JPS60100167A - 複写機の感光体電位シユミレ−シヨン装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 侠東金」Ｌ この発明は、複写機に使用する感光体の表面電位をシュ
ミレーションするための複写機の感光体電位シュミレー
ション装置に関する。

従」Ｕえ休− 一般に、複写機を開発するときには、複写機内での感光
体の繰返し使用時の表面電位の変化を検査、評価しなけ
ればならない。

そこで、従来は、試作機の完成を待って、この試作機を
使用して被評価感光体を繰返し使用したときの特性の変
化を検査、評価するようにしていた。

しかしなから、これでは新規開発毎に試作機の完成を待
だなけ九ば被評価感光体の特性をｄ１！価できす、開発
に時間かかかると共に、評価の結果。

感光体周りの帯電器、除電器等のユニットの配置やオン
・オフタイミングを変化させて評価する必要が生じたと
きには、再度新規に試作機を作らなければならず、時間
的にも経済的にも無駄か多いという不都合があった。

■−迫 この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり１種々
の複写機の感光体の繰返し使用時の表面電位変化を簡単
に計測評価できるようにすることを目的とする。

１迩しくμ」０１匹 以下、この発明の構成を一実施例に基づいて説明する。

第１図は、この発明を実施した複写機の感光体電位シュ
ミレーション装置の一例を示すブロック構成図である。

この感光体電位シュミレーション装置は、計測制御手段
であるメインコントローラ１及びサブコントローラ２と
、これ等のメインコントローラ１及びサブコン１−ロー
ラ２に制御されて被評価感光体の回転駆動、露光、帯電
、除電及び表面電位の：！ｔ！ｌ１９等を行なうＨ１測
装置６と、このＢ１測装置３からの被評価感光体の表面
電位の計測データを集録するデータ集録装置４とからな
る。

そのメインコントローラ１及びサブコントローラ２は、
ＣＰＵ　（中央処理装置）、プログラムメモリ（ＲＯＭ
）、データメモリ（ＲＡＭ）及び入出力装置１ｆ（１１
０）等からなるマイクロコンピュータによって構成しで
ある。

そして、そのメインコントローラ１は、このシュミレー
ション装置全体の制御を司り、被評価条件の設定制御や
データ集録装置！４からの；１１ｉＩＩｌｌデータの集
取等を行ない、またサブコン１−ローラ２は、１副装置
Ｉ￥６の各部のオン・オフタイミング制御（複写機にお
けるシーケンス制御に相当する）を司る。

また、計測装置３は、被評価感光体を指定された線速度
で回転駆動する感光体駆動装置６と、被評価感光体への
露光量を変化できる露光装置７と、被評価感光体を帯電
する帯電チャージャ及び被評価感光体を除電する除電チ
ャージャ等からなる帯電、除電装置！ｔ８と、被評価感
光体の表面電位を開側する表面電位計測器Ｓ等とからな
る。

その感光体駆動装置６は、サブコン１−ローラ２からの
制御信号に応じた線速度（１０〜ｌｏＯｒｐｍ相当）で
トラムタイプの被評価感光体を回転駆動する。

また、露光装置７及び帯電、除電装置８は、サブコント
ローラ２からの制御イ目号に応じて露光タイミング、帯
電及び除電タイミングを制御される。

さらに、表面電位計測器Ｓは１表面電位８１測信号をデ
ータ集録装置４に転送する。

第２図は、この計測装置乙の機構部を示す概略構成図で
ある。

この機構部は、筒状筐体１１の中心部に、感光体駆動装
置６を構成する駆動モータによって回転駆動される回転
軸１２に固着した評価するドラムタイプ感光体（被評価
感光体）Ｆを嵌挿装着する感光体保持軸１３を配置しで
ある。

また、筒状筐体１１の内周面には、露光装置７を取付け
ると共に、帯電、除電装置８を構成する帯電チャージャ
、除電チャージャ及び除電ランプ等の各ユニットを、被
評価感光体１７を使用する機種に応じた位置に選択的に
配置可能にするために、複数のユニット取イ１け台１４
を装着しである。

なお、露光装置７及び各ユニット取付は台１４は、被評
価感光体Ｆの径に応じた位置に配置可能にするために、
矢示方向に移動可能に構成してあり５例えば各ユニット
取付は台１４は調整用孔１５を回すことによって伸縮す
る。

また、各ユニット取付は台１４は、帯電チャージャ等の
各ユニットを被評価感光体Ｆの軸方向長さに応じて配置
可能にするために、取付けたユニットを軸方向に移動可
能及び固定可能に構成しである。

なお、筒状筐体１１の内部の所定の位置に、前述した表
面電位計測器９を設置しである。

第３図は、露光装置７の詳細を示す概略構成図である。

この露光装置ｆ！７は、まず、光源としてのハロゲンラ
ンプ１６を円筒状石英ガラスからなる回転可能に配置し
た収納筒１７内に収納し、この収納筒１７の外周面に第
４図に示すように段階的（５段ｌ！りに幅が変化するス
リット１８ａを形成したスリット板１８を貼付すると共
に、その収納筒１７をベルト１日を介して駆動モータ２
０によって回転駆動して、段階的に光強度が変化する射
出光を生成する。

そして、この射出光を内部に光反射用の硫酸バリウム２
１及びミラー２２及び光路開閉用のシャッタ２３を配置
した中空管２４を介して被評価感光体Ｆの表面に射出す
る。その硫酸バリウム２１は、光を拡散するためのもの
である。

なお、収納筒回転駆動用のモータ２０には、図示しない
か、収納筒１７が１回転する間にｎ個（ｎ＝６０〜１８
０）のクロックパルスＰＡを出力するクロックジェネレ
ータ（例えばエンコーダ）を設けである。

また、収納ｆＩ６１７の周囲の所定の位置には、スリッ
ト板１８のスリット１８ａの先端を検出する原稿先端検
知センサ２５を設置してあり、この原稿先端検知センサ
２５は収納筒１７が１回転する間に１個のクロックパル
スＰＢを出力する。

第５図は、この露光装置７からのクロックパルスＰＡ、
ＰＨを処理するクロックパルス処理回路を示すブロック
図である。

このクロックパルス処理回路３０は、まず、露光装置７
からのクロックパルスＰＡ、ＰＢと、メインコントロー
ラ１からサブコン１−ローラ２を介して転送される計測
開始パルスＳＴを入力する。

そして、その入力されたクロックパルスＰＡ。

ＰＢを直接サブコントローラ２に出力すると共に。

そのクロックパルスＰＩＩを端子りに入力し、　！！ｔ
ｉｌｌｌ＋開始パルスＳＴを端子ＣＰに入力するＩ〕型
ラフリップフロップ回路以下ｒＤ−ＦＦ回路Ｊと祢ず）
６１のＱ出力ＤＡ及びクロックパルス１）八を人力する
アンド回路３２の出力を、サブコントローラクロックＰ
Ｃとしてサブコントローラ２に出力する。

また、そのＤ−ＦＦ回路６１のＱ出力り八を端子りに入
力し、タロツクパルスＰＢを端子ＣＰに入力するＤ−Ｆ
Ｆ回路３６のＱ出力０１３及びタロツクパルスＰＢを入
力するアンド回路３４の出力を、サンプリング開始パル
スＰＤとしてデータ集録装置４に出力する。

なお、データ集録装置４は、図示を省略するが、計測装
置乙の表面電位計測器９からの表面電位８１測信号ＳＥ
を入力してＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、計測装置乙
のクロックパルス処理回路３０からのサンプリング開始
パルスＰＤを入力して、メインコントローラ１がらの被
評価感光体Ｆの線速度及び露光装置７の収納筒１７の線
速度に応じてＡ／Ｄ変換器のサンプリングタイミングを
制御するサンプリングパルスＰ　Ｅを生成する２個のパ
ルスジェネレータ等とからなる。

次に、このように構成したこの実施例の作用について第
６図以降をも参照して説明する。

まず、メインコントローラ１の動作を第６図を参照して
説明する。

メインコントローラ１は、まず、設定された被評価感光
体Ｆの回転線速度、露光装置７の収納筒１７の回転線速
度等の計測条件データをサブコン１−ローラ２に転送す
ると共に、データ集録装置４のパルスジェネレータにそ
の被評価感光体Ｆの線速度及び収納筒１７の線速度を転
送する計測条件設定処理をする。

その後、計ｄ１１１開始か否かを判別して、計１１１１
１開始であれば、サブコントローラ２に計測開始パルス
ＳＴの出力を命令するコマンドを出力する４測開始処理
をする。

そして、データ集録装置４からの計測データか人力され
れば、その；！Ｈ１’ｌデータを読込んだ後、ｉｉｌ測
終了か否かを判別する。

この判別結果が、計測終了でなければ、ａ目１９条件の
変更の有無を判別して、変更があれば祖１１１１１条件
の変更処理をし、変更がなければそのまま＝ｔ　ｇｖｊ
開始か否かの判別処理に戻る。

そして、判別結果が計ｉ１＋１終了になれば、その旨を
サブコントローラ２に伝達したり、計２１Ｉｇ結果を図
示しないナイスプレイ装置に表示したりあるいはプリン
トアウトしたりする等の針側終了処理をする。

次に、サブコントローラ２の動作について第７図を参照
して説明する。

サブコントローラ２は、まずメインコントローラ１から
のデータに基づいて計測装置乙の感光体駆動装置６を制
御して、被評価感光体ｌ？を線速度Ｖ皇で回転駆動する
。

そして、メインコントローラ１がらのデータに基づいて
ｇｔｄｌｌｌ装置６の露光装置７の駆動モータ２０を制
御して、収納筒１７を線速度ＶＯで回転駆動する。

それによって２ｗ６光装置７の駆動モータ２０に取付け
たエンコーダがらは、第８図（イ）に示すように、収納
筒１７か１回転する間にｎ個のクロックパルスＰＡが出
力され、また原稿先端検知センサ２５からは、同図（ロ
）に示すように、収納筒１７か１回転する間に１個のク
ロックパルスｐｎか出力される。

そして、サブコントローラ２は、メインコントローラ１
からＷｌｉｌ＋ｌｌ開始テータか転送デーると１例えは
第８図の時点ｔ１で８目１９開始パルスＳＴをＨ１測装
置３のクロックパルス処理回路３０（第５図うに出力す
る。

それによって、タロツクパルス処理回１８３０のＤ−Ｆ
Ｆ回路３１のＱ出力ＤＡは、第８図（ハ）に示すように
、クロックパルスＰＢが人力された時点ｔ２から”　Ｈ
″になり、この時点Ｌ；！がら同図（へ）に示すように
、アンド回路３２の出力であるサブコントローラクロッ
クｌ〕ｃがサブコントローラ２に入力される。

このとき、サブコントローラ２は、クロックパルスＰＢ
が入力されたか否かを判別しており、クロックパルスＰ
Ｂが入力された第８図の時点ｔ２から計測制御処理を開
始して、同図（イ）に示すクロックパルスＰＡのカラン
１〜を開始し、サブコントローラクロックＰＣが入力さ
九る毎に１ステップ実行する。

そして、サブコントローラ２は、被評価感光体Ｆ周りの
帯電チャージャ等の各ユニットのオンタイミングを算出
し、その算出したタイミングで帯電、除電装置８をオン
・オフ制御する。

つまり、例えば第Ｓ図に示すように、まず被評価感光体
Ｆが矢示方向に線速度ｖ１で回転し、露光装置７の収納
筒１７が矢示方向に線速度ＶＯで回転している。

このとき、被評価感光体Ｆの半径かＲ２収納筒１７の半
径がｒ、帯電、除電装置８の帯電チャージャ８Ａの位置
から露光装置８による露光軸ＣＲまでの回転方向の角度
が０２．原稿先端検知センサ２５から露光軸Ｃ，Ｒまで
の回転方向の角度が００であるとする。

この条件の下で、帯電チャージャ８Δをオンするタイミ
ングは、原稿先端検知センサ２５からクロックパルスＰ
Ｂが出力されてクロックパルスＰＡのカウントを開始し
た時がら、クロックパルスＰＡのパルス幅を八Ｔとすれ
ば。

Δ’ｒ＋（ｒ・０（、／ＶｏＪ　（Ｒ−＆２／ｖ＋）時
間（ｓｅｃ）経過した時である。

他のユニツ１−のオンタイミングも同様にして算出する
。

このようにして、サブコントローラ２が計測袋［３の各
部を制御することによって、被評価感光体Ｆの表面か一
様に帯電され、露光袋＠７によって被評価感光体Ｉ？か
５段階の光強度の光で露光され、除電される。

一方、その言１測装置乙のクロックパルス処理回路３０
は、第８図の時点２でクロックパルスＰＢが入力された
後１次のクロックパルスＢが入力された時点【３でＤ−
ＦＦ回路６３のＱ出力ｏ　ｎ　７Ｊｉ　。

同図（ホ）に示すように゛Ｉ］パになるので、アンド回
路６４からは、同図（ト）に示すように、クロックパル
スＰＢが入力された時点Ｌ３＋Ｌ４＋ｔ５・・・・・・
で、同図（ト）に示すように、データ集録装＠４にサン
プリング開始パルスＩ）１〕を出力する。

次に、データ集録装置４の動作について第１０図を参照
して説明する。

まず、計測装置乙の表面電位ｉ＋６＋ｑ器９からは、被
評価感光体Ｆが５段階の光強度の光によって露光されて
いるので、第１０図に示すよっに、５段階に変化する表
面電位計測信号ＳＥかデータ集録装＠４に出力される。

このデータ集録装＠４は、計１１１１ｉ装置乙のタロツ
クパルス処理回路３０から第１０図（ロ）に示すサンプ
リング開始パルスＰＤが入力されると、その入力時点ｔ
１からΔｔだけ遅れた時点Ｌ２で、同図（ハ）に示すよ
うに、第１のパルスジェネレータが第１のサンプリング
パルスＳＡを出力し、このサンブリンクパルスＳＡから
第２のパルスジェネレータが、同図（ニ）に示すように
、第２のサンプリングパルスＳＢを生成する。

それによって、Ａ／Ｄ変換器が、この第２のサンプリン
グパルスＳＨの入力時点で表面電位計測信号ＳＥをサン
プリングして、メインコントローラ１に出力する。

その遅延時間Δｔ　（ｓｅｃ）は、前述した第Ｓ図に示
すように、露光軸ＣＡＲから表面電位計４１１器９の位
置までの回転方向の角度をＯｌとした場合（他の条件は
前述の説明と同じ）、 Δｔ＝（ｒ’Ｏｏ／Ｖｏ）＋（１＜・０＋／ｖ＋）であ
る。

このようにして、データ集録装置４は、表面電位計測器
９からの表面電位：ｉｔ　ｉｌｌ！ｌ信号ＳＥを各段階
の中央でサンプリングして、その結果をメインコントロ
ーラ１に転送する（第６図参照）。

このように、この感光体電位シュミレーション装置は、
被評価感光体を任意の線速度で回転可能で、同一プロセ
スで複数の光強度で露光できると共に、帯電、除電等の
ユニットを任意の位置に取イ」けられる。

それによって９種々の感光体について繰返し使用したと
きの表面電位の変化をｉｔ　１ｌｌｌｌ評価することか
できる。

なお、露光装置の構成や各ユニツ１−を任意の位置に取
付は可能にする構成等は、」−記実施例の構成に限るも
のではない。

勿−」（ 以上説明したように、この発明によれは、種々の感光体
の繰返し使用時の特性の変化を胴側評価することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例を示すブロック図、第２
図は、第１図の開側装置の機構部を示す要部構成図、 第６図及び第４図は、同じく露光装Ｆｔの概ｌ１１８構
成図及びそのスリット板の平面図、 第５図は、同じくクロックパルス処理回路のブロック図
、 第６図は、第１図のメインコントローラの動作を示すフ
ロー図、 第７図は、同じくサブコントローラの動作を示すフロー
図、 第８図は、第７図の説明に供する各部のタイミングチャ
ー図。 第９図は、同じく各ユニットのオンタイミングの算出処
理の説明に供する模式図。 第１０図は、第１図のデータ集録装置の動作説明に供す
るタイミングチャート図である。 １・・・メインコントローラ　２・・・サブコントロー
ラ３・・・計測装置　４・・・データ集録装置６・・・
感光体駆動装置　７・・・露光装置８・・・帯電、除電
装置　９・・表面電位計測器３０・・クロックパルス処
理回路 Ｆ・・・被評価感光体Ｆ 第２図 第３図 第４図 第５図　３０ 第６図　第７図 第８図 第９図 手続有口正置（自発） 昭和５９年１月２７日 特許庁長官　若　杉　和　夫　殿 ■、事件の表示 特願昭５８−２０７４７６号 ２、発明の名称 複写機の感光体電位シュミレーション装置３、補正をす
る者 事件との関係　特許出願人 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 （６７４）　株式会社　リ　コ　− ４、代理人 東京都豊島区東池袋１丁目２０番地５ （１）　明細書の発明の詳細な説明の欄（２）　図面 ６、補正の内容 （１）明細書第６頁第２行の「ｒＡ整整孔孔を、「調整
用捧Ｊと補正する。 （２）同書同頁第９行の「所定の位置に」を、「ユニッ
ト取付台１４の所定の位置に１と補止する。 （３）同書第８頁第２〜３行の「サブコン１−ローラ２
を介して転送される！！１測開始パルスＳ　ｉ’　Ｊを
、「サブコントローラ２へのＢ１測開始パルスＳＴ」と
補正する。 （４）同書同頁第４〜６行の「そして、・・・・クロッ
クパルスＰＢを」を、「そして、入力されたタロツクパ
ルスＰＢを」と補正する。 （５）同書第９頁第１５行の「回転線速度等」を、「回
転線速度及びこれから算出さｊしるトう７１回りの各種
ユニットのオン・オフタイミング」と補正する。 （６）同書同頁第１８行の［線速度を転送するａｔ　ａ
ｌ！１条件」を、「線速度から決まるデータサンプリン
グ条件」と補正する。 （７）同書第１０頁第１〜２行の［ザブコントローラ２
に・・・・・・コマンドを出力する」を、ｒクロックパ
ルス処理回路乙０に計測開始パルスＳＴを出力する」と
補正する。 （８）同書第１Ｉ頁第１３〜１７行の［そして、・・・
・出力する。」を、次のとおり補正する。 「　このとき、メインコントローラ１から計測開始パル
スＳＴか１例えは第８図の時点Ｅ１で８１測装置乙のク
ロックパルス処理回路３０（第５図）に入力される。Ｊ （９）同書第１２頁第５〜１１行の［このとき、・・・
・・・実行する。」を、次のとおり補正する。 「　このタロツクパルスｌ）　ｌ’３が人力された第８
図の時点ｔ２から計測制御処理を開始して、同図（へ）
に示すサブコントローラクロックＰＣのカウントを開始
する。」 （１０）同書同頁第１３〜１４行の［各ユニットのオン
タイミングを算出し、その算出したタイミングで」を、
次のとおり補正する。 「各ユニットの予め転送されているオン・オフタイミン
クをサブコントローラクロックＰＣのカウント数で判断
し、その判断したタイミンクで」 （１１）同書第１３頁第８〜１０行の「クロックパルス
・・・・・・八Ｔとすれば、」を、次のとおり補正する
。 ｒサブコントローラクロックＰＣのカウントを開始した
時から、クロックパルスｌ）　Ａのパルス数ｎ（パルス
ジェネレータとして１回転に出力するパルス数）が出力
されている時間をΔＴとすれば、」 （１２）図面の第２図及び第７図を、本省に添イ」シた
訂正図面のとおり補正する。 ７、添付書類 訂正図面（第２図、第７図）　１通 訂正ｉ；’４面 訂正図面 第７図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　被評価感光体を指定された線速度で回転駆動する感
   光体駆動手段と、前記被評価感光体への露光量を変化可
   能な露光手段と、前記被評価感光体の表面電位をＲ１開
   する表面電位ａｌｉｌｌ！１手段と、前記被評価感光体
   を帯電させる帯電手段及び前記被評価感光体を除電する
   除電手段とを備え、前記帯電手段及び除電手段を前記被
   評価感光体層りの複数の位置に選択的に配置可能な８目
   １１１部と、該Ｆｉｔ？１ｌ１１部の表面電位計ｄｌす
   手段からの８目１り結果を集録するテータ集録手段と、 前記Ｒ１測部の感光体駆動手段、露光手段、帯電手段及
   び除電手段を制御する１１測制御手段とからなることを
   特徴とする複写機の感光体電位シュミレーション装置。