JPS5994481A - ジヨゼフソン接合装置 - Google Patents
ジヨゼフソン接合装置Info
- Publication number
- JPS5994481A JPS5994481A JP58198984A JP19898483A JPS5994481A JP S5994481 A JPS5994481 A JP S5994481A JP 58198984 A JP58198984 A JP 58198984A JP 19898483 A JP19898483 A JP 19898483A JP S5994481 A JPS5994481 A JP S5994481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide
- film
- josephson junction
- barrier layer
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
Nbを用いたジョゼフソン接合装置に関する。
ジョゼフソン効果を有する超電導1〜ンネル接合は、磁
界制御によって零電圧と有限電圧間の遷移を起こさせる
ことができる。このスイッチング時間は10〜100p
sの範囲にあるので、ジョゼフソン接合はスイッチング
素子としてきわめて優れている。論理回路に用いるジョ
ゼフソン接合の形状としてはザンドイッチ型が適してい
る。サンドインチ型接合の下部電極膜としてNbを用い
た接合は室温と液体ヘリウム温度間の熱サイクルによる
劣化がなく、特性の経時変化が少ない。しかしながらN
b酸化膜を障壁層とするジョゼフソン接合はNb酸化膜
の誘電率が大きいため容量が大きくなり、スイッチング
速度が遅くなる欠点をもっている。
界制御によって零電圧と有限電圧間の遷移を起こさせる
ことができる。このスイッチング時間は10〜100p
sの範囲にあるので、ジョゼフソン接合はスイッチング
素子としてきわめて優れている。論理回路に用いるジョ
ゼフソン接合の形状としてはザンドイッチ型が適してい
る。サンドインチ型接合の下部電極膜としてNbを用い
た接合は室温と液体ヘリウム温度間の熱サイクルによる
劣化がなく、特性の経時変化が少ない。しかしながらN
b酸化膜を障壁層とするジョゼフソン接合はNb酸化膜
の誘電率が大きいため容量が大きくなり、スイッチング
速度が遅くなる欠点をもっている。
本発明はNbを下部電極としてジョゼフソン接合のこの
ような問題点を解決し、容量によるスイッチング時間遅
れの少ないジョゼフソン接合の構造を与えることにある
。
ような問題点を解決し、容量によるスイッチング時間遅
れの少ないジョゼフソン接合の構造を与えることにある
。
本発明では第1図のようなサンドインチ型ジョゼフソン
接合において、障壁層3をSiの酸化物とする。下部電
極膜2はNb、」二部電極膜4はPb、Pb合金あるい
はNbなど臨界温度が液体ヘリウム温度以上の超電導材
t:である。
接合において、障壁層3をSiの酸化物とする。下部電
極膜2はNb、」二部電極膜4はPb、Pb合金あるい
はNbなど臨界温度が液体ヘリウム温度以上の超電導材
t:である。
障壁層となる上記Siの酸化物は、厚さ1〜10n m
のSi膜層の一部あるいは全部を酸化せしめてなるもの
である@Si膜層の厚さがlnm未満ではピンボールが
多くなりSi酸化物の障壁層としての特性が認められず
、10nmを越えると電極間のカップリングが低下する
ためリークが多くなりジョゼフソン電流が期待される値
より低くなり、いずれも好ましくない。
のSi膜層の一部あるいは全部を酸化せしめてなるもの
である@Si膜層の厚さがlnm未満ではピンボールが
多くなりSi酸化物の障壁層としての特性が認められず
、10nmを越えると電極間のカップリングが低下する
ためリークが多くなりジョゼフソン電流が期待される値
より低くなり、いずれも好ましくない。
このようなジョゼフソン接合の製造は例えば次のような
手順で行なった。10 Paの真空装置中で、あらか
じめ表面を清浄化したガラス、Si膜ユ、あるいはA#
20.基板1上に3nm、/sの堆積速度でNb膜を蒸
着した。Nbの蒸発は電子ビ11銃にによる蒸発源の加
熱法によった。Nb膜無蒸着後真空を破ることなく別の
電子ビーl、蒸発源よりSi膜を3 n mの厚さに蒸
着した。しかる後に真空を破り、大気中に1〜24時間
曝すことにより、表面のSi膜を酸化させ障壁層を形成
した。この上に上部電極膜としてpbを蒸着することに
よりジョゼフソン接合の製作を完了した。
手順で行なった。10 Paの真空装置中で、あらか
じめ表面を清浄化したガラス、Si膜ユ、あるいはA#
20.基板1上に3nm、/sの堆積速度でNb膜を蒸
着した。Nbの蒸発は電子ビ11銃にによる蒸発源の加
熱法によった。Nb膜無蒸着後真空を破ることなく別の
電子ビーl、蒸発源よりSi膜を3 n mの厚さに蒸
着した。しかる後に真空を破り、大気中に1〜24時間
曝すことにより、表面のSi膜を酸化させ障壁層を形成
した。この上に上部電極膜としてpbを蒸着することに
よりジョゼフソン接合の製作を完了した。
このようにして製造したN b / S i酸化物/p
bジョゼフソン接合はマイクロショートがなく、スイッ
チング素子に適した直流電圧−電流特性を示し、熱サイ
クルによる特性劣化はなかった。さらに直流ジョゼフソ
ン電流の印加磁界依存性および磁場中における直流電圧
−電流特性の測定から得られた障壁層厚みと比誘電率の
比は 0.5〜0.7nmであり、NP酸化物を障壁と
した接合の約5倍となった。これは障壁層の厚みはほと
んど変わらないが、Si酸化膜を障ri:、層とするこ
とにより比誘電率が115になったことによるものであ
る。したがって本発明によるジョゼフソン接合は等しい
面積の接合で比較して、従来のNb接合よりスイッチン
グ速度が5倍向上する。本発明によるジョゼフソン接合
は論理回路用スイッチング素子としてきわめて有効であ
る。
bジョゼフソン接合はマイクロショートがなく、スイッ
チング素子に適した直流電圧−電流特性を示し、熱サイ
クルによる特性劣化はなかった。さらに直流ジョゼフソ
ン電流の印加磁界依存性および磁場中における直流電圧
−電流特性の測定から得られた障壁層厚みと比誘電率の
比は 0.5〜0.7nmであり、NP酸化物を障壁と
した接合の約5倍となった。これは障壁層の厚みはほと
んど変わらないが、Si酸化膜を障ri:、層とするこ
とにより比誘電率が115になったことによるものであ
る。したがって本発明によるジョゼフソン接合は等しい
面積の接合で比較して、従来のNb接合よりスイッチン
グ速度が5倍向上する。本発明によるジョゼフソン接合
は論理回路用スイッチング素子としてきわめて有効であ
る。
上述のように、本発明のジョゼフソン接合装置は下部電
極をNbとしているにもかかわらず容量が小さく、スイ
ッチング速度が著るしく上昇した。
極をNbとしているにもかかわらず容量が小さく、スイ
ッチング速度が著るしく上昇した。
第1図は本発明の実施例によるジョゼフソン接合装置の
断面図を示す。 ■・・・ガラス基板、2・・Nb膜、3・・・Si酸化
膜、第 1 図
断面図を示す。 ■・・・ガラス基板、2・・Nb膜、3・・・Si酸化
膜、第 1 図
Claims (1)
- 1、Nbを下部電極とし、下部電極と上部電極との間に
厚さ1〜I On mのSi膜層の一部あるいは全部を
酸化せしめてなる障壁層を設けたことを特徴とするジョ
ゼフソン接合装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58198984A JPS5994481A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | ジヨゼフソン接合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58198984A JPS5994481A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | ジヨゼフソン接合装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5994481A true JPS5994481A (ja) | 1984-05-31 |
JPS6262077B2 JPS6262077B2 (ja) | 1987-12-24 |
Family
ID=16400175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58198984A Granted JPS5994481A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | ジヨゼフソン接合装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5994481A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110649152A (zh) * | 2019-09-27 | 2020-01-03 | 江苏鲁汶仪器有限公司 | 一种铌基超导器件刻蚀方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01164880A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-28 | Maezawa Ind Inc | 弁 |
-
1983
- 1983-10-26 JP JP58198984A patent/JPS5994481A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110649152A (zh) * | 2019-09-27 | 2020-01-03 | 江苏鲁汶仪器有限公司 | 一种铌基超导器件刻蚀方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6262077B2 (ja) | 1987-12-24 |
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