JPS597223A - ストロボスコ−プの光量監視装置 - Google Patents
ストロボスコ−プの光量監視装置Info
- Publication number
- JPS597223A JPS597223A JP57117474A JP11747482A JPS597223A JP S597223 A JPS597223 A JP S597223A JP 57117474 A JP57117474 A JP 57117474A JP 11747482 A JP11747482 A JP 11747482A JP S597223 A JPS597223 A JP S597223A
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- particle size
- size distribution
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims 1
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- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 2
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- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高炉原料の粒度分布測定などにおいて、スト
ロボスコープの光量を監視する方法に関する。
ロボスコープの光量を監視する方法に関する。
本出願人は、先に特開昭54 92389号公報および
実開昭56−99458号公報において、高炉原料をそ
の落下路を挾んで、ストロボ、スコープとTV右カメラ
対向的に配設し、ストロボによる照射光により高炉原料
の像を静止した画像として撮像し、その画1象に基いて
適当な処理を経て粒度分布を測定する方法を開示しだ。
実開昭56−99458号公報において、高炉原料をそ
の落下路を挾んで、ストロボ、スコープとTV右カメラ
対向的に配設し、ストロボによる照射光により高炉原料
の像を静止した画像として撮像し、その画1象に基いて
適当な処理を経て粒度分布を測定する方法を開示しだ。
、
しかるに、この種の測定に当って、ストロボの光量不足
または不安定性は、測定精度に大きく左右するため、ス
トロボの発光ムシあるいは光量不足を監視する必要があ
る。従来、この監視は、粒度分布測定を中断し、TV右
カメラ前に照度側を設置し、バッチ的にストロボの光量
を検出していた。しかし、これでは粒度分布測定を中断
せねばならないとともに、測定に多大な手間を要する。
または不安定性は、測定精度に大きく左右するため、ス
トロボの発光ムシあるいは光量不足を監視する必要があ
る。従来、この監視は、粒度分布測定を中断し、TV右
カメラ前に照度側を設置し、バッチ的にストロボの光量
を検出していた。しかし、これでは粒度分布測定を中断
せねばならないとともに、測定に多大な手間を要する。
他方、照度計を用いてオンラインで検出するために、T
V右カメラ画面に照度側が入らないように、照度計を光
軸より外して設置して行うことも考えられるが、この場
合には現実に取込む画像における光量を検出しているこ
とにはならず、信頼性が低いし、精度的にも悪い。また
いずれにしても照度計を使用する限り、照度計が故障し
た場合、測定結果そのものが1′諷幀できないものとな
り問題である。
V右カメラ画面に照度側が入らないように、照度計を光
軸より外して設置して行うことも考えられるが、この場
合には現実に取込む画像における光量を検出しているこ
とにはならず、信頼性が低いし、精度的にも悪い。また
いずれにしても照度計を使用する限り、照度計が故障し
た場合、測定結果そのものが1′諷幀できないものとな
り問題である。
本発明は、前記の問題点を解決するとともに、オンライ
ンでリアルタイムにおいて処理する画像と同一画面の光
量を監視できる方法を提供するものである。
ンでリアルタイムにおいて処理する画像と同一画面の光
量を監視できる方法を提供するものである。
すなわち、本発明は、ストロボの照射光経路にTVカメ
ラを設置し、両者間位置の物体をストロボによる照射光
により静止した画像として処理するにあたり、TVカメ
ラへの画像について設定光量レベルより明かるい個所が
1点もないまたは少い場合にストロボの光量不足と判断
することをオンラインで行うことを特徴とするものであ
る。
ラを設置し、両者間位置の物体をストロボによる照射光
により静止した画像として処理するにあたり、TVカメ
ラへの画像について設定光量レベルより明かるい個所が
1点もないまたは少い場合にストロボの光量不足と判断
することをオンラインで行うことを特徴とするものであ
る。
以下本発明を図面に示す高炉原料の粒度分布を例とした
具体例によって説明すると、第1図において、貯溜ホッ
パー1から切り出された高炉原料2は、コンベア3によ
って搬送され、その終端から別のコンベア(図示せず)
上に落下するようになっている。この落下路において、
原料2の粒度分布測定のために、落下路を挾んで背後側
にストロボスコープ4、前面倶1にTVカメラ5が配設
されている。6はノくツクスクリーンである。
具体例によって説明すると、第1図において、貯溜ホッ
パー1から切り出された高炉原料2は、コンベア3によ
って搬送され、その終端から別のコンベア(図示せず)
上に落下するようになっている。この落下路において、
原料2の粒度分布測定のために、落下路を挾んで背後側
にストロボスコープ4、前面倶1にTVカメラ5が配設
されている。6はノくツクスクリーンである。
かかる測定装置を用いて粒度分布測定に際しては、次の
ような画像処理を行う構成とされている。まず′rVT
Vカメラ5って撮影した像について、シェーディング補
正回路7において、照度のムラを均一に補正し、次に二
値化回路8により二値化し、これをビデオコントローラ
9およびビデオメモリ回路(RAM回路)10を介して
、粒度分布判断部11に入力させそこで粒度分布の判断
を行うようにな゛つている。
ような画像処理を行う構成とされている。まず′rVT
Vカメラ5って撮影した像について、シェーディング補
正回路7において、照度のムラを均一に補正し、次に二
値化回路8により二値化し、これをビデオコントローラ
9およびビデオメモリ回路(RAM回路)10を介して
、粒度分布判断部11に入力させそこで粒度分布の判断
を行うようにな゛つている。
12はマイクロコンピュータ、13はコンピュータ12
の二値化回路8に対するスレッショルドレベル設定器、
14はCR1表示装置、15はストロボコントローラで
ある016は本発明のストロボの光量監視のために設け
る光量検出部である。
の二値化回路8に対するスレッショルドレベル設定器、
14はCR1表示装置、15はストロボコントローラで
ある016は本発明のストロボの光量監視のために設け
る光量検出部である。
次に画像処理の詳細を概念的に示した第2図および第3
図に基いて第1図の構成も参照しながら≠≠〒4説明す
ると、TVカメラ5の像について、モニター50の画面
をたとえば512にスライス区分し、順次者ラインごと
読み取る。
図に基いて第1図の構成も参照しながら≠≠〒4説明す
ると、TVカメラ5の像について、モニター50の画面
をたとえば512にスライス区分し、順次者ラインごと
読み取る。
そして1ラインごとの信号51A、51B・・・・を数
値化し、数値化データ52A、52B・・・・を得る。
値化し、数値化データ52A、52B・・・・を得る。
これに対して、スレッショルドレベルSLを設定器13
により設定し、二値化回路9により濃淡で二値化区別し
、それぞれ粒子部分に相当する暗部分信号Σl、Σ2
、lJ+ + 12を得る0続いて、得られた暗部分信
号に基いて、粒子番号の同定53を行う0このように同
定した粒子番号について、次に面積計算を行う。面積計
算ニハ、1VVkL1粒子ニツイテハ、(1+ +JR
+lt” ” ”、陥2についてはllz+6z’4−
Az’“・・・・のように行う。
により設定し、二値化回路9により濃淡で二値化区別し
、それぞれ粒子部分に相当する暗部分信号Σl、Σ2
、lJ+ + 12を得る0続いて、得られた暗部分信
号に基いて、粒子番号の同定53を行う0このように同
定した粒子番号について、次に面積計算を行う。面積計
算ニハ、1VVkL1粒子ニツイテハ、(1+ +JR
+lt” ” ”、陥2についてはllz+6z’4−
Az’“・・・・のように行う。
面積計算と共に、個数、粒径および重量等を計算し、あ
る粒度範囲内の重量比を求め、粒度分布を算出し、たと
えばヒストグラム等の形での表示等を行う0かかる同定
から粒度分布に至るまでの処理は、コンピュータ12お
よび粒度分布判断部11で行う0 一方、ストロボの光量判断には、TVカメラ5の像につ
いて、スライスした1ラインごとの数値化データ52A
、52B・・・・ニツイテ、前記スレッショルドレベル
より高い(濃度的に明かるい)レベルに、光量検出レベ
ルPLをマイクロコンピュータ12により設定しておく
。そしてこの光!検出レベルPLより明るい個所の有無
およびその個数を検出する0い″!、1ラインごと走査
を512ライン分行ったとき、濃度のヒストグラムが第
3図(ト)、0)であったとすると、そして光量検出レ
ベルPLを56と設定した場合、(A)図の場合には、
レベルPLより明るい個所が1点もないのであるから、
光量そのもの75玉不足していると判断し、(B)図の
場合にはレベルPLより明かるい個所が存在するから、
光量Qよ十分であると判断する。
る粒度範囲内の重量比を求め、粒度分布を算出し、たと
えばヒストグラム等の形での表示等を行う0かかる同定
から粒度分布に至るまでの処理は、コンピュータ12お
よび粒度分布判断部11で行う0 一方、ストロボの光量判断には、TVカメラ5の像につ
いて、スライスした1ラインごとの数値化データ52A
、52B・・・・ニツイテ、前記スレッショルドレベル
より高い(濃度的に明かるい)レベルに、光量検出レベ
ルPLをマイクロコンピュータ12により設定しておく
。そしてこの光!検出レベルPLより明るい個所の有無
およびその個数を検出する0い″!、1ラインごと走査
を512ライン分行ったとき、濃度のヒストグラムが第
3図(ト)、0)であったとすると、そして光量検出レ
ベルPLを56と設定した場合、(A)図の場合には、
レベルPLより明るい個所が1点もないのであるから、
光量そのもの75玉不足していると判断し、(B)図の
場合にはレベルPLより明かるい個所が存在するから、
光量Qよ十分であると判断する。
これを第4図のチャート図によって説明すると、まずT
Vカメラ5により粒子撮影を行い、1ライン分のデータ
を抽出し、各ラインの濃度(光量)のチェックを行い、
設定光量レベルPLとの比較を行い、すなわち設定光量
レベルより大きい粒子の数を開数し、レー々ルPLより
明かるい点があれば、次の走査に移り、この走査を全ラ
インたとえば512ラインについて繰り返す。走査が完
rしたならば、レベルPL≠手より明るい個所が1点で
もあったか否かを判断し、なければストロボ異常として
処理する。あれば、次の画像処理に移る。
Vカメラ5により粒子撮影を行い、1ライン分のデータ
を抽出し、各ラインの濃度(光量)のチェックを行い、
設定光量レベルPLとの比較を行い、すなわち設定光量
レベルより大きい粒子の数を開数し、レー々ルPLより
明かるい点があれば、次の走査に移り、この走査を全ラ
インたとえば512ラインについて繰り返す。走査が完
rしたならば、レベルPL≠手より明るい個所が1点で
もあったか否かを判断し、なければストロボ異常として
処理する。あれば、次の画像処理に移る。
」二記例は、設定光量レベルPLより明るいものが1点
もなかった場合にストロボ異常と判定するようにしたが
、明るい点があるもののそれが所定個数より少ない場合
に、ストロボ異常と判断するようにしてもよい。
もなかった場合にストロボ異常と判定するようにしたが
、明るい点があるもののそれが所定個数より少ない場合
に、ストロボ異常と判断するようにしてもよい。
なお、設定光量レベルPLをスレッショルドレベルより
高くしたのは、もし低ければ粒子像を把えることができ
ないからである。
高くしたのは、もし低ければ粒子像を把えることができ
ないからである。
一方、上記例は透過光型の例であるが、たとえば鋼板の
表面疵検出のために、対象測定個所に向けてストロボと
TVカメラを設置し、ストロボの照射光が反射する位置
にTVカメラを設け、反射型方式で移動物体の疵検用を
行うに当っても本発明を適用できることは勿論である。
表面疵検出のために、対象測定個所に向けてストロボと
TVカメラを設置し、ストロボの照射光が反射する位置
にTVカメラを設け、反射型方式で移動物体の疵検用を
行うに当っても本発明を適用できることは勿論である。
この場合は、設定光量レベルより明るい疵部分の数をt
f pすることになる。
f pすることになる。
以上の通り、本発明は、TVカメラへの画像について設
定光量レベルを設けて光量判定を行うものであるから、
オンラインかつリアルタイムでの光量監視を行うことが
でき、かつ処理すべき画像内で光量判定を行うことがで
きるから、メンテナンス工数が大巾に削減するとともに
、光量判定の信頼性、換言すれば測定結果の信頼性がき
わめて高くなる利点がある。
定光量レベルを設けて光量判定を行うものであるから、
オンラインかつリアルタイムでの光量監視を行うことが
でき、かつ処理すべき画像内で光量判定を行うことがで
きるから、メンテナンス工数が大巾に削減するとともに
、光量判定の信頼性、換言すれば測定結果の信頼性がき
わめて高くなる利点がある。
第1図は本発明法を実施するための装置の概要構成図、
第2図は画像処理法の概念的説明図、第3図(A)(1
3)は光量の検出例のヒストグラム、第4図は光量判定
手順のフローチャートである。 2・・高炉原料 4・・ストロボスコープ5・・
TVカメラ −8・・二値化回路11・・粒度分布
判断部 12・・マイクロコンピュータ13・・スレッ
ショルドレベル設定器 15・・ストロボコントローラ 16・・光量検出部S L・・スレッショルドレベルP
L・・設定光量レベル 特許出願人 住友金属工業株式会社i。 1 第4図 −123−
第2図は画像処理法の概念的説明図、第3図(A)(1
3)は光量の検出例のヒストグラム、第4図は光量判定
手順のフローチャートである。 2・・高炉原料 4・・ストロボスコープ5・・
TVカメラ −8・・二値化回路11・・粒度分布
判断部 12・・マイクロコンピュータ13・・スレッ
ショルドレベル設定器 15・・ストロボコントローラ 16・・光量検出部S L・・スレッショルドレベルP
L・・設定光量レベル 特許出願人 住友金属工業株式会社i。 1 第4図 −123−
Claims (1)
- (1)ストロボの照射光経路にTV右カメラ設置し、両
者間位置の物体をストロボによる照射光により静止した
画像として処理するにあたり、TV右カメラの画像につ
いて設定光量レベルより明かるい個所が1点もないまた
は少い場合にストロボの光量不足と判断することをオン
ラインで行うことを特徴とするストロボスコープの光量
監視装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57117474A JPS597223A (ja) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | ストロボスコ−プの光量監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57117474A JPS597223A (ja) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | ストロボスコ−プの光量監視装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS597223A true JPS597223A (ja) | 1984-01-14 |
Family
ID=14712579
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57117474A Pending JPS597223A (ja) | 1982-07-06 | 1982-07-06 | ストロボスコ−プの光量監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS597223A (ja) |
-
1982
- 1982-07-06 JP JP57117474A patent/JPS597223A/ja active Pending
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