JPS6153561A - 低透磁率材パイプの評価装置 - Google Patents

低透磁率材パイプの評価装置

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JPS6153561A
JPS6153561A JP17603584A JP17603584A JPS6153561A JP S6153561 A JPS6153561 A JP S6153561A JP 17603584 A JP17603584 A JP 17603584A JP 17603584 A JP17603584 A JP 17603584A JP S6153561 A JPS6153561 A JP S6153561A
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JP
Japan
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magnetic
pipe
magnetic sensor
differential
permeability material
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JP17603584A
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JPH061261B2 (ja
Inventor
Mikio Takagi
高木 幹雄
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、低透磁率材、例えば原子力機器等で使用さ
れる高品質のステンレス鋼管(SUSパイプ)を試験評
価するのに使用される計1i+1i装置に関する。
(ロ)従来の技術 原子力la′!I:Iに使用される一定の肉厚を有する
SUSパイプは、組成が一様でないと、腐食が発生する
ため、組成の一様、均一なものが不可欠となる。SUS
材を組成的に分類すると、フェライト系、マルテンサイ
ト系、オーステナイト系があり、例えばオーステナイト
系(Fe、 Ni、 Cr系)を常温、低温で加工する
と一部マルチンサイト系に麦畑し、磁性を帯びるように
なる。したがって、非常に安定した熱処理及び加工が要
求され、もし、組成に一様でない部分があると不良であ
るとし、上記した原子力機器等には使用できない。
組成の一様でない部分は、鋼材分野で、ホットポイント
(Hot  Po1nt)と呼ばれているが、このホッ
トポイントを非破壊で、簡易に抽出する装置は、これま
でになかった。
(ハ)目的 この発明の目的は上記に鑑み、SUSパイプ等の低透磁
率材の組成の一様性、均一性を非破壊で簡単に確認し得
る低透磁率材の評価装置を提供することである。
(ニ)構成 上記目的を達成するために、この発明は組成が一様でな
い部分を磁気的異常点(MagneticAnomal
y  Po1nt)として検知するようにしている。す
なわち、この発明の評価装置は、被試験低透磁率材の面
方向に沿って差動形磁気センサが設けられ、かつ被試験
低透磁率材及び差動形磁気センサの検知軸に直交する方
向に磁界を印加する磁界付与手段を備え、前記差’QJ
形磁気センサの磁気出力により被試験低透磁率材の品質
を評価している。磁気出力として一定以上の磁気モーメ
ントあるいは低透磁率が検出された場合、その材料は不
良品であると評価する。
(ボ)実施例 第3図に示すように、磁界Ilo中に、比透磁率μs 
 (−1+X/μo)、〔X:帯磁率、po=4πXl
0−7)の材料Pを置くと、 M=SLtto  (X/po>  Ho/  (1+
NX/ μo)  (wb−m) の磁気モーメントが発生する。
ここでNは減磁係数であって、形状により異なる。Sは
材料Pの断面積、Lはその長さである。
NX/μOくく1のときは、磁気モーメントMはM″q
XHo ・SL (wb−m) となる。そしてこの試料Pから磁界■]が発生し、この
磁界Hは、与えた磁界HOを直交する。また上式より、
磁界Hは比透磁率μS中の帯磁率Xに比例することが判
る。
第1図はこの発明の1実施例を示す評価装置の側面図で
ある。
試験すべき材料はステンレス鋼のパイプ1であり、永久
磁石2からの強力磁界がヨーク3を経て、ステンレス鋼
パイプ1の直径方向に印加されるようになっている。
また、パイプ1の筒内には強力磁界が加えられる位置に
、パイプ1の軸に平行に差動形の磁気センサ4が配列さ
れている。
パイプ1は、ブロック5によって保持され、ブロック5
の円周部にローラ6・7・8が設けられ、このローラ6
・7・8によりパイプ1は円周方向と、紙面の表裏方向
に移動自在に構成されている。
第2図は差動形の磁気センサ(フラックスゲート)4の
側面図である。この装置は差動形の磁気センサを用いて
いるので地磁気等、外乱ノイズに強いという利点がある
この実施例装置において、パイプ1を円周方向に回転さ
せながら、紙面の表から裏に向けて進行させ、永久磁石
1からパイプ1に強力磁界Hoを連続的に印加すると、
差動形の磁気センサ4により、磁気モーメントMを検出
することにより、パイプ1の’MGft率の変化を測定
できる。もし、パイプ1の組成が変化していると、応じ
てその点における磁気センサ4の出力も変化するので、
その出力の変化度合により、パイプlの良否を判定でき
る。
なお上記実施例装置に、ロークリエンコーダや、スケー
ラを設け、これらロークリエンコーダ、スケーラの位置
信号と、磁気センサ4の出力を記録計に[苗かせる他、
メモリに記憶し、CPLI処理すれば、そのパイプ1の
非常に厳密な磁気的変化特性を1nることができる。
また、上記実施例では、永久磁石2を、パイプ■の部外
に設けているが、第1図の破線で示すように、永久磁石
2゛をパイプ1の筒内に設けてもよい。このようにすれ
ば、磁気センサ4と永久磁石2゛の位置関係が固定され
て、磁気センサ4の出力が安定する。
また、上記実施例では、パイプ1等に磁界を加えるのに
、永久磁石を使用しているが、これに代えて電磁石を用
いてもよい。これにより、任意の強さの磁界HOを得る
ことができるとともに交番磁界による帯磁率Xを求める
ことも可能となる。
また、上記実施例では差動形の磁気センサ4を1個使用
しているが、第1図の破線で示すように複数個の磁気セ
ンサ4’ 、4’ を設けてもよい。
これにより多くの情報を一度に得ることができる。
この場合は、磁石の磁界鎖交をさけるため、パイプ1の
軸に平行な方向に位置をずらせて配列することになる。
さらにまた、上記実施例では、被試験材としてパイプを
例にあげたが、この発明の装置は、板材等の評価にも使
用できるものであるこというまでもない。
(へ)効果 この発明によれば、磁気的な検出により、材料の組成変
化を検出するものであるから、計測を迅速かつ正確に行
うことができる。また非破壊検査が可能であり、被試験
材からサンプルの取り出しによる形成加工等は不要であ
るから、それにともなう熱歪等による状悪変化は何ら心
配する必要がない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の1実施例を示すバイブの評価装置の
正面図・、第2図は同評価装置に使用される磁気センサ
の側面図、第3図は同装置の採用原理を説明するための
図である。 1:パイプ、   2:永久磁石、 3:ヨーク、   4:差動形の磁気センサ特許出願人
      株式会社島津製作所代理人    弁理士
 中 村 茂 信第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被試験低透磁率材の面方向に沿つて差動形磁気セ
    ンサが設けられ、かつ前記被試験低透磁率材及び差動形
    磁気センサの検知軸に直交する方向に磁界を印加する磁
    界付与手段を備え、前記差動形磁気センサの磁気出力に
    より、前記被試験低透磁率材の品質を評価することを特
    徴とする低透磁率材の評価装置。
JP59176035A 1984-08-23 1984-08-23 低透磁率材パイプの評価装置 Expired - Lifetime JPH061261B2 (ja)

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JPS6153561A true JPS6153561A (ja) 1986-03-17
JPH061261B2 JPH061261B2 (ja) 1994-01-05

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63311186A (ja) * 1987-06-12 1988-12-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁化率分布測定装置
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JPH072620U (ja) * 1993-06-10 1995-01-13 貴 高橋 ネジ受け具
JP2000241393A (ja) * 1999-02-24 2000-09-08 Hitachi Building Systems Co Ltd エレベータ用ロープの磁気探傷装置
JP2019174298A (ja) * 2018-03-28 2019-10-10 住友金属鉱山株式会社 組成判定方法、組成判定装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5420759A (en) * 1977-07-15 1979-02-16 Shimadzu Corp Metal detector

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JPH061261B2 (ja) 1994-01-05

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