JPS5994107A - アクチユエ−タ試験装置 - Google Patents
アクチユエ−タ試験装置Info
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- JPS5994107A JPS5994107A JP57204145A JP20414582A JPS5994107A JP S5994107 A JPS5994107 A JP S5994107A JP 57204145 A JP57204145 A JP 57204145A JP 20414582 A JP20414582 A JP 20414582A JP S5994107 A JPS5994107 A JP S5994107A
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
- G01R31/3278—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches of relays, solenoids or reed switches
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、プラント運転中に、アクチュエータを実動
作させないで、アクチュエータ自体またはアクチュエー
タを含めた回路の健全性を試験するアクチュエータ試験
装置に関するものである。
作させないで、アクチュエータ自体またはアクチュエー
タを含めた回路の健全性を試験するアクチュエータ試験
装置に関するものである。
従来この種の装置として第１図ないし第３図に示すもの
があった。第１図に示すアクチュエータ試験装置は試験
器具を必要としない場合のものであって、／／は外部か
ら０Ｎ−ＯＦＦされる接点であり１．２（１）はリレー
、例えば電磁リレーであ”るので、その入力部がリレー
コイル、２／で出力部がリレー接点２コでありかつ入力
部と出力部が電磁結合されている。７．２Ａはリレー用
電源例えば交流β１ 電源、３１は通常停止しているが必要な徐に動作される
アクチュエータ、例えば、バルブ、モータしゃ断器等で
あり、そして３２Ｄはアクチュエータ用電源、例えば直
流電源である。
があった。第１図に示すアクチュエータ試験装置は試験
器具を必要としない場合のものであって、／／は外部か
ら０Ｎ−ＯＦＦされる接点であり１．２（１）はリレー
、例えば電磁リレーであ”るので、その入力部がリレー
コイル、２／で出力部がリレー接点２コでありかつ入力
部と出力部が電磁結合されている。７．２Ａはリレー用
電源例えば交流β１ 電源、３１は通常停止しているが必要な徐に動作される
アクチュエータ、例えば、バルブ、モータしゃ断器等で
あり、そして３２Ｄはアクチュエータ用電源、例えば直
流電源である。
なお接点／／、リレー２０のリレーコイル２１およびリ
レー用電源／２ｋｔＦ、／の開閉路１０を形成し、また
、リレー２０のリレー接点、２λ、アクチュエータ、Ｊ
／およびアクチュエータ電源３コＤは第２の閉回路３
０を形成する。
レー用電源／２ｋｔＦ、／の開閉路１０を形成し、また
、リレー２０のリレー接点、２λ、アクチュエータ、Ｊ
／およびアクチュエータ電源３コＤは第２の閉回路３
０を形成する。
今、接点／／を外部から制御してＯＮＫするとリレー２
０はそのリレーコイルλ／が励磁されてそのリレー接点
２：ｌがＯＮとなり、こねによりアクチュエータ３１は
動作される。
０はそのリレーコイルλ／が励磁されてそのリレー接点
２：ｌがＯＮとなり、こねによりアクチュエータ３１は
動作される。
アクチュエータがプラントの運転に非常°に重要な場合
や人身保護のために不可決な場合、アクチュエータまた
はこれを含めた回路が正常かどうかを定期的に試験する
必要がある。アクチュエータを動作させてもプラントの
運転に影響を与えない場合には、試験方法は簡単で第７
図について説明したようにアクチュエータを実際に動作
させれば良い。
や人身保護のために不可決な場合、アクチュエータまた
はこれを含めた回路が正常かどうかを定期的に試験する
必要がある。アクチュエータを動作させてもプラントの
運転に影響を与えない場合には、試験方法は簡単で第７
図について説明したようにアクチュエータを実際に動作
させれば良い。
しかし、アクチュエータを動作させることがプラントの
運転に重大な影響を与える場合には、第２図に示したア
クチュエータ試験装置が使用される。
運転に重大な影響を与える場合には、第２図に示したア
クチュエータ試験装置が使用される。
第２図において、ｌθ、／／、１２に、、２θ。
コ／、２２，３／および３２Ｄは第１図に示したものと
同じであり、試験時に使用するブロック接点３３と、試
験時に使用しかつ端子／、２および３並びに押釦Ｗを有
する表示灯３グと、抵抗３Ｓとを付加した点が違う。ブ
ロック接点３３は通常ＯＮであり、表示灯３１Ｉは、通
常、端子／から端子−へ電流が流れると点灯するが、押
釦Ｗを押した時のみ端子３から端子ｌへ電流が流れて点
灯す（３） る構造になっている。第２図に示した状態では、ブロッ
ク接点３３がＯＮであるので表示灯３竺の端子ｌから端
子コへと電流が流れて表示灯３１Ｉは点灯している。ま
ずブロック接点３３をＯＦＦにす 。
同じであり、試験時に使用するブロック接点３３と、試
験時に使用しかつ端子／、２および３並びに押釦Ｗを有
する表示灯３グと、抵抗３Ｓとを付加した点が違う。ブ
ロック接点３３は通常ＯＮであり、表示灯３１Ｉは、通
常、端子／から端子−へ電流が流れると点灯するが、押
釦Ｗを押した時のみ端子３から端子ｌへ電流が流れて点
灯す（３） る構造になっている。第２図に示した状態では、ブロッ
ク接点３３がＯＮであるので表示灯３竺の端子ｌから端
子コへと電流が流れて表示灯３１Ｉは点灯している。ま
ずブロック接点３３をＯＦＦにす 。
ると、表示灯、？ ｌＩは電流が流れなくなるので消灯
する。表示灯３ケが消灯したことを確認してから、接点
ｌｌをＯＮにすると、リレーコイル２ノが励磁されてそ
のリレー接点２２がＯＮになる。そこで、押釦Ｗを押す
と、アクチュエータ用電源３２Ｄの正端子から表示灯３
１Ｉの端子３．端子１ 、 ＩＪフレ一点、２２および
アクチュエータ３１を通ってアクチュエータ用電源３２
Ｄの負端子へ電流が流れて表示灯３’ｌが点灯するので
、電流が流れる。
する。表示灯３ケが消灯したことを確認してから、接点
ｌｌをＯＮにすると、リレーコイル２ノが励磁されてそ
のリレー接点２２がＯＮになる。そこで、押釦Ｗを押す
と、アクチュエータ用電源３２Ｄの正端子から表示灯３
１Ｉの端子３．端子１ 、 ＩＪフレ一点、２２および
アクチュエータ３１を通ってアクチュエータ用電源３２
Ｄの負端子へ電流が流れて表示灯３’ｌが点灯するので
、電流が流れる。
第３７図のアクチュエータ試験装置は、第７図の電磁リ
レーの代りに半導体リレーとしてのホトカプラを使用す
ると共にパルスによる試験を行うために試験器具として
のパルス発生回路を使用する。
レーの代りに半導体リレーとしてのホトカプラを使用す
ると共にパルスによる試験を行うために試験器具として
のパルス発生回路を使用する。
祥しく言えば、／／ 、３／および３２Ｄは第１図に示
したものと同じである。２０Ｄはホトカプラであって発
光ダイオード２３およびホトトランジ（ゲ ） スタ２’ｌから成り、入力部と出力部が光結合されてい
る。／２Ｄはリレー用電源例えば直流電源であってその
正端子が抵抗／３を介して発光ダイオード２３のアノー
ドへ接続され、この発光ダイオードλ３のカソードは接
点／／を介してリレー用電源／２Ｄの負端子へ接続され
る。また、接点／、／の両端間には、試験時に短時間だ
けＯＮ信号を発生するパルス発生回路が接続されている
。３ＡはホトカプラコθＤの出力を増幅してアクチュエ
ータ３ノを駆動するためのパワートランジスタであり、
そのエミッタがアクチュエータ用電源３２Ｄの正端子へ
接続されると共にそのペース、コレクタがホトトランジ
スタのホトトランジスタｕＦのそれぞれコレクタ、エミ
ッタへ接続されている。
したものと同じである。２０Ｄはホトカプラであって発
光ダイオード２３およびホトトランジ（ゲ ） スタ２’ｌから成り、入力部と出力部が光結合されてい
る。／２Ｄはリレー用電源例えば直流電源であってその
正端子が抵抗／３を介して発光ダイオード２３のアノー
ドへ接続され、この発光ダイオードλ３のカソードは接
点／／を介してリレー用電源／２Ｄの負端子へ接続され
る。また、接点／、／の両端間には、試験時に短時間だ
けＯＮ信号を発生するパルス発生回路が接続されている
。３ＡはホトカプラコθＤの出力を増幅してアクチュエ
ータ３ノを駆動するためのパワートランジスタであり、
そのエミッタがアクチュエータ用電源３２Ｄの正端子へ
接続されると共にそのペース、コレクタがホトトランジ
スタのホトトランジスタｕＦのそれぞれコレクタ、エミ
ッタへ接続されている。
３りは電流ピックアップであってアクチュエータ３ノを
含む第２の閉回路３０に流れる電流を非接触で検出する
。、７ｇは電流ピックアップ３クヘ接続されてその出力
を増幅し、第コの閉回路３０正常かどうかを判定する判
定回路である。
含む第２の閉回路３０に流れる電流を非接触で検出する
。、７ｇは電流ピックアップ３クヘ接続されてその出力
を増幅し、第コの閉回路３０正常かどうかを判定する判
定回路である。
通常時の動作をまず説明する。
接点ｌ／がＯＮになってホトカプラ２０Ｄ中の発光タイ
オード２３が発光すると、これによりホトトランジスタ
２ダが導通し、従ってパワートランジスタ３６も導通状
態になり、アクチュエータ３１が動作させられる。
オード２３が発光すると、これによりホトトランジスタ
２ダが導通し、従ってパワートランジスタ３６も導通状
態になり、アクチュエータ３１が動作させられる。
次に試験時の動作を説明する。通常動作では接点／／が
０Ｆｌｉ’であるので、アクチュエータ３１は動作して
いない。しかしながら、パルス発生回路／４１から、ア
クチュエータ３１の動作時間よりも短い時間だけパルス
信号を発生させると、第一の閉回路３θにパルス電流が
流れる。このパルス電流を電流ピックアップ３りで検出
し、電流値やその波形からアクチュエータ３１の健全性
を判定回路λ７で判断する。
０Ｆｌｉ’であるので、アクチュエータ３１は動作して
いない。しかしながら、パルス発生回路／４１から、ア
クチュエータ３１の動作時間よりも短い時間だけパルス
信号を発生させると、第一の閉回路３θにパルス電流が
流れる。このパルス電流を電流ピックアップ３りで検出
し、電流値やその波形からアクチュエータ３１の健全性
を判定回路λ７で判断する。
従来のアクチュエータ試験装置は以上のように構成され
ているので、電磁リレ一方式の場合はブロック接点及び
表示灯を回路に追加する必要があり、試験装置自体が大
掛かりとなって試験を自動化することが難しかった。ま
た、半導体リレ一方式の場合はブロック接点のような可
動接点がないので試験の自動化も容易であるが、試験器
具としてのパルス発生回路等の故障によってアクチュエ
ータが動作し、プラン）Ｋ重大な影響を与える危険性が
あるなどの欠点があった。
ているので、電磁リレ一方式の場合はブロック接点及び
表示灯を回路に追加する必要があり、試験装置自体が大
掛かりとなって試験を自動化することが難しかった。ま
た、半導体リレ一方式の場合はブロック接点のような可
動接点がないので試験の自動化も容易であるが、試験器
具としてのパルス発生回路等の故障によってアクチュエ
ータが動作し、プラン）Ｋ重大な影響を与える危険性が
あるなどの欠点があった。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、試験中はアクチュエータが実動
作しない電圧まで、アクチュエータに供給される電源電
圧を下げたことにより、誤動作を起こす可能性がなく、
アクチュエータ自体またはこれを含ませた回路の健全性
も容易に確認できるアクチュエータの試験装置を提供す
ることを目的としている。
ためになされたもので、試験中はアクチュエータが実動
作しない電圧まで、アクチュエータに供給される電源電
圧を下げたことにより、誤動作を起こす可能性がなく、
アクチュエータ自体またはこれを含ませた回路の健全性
も容易に確認できるアクチュエータの試験装置を提供す
ることを目的としている。
以下、この発明の一実施例を第グ図について説明する。
第９図において、１０．／／、／２ｋ。
２θ、コ１，２コ、３３，３／ 、３２Ｄ、３？及び３
ｔは第１図又は第３図に示したものと同じであり、試験
時のアクチュエータ印加電圧制限手段、例えば、ゼナー
ダイオード等の電圧制限器ｌＩ／Ｄ及びこれに並列接続
された常閉スイッチｌＩＪを第２の閉回路３θに挿入し
た点が違う。
ｔは第１図又は第３図に示したものと同じであり、試験
時のアクチュエータ印加電圧制限手段、例えば、ゼナー
ダイオード等の電圧制限器ｌＩ／Ｄ及びこれに並列接続
された常閉スイッチｌＩＪを第２の閉回路３θに挿入し
た点が違う。
（７）
まず通常時の動作を説明する。接点／／をＯＮにすると
、リレーコＯはそのリレーコイル、２／が励磁されてそ
のリレー接点ココがＯＮとなり、アクチュエータ３１は
動作される。この場合、電圧制限器４１／］）は常用ス
イッチグコで側路されているので、回路動作に何等影響
しない。
、リレーコＯはそのリレーコイル、２／が励磁されてそ
のリレー接点ココがＯＮとなり、アクチュエータ３１は
動作される。この場合、電圧制限器４１／］）は常用ス
イッチグコで側路されているので、回路動作に何等影響
しない。
次に試験時の動作を説明する。試験実施前に常閉スイッ
チ４！コを開き、リレーの接点ココがＯＮになってもア
クチュエータ３／ＪｆＣ印加される電圧Ｖｏ−Ｖｚ
がアクチュエータ３１の最小動作電圧Ｖｘより小さくな
るようにしておく（ここでＶｏはアクチュエータ用電源
３２Ｄの電源電圧であり、そしてＶｚは電圧制限器４’
／Ｄのゼナーダイオードのゼナー電圧である。）。次に
接点／／をＯＮにすると、すＶ−コイル２／が励磁され
てリレー接点２２がＯＮとなるが、アクチュエータ３／
は動作されない。その理由は、上述したように常閉スイ
ッチグコを開くことによって電圧制限器４７／ｌ）が第
２の閉回路３０中に挿入され従ってアクチュエータ３／
にはその最小電圧Ｖｘよりも小さい電（ざ ） 圧（Ｖ□ＶｚｌＬか印加されないからである。この時の
電流を電流ピックアップ３りで検出し、アクチュエータ
３１または第一の閉回路３θの健全性を判定回路３Ｓで
確認する。
チ４！コを開き、リレーの接点ココがＯＮになってもア
クチュエータ３／ＪｆＣ印加される電圧Ｖｏ−Ｖｚ
がアクチュエータ３１の最小動作電圧Ｖｘより小さくな
るようにしておく（ここでＶｏはアクチュエータ用電源
３２Ｄの電源電圧であり、そしてＶｚは電圧制限器４’
／Ｄのゼナーダイオードのゼナー電圧である。）。次に
接点／／をＯＮにすると、すＶ−コイル２／が励磁され
てリレー接点２２がＯＮとなるが、アクチュエータ３／
は動作されない。その理由は、上述したように常閉スイ
ッチグコを開くことによって電圧制限器４７／ｌ）が第
２の閉回路３０中に挿入され従ってアクチュエータ３／
にはその最小電圧Ｖｘよりも小さい電（ざ ） 圧（Ｖ□ＶｚｌＬか印加されないからである。この時の
電流を電流ピックアップ３りで検出し、アクチュエータ
３１または第一の閉回路３θの健全性を判定回路３Ｓで
確認する。
第５図は、第３図の従来例にこの発明を適用した他の実
施例であり、構成部品は全て第３図または第ダ図に示し
たものと同じである。第３図について上述したように接
点／ｌがＯＮになってホトカプラ２０Ｄ中の発光ダイオ
ード２３が発光すると、ホトトランジスタ２１Ｉが導通
し、パワートランジスタ３６も導通状態になり、アクチ
ュエータ３１が動作する。
施例であり、構成部品は全て第３図または第ダ図に示し
たものと同じである。第３図について上述したように接
点／ｌがＯＮになってホトカプラ２０Ｄ中の発光ダイオ
ード２３が発光すると、ホトトランジスタ２１Ｉが導通
し、パワートランジスタ３６も導通状態になり、アクチ
ュエータ３１が動作する。
試験時には、まず常閉スイッチｑ、２を開き、ホトトラ
ンジスタ２’ｌ及びパワートランジスタ３６が導通状態
になっても、アクチュエータ３１には最小動作電圧より
小さい電圧しか印加されないようにする。また、試験時
には接点／／がＯＦＦのままである。パルス発生回路ｌ
ｌＩからパルス信号を発生させると、第一の閉回路３θ
にパルス電流が流れる。このパルス電流を電流ピックア
ップ３りで検出し、電流値やその波形から、アクチュエ
ータ３１の健全性を判定回路３ｇで判断する。この場合
のパルス幅としては、アクチュエータ３ＮＫ印加する電
圧を既に（ＶｏＶｚ）に下げているので、十分大きなパ
ルス幅で回路の健全性を確認できる。
ンジスタ２’ｌ及びパワートランジスタ３６が導通状態
になっても、アクチュエータ３１には最小動作電圧より
小さい電圧しか印加されないようにする。また、試験時
には接点／／がＯＦＦのままである。パルス発生回路ｌ
ｌＩからパルス信号を発生させると、第一の閉回路３θ
にパルス電流が流れる。このパルス電流を電流ピックア
ップ３りで検出し、電流値やその波形から、アクチュエ
ータ３１の健全性を判定回路３ｇで判断する。この場合
のパルス幅としては、アクチュエータ３ＮＫ印加する電
圧を既に（ＶｏＶｚ）に下げているので、十分大きなパ
ルス幅で回路の健全性を確認できる。
また、電圧制限器４’／ｌ）を、直列接続された複数個
のゼナーダイオードで構成すれば、パルス発生回路また
は電圧制限器内の単一故障によってアクチュエータ３１
が誤動作し、プラントに悪影響を与える可能性がなくな
る。
のゼナーダイオードで構成すれば、パルス発生回路また
は電圧制限器内の単一故障によってアクチュエータ３１
が誤動作し、プラントに悪影響を与える可能性がなくな
る。
第６図はアクチュエータが交流電源で駆動される場合の
この発明の更に他の実施例を示し、第Ｓ図のホトカプラ
２０Ｄの代りに交流駆動用オトカプラコθＡ（発光ダイ
オード２３及びホトサイリスタ２！から成る）が使用さ
れ、第５図のパワートランジスタ３６が使用されず、ア
クチュエータ用電源として交流電源３２ｋが使用され、
かつ電源制限器として交流用電圧制限器ｌＩ／Ａが使用
されたものである。通常、常閉スイッチダコが閉じてい
て接点１／がＯＦＦであるので、／／をＯＮ Ｋするこ
とによってアクチュエータ３１は動作される。
この発明の更に他の実施例を示し、第Ｓ図のホトカプラ
２０Ｄの代りに交流駆動用オトカプラコθＡ（発光ダイ
オード２３及びホトサイリスタ２！から成る）が使用さ
れ、第５図のパワートランジスタ３６が使用されず、ア
クチュエータ用電源として交流電源３２ｋが使用され、
かつ電源制限器として交流用電圧制限器ｌＩ／Ａが使用
されたものである。通常、常閉スイッチダコが閉じてい
て接点１／がＯＦＦであるので、／／をＯＮ Ｋするこ
とによってアクチュエータ３１は動作される。
試験時には接点／／をＯＦＦにしたまま常閉スイッチグ
ーを開き、パルス発生回路／４（から、パルス信号を発
生させると、アクチュエータ３／、アクチュエータ用電
源３コＡ、交流用電圧制限器４（／Ａ及び交流駆動用ホ
トカプラコｏＡ内のホトサイリスタ２３を含む第一の閉
囲ｊｌｊｉ、 ３０にパルス電流が流ね、このパルス電
流を電流ピックアップ３りで検出し、回路の健全性を判
定回路２９で確認する。
ーを開き、パルス発生回路／４（から、パルス信号を発
生させると、アクチュエータ３／、アクチュエータ用電
源３コＡ、交流用電圧制限器４（／Ａ及び交流駆動用ホ
トカプラコｏＡ内のホトサイリスタ２３を含む第一の閉
囲ｊｌｊｉ、 ３０にパルス電流が流ね、このパルス電
流を電流ピックアップ３りで検出し、回路の健全性を判
定回路２９で確認する。
なお、電圧制限器の代りに電流制限器、例えば、抵抗を
使用して、試験時にアクチュエータに流ねる電流をアク
チュエータの最小動作電流以下に制限しても同様の効果
が得られることは明らかである。
使用して、試験時にアクチュエータに流ねる電流をアク
チュエータの最小動作電流以下に制限しても同様の効果
が得られることは明らかである。
以上のように、この発明によれば、アクチュエータまた
はアクチュエータを含む回路の試験時に、電圧制限器を
回路へ挿入して、電源電圧を等制約にアクチュエータの
最小動作電圧より小さな値Ｋ（ｌ／） したことで、試験装置が簡単になり、また試験装置の故
障による誤動作の可能性を実用上なくすることができる
。
はアクチュエータを含む回路の試験時に、電圧制限器を
回路へ挿入して、電源電圧を等制約にアクチュエータの
最小動作電圧より小さな値Ｋ（ｌ／） したことで、試験装置が簡単になり、また試験装置の故
障による誤動作の可能性を実用上なくすることができる
。
第を図ないし第３図は従来のアクチュエータ試験装置を
一部ブロック図で示す配線図、第４図はこの発明の一実
施例を一部ブロック図で示す配線図、第Ｓ図はこの発明
の他の実施例を一部ブロック図で示す配線図、第６図は
この発明の更に他の実施例を一部ブロック図で示す配線
図である。 ／θ・働第１の閉回路、／Ｉ−−接点、１２にと／２Ｄ
・・リレー用電源、ｌり・・パルス発生回路、：ｌＯ・
・電磁リレー、コθＤ・・半導体リレーとしてのホトカ
プラ、コθＡ・・半導体リレートしての交流駆動用ホト
カプラ、Ｕ／・・リレーコイル、２２・・リレー接点、
コ３・・発光ダイオード１．２ダ・・ホトトランジスタ
１，２５・・ホトサイリスタ、３θ・・第一の閉回路、
３１・・アクチュエータ、３λＤと３：ＩＡ・・アクチ
ュエータ用電源、３６・・パワートランジスタ、（ｌコ
） ３７・・電流ピックアップ、３ｇ・・判定回路、４’／
ｌ）・・電圧制限器、ダ／Ａ・・交流用電圧制限器、’
１２・・常閉スイッチ、 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 特許庁長官殿 アクテニエータ試り１ｍ装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ４、代理人 よ 補正の対象 （１） 明細書の特許請求の範囲の欄（２） 明細書
の発明の詳細な説明の欄ム 補正の内容 ＋１１ 特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 （２）明細書第ダ頁第１行の１不可決ガ」を「不可欠な
」と補正する。 （３） 同第７頁第３行の「導通し」を「導通し」と
補正する。 （４） 同第９頁第１θ行のｒ■ｏ ”ｚＪをｒ（
ｖｏ−Ｖ２）」と補正する。 特許請求の範囲 ０） 外部からＯＮ −ＯＦＦされる接点、リレーの入
力部及びリレー用電源から成る第１の閉回路と、前記接
点の両端間に接続されるパルス発生回路と、前記リレー
の出力部、アクチュエータ及びアクチュエータ用電源か
ら成る第一の閉回路と、この第一の閉回路に流れる電流
を検出してその健全性を判定する手段とを備え前記リレ
ーの入力部と出力部が電磁結合または光結合されたアク
チュエータ試験装置において、試験時に前記アクチュエ
ータに印加される電圧を制限する手段およびこの電圧制
限手段と並列接続された常閉スイッチを前記第一の閉回
路に挿入したことを特徴とするアクチュエータ試験装置
。 （２） 第一の閉回路がパワートランジスタを含む特
許請求の範囲第１項記載のアクチュエータ試験装置。 （３）電圧制限手段が電圧制限器である特許請求の範囲
第１項または第一項記載のアクチュエータ試験装置。 （４）電圧制限器がゼナーダイオードである特許請求の
範囲第３項記載のアクチュエータ試験装置。 （５） 電圧制限器が直列接続した複数個のゼナーダ
イオードから成る特許請求の範囲第３項記載のアクチュ
エータ試験装置。 （６）電圧制限手段が電流制限器である特許請求の範囲
第１項または第３項記載のアクチュエータ試験装置。 （７） 電流制限器が抵抗である特許請求の範囲第３
項記載のアクチュエータ試験装置。
一部ブロック図で示す配線図、第４図はこの発明の一実
施例を一部ブロック図で示す配線図、第Ｓ図はこの発明
の他の実施例を一部ブロック図で示す配線図、第６図は
この発明の更に他の実施例を一部ブロック図で示す配線
図である。 ／θ・働第１の閉回路、／Ｉ−−接点、１２にと／２Ｄ
・・リレー用電源、ｌり・・パルス発生回路、：ｌＯ・
・電磁リレー、コθＤ・・半導体リレーとしてのホトカ
プラ、コθＡ・・半導体リレートしての交流駆動用ホト
カプラ、Ｕ／・・リレーコイル、２２・・リレー接点、
コ３・・発光ダイオード１．２ダ・・ホトトランジスタ
１，２５・・ホトサイリスタ、３θ・・第一の閉回路、
３１・・アクチュエータ、３λＤと３：ＩＡ・・アクチ
ュエータ用電源、３６・・パワートランジスタ、（ｌコ
） ３７・・電流ピックアップ、３ｇ・・判定回路、４’／
ｌ）・・電圧制限器、ダ／Ａ・・交流用電圧制限器、’
１２・・常閉スイッチ、 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 特許庁長官殿 アクテニエータ試り１ｍ装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ４、代理人 よ 補正の対象 （１） 明細書の特許請求の範囲の欄（２） 明細書
の発明の詳細な説明の欄ム 補正の内容 ＋１１ 特許請求の範囲を別紙の通り補正する。 （２）明細書第ダ頁第１行の１不可決ガ」を「不可欠な
」と補正する。 （３） 同第７頁第３行の「導通し」を「導通し」と
補正する。 （４） 同第９頁第１θ行のｒ■ｏ ”ｚＪをｒ（
ｖｏ−Ｖ２）」と補正する。 特許請求の範囲 ０） 外部からＯＮ −ＯＦＦされる接点、リレーの入
力部及びリレー用電源から成る第１の閉回路と、前記接
点の両端間に接続されるパルス発生回路と、前記リレー
の出力部、アクチュエータ及びアクチュエータ用電源か
ら成る第一の閉回路と、この第一の閉回路に流れる電流
を検出してその健全性を判定する手段とを備え前記リレ
ーの入力部と出力部が電磁結合または光結合されたアク
チュエータ試験装置において、試験時に前記アクチュエ
ータに印加される電圧を制限する手段およびこの電圧制
限手段と並列接続された常閉スイッチを前記第一の閉回
路に挿入したことを特徴とするアクチュエータ試験装置
。 （２） 第一の閉回路がパワートランジスタを含む特
許請求の範囲第１項記載のアクチュエータ試験装置。 （３）電圧制限手段が電圧制限器である特許請求の範囲
第１項または第一項記載のアクチュエータ試験装置。 （４）電圧制限器がゼナーダイオードである特許請求の
範囲第３項記載のアクチュエータ試験装置。 （５） 電圧制限器が直列接続した複数個のゼナーダ
イオードから成る特許請求の範囲第３項記載のアクチュ
エータ試験装置。 （６）電圧制限手段が電流制限器である特許請求の範囲
第１項または第３項記載のアクチュエータ試験装置。 （７） 電流制限器が抵抗である特許請求の範囲第３
項記載のアクチュエータ試験装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 外部から０Ｎ−ＯＦＦされる接点、リレーの
入力部及びリレー用電源から成る第１の閉回路と、前記
接点の両端間に接続されるパルス発生回路と、前記リレ
ーの出力部、アクチュエータ及びアクチュエータ用電源
から成る第２の閉回路と、この第コの閉回路に流れる電
流を非接触で検出してその健全性を判定する手段とを備
え前記リレーの入力部と出力部が電磁結合または光結合
さねたアクチュエータ試験装置において、試験時に前記
アクチュエータに印加される電圧を制限する手段および
この電圧制限手段と並列接続された常閉スイッチを前記
第２の閉回路に挿入したことを特徴とするアクチュエー
タ試験装置。 （，２）第コの閉回路がパワートランジスタを含む特許
請求の範囲第１項記載のアクチュエータ試験装置。 （３）電圧制限手段が電圧制限器である特許請求の範囲
第１項または第一項記載のアクチュエータ試験装置。 （→ 電圧制限器がゼナーダイオードである特許請求の
範囲第３項記載のアクチュエータ試験装置。 （り電圧制限器が直列接続した複数個のゼナーダイオー
ドから成る特許請求の範囲第３項記載のアクチュエータ
試験装置。 （６）電圧制限手段が電流制限器である特許請求の範囲
第１項または第２項記載のアクチュエータ試験装置。 （り） 電流制限器が抵抗である特許請求の範囲第３
項記載のアクチュエータ試験装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57204145A JPS5994107A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | アクチユエ−タ試験装置 |
| US06/534,300 US4628268A (en) | 1982-11-18 | 1983-09-21 | Test device for testing an actuator circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57204145A JPS5994107A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | アクチユエ−タ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5994107A true JPS5994107A (ja) | 1984-05-30 |
| JPH0444282B2 JPH0444282B2 (ja) | 1992-07-21 |
Family
ID=16485577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57204145A Granted JPS5994107A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | アクチユエ−タ試験装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4628268A (ja) |
| JP (1) | JPS5994107A (ja) |
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- 1983-09-21 US US06/534,300 patent/US4628268A/en not_active Expired - Lifetime
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