JPS5981554A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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Publication number
JPS5981554A
JPS5981554A JP57191296A JP19129682A JPS5981554A JP S5981554 A JPS5981554 A JP S5981554A JP 57191296 A JP57191296 A JP 57191296A JP 19129682 A JP19129682 A JP 19129682A JP S5981554 A JPS5981554 A JP S5981554A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
axis sliding
axis
flaw detection
fitted
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57191296A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Nagai
敏 長井
Kuniharu Uchida
内田 邦治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57191296A priority Critical patent/JPS5981554A/ja
Publication of JPS5981554A publication Critical patent/JPS5981554A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は1機械部品等の被検査体の傷を検査する超音波
探傷装置に係シ、特に被検査体の傷を検査するための平
面走査を効率的に6易に行うことができる超音波探傷装
置に関する。
〔発明の技術的背景〕
前述した被検査体の傷を検査するため平面走査を行うに
際し、従来は、超音波探触子を直交する二方向に平面移
動させる2釉機械走育、幾構により平面走査を行ってい
た。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、前記λ軸機械走査機構により平面走査を
行うようにすると、λ軸とも機械走査であるため走査速
度を高速にすることができないので、平面走査が効率的
に行うことができない欠点があった、また、平面走査駆
動機構およびその自動制御装置が複雑になり、手動操作
も困難になるなどの欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、前述した従来のものにおける欠点な除去し、
被検査体の平面走査速度が向上し、平面走査i+−効率
的に行われるので検査時間が短縮され、また、平面走査
駆動機構およびその自動制御装置力’ 1’M略化され
た超音波探傷装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
前述した目的は、本発明によれば、被検査体の平面走査
によって超音波探傷を行なう超音波探傷装置にお論で、
走査方向の一方向を高速走査するため複数個の振動子を
直線上に配列した超音波探触子を備え、かつ、平面走査
するため被検査体を回転させる回転駆動機構を備えて、
走査方向の一方向を電子走査による高速走査を行い、か
つ、被検査体を回転させて平面走査を行なうことにより
達成される。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例により説明するO 第1図、第2図および第3図において、油槽/の底部に
固定されてオイルンールされた軸受λには歯車機構3を
介してモーター≠により駆動される回転軸jが挿通され
ている。この回転軸jの油槽内部側には被検査体2を前
記回転軸!に対し直角に保持させる被検査体回転テーブ
ル7が取付けられている。そして、前記被検査体回転テ
ーブル7を容易に着脱するための着脱冶具、17I−備
えられている。
なお、前記着脱冶具rには、前記回転軸夕と前記被検査
体回転テーブル7の中心が容易に一致するように前記被
検査体回転テーブル7の下部に設けられたチルパー状の
段部りと嵌合するテーバ−状の穴10が設けられている
。そして、前記着脱冶具rの押し下げ、引き上げを行う
摺動軸が設けられ、さらに、この摺動軸/ノが回転しな
旨ように摺動軸l/にはキー溝/ユを設け、油槽/の上
部に固定された、摺動軸受/3にはキー/lが設けられ
互に嵌合されている。
また、前記歯車機構3には歯車の回転角を検出する回転
角検出器/Sが接続されてし為る。この回転角検出器は
ロータリエンコーダ、または、ポテンノシメータが用因
られるゾ)−ロータリエンコーダの方ノ)−デジタル処
理が容易である。
そして、前記油槽/の側板上部に一対のX軸摺動軸/A
、/Aが固定されており、それぞれX軸摺動軸受/7.
 /7が摺動可能に嵌装されて込る。このX軸摺動’!
I+受/7. /7にかけわたすように一対のY軸摺動
’tilll/g、 /ざが固定され、X軸摺動軸受/
9が摺動可能に嵌装されている。
また、前記X軸摺動軸/g、/gと平行KY軸摺動軸受
移動送りねじ20が設けられていて一端に設けた・・ン
ドル2/を回転することによシY軸摺動軸受/qをY軸
方向に移動させるようになっている。
さらに、X軸摺動軸受/9’KZ軸摺動軸受、2..2
h−固定され、Z軸摺動軸、23が摺動可能に嵌装され
ている。そしてこのZ軸摺動軸:13が回転をしないよ
うにするため、Z軸摺動軸、23にはキー溝Jが設けら
れ前記Z軸摺動軸受、2.2にはキーJが設けられ互に
嵌合されている。また、前記2軸摺動軸Jの下部に超音
波探触子保持具、!6カー設けられている。この超音波
探触子保持具:1.6には複数個の振動子を直線上に配
列した超音波探触子27が保持さ九ている。
前記超音波探触子保持具2乙は前記複数の振動子の配列
方向と直角方向に回動可能なように設けられている。
したがって、被検査体の傷を検査する場合被検査体tを
前記被検査体回転テーブル7に保持させ、前記超音波探
触子、27を前記被検査体2の上方の適宜位置および角
度に移動させて設定するため、X軸方向には前記X軸摺
動軸15/Aに嵌装された前記X軸摺動軸受/7. /
7を直接移動させ、Y軸方向には前記X軸摺動軸/g、
 /A’に嵌装された前記X軸摺動軸受/りを前記送り
ねじ20を回転することにより移動させる。また、Z軸
方向には、前記X軸摺動軸受19に固定されている2軸
摺動軸受二コに嵌装された前記2軸摺動軸Jを直接移動
させる。
そして、前記被検査体乙の被検査面に対する角度の設定
には、前記2軸摺動軸Jの下部に設けtこ前記超音波探
触子保持具2乙を回動させる。
このようにして前記被検査体乙の上方に複数個の振動子
を直線上に配列した前記超音波探触子、27を設定し、
前δ己複数個の振動子により一方向の高速電子走査を行
うとともに、前記回転テーブル7を回転さ止ることによ
シ平面走査を行わせる。このとき、AiJ記波検査体t
の傷の場所は超音波を発振した前記振動子の位置と前記
回転角検出器/3で検出した回転角とにより示される。
そのため、披検査体乙の超音波探傷の平面走査速度が向
上し、検査時間が短縮され、平面走査駆動機構とfli
制御装置が簡略化される効果がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係る超音波探傷装置は、
被検査体の平面走査によって超音波探傷を行なう超音波
探傷装置にお−で、走査方向の一方向を高速走査するた
め複数個の振動子を直線上に配列した超音波探触子を備
え、かつ、平面走査するため被検査体を回転させる回転
駆動機構を備えたので、被検査体の平面走査速度が向上
し、平面走査が効率的に行われるので検査時間が短縮さ
れ、また、平面走査駆動機構およびその自動制御装置が
簡略化される等の優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の超音波探傷装置の一実施例を示すもので
あり、第1図は7部分を切断除去した縦断面図、第2図
は平面図、第3図は縦断面部分図である。 ハ・・油槽、!・・・軸受、3・・・歯車機構、≠・・
・モーター、!・・・回転軸、2・・・被検査体、7・
・・被検査体回転テーブル、♂・・・着脱冶具、り・・
・テーパー状の段部、10・・・テーパー状の穴、//
・・・摺動軸、/、2・・・キー溝、/3・・・摺動軸
受、71・・・キー、/S・・・回転角検出器、/A・
・・X軸摺動軸、/7・・・X軸摺動軸受、7g・・・
Y軸摺動軸、/り・・・X軸摺動軸受1.20・・・送
りねじ1.2/・・・ハンドル、n・・・軸受、ユ3・
・・2軸摺動軸、 、7.’l’・・・キー溝1.25
・・・キー、2.A・・・超音波探触子保持具1.27
・・・超音波探触子。 出願人代理人   猪 股    清 第1図 第2図 、f 第3図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査体の平面走査によって超音波探傷な行なう
    超音波探傷装置において、走査方向の一方向を高速走査
    するため複数個の振動子を直線上に配列した超音波探触
    子を備え、かつ、平面走査するため被検査体を回転させ
    る回転駆動機構を備えたことを特徴とする超音波探傷装
    置。
  2. (2)前記超音波探触子は、との探触子の位置を任意に
    設定する手段な設けてなることを特徴とする特許請求の
    範囲第7項記載の超音波探傷装置。
  3. (3)前記回転駆動機構は、前記被検査体の回転角を検
    出して信号を出力する手段を設けてなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の超音波探傷装置。
JP57191296A 1982-10-30 1982-10-30 超音波探傷装置 Pending JPS5981554A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57191296A JPS5981554A (ja) 1982-10-30 1982-10-30 超音波探傷装置

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JP57191296A JPS5981554A (ja) 1982-10-30 1982-10-30 超音波探傷装置

Publications (1)

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JPS5981554A true JPS5981554A (ja) 1984-05-11

Family

ID=16272199

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JP57191296A Pending JPS5981554A (ja) 1982-10-30 1982-10-30 超音波探傷装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61161448A (ja) * 1984-12-27 1986-07-22 ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション 物体上の所定領域の超音波検査装置
JPH01132958A (ja) * 1987-11-18 1989-05-25 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波探傷装置
CN104950041A (zh) * 2015-06-15 2015-09-30 北京工业大学 超声层析成像传感器装置

Cited By (3)

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