JPS6153561A - 低透磁率材パイプの評価装置 - Google Patents
低透磁率材パイプの評価装置Info
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- JPS6153561A JPS6153561A JP17603584A JP17603584A JPS6153561A JP S6153561 A JPS6153561 A JP S6153561A JP 17603584 A JP17603584 A JP 17603584A JP 17603584 A JP17603584 A JP 17603584A JP S6153561 A JPS6153561 A JP S6153561A
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- JP
- Japan
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- magnetic
- pipe
- magnetic sensor
- differential
- permeability material
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、低透磁率材、例えば原子力機器等で使用さ
れる高品質のステンレス鋼管(SUSパイプ)を試験評
価するのに使用される計1i+1i装置に関する。
れる高品質のステンレス鋼管(SUSパイプ)を試験評
価するのに使用される計1i+1i装置に関する。
(ロ)従来の技術
原子力la′!I:Iに使用される一定の肉厚を有する
SUSパイプは、組成が一様でないと、腐食が発生する
ため、組成の一様、均一なものが不可欠となる。SUS
材を組成的に分類すると、フェライト系、マルテンサイ
ト系、オーステナイト系があり、例えばオーステナイト
系(Fe、 Ni、 Cr系)を常温、低温で加工する
と一部マルチンサイト系に麦畑し、磁性を帯びるように
なる。したがって、非常に安定した熱処理及び加工が要
求され、もし、組成に一様でない部分があると不良であ
るとし、上記した原子力機器等には使用できない。
SUSパイプは、組成が一様でないと、腐食が発生する
ため、組成の一様、均一なものが不可欠となる。SUS
材を組成的に分類すると、フェライト系、マルテンサイ
ト系、オーステナイト系があり、例えばオーステナイト
系(Fe、 Ni、 Cr系)を常温、低温で加工する
と一部マルチンサイト系に麦畑し、磁性を帯びるように
なる。したがって、非常に安定した熱処理及び加工が要
求され、もし、組成に一様でない部分があると不良であ
るとし、上記した原子力機器等には使用できない。
組成の一様でない部分は、鋼材分野で、ホットポイント
(Hot Po1nt)と呼ばれているが、このホッ
トポイントを非破壊で、簡易に抽出する装置は、これま
でになかった。
(Hot Po1nt)と呼ばれているが、このホッ
トポイントを非破壊で、簡易に抽出する装置は、これま
でになかった。
(ハ)目的
この発明の目的は上記に鑑み、SUSパイプ等の低透磁
率材の組成の一様性、均一性を非破壊で簡単に確認し得
る低透磁率材の評価装置を提供することである。
率材の組成の一様性、均一性を非破壊で簡単に確認し得
る低透磁率材の評価装置を提供することである。
(ニ)構成
上記目的を達成するために、この発明は組成が一様でな
い部分を磁気的異常点(MagneticAnomal
y Po1nt)として検知するようにしている。す
なわち、この発明の評価装置は、被試験低透磁率材の面
方向に沿って差動形磁気センサが設けられ、かつ被試験
低透磁率材及び差動形磁気センサの検知軸に直交する方
向に磁界を印加する磁界付与手段を備え、前記差’QJ
形磁気センサの磁気出力により被試験低透磁率材の品質
を評価している。磁気出力として一定以上の磁気モーメ
ントあるいは低透磁率が検出された場合、その材料は不
良品であると評価する。
い部分を磁気的異常点(MagneticAnomal
y Po1nt)として検知するようにしている。す
なわち、この発明の評価装置は、被試験低透磁率材の面
方向に沿って差動形磁気センサが設けられ、かつ被試験
低透磁率材及び差動形磁気センサの検知軸に直交する方
向に磁界を印加する磁界付与手段を備え、前記差’QJ
形磁気センサの磁気出力により被試験低透磁率材の品質
を評価している。磁気出力として一定以上の磁気モーメ
ントあるいは低透磁率が検出された場合、その材料は不
良品であると評価する。
(ボ)実施例
第3図に示すように、磁界Ilo中に、比透磁率μs
(−1+X/μo)、〔X:帯磁率、po=4πXl
0−7)の材料Pを置くと、 M=SLtto (X/po> Ho/ (1+
NX/ μo) (wb−m) の磁気モーメントが発生する。
(−1+X/μo)、〔X:帯磁率、po=4πXl
0−7)の材料Pを置くと、 M=SLtto (X/po> Ho/ (1+
NX/ μo) (wb−m) の磁気モーメントが発生する。
ここでNは減磁係数であって、形状により異なる。Sは
材料Pの断面積、Lはその長さである。
材料Pの断面積、Lはその長さである。
NX/μOくく1のときは、磁気モーメントMはM″q
XHo ・SL (wb−m) となる。そしてこの試料Pから磁界■]が発生し、この
磁界Hは、与えた磁界HOを直交する。また上式より、
磁界Hは比透磁率μS中の帯磁率Xに比例することが判
る。
XHo ・SL (wb−m) となる。そしてこの試料Pから磁界■]が発生し、この
磁界Hは、与えた磁界HOを直交する。また上式より、
磁界Hは比透磁率μS中の帯磁率Xに比例することが判
る。
第1図はこの発明の1実施例を示す評価装置の側面図で
ある。
ある。
試験すべき材料はステンレス鋼のパイプ1であり、永久
磁石2からの強力磁界がヨーク3を経て、ステンレス鋼
パイプ1の直径方向に印加されるようになっている。
磁石2からの強力磁界がヨーク3を経て、ステンレス鋼
パイプ1の直径方向に印加されるようになっている。
また、パイプ1の筒内には強力磁界が加えられる位置に
、パイプ1の軸に平行に差動形の磁気センサ4が配列さ
れている。
、パイプ1の軸に平行に差動形の磁気センサ4が配列さ
れている。
パイプ1は、ブロック5によって保持され、ブロック5
の円周部にローラ6・7・8が設けられ、このローラ6
・7・8によりパイプ1は円周方向と、紙面の表裏方向
に移動自在に構成されている。
の円周部にローラ6・7・8が設けられ、このローラ6
・7・8によりパイプ1は円周方向と、紙面の表裏方向
に移動自在に構成されている。
第2図は差動形の磁気センサ(フラックスゲート)4の
側面図である。この装置は差動形の磁気センサを用いて
いるので地磁気等、外乱ノイズに強いという利点がある
。
側面図である。この装置は差動形の磁気センサを用いて
いるので地磁気等、外乱ノイズに強いという利点がある
。
この実施例装置において、パイプ1を円周方向に回転さ
せながら、紙面の表から裏に向けて進行させ、永久磁石
1からパイプ1に強力磁界Hoを連続的に印加すると、
差動形の磁気センサ4により、磁気モーメントMを検出
することにより、パイプ1の’MGft率の変化を測定
できる。もし、パイプ1の組成が変化していると、応じ
てその点における磁気センサ4の出力も変化するので、
その出力の変化度合により、パイプlの良否を判定でき
る。
せながら、紙面の表から裏に向けて進行させ、永久磁石
1からパイプ1に強力磁界Hoを連続的に印加すると、
差動形の磁気センサ4により、磁気モーメントMを検出
することにより、パイプ1の’MGft率の変化を測定
できる。もし、パイプ1の組成が変化していると、応じ
てその点における磁気センサ4の出力も変化するので、
その出力の変化度合により、パイプlの良否を判定でき
る。
なお上記実施例装置に、ロークリエンコーダや、スケー
ラを設け、これらロークリエンコーダ、スケーラの位置
信号と、磁気センサ4の出力を記録計に[苗かせる他、
メモリに記憶し、CPLI処理すれば、そのパイプ1の
非常に厳密な磁気的変化特性を1nることができる。
ラを設け、これらロークリエンコーダ、スケーラの位置
信号と、磁気センサ4の出力を記録計に[苗かせる他、
メモリに記憶し、CPLI処理すれば、そのパイプ1の
非常に厳密な磁気的変化特性を1nることができる。
また、上記実施例では、永久磁石2を、パイプ■の部外
に設けているが、第1図の破線で示すように、永久磁石
2゛をパイプ1の筒内に設けてもよい。このようにすれ
ば、磁気センサ4と永久磁石2゛の位置関係が固定され
て、磁気センサ4の出力が安定する。
に設けているが、第1図の破線で示すように、永久磁石
2゛をパイプ1の筒内に設けてもよい。このようにすれ
ば、磁気センサ4と永久磁石2゛の位置関係が固定され
て、磁気センサ4の出力が安定する。
また、上記実施例では、パイプ1等に磁界を加えるのに
、永久磁石を使用しているが、これに代えて電磁石を用
いてもよい。これにより、任意の強さの磁界HOを得る
ことができるとともに交番磁界による帯磁率Xを求める
ことも可能となる。
、永久磁石を使用しているが、これに代えて電磁石を用
いてもよい。これにより、任意の強さの磁界HOを得る
ことができるとともに交番磁界による帯磁率Xを求める
ことも可能となる。
また、上記実施例では差動形の磁気センサ4を1個使用
しているが、第1図の破線で示すように複数個の磁気セ
ンサ4’ 、4’ を設けてもよい。
しているが、第1図の破線で示すように複数個の磁気セ
ンサ4’ 、4’ を設けてもよい。
これにより多くの情報を一度に得ることができる。
この場合は、磁石の磁界鎖交をさけるため、パイプ1の
軸に平行な方向に位置をずらせて配列することになる。
軸に平行な方向に位置をずらせて配列することになる。
さらにまた、上記実施例では、被試験材としてパイプを
例にあげたが、この発明の装置は、板材等の評価にも使
用できるものであるこというまでもない。
例にあげたが、この発明の装置は、板材等の評価にも使
用できるものであるこというまでもない。
(へ)効果
この発明によれば、磁気的な検出により、材料の組成変
化を検出するものであるから、計測を迅速かつ正確に行
うことができる。また非破壊検査が可能であり、被試験
材からサンプルの取り出しによる形成加工等は不要であ
るから、それにともなう熱歪等による状悪変化は何ら心
配する必要がない。
化を検出するものであるから、計測を迅速かつ正確に行
うことができる。また非破壊検査が可能であり、被試験
材からサンプルの取り出しによる形成加工等は不要であ
るから、それにともなう熱歪等による状悪変化は何ら心
配する必要がない。
第1図はこの発明の1実施例を示すバイブの評価装置の
正面図・、第2図は同評価装置に使用される磁気センサ
の側面図、第3図は同装置の採用原理を説明するための
図である。 1:パイプ、 2:永久磁石、 3:ヨーク、 4:差動形の磁気センサ特許出願人
株式会社島津製作所代理人 弁理士
中 村 茂 信第2図
正面図・、第2図は同評価装置に使用される磁気センサ
の側面図、第3図は同装置の採用原理を説明するための
図である。 1:パイプ、 2:永久磁石、 3:ヨーク、 4:差動形の磁気センサ特許出願人
株式会社島津製作所代理人 弁理士
中 村 茂 信第2図
Claims (1)
- (1)被試験低透磁率材の面方向に沿つて差動形磁気セ
ンサが設けられ、かつ前記被試験低透磁率材及び差動形
磁気センサの検知軸に直交する方向に磁界を印加する磁
界付与手段を備え、前記差動形磁気センサの磁気出力に
より、前記被試験低透磁率材の品質を評価することを特
徴とする低透磁率材の評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59176035A JPH061261B2 (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 低透磁率材パイプの評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59176035A JPH061261B2 (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 低透磁率材パイプの評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6153561A true JPS6153561A (ja) | 1986-03-17 |
JPH061261B2 JPH061261B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=16006582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59176035A Expired - Lifetime JPH061261B2 (ja) | 1984-08-23 | 1984-08-23 | 低透磁率材パイプの評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH061261B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63311186A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁化率分布測定装置 |
JPH02120658A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-08 | Nippon Yakin Kogyo Co Ltd | 磁性母相を有する液相焼結合金の検査方法 |
JPH072620U (ja) * | 1993-06-10 | 1995-01-13 | 貴 高橋 | ネジ受け具 |
JP2000241393A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Hitachi Building Systems Co Ltd | エレベータ用ロープの磁気探傷装置 |
JP2019174298A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 住友金属鉱山株式会社 | 組成判定方法、組成判定装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5420759A (en) * | 1977-07-15 | 1979-02-16 | Shimadzu Corp | Metal detector |
-
1984
- 1984-08-23 JP JP59176035A patent/JPH061261B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5420759A (en) * | 1977-07-15 | 1979-02-16 | Shimadzu Corp | Metal detector |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63311186A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁化率分布測定装置 |
JPH02120658A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-08 | Nippon Yakin Kogyo Co Ltd | 磁性母相を有する液相焼結合金の検査方法 |
JPH072620U (ja) * | 1993-06-10 | 1995-01-13 | 貴 高橋 | ネジ受け具 |
JP2000241393A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Hitachi Building Systems Co Ltd | エレベータ用ロープの磁気探傷装置 |
JP2019174298A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 住友金属鉱山株式会社 | 組成判定方法、組成判定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH061261B2 (ja) | 1994-01-05 |
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