JPS5961580A - スポツト溶接における溶接強度の監視方法およびその装置 - Google Patents
スポツト溶接における溶接強度の監視方法およびその装置Info
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- JPS5961580A JPS5961580A JP16843882A JP16843882A JPS5961580A JP S5961580 A JPS5961580 A JP S5961580A JP 16843882 A JP16843882 A JP 16843882A JP 16843882 A JP16843882 A JP 16843882A JP S5961580 A JPS5961580 A JP S5961580A
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- Japan
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- voltage
- welding
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
- B23K11/24—Electric supply or control circuits therefor
- B23K11/25—Monitoring devices
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Resistance Welding (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、検出機構を被溶接材から遠く前方た位ｔ＃
Ｋ取り付けてもスポット溶接の強度が非常に精度よく
検出でき、溶接現場で多い通電中の１１．源変動やスパ
ッタなどの影響も受けないようにすると共に、特に亜鉛
メッキ鋼板を溶接するときに生じ易かったスポット溶接
不良を自動的に監視できるようにした、スポットｍ接に
おける溶接強度の監視方法およびそのｉ ＩＭ’ Ｋ関
するものである。
Ｋ取り付けてもスポット溶接の強度が非常に精度よく
検出でき、溶接現場で多い通電中の１１．源変動やスパ
ッタなどの影響も受けないようにすると共に、特に亜鉛
メッキ鋼板を溶接するときに生じ易かったスポット溶接
不良を自動的に監視できるようにした、スポットｍ接に
おける溶接強度の監視方法およびそのｉ ＩＭ’ Ｋ関
するものである。
スポット溶接は鋼板を使用する製品の種々のものに多く
使用されるが、近年その溶接不良が増大する傾向にある
。すなわち、従来は一般に軟鋼板が被溶接材であったこ
とがら通電不良も生じにくく、また技術の進歩により年
々不良件数も減少してきていたが、軟鋼板に代って新材
料が使用されてくるに及んで、溶接不良の発生率が増大
する傾向が見られるようになったのである。
使用されるが、近年その溶接不良が増大する傾向にある
。すなわち、従来は一般に軟鋼板が被溶接材であったこ
とがら通電不良も生じにくく、また技術の進歩により年
々不良件数も減少してきていたが、軟鋼板に代って新材
料が使用されてくるに及んで、溶接不良の発生率が増大
する傾向が見られるようになったのである。
新材料としては、亜鉛鋼板や高張力鋼板がある。これら
の材料はスポット溶接をするに当り、従来の軟鋼板に比
較１−で非常にシビアに電流監視を行なわないと溶接不
良が出るのである。そこで溶接電流を監視することが心
安となるが、溶接不良の原因は通電電流の不足（＋＠接
不良の約５０％の原因）のほか、電極合い不良（同約１
５係）、その他（同２０％）があり、溶接電流監視によ
る溶接不良の検出は５０％に止まることＫなって、それ
以上は望めない問題があった。
の材料はスポット溶接をするに当り、従来の軟鋼板に比
較１−で非常にシビアに電流監視を行なわないと溶接不
良が出るのである。そこで溶接電流を監視することが心
安となるが、溶接不良の原因は通電電流の不足（＋＠接
不良の約５０％の原因）のほか、電極合い不良（同約１
５係）、その他（同２０％）があり、溶接電流監視によ
る溶接不良の検出は５０％に止まることＫなって、それ
以上は望めない問題があった。
そこで単に溶接電流を検出するのみのものではない亮度
の監視装置の出現が望寸れるようになった。この点につ
いては工夫がなされ、より正確に、より簡単に、そして
コスト的にも有利な溶接強度監視装置が開発されて、本
田に０人によってすでに特許出願されている（ｌＰｌ開
昭５６−１０９１７８号）。またこの特許出かＪｔＫ係
る技術をさらに進歩させた技術も完成して、やはり本出
願人から別に特許出願がなされている（％開昭５７−６
２８７６号および特開昭５７−９４４７９号）。
の監視装置の出現が望寸れるようになった。この点につ
いては工夫がなされ、より正確に、より簡単に、そして
コスト的にも有利な溶接強度監視装置が開発されて、本
田に０人によってすでに特許出願されている（ｌＰｌ開
昭５６−１０９１７８号）。またこの特許出かＪｔＫ係
る技術をさらに進歩させた技術も完成して、やはり本出
願人から別に特許出願がなされている（％開昭５７−６
２８７６号および特開昭５７−９４４７９号）。
これらの技術により、従来溶接不良が多く発生した新材
料の溶接にあっても、溶接不良の発生率を極端に低く（
あるいは皆無に）することに成功したが、被溶接材が亜
鉛メッキ鋼板である場合にのみ、い捷ひとつの改良の余
地があった。すなわち、亜鉛メッキ鋼板は、スポット溶
接を行なう際に、表面処理層が溶接電流で変態するとき
にその抵抗降下電、圧が発生するので、この電圧を被溶
接材自体が溶融し接合する時の抵抗降下で発生する電圧
と区別し々いと、監視精度が低下することになるからで
ある。
料の溶接にあっても、溶接不良の発生率を極端に低く（
あるいは皆無に）することに成功したが、被溶接材が亜
鉛メッキ鋼板である場合にのみ、い捷ひとつの改良の余
地があった。すなわち、亜鉛メッキ鋼板は、スポット溶
接を行なう際に、表面処理層が溶接電流で変態するとき
にその抵抗降下電、圧が発生するので、この電圧を被溶
接材自体が溶融し接合する時の抵抗降下で発生する電圧
と区別し々いと、監視精度が低下することになるからで
ある。
この発明はこの問題を解決するためになされたものであ
る。この発明のうちの第１の発明を図について説明する
と、まず第１図は、溶接ガン電極に接続されたリード線
によって取り出された検出電圧■の成分を示すものであ
る。この図に示すように、検出電圧Ｖの中には、真の電
極間電圧成分（有効成分） ＶＲと、誘導ノイズ成分（
リアクタンス成分を含む） ＶＮと、溶接ガンを極抵抗
成分Ｖｒとが含まれているものである。
る。この発明のうちの第１の発明を図について説明する
と、まず第１図は、溶接ガン電極に接続されたリード線
によって取り出された検出電圧■の成分を示すものであ
る。この図に示すように、検出電圧Ｖの中には、真の電
極間電圧成分（有効成分） ＶＲと、誘導ノイズ成分（
リアクタンス成分を含む） ＶＮと、溶接ガンを極抵抗
成分Ｖｒとが含まれているものである。
スポット溶接において溶接強度の真の値を知るには、ス
ポット溶接に有効成分として作用する真の電極間電圧成
分ＶＲのみを取り出さなければならない。しかしながら
第１図の検出電圧Ｖから単純に誘導ノイズ成分ＶＮと、
溶接ガン電極抵抗成分■ｒとを除去したのみでは、第２
図に示すように、精度よく除去できない成分ＶＡが残存
してしまう。また被溶接物が亜鉛メッキ鋼板であるとき
には、第２図に示すように、通電時間の初期において、
表面処理層によって電圧ＶＢが発生する。
ポット溶接に有効成分として作用する真の電極間電圧成
分ＶＲのみを取り出さなければならない。しかしながら
第１図の検出電圧Ｖから単純に誘導ノイズ成分ＶＮと、
溶接ガン電極抵抗成分■ｒとを除去したのみでは、第２
図に示すように、精度よく除去できない成分ＶＡが残存
してしまう。また被溶接物が亜鉛メッキ鋼板であるとき
には、第２図に示すように、通電時間の初期において、
表面処理層によって電圧ＶＢが発生する。
そこで菓１の発明では、上記した成分ＶＡとともに成分
ＶＢも除去して、真の溶接強度を知るようにしたもので
ある。これを第３図について説明すると、まず溶接ガン
電極の両極間に印加される電極間電圧Ｖ（第３図（ａ）
）から亜鉛メッキ層で発生する電圧ＶＢ（第３図（ｂ）
）を減する。この電圧ＶＢは時間に従って変化するもの
で、その値は、全く溶着しない場合の電圧Ｅ。（ナゲツ
トなし）の雷、圧変化から実験的に求めるものである。
ＶＢも除去して、真の溶接強度を知るようにしたもので
ある。これを第３図について説明すると、まず溶接ガン
電極の両極間に印加される電極間電圧Ｖ（第３図（ａ）
）から亜鉛メッキ層で発生する電圧ＶＢ（第３図（ｂ）
）を減する。この電圧ＶＢは時間に従って変化するもの
で、その値は、全く溶着しない場合の電圧Ｅ。（ナゲツ
トなし）の雷、圧変化から実験的に求めるものである。
この電圧変化Ｅは、Ｅ ＝ Ｅ０ε−αｔの関数に近似
することが実験的に確認されている。なお電圧Ｅ。と定
数εの値は、亜鉛メッキ層の厚さと材質により決せるこ
とが確認されている。第３図（Ｃ）は電極間電圧Ｖから
亜鉛メッキ層で発生する電圧ＶＢを減じた結果を示すも
のである。
することが実験的に確認されている。なお電圧Ｅ。と定
数εの値は、亜鉛メッキ層の厚さと材質により決せるこ
とが確認されている。第３図（Ｃ）は電極間電圧Ｖから
亜鉛メッキ層で発生する電圧ＶＢを減じた結果を示すも
のである。
第６図（ｄ）巾、第３図’（ｅ）に示した電圧と、第１
図に示す検出電圧■から、誘導ノイズ成分■とＭＨ＝Ｊ
Ｆガン電極抵抗成分Ｖｒとを除去した後の成分を積分し
た後の電圧波形である。この値から、最小電圧を通電時
間中積分した値（第３図（ｅ））を減算して、第３図（
ｆ）に示すような有効成分の積分値を得、これをあらか
じめ設定した基準電圧値と比較するのである。この比較
結果により、溶接強度を監視することになる。
図に示す検出電圧■から、誘導ノイズ成分■とＭＨ＝Ｊ
Ｆガン電極抵抗成分Ｖｒとを除去した後の成分を積分し
た後の電圧波形である。この値から、最小電圧を通電時
間中積分した値（第３図（ｅ））を減算して、第３図（
ｆ）に示すような有効成分の積分値を得、これをあらか
じめ設定した基準電圧値と比較するのである。この比較
結果により、溶接強度を監視することになる。
次に第２の発明の一実施例を第４同について説明する。
この第２の発明を実施するとき、第１の発明を用いるこ
とになる。第４図において１は溶接トランスであって、
この溶接トランス１には溶接ガン電極２，６が接続され
ている。
とになる。第４図において１は溶接トランスであって、
この溶接トランス１には溶接ガン電極２，６が接続され
ている。
ξ
溶接ガン電極２．乙の先端のチップ４．５間は被溶接物
（亜鉛メッキ鋼板）６．７が挾持され、溶接電流が流れ
ることになる。８は電圧検出回路であって、溶接ガン電
極２．３間に印加される電圧を検出するものである。こ
の電、圧検出回路８の出力側には、次に説明する誘導ノ
イズ成分除去回路９と溶接ガン電極抵抗成分除去回路１
０とが順次接続され、その後段に処理回路１１が接続さ
れている。
（亜鉛メッキ鋼板）６．７が挾持され、溶接電流が流れ
ることになる。８は電圧検出回路であって、溶接ガン電
極２．３間に印加される電圧を検出するものである。こ
の電、圧検出回路８の出力側には、次に説明する誘導ノ
イズ成分除去回路９と溶接ガン電極抵抗成分除去回路１
０とが順次接続され、その後段に処理回路１１が接続さ
れている。
誘導ノイズ成分除去回路９は、サンプルホールド回路１
２と零クロスタイミング回路１３とから成っている。そ
して前述の電圧検出回路８の出力信号はサンプルホール
ド回路１２が受け、その出力を溶接ガン電極抵抗成分除
去回路１０の加算回路１４の１つの入力端に与えるよう
になっている。誘導ノイズ成分除去回路９の一部を成す
零クロスタイミング回路１３と溶接カン電極抵抗成分除
去回路１０の一部の加算回路１４の１つの入力端の間に
は、溶接電流の通電開始と終了を検出する通電開始終了
信号発生回路１５と、関数発生回路１６とが直列に接続
さねでいる。
２と零クロスタイミング回路１３とから成っている。そ
して前述の電圧検出回路８の出力信号はサンプルホール
ド回路１２が受け、その出力を溶接ガン電極抵抗成分除
去回路１０の加算回路１４の１つの入力端に与えるよう
になっている。誘導ノイズ成分除去回路９の一部を成す
零クロスタイミング回路１３と溶接カン電極抵抗成分除
去回路１０の一部の加算回路１４の１つの入力端の間に
は、溶接電流の通電開始と終了を検出する通電開始終了
信号発生回路１５と、関数発生回路１６とが直列に接続
さねでいる。
溶接ガン霜、極６にはトロイダルコイル１７が巻かねて
おり、微分電流検出回路１８を介し７て、誘導ノイズ成
分除去回路９の零クロスタイミング回路１６の入力側に
接続されている。また微分電流検出回路１８の出力の一
部は積分回路１９を介して、溶接ガン電極抵抗成分除去
回路１０のサンプルホールド回路２０の入力側にも加え
られるようになっている。
おり、微分電流検出回路１８を介し７て、誘導ノイズ成
分除去回路９の零クロスタイミング回路１６の入力側に
接続されている。また微分電流検出回路１８の出力の一
部は積分回路１９を介して、溶接ガン電極抵抗成分除去
回路１０のサンプルホールド回路２０の入力側にも加え
られるようになっている。
溶接ガン電極抵抗成分除去回路１０のサンプルホールド
回路２０の出力側は、極性反転回路２１０入力側と、電
流低下補正回路２２のピークホールド回路２３の入力側
と差動アンプ２４０１つの入力側に接続されている。ピ
ークホールド回路２３の出力側は差動アンプ２４の他の
１つの入力側に接続されている。そしてとの差動アンプ
２４の出力側は、前述の加算回路１４の１つの入力端に
接続されている。また前述の極性反転回路２１の出力側
も、可変抵抗器２５を介して加算回路１４の１つの入力
端に接続されている。加温１回路１４は４つの入力端に
入力された４つの信号を加算することになる。
回路２０の出力側は、極性反転回路２１０入力側と、電
流低下補正回路２２のピークホールド回路２３の入力側
と差動アンプ２４０１つの入力側に接続されている。ピ
ークホールド回路２３の出力側は差動アンプ２４の他の
１つの入力側に接続されている。そしてとの差動アンプ
２４の出力側は、前述の加算回路１４の１つの入力端に
接続されている。また前述の極性反転回路２１の出力側
も、可変抵抗器２５を介して加算回路１４の１つの入力
端に接続されている。加温１回路１４は４つの入力端に
入力された４つの信号を加算することになる。
加算回路１４の出力側は処理回路１１の積分回路２６の
入力側と、最小電圧メモリ回路２７の入力側に接続され
ている。処理回路１１には通電時間メモリ回路２８も設
けられていて、誘導ノイズ成分除去回路９の零クロスタ
イミング回路１３の出力信号を受けるようになっている
。
入力側と、最小電圧メモリ回路２７の入力側に接続され
ている。処理回路１１には通電時間メモリ回路２８も設
けられていて、誘導ノイズ成分除去回路９の零クロスタ
イミング回路１３の出力信号を受けるようになっている
。
２９は第１の演算回路である。この第１の演算回路２９
は、その入力側に接続さノ］た最小箱、圧メモリ回路２
７と通電時間メモリ回路２８に記憶さ゛れだ最小電圧と
通電時間とを乗算するものである。
は、その入力側に接続さノ］た最小箱、圧メモリ回路２
７と通電時間メモリ回路２８に記憶さ゛れだ最小電圧と
通電時間とを乗算するものである。
６０は第２の演算回路である。この第２の演算回路６０
は、第１の演算回路２９からの出力を積分回路２６から
の出力から減算するものであるので、入力側にはこれら
が接続されている。
は、第１の演算回路２９からの出力を積分回路２６から
の出力から減算するものであるので、入力側にはこれら
が接続されている。
そして出力側には、この第２の演舞０回路６０の出力を
上下限設定回路３１からの信号と比較する比較判定回路
３２が接続されている。そしてこの比較判定回路３２の
出力側には、出力表示回路３３が接続されている。
上下限設定回路３１からの信号と比較する比較判定回路
３２が接続されている。そしてこの比較判定回路３２の
出力側には、出力表示回路３３が接続されている。
このように構成されたこの装置は次のように作用する。
才ず、電圧検出回路８が検出する溶接ガン電極２，３間
の電圧Ｖのうち、誘導ノイズ成分除去回路９によって、
真の電極間電圧以外の成分である誘導ノイズ成分（リア
クタンス成分を含む） ＶＮが除去される。この除去は
、トロイダルコイル１７によって検出された電流が微分
電流検出回路１８によって処理され、ｄＩ／ｄ。
の電圧Ｖのうち、誘導ノイズ成分除去回路９によって、
真の電極間電圧以外の成分である誘導ノイズ成分（リア
クタンス成分を含む） ＶＮが除去される。この除去は
、トロイダルコイル１７によって検出された電流が微分
電流検出回路１８によって処理され、ｄＩ／ｄ。
−〇のときに電流が検出され、この電圧が零クロスタイ
ミング回路１３によって定められるタイミングで一部サ
ンプルホールド回路１２に与えられて行なわれる。
ミング回路１３によって定められるタイミングで一部サ
ンプルホールド回路１２に与えられて行なわれる。
次に溶接ガン電極抵抗成分の除去は、被溶接物６．７を
入わずにチップ４，５を空打ちし、その時の電圧と電流
（微分電流を積分したもの）を零クロスタイミング回路
１６に与え、この出力信号を所定のタイミングで２つの
ザンプルボールド回路１２’、２０に与える。そして電
流側は極性反転回路２１によって極性反転した後、加算
回路１４によって加算し、この結果が零になるように可
変抵抗器２５を調整することによって除去することがで
きる。
入わずにチップ４，５を空打ちし、その時の電圧と電流
（微分電流を積分したもの）を零クロスタイミング回路
１６に与え、この出力信号を所定のタイミングで２つの
ザンプルボールド回路１２’、２０に与える。そして電
流側は極性反転回路２１によって極性反転した後、加算
回路１４によって加算し、この結果が零になるように可
変抵抗器２５を調整することによって除去することがで
きる。
亜鉛メッキ層で発生する電圧の除去は次のように行なう
。まず、実験的に求めた関数Ｅ＝Ｅｏじαｔの電圧が極
性反転して発生する関数発生回路１６を溶接ガン電極２
．５への通電開始と同時に起動させる。この電圧を加算
回路１４に加えることにより、亜鉛メッキ層で発生する
電圧は、前述した誘導ノイズ成分および溶接ガン抵抗成
分の除去と同期して除去されることになる（ｔＰ。
。まず、実験的に求めた関数Ｅ＝Ｅｏじαｔの電圧が極
性反転して発生する関数発生回路１６を溶接ガン電極２
．５への通電開始と同時に起動させる。この電圧を加算
回路１４に加えることにより、亜鉛メッキ層で発生する
電圧は、前述した誘導ノイズ成分および溶接ガン抵抗成
分の除去と同期して除去されることになる（ｔＰ。
５図（ａ）ないしくｃ）参照）。
被溶接材抵抗成分の除去は次のようＫして行なわれる。
すなわち、加算回路１４の出方電圧は溶接ガン電極２，
３の通電時間中、積分回路２６によって積分する。また
加算回路１４の出力電圧の最小電圧は最小電圧メモリ回
路２７で記憶される。そしてこの電圧は、通電時間メモ
リ回路２８の出力信号である通電時間に、第１の演算回
路２９によって乗算さｔする。
３の通電時間中、積分回路２６によって積分する。また
加算回路１４の出力電圧の最小電圧は最小電圧メモリ回
路２７で記憶される。そしてこの電圧は、通電時間メモ
リ回路２８の出力信号である通電時間に、第１の演算回
路２９によって乗算さｔする。
この乗算によって被溶接材抵抗成分に相当する積分電圧
を求めることができる。次に第２の演算回路６０により
、積分回路２６の出力信号である積分値から第１の演算
回路２９の出力を積分した値の減算全する（第３図（ｄ
）ないしくｆ）参照）。この結果を比較判定回路６２で
、上下限設定回路３１によってあらかじめ設定された値
と比較することにより、被溶接材抵抗成分の除去をする
ことができる。この結果は出力表示回路５６で表示され
ることになる。
を求めることができる。次に第２の演算回路６０により
、積分回路２６の出力信号である積分値から第１の演算
回路２９の出力を積分した値の減算全する（第３図（ｄ
）ないしくｆ）参照）。この結果を比較判定回路６２で
、上下限設定回路３１によってあらかじめ設定された値
と比較することにより、被溶接材抵抗成分の除去をする
ことができる。この結果は出力表示回路５６で表示され
ることになる。
この発明は上述のように構成したものであるから、検出
機構を′＄溶接物６．７から遠くはなれた位置に取付け
てもスポット溶接の強度が非常に精度よく検出できる利
点がある。また被溶接物６．７が亜鉛メッキ鋼板である
場合、有効成分の積分値と溶接強度の相関が低く、この
ために従来溶接不良の検出精度が不充分であったのを、
との発ワによれば充分に高い精度で検出できることにな
り、溶接不良の発生をほぼ確実に抑制することができる
ことになる。さらに通電時間中の最小電圧を記憶し、ま
た通電時間を記憶してデータ処理をするので、被溶接物
６゜７に流れる電流にたとえ変動があっても、その影響
を受けない特長もある。
機構を′＄溶接物６．７から遠くはなれた位置に取付け
てもスポット溶接の強度が非常に精度よく検出できる利
点がある。また被溶接物６．７が亜鉛メッキ鋼板である
場合、有効成分の積分値と溶接強度の相関が低く、この
ために従来溶接不良の検出精度が不充分であったのを、
との発ワによれば充分に高い精度で検出できることにな
り、溶接不良の発生をほぼ確実に抑制することができる
ことになる。さらに通電時間中の最小電圧を記憶し、ま
た通電時間を記憶してデータ処理をするので、被溶接物
６゜７に流れる電流にたとえ変動があっても、その影響
を受けない特長もある。
第１図はこの発明を理論的に説明するだめの電圧と時間
との関係を示す線図、 第２図は第１図のものの一部の成分を除去した後の状態
を示す線図、 第３図（ａ）、’ （ｂ）、 （ｃ）、 （ｄ）、 （
ｅ）、 （ｆ）は、第１の発明の過程を示す線図、 第４図は第２の発明の一実施例の回路図である。 １・・・溶接トランス ２，３・・・溶接ガン電極
４．５・・・チップ ６．７・・・被溶接物８
・・・箱１圧検出回路 ９・・・誘導ノイズ成分除去回路 １０・・・溶接ガン市、極抵抗成分除去回路１１・・・
処理回路 １５・・・通電開始終了信号発生回路 １６・・・関数発生回路 １８・・・微分電流検出回路 １９．２６・・・積分回路 ２ン・・最小電圧メモリ回路 ２８・・・通電１時間メモリ回路 ２９・・・第１の演算回路 ３０・・・第２の演算回路 ３１・・・上下限設定回路 ６２・・・比較判定回路
６３・・・出力表示回路
との関係を示す線図、 第２図は第１図のものの一部の成分を除去した後の状態
を示す線図、 第３図（ａ）、’ （ｂ）、 （ｃ）、 （ｄ）、 （
ｅ）、 （ｆ）は、第１の発明の過程を示す線図、 第４図は第２の発明の一実施例の回路図である。 １・・・溶接トランス ２，３・・・溶接ガン電極
４．５・・・チップ ６．７・・・被溶接物８
・・・箱１圧検出回路 ９・・・誘導ノイズ成分除去回路 １０・・・溶接ガン市、極抵抗成分除去回路１１・・・
処理回路 １５・・・通電開始終了信号発生回路 １６・・・関数発生回路 １８・・・微分電流検出回路 １９．２６・・・積分回路 ２ン・・最小電圧メモリ回路 ２８・・・通電１時間メモリ回路 ２９・・・第１の演算回路 ３０・・・第２の演算回路 ３１・・・上下限設定回路 ６２・・・比較判定回路
６３・・・出力表示回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）亜鉛メッキ鋼板のスポット溶接において、溶接ガン
電極に印加される溶接電圧を検出し、この検出された溶
接知′、圧から誘導ノイズ成分および溶接ガン電極抵抗
成分を除去して有効溶接電圧を得、該有効溶接電圧から
、実験的に求めた一定関数で変化する亜鉛メッキ層で発
生する電圧を減じ、該減じた後の電圧と通電時間中にお
けるその最小電圧との電圧差を通電時間中積分し、その
積分値とあらかじめ設定した基準電圧とを比較測定する
ことにより溶接強度を監視するスポット溶接における溶
接強度の監視方法。 ２）亜鉛メッキ鋼板のスポット溶接機において、溶接ガ
ン電極に印加される電圧を検出する電圧検討回路と、該
電圧検出回路Ｑ、出力側に順次接続される誘導ノイズ成
分除去回路および溶接ガン電極抵抗成分除去回路と、前
記誘導ノイズ成分除去回路の一部を成す零クロスタイミ
ング回路と溶接ガン電極抵抗成分除去回路の一部の加算
回路の１つの入力端の間に接続された通電開始終了信号
発生回路および亜鉛メッキ層で発生する電圧変化の関数
を発生する関数発生回路と、前記誘導ノイズ成分除去回
路および溶接ガン電極抵抗成分除去回路により非有効成
分を除去した後の有効溶接型。 圧を通電時間中積分する積分回路と、通電時間中におけ
る最小電圧を記憶する最小電圧メモリ回路と、通電時間
を記憶する通電時間メモリ回路と、これらのメモリ回路
に記憶された最小電圧と通電時間とを乗算する第１の演
算回路と、該第１の演算回路からの出力を前記積分回路
からの出力から減算する第２の演算回路と、該第２の演
算回路からの出力値とあらかじめ設定された基準電１圧
とを比較測定する比較測定回路と、該比較測定回路から
の出力により良否判定表示する表示装置とを具備するこ
とを特徴とするスポット溶接における溶接強度の監視装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16843882A JPS5961580A (ja) | 1982-09-29 | 1982-09-29 | スポツト溶接における溶接強度の監視方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16843882A JPS5961580A (ja) | 1982-09-29 | 1982-09-29 | スポツト溶接における溶接強度の監視方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961580A true JPS5961580A (ja) | 1984-04-07 |
| JPS6161909B2 JPS6161909B2 (ja) | 1986-12-27 |
Family
ID=15868116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16843882A Granted JPS5961580A (ja) | 1982-09-29 | 1982-09-29 | スポツト溶接における溶接強度の監視方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961580A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0830914A1 (en) * | 1996-09-24 | 1998-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of controlling welding conditions of a resistance welder |
| US6140825A (en) * | 1997-05-14 | 2000-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for evaluating quality of resistance welds |
| US6518536B2 (en) | 2000-03-30 | 2003-02-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Joining equipment |
-
1982
- 1982-09-29 JP JP16843882A patent/JPS5961580A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0830914A1 (en) * | 1996-09-24 | 1998-03-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of controlling welding conditions of a resistance welder |
| US6057523A (en) * | 1996-09-24 | 2000-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of controlling welding conditions of a resistance welder |
| US6140825A (en) * | 1997-05-14 | 2000-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for evaluating quality of resistance welds |
| US6518536B2 (en) | 2000-03-30 | 2003-02-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Joining equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6161909B2 (ja) | 1986-12-27 |
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