JPS5952970B2 - 光検出回路 - Google Patents
光検出回路Info
- Publication number
- JPS5952970B2 JPS5952970B2 JP9648979A JP9648979A JPS5952970B2 JP S5952970 B2 JPS5952970 B2 JP S5952970B2 JP 9648979 A JP9648979 A JP 9648979A JP 9648979 A JP9648979 A JP 9648979A JP S5952970 B2 JPS5952970 B2 JP S5952970B2
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- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気テープ等のウェブに設けたマーカの検出状
態を診断調整する光検出回路に関するものである。
態を診断調整する光検出回路に関するものである。
従来、磁気記録再生装置等に用いる磁気テープでは、た
とえば第１図ｂに示すように、テープ２の始端、終端の
近くにＢＯＴマーカ６とＥＯＴマーカ７と称するアルミ
ニウム箔が記録面の裏側に貼つてあり、この両マーカを
光検知器で検出することによりデータ記録領域が検知で
きる。
とえば第１図ｂに示すように、テープ２の始端、終端の
近くにＢＯＴマーカ６とＥＯＴマーカ７と称するアルミ
ニウム箔が記録面の裏側に貼つてあり、この両マーカを
光検知器で検出することによりデータ記録領域が検知で
きる。
光検知器の位置は第１図ａの巻取り、巻戻し両リール１
、、１０間の磁気テープ２の経路の略図に示すように、
両側にテープたるみ吸引部を有するキヤプスタン３の近
傍において、テープの記録面側に磁気ヘッド４が、裏面
側に光検知器５が設けられる。第２図ａ、ｂは従来の光
検知器の回路例を示す。
、、１０間の磁気テープ２の経路の略図に示すように、
両側にテープたるみ吸引部を有するキヤプスタン３の近
傍において、テープの記録面側に磁気ヘッド４が、裏面
側に光検知器５が設けられる。第２図ａ、ｂは従来の光
検知器の回路例を示す。
すなわち、同図ａに示すように、電源＋５Ｖにより所定
電圧が印加された発光素子１１と受光素子１２が、同図
ｂに示すように、マーカの通過時発光素子１１からの投
射光がマーカ６７に反射して受光素子１２に入射するよ
うに配置される。このようにして得られた受光素子１２
の出力電流は可変抵抗１３とコンデンサ１４の並列回路
により４点を所定電圧に調整して、電圧比較器１５の入
力側負端子に入れる。４点電圧はマーカでない時は暗電
流やテープベース面での光反射等でたとえばＯ、３Ｖ以
下になつているが、マーカを検出すると１．６Ｖとなる
ように可変抵抗１３により設定される。
電圧が印加された発光素子１１と受光素子１２が、同図
ｂに示すように、マーカの通過時発光素子１１からの投
射光がマーカ６７に反射して受光素子１２に入射するよ
うに配置される。このようにして得られた受光素子１２
の出力電流は可変抵抗１３とコンデンサ１４の並列回路
により４点を所定電圧に調整して、電圧比較器１５の入
力側負端子に入れる。４点電圧はマーカでない時は暗電
流やテープベース面での光反射等でたとえばＯ、３Ｖ以
下になつているが、マーカを検出すると１．６Ｖとなる
ように可変抵抗１３により設定される。
電圧比較器（以下簡単に比較器という）１５の入力側正
端子には電源電圧＋ ５Ｖを抵抗Ｒ、、Ｒ。で分圧した
８点の閾値電圧を入れるとともに、その出力側端子は負
荷抵抗Ｒ。を介して＋５Ｖに接続し、また正帰還抵抗Ｒ
、を介して入力側負端子に接続する。この接線により、
８点間値電圧はマーカ検出していない時はＯ、７８Ｖで
あり、一度マーカを検出すると正帰還抵抗Ｒ、により閾
値はＯ、６８Ｖになる。この比較器１５の出力をＴＴＬ
オープンコレクタインバータ１６を通して標準電圧に変
換して出力端１７より送出される。
端子には電源電圧＋ ５Ｖを抵抗Ｒ、、Ｒ。で分圧した
８点の閾値電圧を入れるとともに、その出力側端子は負
荷抵抗Ｒ。を介して＋５Ｖに接続し、また正帰還抵抗Ｒ
、を介して入力側負端子に接続する。この接線により、
８点間値電圧はマーカ検出していない時はＯ、７８Ｖで
あり、一度マーカを検出すると正帰還抵抗Ｒ、により閾
値はＯ、６８Ｖになる。この比較器１５の出力をＴＴＬ
オープンコレクタインバータ１６を通して標準電圧に変
換して出力端１７より送出される。
しかし、上述のような光検知器ではテープ面およびマー
カ面の汚れやほこり等のため反射率が落ち、また発光素
子、受光素子の劣化等により第３’図に４点電圧の経時
変化で示すように、マーカ検出時は実線のＳ、マーカ以
外は実線のＮのような特性の低下が認められる。
カ面の汚れやほこり等のため反射率が落ち、また発光素
子、受光素子の劣化等により第３’図に４点電圧の経時
変化で示すように、マーカ検出時は実線のＳ、マーカ以
外は実線のＮのような特性の低下が認められる。
この場合閾値電圧をＬＢよりＵＢに変化すればＴｌ時点
以降は検知器として動作しなくなる。従つて、装置の保
守はＴｌ時点以前に行なわれることが望ましい。
以降は検知器として動作しなくなる。従つて、装置の保
守はＴｌ時点以前に行なわれることが望ましい。
たとえば、Ｔ。
時点で再度可変抵抗１３を調整して初期設定すると実線
のＳ，Ｎに対し点線のＳ″，Ｎ″の特性が得られる。し
かし劣化の度合は装置の使用頻度、環境条件等が同じで
ないため、保守時間Ｔ２は最も劣化の早い装置を基にし
て決めねばならない。そのため装置によつては不必要に
保守作業を行なうことになり不経済である。そこで個々
の装置に対し常時簡単なチエツクを行なつて検出状態を
把握できることが望ましい。本発明の目的は常時簡単な
方法でマーカの検出状態をチエツクできかつ保守の際の
調整作業を容易にした光検出回路の診断調整方式を提供
することである。上記目的を達成するため本発明の光検
出回路では、ウエブ上のマーカを検出するための光検出
閾値を変化させる可変手段を設けたものである。
のＳ，Ｎに対し点線のＳ″，Ｎ″の特性が得られる。し
かし劣化の度合は装置の使用頻度、環境条件等が同じで
ないため、保守時間Ｔ２は最も劣化の早い装置を基にし
て決めねばならない。そのため装置によつては不必要に
保守作業を行なうことになり不経済である。そこで個々
の装置に対し常時簡単なチエツクを行なつて検出状態を
把握できることが望ましい。本発明の目的は常時簡単な
方法でマーカの検出状態をチエツクできかつ保守の際の
調整作業を容易にした光検出回路の診断調整方式を提供
することである。上記目的を達成するため本発明の光検
出回路では、ウエブ上のマーカを検出するための光検出
閾値を変化させる可変手段を設けたものである。
そして、マーカを検出した状態でウエブを停止させ、停
止状態で上記可変手段により閾値を変化させて、その時
のマーカ検出状態を表示手段に表示するようにしたもの
である。これにより、マーカ検出時の閾値変化によるマ
ーカ検出回路の保守調，整の要否をオペレータ等に通知
できるものである。以下本発明を実施例につき詳述する
。
止状態で上記可変手段により閾値を変化させて、その時
のマーカ検出状態を表示手段に表示するようにしたもの
である。これにより、マーカ検出時の閾値変化によるマ
ーカ検出回路の保守調，整の要否をオペレータ等に通知
できるものである。以下本発明を実施例につき詳述する
。
第４図は本発明の実施例の構成を示す説明図である。
同図において、第２図の従来例の構成と異１なる点は、
比較器１５の入力側正端子からそれぞ些′イオ＝ドＤ１
と抵抗Ｒ，およびダイオードＤ２と抵抗亀の直列回路を
介して電源電圧＋５Ｖに接続し、ダイオードＤ１と抵抗
Ｒ５の間およびダイオードＤ２と抵抗Ｒ６の間にそれぞ
れＴＴＬオープンコレ．クタインバータ２］，２２を介
して、テスト信号１，２を与えるようにしたことである
。この構成で、テスト信号１，２を高レベルとすると、
ダイオードＤｌ，Ｄ２はカツトオフされ８点の閾値電圧
はマーカ検出しない場合には従来通り．０．７８Ｖにな
つている。
比較器１５の入力側正端子からそれぞ些′イオ＝ドＤ１
と抵抗Ｒ，およびダイオードＤ２と抵抗亀の直列回路を
介して電源電圧＋５Ｖに接続し、ダイオードＤ１と抵抗
Ｒ５の間およびダイオードＤ２と抵抗Ｒ６の間にそれぞ
れＴＴＬオープンコレ．クタインバータ２］，２２を介
して、テスト信号１，２を与えるようにしたことである
。この構成で、テスト信号１，２を高レベルとすると、
ダイオードＤｌ，Ｄ２はカツトオフされ８点の閾値電圧
はマーカ検出しない場合には従来通り．０．７８Ｖにな
つている。
ここで゛マーカ検出したとし、そこで停止させたまま、
テスト信号１を低レベルとすると、抵抗Ｒ５とダイオー
ドＤ１の回路に電流が流れ８点の閾値電圧をたとえば１
．０１とすることができる。この時マーカが検出で゛き
たとすると、光出力は１．０１Ｖ以上あることになり、
まだ保守する必要はないが、閾イ直を上げたことにより
マーカが検出で゛きなかつた時は保守が必要と判断し、
その表示を行なう。
テスト信号１を低レベルとすると、抵抗Ｒ５とダイオー
ドＤ１の回路に電流が流れ８点の閾値電圧をたとえば１
．０１とすることができる。この時マーカが検出で゛き
たとすると、光出力は１．０１Ｖ以上あることになり、
まだ保守する必要はないが、閾イ直を上げたことにより
マーカが検出で゛きなかつた時は保守が必要と判断し、
その表示を行なう。
保守時はマーカ検出時にテスト信号２のみ低レベルとし
８点の閾値電圧をたとえば１．６４Ｖに設定する。
８点の閾値電圧をたとえば１．６４Ｖに設定する。
そしてマーカ検出信号が高レベルになる瞬間まで、すな
わち表示用発光ダイオード１８が点灯するまで、可変抵
抗１３を増加させれば調整は完了する。調整時やチエツ
ク時以外はテスト信号１，２共に高レベルとし、閾値電
圧は０．７８Ｖに下げておく。
わち表示用発光ダイオード１８が点灯するまで、可変抵
抗１３を増加させれば調整は完了する。調整時やチエツ
ク時以外はテスト信号１，２共に高レベルとし、閾値電
圧は０．７８Ｖに下げておく。
この調整方法の場合、８点の電位を測定する必要がない
ので、調整が容易となる利点がある。実施例では磁気記
録再生装置の磁気テープのＢＯＴ／ＥＯＴ検出について
説明したが、一般にテープ状媒体、すなわちウエブの移
送装置のマーカの検出に本発明を広く適用しうることは
明らかである。以上説明したように、本発明においては
、マーカを検出している間にウエブを停止させ、光検出
回路の光検出閾値を変化させてマーカ検出状態を診断調
整しその表示を行ないその後再び閾値を元に戻すように
している。
ので、調整が容易となる利点がある。実施例では磁気記
録再生装置の磁気テープのＢＯＴ／ＥＯＴ検出について
説明したが、一般にテープ状媒体、すなわちウエブの移
送装置のマーカの検出に本発明を広く適用しうることは
明らかである。以上説明したように、本発明においては
、マーカを検出している間にウエブを停止させ、光検出
回路の光検出閾値を変化させてマーカ検出状態を診断調
整しその表示を行ないその後再び閾値を元に戻すように
している。
これにより常時マーカ検出状態が把握できるから、使用
頻度、環境条件等の異なる装置に応じた保守時間が設定
でき、経済的な保守が可能となる。
頻度、環境条件等の異なる装置に応じた保守時間が設定
でき、経済的な保守が可能となる。
第１図Ａ，ｂは磁気テープのマーカ検出の一般説明図、
第２図Ａ，ｂは従来の光検出回路の説明図、第３図は従
来および本発明の特性説明図、第４図本発明の実施例の
構成を示す説明図であり、図中、１１は発光素子、１２
は受光素子、１３は可変抵抗、１４はコンデンサ、１５
は比較器、］６，２１，２２はＴＴＬのオープンコレク
タインバータ、１７は出力端子を示す。
第２図Ａ，ｂは従来の光検出回路の説明図、第３図は従
来および本発明の特性説明図、第４図本発明の実施例の
構成を示す説明図であり、図中、１１は発光素子、１２
は受光素子、１３は可変抵抗、１４はコンデンサ、１５
は比較器、］６，２１，２２はＴＴＬのオープンコレク
タインバータ、１７は出力端子を示す。
Claims (1)
- １ ウェブ移送装置により移送されるウェブ上に設けら
れ、ウェブと光学的性質を異にするマーカを検出する比
較手段を含む光検出回路であつて、前記マーカの検出時
にウェブを停止させる制御手段と、このウェブ停止状態
で前記比較手段の光検出閾値を変化させる閾値可変手段
と、光検出閾値の変化によるマーカ検出状態を表示する
表示手段とを設けたことを特徴とする光検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9648979A JPS5952970B2 (ja) | 1979-07-28 | 1979-07-28 | 光検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9648979A JPS5952970B2 (ja) | 1979-07-28 | 1979-07-28 | 光検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5621022A JPS5621022A (en) | 1981-02-27 |
| JPS5952970B2 true JPS5952970B2 (ja) | 1984-12-22 |
Family
ID=14166480
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9648979A Expired JPS5952970B2 (ja) | 1979-07-28 | 1979-07-28 | 光検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5952970B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60167558U (ja) * | 1984-04-13 | 1985-11-07 | アイシン精機株式会社 | 上下可動式ヘツドレスト装置 |
| WO2021029120A1 (ja) * | 2019-08-09 | 2021-02-18 | スガツネ工業株式会社 | 引戸装置 |
-
1979
- 1979-07-28 JP JP9648979A patent/JPS5952970B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60167558U (ja) * | 1984-04-13 | 1985-11-07 | アイシン精機株式会社 | 上下可動式ヘツドレスト装置 |
| WO2021029120A1 (ja) * | 2019-08-09 | 2021-02-18 | スガツネ工業株式会社 | 引戸装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5621022A (en) | 1981-02-27 |
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