極を十分
に加熱すると、液晶5の温度は、第4図(b)に示すよ
うに上昇する。この結果、スメクチック液晶は、等方性
液体相に転移されるが、時刻t1において電圧Vmを除
去すると液晶5は急速に冷却され、ネマチック相を経て
スメクチック相に転移する。この冷却過程(第4図(b
)の11〜12間)でX電極4及びX電極2に印加する
電圧VX、VYをOV附近にし、第4図(d)に示すよ
うに、液晶5に加わる電圧(Vx My)をOV附近に
すると液晶は外光を散乱する状態になる。この時の画素
の状態を「書込み状態」と呼ぶことにする。
する。書き込みの場合は、選択スイッチioa〜10d
は、Y電極駆動回路8を選択し、選択スイッチlla〜
lidは、X電極駆動回路13を選択するよう設定する
。そして、まず、選択スイッチ128〜12dのいずれ
かをオンし、Y電極4に電圧VHを印加して電極を十分
に加熱すると、液晶5の温度は、第4図(b)に示すよ
うに上昇する。この結果、スメクチック液晶は、等方性
液体相に転移されるが、時刻t1において電圧Vmを除
去すると液晶5は急速に冷却され、ネマチック相を経て
スメクチック相に転移する。この冷却過程(第4図(b
)の11〜12間)でX電極4及びX電極2に印加する
電圧VX、VYをOV附近にし、第4図(d)に示すよ
うに、液晶5に加わる電圧(Vx My)をOV附近に
すると液晶は外光を散乱する状態になる。この時の画素
の状態を「書込み状態」と呼ぶことにする。
これに対し、前記のような冷却過程(第4図(b)t4
〜1.間)において液晶5に加わる電圧上V。
〜1.間)において液晶5に加わる電圧上V。
をある値、つまシしきい値電圧■1.(例えば、3〜5
v程度)以上にすると、液晶5はほぼ透明状態となシ外
光を散乱しない状態になる。この時の画素の状態を「非
書き込み状態」と呼ぶことにする。なお、この時、スイ
ッチ128〜12dは全てオンにする。また、X電極2
をcr、ht等の金属で形成すれば、電極を発熱させる
電圧Vi+を低くできるので望ましい。
v程度)以上にすると、液晶5はほぼ透明状態となシ外
光を散乱しない状態になる。この時の画素の状態を「非
書き込み状態」と呼ぶことにする。なお、この時、スイ
ッチ128〜12dは全てオンにする。また、X電極2
をcr、ht等の金属で形成すれば、電極を発熱させる
電圧Vi+を低くできるので望ましい。
次に、液晶素子6に情報を書き込む第2の手段として、
第5図又は第6図に示すようなレーザ光を用いて画素7
を加熱するものについて説明する。
第5図又は第6図に示すようなレーザ光を用いて画素7
を加熱するものについて説明する。
まず、第5図図示のものは、単導体レーザ16と集光レ
ンズ17を一体化してなるレーザベン15を設け、レー
ザ光を任意の位置の画素7に集光できるようにしたもの
である。なお、レーザベン15は、レーザ光を光源から
導く光ファイバと集光用レンズで形成したものであって
もよい。
ンズ17を一体化してなるレーザベン15を設け、レー
ザ光を任意の位置の画素7に集光できるようにしたもの
である。なお、レーザベン15は、レーザ光を光源から
導く光ファイバと集光用レンズで形成したものであって
もよい。
第6図図示のものは、レーザ18、レーザ光の変調を行
う変調器19、レーザ光を任意の方向に偏向するX方向
、Y方向の偏光器20及びレーザ光を集光するレンズ2
1の構成により、画素7のスメクチック液晶を加熱する
ようにしたものである。なお、レーザ光の照射時間To
と、X電極4とX電極2に印加する電圧Vx、Vyの波
形例を第7図(a)〜(e)に示す。また、スイッチ1
28〜i2dは、全てオフとする。
う変調器19、レーザ光を任意の方向に偏向するX方向
、Y方向の偏光器20及びレーザ光を集光するレンズ2
1の構成により、画素7のスメクチック液晶を加熱する
ようにしたものである。なお、レーザ光の照射時間To
と、X電極4とX電極2に印加する電圧Vx、Vyの波
形例を第7図(a)〜(e)に示す。また、スイッチ1
28〜i2dは、全てオフとする。
レーザを一定時間Toだけ画素7に照射すると液晶5は
、加熱された後急速に冷却される。この冷却過程におい
て、第4図を用いて説明したと同様に、Vx+ Vyの
゛電圧条件を制御することによシ、画素7の状態を「書
き込み」又は「非書き込み」にすることができる。なお
、レーザの照射効率を高めるだめに、X電極4又はYi
4を極2を特定の波長を吸収する物質で形成するのが望
ましい。
、加熱された後急速に冷却される。この冷却過程におい
て、第4図を用いて説明したと同様に、Vx+ Vyの
゛電圧条件を制御することによシ、画素7の状態を「書
き込み」又は「非書き込み」にすることができる。なお
、レーザの照射効率を高めるだめに、X電極4又はYi
4を極2を特定の波長を吸収する物質で形成するのが望
ましい。
ところで、「非ii:き込み状態」において液晶分子は
、基板1に対し垂直に配向しているため、液晶5の比誘
電率は、液晶分子の長軸方向の比誘電率ε11に等しい
。また、「盲き込み状態」において、液晶分子の配向方
向が足金にランダムであると仮定すれば液晶5の比誘゛
電率は前記εNと液晶分子の短軸方向の比誘電率e上と
の三次元的な平均値3 (’n +2’工)になる。
、基板1に対し垂直に配向しているため、液晶5の比誘
電率は、液晶分子の長軸方向の比誘電率ε11に等しい
。また、「盲き込み状態」において、液晶分子の配向方
向が足金にランダムであると仮定すれば液晶5の比誘゛
電率は前記εNと液晶分子の短軸方向の比誘電率e上と
の三次元的な平均値3 (’n +2’工)になる。
ここで、「書き込み状態」の画素7の静電容量Cwと、
「非書き込み状態」の静電容量CNWの比は、次式(1
)で示すものとなる。
「非書き込み状態」の静電容量CNWの比は、次式(1
)で示すものとなる。
例えば、g、=47. 8上=12の液晶材料を用いた
ものについて静電容量を測定したところ、CNW/ C
w = 1.48であった。これは式(1)による計算
値1.68に近い値である。
ものについて静電容量を測定したところ、CNW/ C
w = 1.48であった。これは式(1)による計算
値1.68に近い値である。
このことから、画素7の静電容量の大小を判別すること
によシ、画素7に書き込まれた情報を読み出すことがで
きる、ということになる。
によシ、画素7に書き込まれた情報を読み出すことがで
きる、ということになる。
以下、本発明に係る液晶素子6に蓄き込まれた情報の読
み出し回路の実施例を説明する。第8図に静電容量の読
み出し回路の実施例を示す。読み出し時は、第3図図示
の選択スイッチ108〜10dは、静電容量読み出し電
圧発生回路9を選択し、選択スイッチlla〜lidは
、静電容量検出回路14を選択するようにするが、第8
図にはそれらは省略されている。
み出し回路の実施例を説明する。第8図に静電容量の読
み出し回路の実施例を示す。読み出し時は、第3図図示
の選択スイッチ108〜10dは、静電容量読み出し電
圧発生回路9を選択し、選択スイッチlla〜lidは
、静電容量検出回路14を選択するようにするが、第8
図にはそれらは省略されている。
第8図に示すように、液晶素子6は格子状に配列された
各4列からなるX電極2a〜2dとX電極4a〜4dの
各交差部に形成される画素7(以下−図示の如< JI
Ne14 w eml Ne24 + eml Ne
34 e e41〜e44と表す)を有している。各X
電極48〜4dは選択スイッチ238〜23dを介して
、f′O″Vを含む一定電圧Vmffiを出力する電源
26又は電流−電圧変換回路(以下I/V変換回路と称
する)28に接続されるようになっている。選択スイッ
チ23a〜23dは垂直走査回路27から出力される走
査信号C!〜C4によって切換えられ、順次読み出した
い画素を含むX電極4a〜4dの1つをI/V変換回路
28に接続し、他のX電極は電源26に接続するように
なっている。I/V変換回路28は第9図に示すように
、オペアンプ39.40及び抵抗41〜43から形成さ
れており、出力電圧VQは選択スイッチ29を介して、
サンプルホールド回路30a、30bに入力されるよう
になっている。サンプルホールド回路30a、30bの
出力7里は、それぞれ選択スイッチ31a、31b、に
よシ選択される選択スイッチ32又は増幅回路33a、
33bに入力されている。選択スイッチ32にょシ選択
されたサンプルホールド回路32a又は32bの出力V
lは、比較回路340入力端子INIに入力電圧V2と
して入力され増幅回路32a、32bの出力電圧Vs
、V4は比較回路34の入力端IN2.IN3に入力さ
れている。比較回路34の出力端01,02から出力さ
れる出力電圧V、1゜V e 2はOR回路35を介し
て、BXOR回路36の一方の入力端に入力されている
。EXOR回路36の他の入力端はフリップ70ツブ(
FF)37のQ出力端に、EXOR回路36の出力端は
FF37のD入力端に接続されている。Flli’37
のCP端にはクロック信号CP、が、R端にはリセット
信号R8が入力されている。
各4列からなるX電極2a〜2dとX電極4a〜4dの
各交差部に形成される画素7(以下−図示の如< JI
Ne14 w eml Ne24 + eml Ne
34 e e41〜e44と表す)を有している。各X
電極48〜4dは選択スイッチ238〜23dを介して
、f′O″Vを含む一定電圧Vmffiを出力する電源
26又は電流−電圧変換回路(以下I/V変換回路と称
する)28に接続されるようになっている。選択スイッ
チ23a〜23dは垂直走査回路27から出力される走
査信号C!〜C4によって切換えられ、順次読み出した
い画素を含むX電極4a〜4dの1つをI/V変換回路
28に接続し、他のX電極は電源26に接続するように
なっている。I/V変換回路28は第9図に示すように
、オペアンプ39.40及び抵抗41〜43から形成さ
れており、出力電圧VQは選択スイッチ29を介して、
サンプルホールド回路30a、30bに入力されるよう
になっている。サンプルホールド回路30a、30bの
出力7里は、それぞれ選択スイッチ31a、31b、に
よシ選択される選択スイッチ32又は増幅回路33a、
33bに入力されている。選択スイッチ32にょシ選択
されたサンプルホールド回路32a又は32bの出力V
lは、比較回路340入力端子INIに入力電圧V2と
して入力され増幅回路32a、32bの出力電圧Vs
、V4は比較回路34の入力端IN2.IN3に入力さ
れている。比較回路34の出力端01,02から出力さ
れる出力電圧V、1゜V e 2はOR回路35を介し
て、BXOR回路36の一方の入力端に入力されている
。EXOR回路36の他の入力端はフリップ70ツブ(
FF)37のQ出力端に、EXOR回路36の出力端は
FF37のD入力端に接続されている。Flli’37
のCP端にはクロック信号CP、が、R端にはリセット
信号R8が入力されている。
一方、各Y電極2a〜2dは選択スイッチ22a〜22
dを介して、′0”■を含む一定電圧Vuを出力する電
源25又はクロックパルス信号CPRを発生するパルス
回路24に接続されるようになっている。選択スイッチ
228〜22dは水平走査回路38から出力される走査
信号L1〜L4によって切換えられ、順次読み出したい
画素を含むX電極2a〜2dにクロックパルス信号CP
Rを印加するようになっている。
dを介して、′0”■を含む一定電圧Vuを出力する電
源25又はクロックパルス信号CPRを発生するパルス
回路24に接続されるようになっている。選択スイッチ
228〜22dは水平走査回路38から出力される走査
信号L1〜L4によって切換えられ、順次読み出したい
画素を含むX電極2a〜2dにクロックパルス信号CP
Rを印加するようになっている。
このように構成される実施例の動作について、第9図に
示した模式図を用い以下に説明する。
示した模式図を用い以下に説明する。
まず、読み出し原理を説明すると、第9図は画素e22
の静電容量を検出する場合の状態を示しており、■/V
変換回路28はX電極4bに接続され、他のX電極4a
、4c、4dは電源26に接続される。X電極2bには
第10図に示す波形の読み出し電圧Vlを印加し、他の
X電極2a。
の静電容量を検出する場合の状態を示しており、■/V
変換回路28はX電極4bに接続され、他のX電極4a
、4c、4dは電源26に接続される。X電極2bには
第10図に示す波形の読み出し電圧Vlを印加し、他の
X電極2a。
2C,2dには0”■を含む一定電圧Vllを印加する
。これによって、即ち、画素e22の液晶の静電容量を
Cとし、X電極2bに一定勾配で変化する電圧(ランプ
電圧)が印加されると、X電極4bには定常的に次式(
2)で示す変位電流i、が流れる。
。これによって、即ち、画素e22の液晶の静電容量を
Cとし、X電極2bに一定勾配で変化する電圧(ランプ
電圧)が印加されると、X電極4bには定常的に次式(
2)で示す変位電流i、が流れる。
この変位電流1.がI/V変換回路28に流入されると
、この回路28の出力電圧V、は次式(3)で示すもの
となシ、第10図にその波形を示す。
、この回路28の出力電圧V、は次式(3)で示すもの
となシ、第10図にその波形を示す。
したがって、電圧v、(以下、検出電圧と称する)は画
素の静電容量に比例した値となっておシ、この検出電圧
v(1の大小を判別することによシ、画素が「書き込み
状態」又は「非書き込み状態」にあるかを読み出すこと
ができるのである。
素の静電容量に比例した値となっておシ、この検出電圧
v(1の大小を判別することによシ、画素が「書き込み
状態」又は「非書き込み状態」にあるかを読み出すこと
ができるのである。
なお、■/v変換回路28は纂11図に示すように形成
してもよい。即ち、抵抗44で発生した電圧(+、・R
t)を抵抗45.46及びオペアンプ49と、抵抗47
.48及びオペアンプ50で形成される電圧増幅回路で
増幅して出力電圧V。
してもよい。即ち、抵抗44で発生した電圧(+、・R
t)を抵抗45.46及びオペアンプ49と、抵抗47
.48及びオペアンプ50で形成される電圧増幅回路で
増幅して出力電圧V。
とするものであシ、この電圧V、は次式(4)で示すも
のとなる。
のとなる。
また、X電極2bに印加する電圧v1は、時間的に変化
する電圧であればよく、必ずしも第10図図示の波形に
限定されるものでない。
する電圧であればよく、必ずしも第10図図示の波形に
限定されるものでない。
次に、各画素の読み出し手順を第12図に示すタイムチ
ャートを参照しながら説明する。水平走査回路38の出
力信号L1〜L4によシ選択スイツチ228〜22dを
制御して、Y電極2a〜2dにパルス回路24からクロ
ックパルス信号CPnの4クロック分を順次印加する。
ャートを参照しながら説明する。水平走査回路38の出
力信号L1〜L4によシ選択スイツチ228〜22dを
制御して、Y電極2a〜2dにパルス回路24からクロ
ックパルス信号CPnの4クロック分を順次印加する。
一方、垂直走査回路27からの走査信号C1〜C4によ
シ、選択スイッチ238〜23dを切換制御して、X電
極4a〜4Cに流れる変位電流i、を、順次工/V変換
回路28に出力するようにする。なお、選択スイッチ2
28〜22dは、走査信号L1〜L4がH”のときパル
ス回路24を選択し、L Nのとき電源25を選択する
。また、選択スイッチ238〜23dは、走査信号01
〜C4が”H”のときI/V変換回路28を選択し、L
″のとき電源26を選択する。第12図に示すタイムチ
ャートは、画素e11 ”e14 * e21 ”’−
e24 +e81〜e34 + e41 ” e44の
順に、読み出す場合を示している。
シ、選択スイッチ238〜23dを切換制御して、X電
極4a〜4Cに流れる変位電流i、を、順次工/V変換
回路28に出力するようにする。なお、選択スイッチ2
28〜22dは、走査信号L1〜L4がH”のときパル
ス回路24を選択し、L Nのとき電源25を選択する
。また、選択スイッチ238〜23dは、走査信号01
〜C4が”H”のときI/V変換回路28を選択し、L
″のとき電源26を選択する。第12図に示すタイムチ
ャートは、画素e11 ”e14 * e21 ”’−
e24 +e81〜e34 + e41 ” e44の
順に、読み出す場合を示している。
ここでは、前述した画素の静電容量の検出後の手順、即
ち、I/■変換回路28以降の回路の動作を、画素”1
1””e14を対象にして説明する。いま、画素eta
のみが「書き込み状態」にあシ、他は「非書き込み状態
」にあったものとする。
ち、I/■変換回路28以降の回路の動作を、画素”1
1””e14を対象にして説明する。いま、画素eta
のみが「書き込み状態」にあシ、他は「非書き込み状態
」にあったものとする。
まず、FF37はリセット信号R,によシリセットされ
出力C,,はθ″とされる。次に、画素elfの検出電
圧を選択スイッチ29を介して、サンプルホールド回路
30aに取シ込む。さらに、この回路30aの出力を、
選択スイッチ31aを介して増幅回路33a、33bに
入力する。次に、選択スイッチ29を切り換え、画素e
12の検出電圧をサンプルホールド回路30bに取シ込
む。この回路30bの出力を選択スイッチ31b、32
を介し、入力電圧V2として比較回路340入力端子I
NIに入力する。なお、増幅回路33a。
出力C,,はθ″とされる。次に、画素elfの検出電
圧を選択スイッチ29を介して、サンプルホールド回路
30aに取シ込む。さらに、この回路30aの出力を、
選択スイッチ31aを介して増幅回路33a、33bに
入力する。次に、選択スイッチ29を切り換え、画素e
12の検出電圧をサンプルホールド回路30bに取シ込
む。この回路30bの出力を選択スイッチ31b、32
を介し、入力電圧V2として比較回路340入力端子I
NIに入力する。なお、増幅回路33a。
33bは第13図に示すように形成されている。
増幅回路33aは、オペアンプ51と抵抗52゜53か
ら成り、その出力電圧v3は入力電圧をVlとすると、
次式(5)に示すものとなる。
ら成り、その出力電圧v3は入力電圧をVlとすると、
次式(5)に示すものとなる。
また増幅回路33bは、オペアンプ52,54゜55と
抵抗56〜62から成シ、その出力電圧■4は次式(6
)に示すものとなる。
抵抗56〜62から成シ、その出力電圧■4は次式(6
)に示すものとなる。
のIN2又はIN3の各入力端子に入力される。
比較回路34は入力電圧V2 + Vs + V4を比
較し、それらの電圧の関係が下表に示す3つのケースN
081〜3に分類し、同表に示す2値出力電圧V−1,
V。2を出力するようになっている。なお、ケースN0
11〜3と入力電圧との関係は、前記(5)になってい
る。
較し、それらの電圧の関係が下表に示す3つのケースN
081〜3に分類し、同表に示す2値出力電圧V−1,
V。2を出力するようになっている。なお、ケースN0
11〜3と入力電圧との関係は、前記(5)になってい
る。
O,ス下#t1)
即ち、上表から明らかなように、V4 (V* (v3
の関係にあるときのみOR回路35の出力VBが′ON
となシ、それ以外のときは′1″となる。そこで、■/
V変換回路28から出力される「非書き込み状態」の画
素′e11の検出電圧をVow、r書き込み状態」の画
素81Mの検出電圧を1.48となるが、Va=Vw≦
VNW(1−α);v4 となるようにαの値を決めれ
ば、OR回路350出力VRを1″とすることができる
。なお、このαを定めるにあたシ、画素7の加熱にレー
ザ光を用いた場合には1画素の領域とレーザ光の照射領
域とが、必ずしも完全に一致しないことがあることから
、これを考慮した値にする。
の関係にあるときのみOR回路35の出力VBが′ON
となシ、それ以外のときは′1″となる。そこで、■/
V変換回路28から出力される「非書き込み状態」の画
素′e11の検出電圧をVow、r書き込み状態」の画
素81Mの検出電圧を1.48となるが、Va=Vw≦
VNW(1−α);v4 となるようにαの値を決めれ
ば、OR回路350出力VRを1″とすることができる
。なお、このαを定めるにあたシ、画素7の加熱にレー
ザ光を用いた場合には1画素の領域とレーザ光の照射領
域とが、必ずしも完全に一致しないことがあることから
、これを考慮した値にする。
さて、読み出しの出力であるFF37の出力り、は、前
述したように′0″にリセットされているから、EXO
R回路36の出力Vmは′1′。
述したように′0″にリセットされているから、EXO
R回路36の出力Vmは′1′。
となシ、クロック信号CPHのタイミングでFF37に
取シ込まれてり、が′1″となシ、画素e12は「書き
込み状態」にあることが判定される。
取シ込まれてり、が′1″となシ、画素e12は「書き
込み状態」にあることが判定される。
以上の動作が終了すると、画素exaの静電容量を検出
しサンプルホールド回路30aに取シ込む。
しサンプルホールド回路30aに取シ込む。
さらにこの出力を選択スイッチ′31a及び32を切シ
換えて比較回路のINIの入力端子に加える。
換えて比較回路のINIの入力端子に加える。
この時、テンプルホールド回路30bには、画素e12
の静電容量の検出電圧がホールドされているが、選択ス
イッチ31bを切仄換えて、前記電圧を増幅回路33a
、33bに入力し前述と同様の動作を行う。第15図に
画素elf〜e14の検出時の各部の電圧rタイムチャ
ートで示す。なお、図示していないが、e21 ””e
241 ell ””” e34及びe4J〜e44に
ついても同様の方法によって状態を読み出すことができ
る。
の静電容量の検出電圧がホールドされているが、選択ス
イッチ31bを切仄換えて、前記電圧を増幅回路33a
、33bに入力し前述と同様の動作を行う。第15図に
画素elf〜e14の検出時の各部の電圧rタイムチャ
ートで示す。なお、図示していないが、e21 ””e
241 ell ””” e34及びe4J〜e44に
ついても同様の方法によって状態を読み出すことができ
る。
上述したように、1つ前の画素の静電容量と比較するこ
とによって「書き込み状態」を判定するようにしている
ことから、検出精度を高めるため、例えば画素Jl +
ell1 ell + e41は1全て「非書き込み
状態」とするのが望ましいが、画素ellのみを特定の
状態としても良い。この場合は、ell ””” e1
4 H”” e24”””21 + +e31”” e
34+ ””644〜e41の順序で走査することによ
り、各画素の状態を読み出す。即ち、前後の画素の静電
容量を比較することで画素の状態を読み出していること
から、画素ごとの電極2,4間隔にバラツキがあっても
、読み出し誤りを除去することができ、大型の表示装置
にも適用できる。
とによって「書き込み状態」を判定するようにしている
ことから、検出精度を高めるため、例えば画素Jl +
ell1 ell + e41は1全て「非書き込み
状態」とするのが望ましいが、画素ellのみを特定の
状態としても良い。この場合は、ell ””” e1
4 H”” e24”””21 + +e31”” e
34+ ””644〜e41の順序で走査することによ
り、各画素の状態を読み出す。即ち、前後の画素の静電
容量を比較することで画素の状態を読み出していること
から、画素ごとの電極2,4間隔にバラツキがあっても
、読み出し誤りを除去することができ、大型の表示装置
にも適用できる。
なお、サンプルホールド回路30a及び30bが取シ込
む電圧は、検出電圧が安定する以前の重圧でも良い。
む電圧は、検出電圧が安定する以前の重圧でも良い。
以上説明したように、本発明によれば、誘電体物質から
なる情報素子に書き込まれた情報を正確に読み出すこと
が可能とな如、高機能の表示装置に適用することができ
る。即ち、CRTと同様に半導体レーザ等の発光ペンに
よシ、所定画素を加熱しこれを同様に検出することによ
シ、座標点を認識できる。
なる情報素子に書き込まれた情報を正確に読み出すこと
が可能とな如、高機能の表示装置に適用することができ
る。即ち、CRTと同様に半導体レーザ等の発光ペンに
よシ、所定画素を加熱しこれを同様に検出することによ
シ、座標点を認識できる。
第1図は本発明を適用可能な情報保持素子の断面図、第
2図はその平面図、第3図は本発明の一実施例の全体構
成図、第4図は電場による書き込み動作を説明するため
の縮図、第5図及び第6図はレーザ光による書き込み手
段の構成図、第7図はレーザ光による書き込み動作を説
明するための線図、第8図は第3図図示実施例の情報読
み出し回路の詳細構成図、第9図及び第10図は第8図
図示実施例の動作原理を説明する図、第11図は電流−
電圧変換回路の他の実施例の構成図、第12図は読み出
し手J@を説明するためのタイムチャート、第13図は
増幅回路の詳細回路図、第14図は比較回路の動作説明
図、第I5図は読み出し時の各部の電圧を示すタイムチ
ャートである。 2.4・・・電極、5・・・液晶、7・・・情報保持点
、24・・・パルス回路、28・・・電流−電圧変換回
路、33a、33b・・・増幅回路、34・・・比較回
路、35・・・OR回路、36・・・EXOR回路、3
7・・・フリップフロップ。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 第 l 図 第 2 口 第 4 目 = 第 5 口 第 6 囚 第 7 日 さ 9 第8巳 第 9 膓 第 71 口 6 第 12 日 VY4D 第 13 目
2図はその平面図、第3図は本発明の一実施例の全体構
成図、第4図は電場による書き込み動作を説明するため
の縮図、第5図及び第6図はレーザ光による書き込み手
段の構成図、第7図はレーザ光による書き込み動作を説
明するための線図、第8図は第3図図示実施例の情報読
み出し回路の詳細構成図、第9図及び第10図は第8図
図示実施例の動作原理を説明する図、第11図は電流−
電圧変換回路の他の実施例の構成図、第12図は読み出
し手J@を説明するためのタイムチャート、第13図は
増幅回路の詳細回路図、第14図は比較回路の動作説明
図、第I5図は読み出し時の各部の電圧を示すタイムチ
ャートである。 2.4・・・電極、5・・・液晶、7・・・情報保持点
、24・・・パルス回路、28・・・電流−電圧変換回
路、33a、33b・・・増幅回路、34・・・比較回
路、35・・・OR回路、36・・・EXOR回路、3
7・・・フリップフロップ。 代理人 弁理士 鵜沼辰之 第 l 図 第 2 口 第 4 目 = 第 5 口 第 6 囚 第 7 日 さ 9 第8巳 第 9 膓 第 71 口 6 第 12 日 VY4D 第 13 目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対向する第1と第2の電極間に熱又は電界等の外部
場を印加することによって、該電極間の静電容量が変化
する誘電体を介在させてなる情報保持点が複数個備えら
れた誘電体記憶装置の情報入出力装置において、選択さ
れた前記情報保持点の1つの第1の!極に時間的に変化
する電圧を印加する手段と、該第1の電極に対応する第
2の成極に流れる変位電流を検出する手段と、該変位電
流に基づいて当該情報保持点の静電容量の変化を判定す
ることによシ保持された情報を読み出す手段と、を設け
てなることを特徴とする誘電体記憶装置の情報入出力装
置。 2、特許請求の範囲第1項記載の発明において、前記情
報を読み出す手段は2つの情報保持点の静電容量に基づ
く値を比較し、差が所定偏差以内にあるか否かによシ、
それら2つの情報保持点に保持された情報が同一である
か否かを判定するものであることを特徴とする誘電体記
憶装置の情報入出力装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の発明において、前記比
較される2つの情報保持点の1つは、予め既知情報が保
持されているものであることを特徴とする誘電体記憶装
置の情報入出力装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58219168A JPS60111389A (ja) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | 誘電体記憶装置の情報入出力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58219168A JPS60111389A (ja) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | 誘電体記憶装置の情報入出力装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60111389A true JPS60111389A (ja) | 1985-06-17 |
Family
ID=16731262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58219168A Pending JPS60111389A (ja) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | 誘電体記憶装置の情報入出力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60111389A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02113496A (ja) * | 1988-09-12 | 1990-04-25 | Ramtron Corp | 不揮発性メモリ・セル及びその読み出し方法 |
JPH02154389A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-06-13 | Olympus Optical Co Ltd | 強誘電体メモリ |
JPH0383290A (ja) * | 1989-08-25 | 1991-04-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光メモリデバイス |
-
1983
- 1983-11-21 JP JP58219168A patent/JPS60111389A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02154389A (ja) * | 1988-07-08 | 1990-06-13 | Olympus Optical Co Ltd | 強誘電体メモリ |
JPH02113496A (ja) * | 1988-09-12 | 1990-04-25 | Ramtron Corp | 不揮発性メモリ・セル及びその読み出し方法 |
JPH0383290A (ja) * | 1989-08-25 | 1991-04-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光メモリデバイス |
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