JPS5954912A - けい光ｘ線メツキ厚み計 - Google Patents
けい光ｘ線メツキ厚み計Info
- Publication number
- JPS5954912A JPS5954912A JP16545082A JP16545082A JPS5954912A JP S5954912 A JPS5954912 A JP S5954912A JP 16545082 A JP16545082 A JP 16545082A JP 16545082 A JP16545082 A JP 16545082A JP S5954912 A JPS5954912 A JP S5954912A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescent
- distance
- steel plate
- plated steel
- ray
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0002—Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、測定精度のすぐれたけい光Ｘ線メッキ厚み
計に関する。
計に関する。
冷延鋼板等の金属メ・ツキラインには・、けい光線検出
器を用いたけい光Ｘ：線メッキ厚み計□が多く用いられ
ている。
器を用いたけい光Ｘ：線メッキ厚み計□が多く用いられ
ている。
このけい光Ｘ線メッキ厚み計はメッキ鋼板にγ線又はＸ
線を照射して発生するけい光線を測定してメッキ厚みを
測定するものであって、鋼板の巾方向に移動する機構を
もち、メッキ・厚みの巾方向分布を測定することができ
る。
線を照射して発生するけい光線を測定してメッキ厚みを
測定するものであって、鋼板の巾方向に移動する機構を
もち、メッキ・厚みの巾方向分布を測定することができ
る。
一方シ：ツキ厚みはメッキ鋼□板から発生するけい光Ｘ
線を検出しでいるので□、メッキ鋼板とけい光線検出器
の距離（エアーギャップｒが変動すると測定誤差が生ず
るものである。
線を検出しでいるので□、メッキ鋼板とけい光線検出器
の距離（エアーギャップｒが変動すると測定誤差が生ず
るものである。
そのため、メツキラインでは変動の少ないブライ下ルロ
ールの近傍に設けられており、検出器の前後にｉよ変動
栃押えるピンチロールが設は尾れている。第１図は溶融
亜鉛メツキラインにけい光Ｘ線□メッギ厚：み計の設置
状況を１示す図である。（＋）は連続加熱炉、（ａｒｔ
よメツ□キ槽、（３）はガスワイピング装置、（４）は
ブライド７１ｚ白−ルであ乞。加熱炉（１）から出たメ
ッキ鋼板（５）はメッキ槽（２）で亜鉛メツ鼻され□ガ
スワイピング（３）によりメッキ厚みを調社されそプラ
イドルロールｆ４） ｅ ｆ４’ｌ ｍで冷却され次工
程へ送・られる。このよ□うな溶融能□鉛メツキライン
にけい光Ｘｇｌ′ツ□キ厚み計（６）は、プライドルロ
ール（４′）に近く設置キれ二鋼板の変１を押えるため
ピンチロール［７１＃ （７＋が設けられてい之。
□しかしながら、プライドルロール［４） ｐ ＋；＋
間は３０〜４０−と長く鋼板速度も７０ｍ／分以上の：
高速で□ト：′あるため・″キ厚を些の“アーギ・′プ
＋−４ツキ厚み測定に誤差が生ずる。第２図は、エアー
ギャップ変動と、メッキ厚み計知□方変動を示す図であ
る。横軸は時間経過であり、縦軸（ａ）はエアーギャッ
プ、（ｂ）はメッキ厚み吐出力である。図中臼・で囲っ
た部分はエアーギャップが不安定で変動したもので、こ
の変動に対して厚み計の出力も円で囲った部分は変動し
測定誤差□となって現われるものである。
ールの近傍に設けられており、検出器の前後にｉよ変動
栃押えるピンチロールが設は尾れている。第１図は溶融
亜鉛メツキラインにけい光Ｘ線□メッギ厚：み計の設置
状況を１示す図である。（＋）は連続加熱炉、（ａｒｔ
よメツ□キ槽、（３）はガスワイピング装置、（４）は
ブライド７１ｚ白−ルであ乞。加熱炉（１）から出たメ
ッキ鋼板（５）はメッキ槽（２）で亜鉛メツ鼻され□ガ
スワイピング（３）によりメッキ厚みを調社されそプラ
イドルロールｆ４） ｅ ｆ４’ｌ ｍで冷却され次工
程へ送・られる。このよ□うな溶融能□鉛メツキライン
にけい光Ｘｇｌ′ツ□キ厚み計（６）は、プライドルロ
ール（４′）に近く設置キれ二鋼板の変１を押えるため
ピンチロール［７１＃ （７＋が設けられてい之。
□しかしながら、プライドルロール［４） ｐ ＋；＋
間は３０〜４０−と長く鋼板速度も７０ｍ／分以上の：
高速で□ト：′あるため・″キ厚を些の“アーギ・′プ
＋−４ツキ厚み測定に誤差が生ずる。第２図は、エアー
ギャップ変動と、メッキ厚み計知□方変動を示す図であ
る。横軸は時間経過であり、縦軸（ａ）はエアーギャッ
プ、（ｂ）はメッキ厚み吐出力である。図中臼・で囲っ
た部分はエアーギャップが不安定で変動したもので、こ
の変動に対して厚み計の出力も円で囲った部分は変動し
測定誤差□となって現われるものである。
Ｃ，、）イ明、よ。。よる。誤差が少ヶい測余精度品す
ぐれたけい光Ｘ線メッキ厚み針を提供するもので、その
要旨は、γ線を発生させるγ線発生装置又は、Ｘ線を発
生させるＸ線発生装置と、被測定メッキ鋼板とけい光線
検出器との距離を測定する距離測定器と、該距離測定器
からの信号を受け、メッキ鋼板とけい光線検出器との距
離を一定に保つ追従機構とを有することを特徴とするも
のであじる。
ぐれたけい光Ｘ線メッキ厚み針を提供するもので、その
要旨は、γ線を発生させるγ線発生装置又は、Ｘ線を発
生させるＸ線発生装置と、被測定メッキ鋼板とけい光線
検出器との距離を測定する距離測定器と、該距離測定器
からの信号を受け、メッキ鋼板とけい光線検出器との距
離を一定に保つ追従機構とを有することを特徴とするも
のであじる。
・、第３・□図はこの発明の１実施例を示す図である。
１１１
本発明の説明は１次線源としてγ線を用、いた場合、−
：′：・ 千ついて説明する。（８）はと綿発生装置で、あＩｌｌ
、＋９１ １はけい光線検出器である。γ線発生装
置（８）からメッキ鋼板（５）にγ線が照射され、メッ
キ鋼板（５）から発生したけい光線をけい光線検出器（
９）により検出 □し、その出力からメッキ厚み
を測定するようになっている。この発明はとの□けい光
線検出器にメッキ鋼板との距離を測定する距離測定器ｉ
ｏ）、例えば渦流距離計を設は逮。またすこの距離側た
器（１０）からの信号を１辷メツキ←（５）とけい光線
門出器（９）の距離（エアーギャップ）を一定に保つ追
従機構（１１）を設ける。第４図は追従機構を示す図で
ある。
：′：・ 千ついて説明する。（８）はと綿発生装置で、あＩｌｌ
、＋９１ １はけい光線検出器である。γ線発生装
置（８）からメッキ鋼板（５）にγ線が照射され、メッ
キ鋼板（５）から発生したけい光線をけい光線検出器（
９）により検出 □し、その出力からメッキ厚み
を測定するようになっている。この発明はとの□けい光
線検出器にメッキ鋼板との距離を測定する距離測定器ｉ
ｏ）、例えば渦流距離計を設は逮。またすこの距離側た
器（１０）からの信号を１辷メツキ←（５）とけい光線
門出器（９）の距離（エアーギャップ）を一定に保つ追
従機構（１１）を設ける。第４図は追従機構を示す図で
ある。
追従機構には同極の反発用永久磁石（１２） 、 （１
’りが相対して設けられておりその反発力により磁気浮
上により保持されている。また、永久磁石（１３）の磁
界に直交配置したムービングコイル◇４）が設けられて
いる。このムービングコイル（Ｉ４）に電流を流すと駆
動力が働き、磁気浮上の浮上高さを変化させることがで
きるものである。メッキ鋼板とけい光線検出器の距ＩＩ
Ｉ（エアーギャップ）は所定距離に設定されるが、その
設定距離以上あるい１よ以下に変動した場合は距離測定
器（１０）からの信号に、より、、それに対応した電流
が流れエアーギャップを一定に追従保持するものである
。第５図はエアーギャップとけい光線検出器出力の、関
係を示す図である。横軸はエアーギャップであり、縦軸
はけい光線検出器出力である。エアーギヤ、ツブを４３
．５ｊｌｌに設定した場合、従来は±５Ｈの変動があり
、測定精度は郷％であったが、この発明厚み計実施によ
り、壬アーギャップの変動は±ｌ １１以内となり９９
％以上に測定精度は向上、した。 。
’りが相対して設けられておりその反発力により磁気浮
上により保持されている。また、永久磁石（１３）の磁
界に直交配置したムービングコイル◇４）が設けられて
いる。このムービングコイル（Ｉ４）に電流を流すと駆
動力が働き、磁気浮上の浮上高さを変化させることがで
きるものである。メッキ鋼板とけい光線検出器の距ＩＩ
Ｉ（エアーギャップ）は所定距離に設定されるが、その
設定距離以上あるい１よ以下に変動した場合は距離測定
器（１０）からの信号に、より、、それに対応した電流
が流れエアーギャップを一定に追従保持するものである
。第５図はエアーギャップとけい光線検出器出力の、関
係を示す図である。横軸はエアーギャップであり、縦軸
はけい光線検出器出力である。エアーギヤ、ツブを４３
．５ｊｌｌに設定した場合、従来は±５Ｈの変動があり
、測定精度は郷％であったが、この発明厚み計実施によ
り、壬アーギャップの変動は±ｌ １１以内となり９９
％以上に測定精度は向上、した。 。
以上のように、この発明けい光Ｘ線メッキ厚み針は、メ
ッキ鋼板の振動、または平担形状不良等のパスラインの
変動、あるいは巾方向のたるみに対してもエアーギャッ
プを一定秤追従制御苧れるためその測定精度は大巾に向
上する。
ッキ鋼板の振動、または平担形状不良等のパスラインの
変動、あるいは巾方向のたるみに対してもエアーギャッ
プを一定秤追従制御苧れるためその測定精度は大巾に向
上する。
第１図は金属メツキラインにけい光Ｘ線メッキ厚み計の
設置状況を示す図、第２図はエアーギャップ変動とメッ
キ厚み吐出力変動を示す図、・第３図はこの発明の１実
施例を示す図、第４図は追従、機構を示す図・、第５図
は吊アーギャップとけい光線検出器出力の関係を示す図
である。 図中 １・・・連続加熱炉、２・・・メッキ・槽、３・
・・ガスワイピング装置−４・・・プライドルロール、
５・・・メッキ鋼板、６・・・けい光Ｘ線メッキ厚み計
−７・・・ピンチロール、８・・・・γ線発生装置、９
・・・けい光線検出器、１０・・・距離測定器、１１・
・・追従機構、１２・・・反発用永久磁石、１３・・・
永久磁石、１４・・・ムービングコイル。 ・ 出願人 住友金属工業株式会社 代理人 押 １） 良 久 第１図 第２図 第３図
設置状況を示す図、第２図はエアーギャップ変動とメッ
キ厚み吐出力変動を示す図、・第３図はこの発明の１実
施例を示す図、第４図は追従、機構を示す図・、第５図
は吊アーギャップとけい光線検出器出力の関係を示す図
である。 図中 １・・・連続加熱炉、２・・・メッキ・槽、３・
・・ガスワイピング装置−４・・・プライドルロール、
５・・・メッキ鋼板、６・・・けい光Ｘ線メッキ厚み計
−７・・・ピンチロール、８・・・・γ線発生装置、９
・・・けい光線検出器、１０・・・距離測定器、１１・
・・追従機構、１２・・・反発用永久磁石、１３・・・
永久磁石、１４・・・ムービングコイル。 ・ 出願人 住友金属工業株式会社 代理人 押 １） 良 久 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- γ線を発生させるγ線発生装置又は−Ｘ線を発生させる
Ｘ線発生装置と、被測定メッキ□鋼板とけい光線検出器
との距離を測定する距離測定器□と、前記距離測定器か
らの信号を受け、メッキ鋼板とけい光線検出器との□距
離を一定に保つ追従機構と・を有することを特徴とする
けい光Ｘ線メッキ厚み計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16545082A JPS5954912A (ja) | 1982-09-21 | 1982-09-21 | けい光ｘ線メツキ厚み計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16545082A JPS5954912A (ja) | 1982-09-21 | 1982-09-21 | けい光ｘ線メツキ厚み計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5954912A true JPS5954912A (ja) | 1984-03-29 |
Family
ID=15812647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16545082A Pending JPS5954912A (ja) | 1982-09-21 | 1982-09-21 | けい光ｘ線メツキ厚み計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5954912A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002213935A (ja) * | 2001-01-15 | 2002-07-31 | Murata Mfg Co Ltd | 膜厚測定方法 |
| JP2011191212A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Sii Nanotechnology Inc | Ｘ線透過検査装置及びｘ線透過検査方法 |
-
1982
- 1982-09-21 JP JP16545082A patent/JPS5954912A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002213935A (ja) * | 2001-01-15 | 2002-07-31 | Murata Mfg Co Ltd | 膜厚測定方法 |
| JP2011191212A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Sii Nanotechnology Inc | Ｘ線透過検査装置及びｘ線透過検査方法 |
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