JPS61133828A - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
- Publication number
- JPS61133828A JPS61133828A JP25616184A JP25616184A JPS61133828A JP S61133828 A JPS61133828 A JP S61133828A JP 25616184 A JP25616184 A JP 25616184A JP 25616184 A JP25616184 A JP 25616184A JP S61133828 A JPS61133828 A JP S61133828A
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- Japan
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- temperature
- magnetic permeability
- detector
- eddy current
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/36—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using magnetic elements, e.g. magnets, coils
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は圧延機や連続焼鈍炉等におけるストリップやロ
ール等の温度管理を行なうのに適用し得る温度測定装置
に関するものである。
ール等の温度管理を行なうのに適用し得る温度測定装置
に関するものである。
例えば冷開圧延等において、ス） ＩＪツブ月度管理は
スｌ−ＩＪノブ品質を決定する重要な要素となっている
。ストリップの温度管理を行なうには、ス） ＩＪツブ
の眞度創定が必要であるが、この場合ストリップの走行
中に＠度到定を行なうようになされているので、非接触
測定が不可欠である。この種の非接触測温法として、例
えば赤外線を利用した温度計のように、放射率の影響を
受けない渦を流を利用する方法がある。また圧延機のロ
ール温度測定は、ロールのヒートクラウン側割等に重要
となっている。従来のａ−ル温度測定は、スプレー水雰
囲気で行なつため、例えば第５図に示すように、渦電流
を用いた！変針が用いられる。このａ電流濃度計はロー
ルに渦電流を流し、ロールの導電率および透磁率の変化
を利用して温度を測定するものである。なお、Ｋ５図に
おいて１．２はＥＥ圧延機ワークロール１．？ 、４は
バックアップロール、５は渦′ＷＬ流温度検出器、６は
信号処理装置である。
スｌ−ＩＪノブ品質を決定する重要な要素となっている
。ストリップの温度管理を行なうには、ス） ＩＪツブ
の眞度創定が必要であるが、この場合ストリップの走行
中に＠度到定を行なうようになされているので、非接触
測定が不可欠である。この種の非接触測温法として、例
えば赤外線を利用した温度計のように、放射率の影響を
受けない渦を流を利用する方法がある。また圧延機のロ
ール温度測定は、ロールのヒートクラウン側割等に重要
となっている。従来のａ−ル温度測定は、スプレー水雰
囲気で行なつため、例えば第５図に示すように、渦電流
を用いた！変針が用いられる。このａ電流濃度計はロー
ルに渦電流を流し、ロールの導電率および透磁率の変化
を利用して温度を測定するものである。なお、Ｋ５図に
おいて１．２はＥＥ圧延機ワークロール１．？ 、４は
バックアップロール、５は渦′ＷＬ流温度検出器、６は
信号処理装置である。
〔発明が解決しようとする間ＴＭａ）
上記従来の渦電流を利用する温度測定方法においては、
ストリップやロール等の被測定物の透磁率が、被測定物
の硬変変化の影響を受けて変化するので、ドリフトが発
生しａ度副定の精度がよくないという問題がある。
ストリップやロール等の被測定物の透磁率が、被測定物
の硬変変化の影響を受けて変化するので、ドリフトが発
生しａ度副定の精度がよくないという問題がある。
本発明は上記従来の問題点を解消するため釦提案された
もので、ストリップやロール等の被る温度測定装置を提
供することを目的とするものである。
もので、ストリップやロール等の被る温度測定装置を提
供することを目的とするものである。
本発明による１度測定装置は、＠電流温度計の検出器が
対向する被測定物の表面に近接して被測定物の表面を磁
気的に飽和させる磁石を配置したことを特徴とするもの
である。
対向する被測定物の表面に近接して被測定物の表面を磁
気的に飽和させる磁石を配置したことを特徴とするもの
である。
本発明−〈よれｉ、渦電流温度計の検出器が対向するス
、）、Ｉ７．．７ツプやロール等の被ホ１１定物の測定
付近を磁石によって磁気飽和するまで磁化し、その測定
付近の見掛けの透磁率を１にし、透磁率変化の影響を除
去するようにして、前記従来の問題点を解消し得るよう
Ｋしたものである。
、）、Ｉ７．．７ツプやロール等の被ホ１１定物の測定
付近を磁石によって磁気飽和するまで磁化し、その測定
付近の見掛けの透磁率を１にし、透磁率変化の影響を除
去するようにして、前記従来の問題点を解消し得るよう
Ｋしたものである。
本発明の実施例を添付図面を参照して詳細に説明する。
第１図は本発明をロールの温度測定に適用した場合の一
実施例の構成を示す図であす、第１、 図において、Ｉ
、２は圧延機のワークロール１、？、４はバックアップ
ロール、５け渦電流温度計の検出器、６は信号処理装置
、７はワークロール１の表面を飽和磁界まで励磁する電
磁石（直流）である。なお、直流電磁石の代りに永久磁
石を用いてもよい。
実施例の構成を示す図であす、第１、 図において、Ｉ
、２は圧延機のワークロール１、？、４はバックアップ
ロール、５け渦電流温度計の検出器、６は信号処理装置
、７はワークロール１の表面を飽和磁界まで励磁する電
磁石（直流）である。なお、直流電磁石の代りに永久磁
石を用いてもよい。
上記本発明の一実施例の作用について説明する。 ′
第１図において、電磁石７のコイル８に電流を流すと、
磁束は第２図に行すように通り、またワークロール２内
表面の磁束密度を１５０００ガウス（Ｇａｕｓｓ ）
程度にすると飽和させることができるので、見掛けの
透磁率け１と、見なすことができる。そこで、渦電流温
度計の検出器５で測定すれば透磁率の影響を受けること
なくワークロールＩの温度を正確に測定することができ
る。なお、渦電流温度計の検出器５は一般に数１０ Ｋ
Ｈｚの磁界を利用するため、電磁石７（直流）の影響を
受けることなく測定できる。
磁束は第２図に行すように通り、またワークロール２内
表面の磁束密度を１５０００ガウス（Ｇａｕｓｓ ）
程度にすると飽和させることができるので、見掛けの
透磁率け１と、見なすことができる。そこで、渦電流温
度計の検出器５で測定すれば透磁率の影響を受けること
なくワークロールＩの温度を正確に測定することができ
る。なお、渦電流温度計の検出器５は一般に数１０ Ｋ
Ｈｚの磁界を利用するため、電磁石７（直流）の影響を
受けることなく測定できる。
第３図は本発明をストリップの温度１１１１１定に適用
した場合の他の実施例の構成を示す図であり、第３図に
おいて、３０はストリップ、３１゜３２は圧延機のワー
クロール、３３．３’４１ｒｌバツクアツプロール、３
５はｉ電流温度計の検出器、３６は信号処理装置、３７
はストＩＪツブ３０の表面を飽和磁界まで励磁する電磁
石（直流）である。この直流電磁石の代りに永久磁石を
用いてもよい。３８は電磁石３７めコイル、３９〜４２
はそれぞれガイドロールである。
した場合の他の実施例の構成を示す図であり、第３図に
おいて、３０はストリップ、３１゜３２は圧延機のワー
クロール、３３．３’４１ｒｌバツクアツプロール、３
５はｉ電流温度計の検出器、３６は信号処理装置、３７
はストＩＪツブ３０の表面を飽和磁界まで励磁する電磁
石（直流）である。この直流電磁石の代りに永久磁石を
用いてもよい。３８は電磁石３７めコイル、３９〜４２
はそれぞれガイドロールである。
上記本発明の他の実施例の作用について説明する。
第３図において、電磁石３７のコイル３８に電流を流し
てストリップ３０に磁界を加えると磁束は第４図に示す
ように通る。ストリップ３０内の磁束密度を１５０００
〜２００００ガウス程度にすると飽和し、透磁率は見掛
上１となる。この結果、ストリップ３０の硬度の窒化に
よる透磁率の変化を防上することができるので、ストリ
ップ３ｏの温度を正確に測定することができる。
てストリップ３０に磁界を加えると磁束は第４図に示す
ように通る。ストリップ３０内の磁束密度を１５０００
〜２００００ガウス程度にすると飽和し、透磁率は見掛
上１となる。この結果、ストリップ３０の硬度の窒化に
よる透磁率の変化を防上することができるので、ストリ
ップ３ｏの温度を正確に測定することができる。
以上により、本発明によれば、渦電流温度計を用いて測
温する際に、ストリップやロール等の被測定物の表面を
磁気的に飽和させて、その透磁率を実質的に１とするこ
とにより、透磁率変化によるドリフトを防とすることが
でき、従って＠度測定精度の向上を図ることができる。
温する際に、ストリップやロール等の被測定物の表面を
磁気的に飽和させて、その透磁率を実質的に１とするこ
とにより、透磁率変化によるドリフトを防とすることが
でき、従って＠度測定精度の向上を図ることができる。
さらＫこれにより例えば圧延機等におけるスミリップや
ロール等の温度管理の信頼性を高めることができる等の
優れた効果が奏せられるものである。
ロール等の温度管理の信頼性を高めることができる等の
優れた効果が奏せられるものである。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図、＠２図は第
１図に示す一実施例の作用を説明するための図、第３図
は本発明の池の実施例の構成を示す図、第４図は第３図
に示す実施例の作用を説明するための図、第５図は従来
例を説明するための図である。 １．２・・・ワークロール、５．３５・・・＠鑞流温変
針の検出器、７．３７・・・［磁石、３０・・・ストリ
ップ。 出頓入復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図
１図に示す一実施例の作用を説明するための図、第３図
は本発明の池の実施例の構成を示す図、第４図は第３図
に示す実施例の作用を説明するための図、第５図は従来
例を説明するための図である。 １．２・・・ワークロール、５．３５・・・＠鑞流温変
針の検出器、７．３７・・・［磁石、３０・・・ストリ
ップ。 出頓入復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図
Claims (1)
- 渦電流温度計の検出器が対向する被測定物の表面に近接
して被測定物の表面を磁気的に飽和させる磁石を配置し
たことを特徴とする温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25616184A JPS61133828A (ja) | 1984-12-04 | 1984-12-04 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25616184A JPS61133828A (ja) | 1984-12-04 | 1984-12-04 | 温度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61133828A true JPS61133828A (ja) | 1986-06-21 |
Family
ID=17288749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25616184A Pending JPS61133828A (ja) | 1984-12-04 | 1984-12-04 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61133828A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6290411B1 (en) | 1996-04-15 | 2001-09-18 | Propri Limited | Stand utensil for keyboard and keyboard with stand mechanism |
| US20110090937A1 (en) * | 2009-10-19 | 2011-04-21 | Tsi Technologies Llc | Eddy current thermometer |
| US9417292B1 (en) | 2011-06-08 | 2016-08-16 | Hrl Laboratories, Llc | Thermomagnetic temperature sensing |
| US9719863B1 (en) * | 2013-03-15 | 2017-08-01 | Hrl Laboratories, Llc | Thermomagnetic temperature sensing |
-
1984
- 1984-12-04 JP JP25616184A patent/JPS61133828A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6290411B1 (en) | 1996-04-15 | 2001-09-18 | Propri Limited | Stand utensil for keyboard and keyboard with stand mechanism |
| US20110090937A1 (en) * | 2009-10-19 | 2011-04-21 | Tsi Technologies Llc | Eddy current thermometer |
| US8523429B2 (en) * | 2009-10-19 | 2013-09-03 | Tsi Technologies Llc | Eddy current thermometer |
| US9417292B1 (en) | 2011-06-08 | 2016-08-16 | Hrl Laboratories, Llc | Thermomagnetic temperature sensing |
| US10072990B1 (en) | 2011-06-08 | 2018-09-11 | Hrl Laboratories, Llc | Thermomagnetic temperature sensing |
| US9719863B1 (en) * | 2013-03-15 | 2017-08-01 | Hrl Laboratories, Llc | Thermomagnetic temperature sensing |
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