JPS594861B2 - スレショ−ルド効果集積論理回路 - Google Patents

スレショ−ルド効果集積論理回路

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JPS594861B2
JPS594861B2 JP52072909A JP7290977A JPS594861B2 JP S594861 B2 JPS594861 B2 JP S594861B2 JP 52072909 A JP52072909 A JP 52072909A JP 7290977 A JP7290977 A JP 7290977A JP S594861 B2 JPS594861 B2 JP S594861B2
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/26Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback
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    • H03K3/288Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback using means other than a transformer for feedback using at least two transistors so coupled that the input of one is derived from the output of another, e.g. multivibrator bistable using additional transistors in the input circuit
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    • H03K3/2893Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger

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  • Power Engineering (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は第1および第2インジエクシヨントランジスタ
を有し、各トランジスタのコレクタを他のトランジスタ
のベースに接続し、これらトランジスタの共通エミツタ
を第、1電圧レベルとし、第1トランジスタには出力端
子に接続する第2コレクタを設けたトリガ回路を含むヒ
ステリシスを有するスレシヨールド効果集積論理回路に
関するものである。
12L型の電流注入論理回路は既知であり、その回路は
相異なる導電型の半導体領域で形成され、一般に被制御
と称される相補形トランジスタのベースに電流を流入す
る領域で形成され、かつこれらトランジスタ自身はいわ
ゆる制御トランジスタで制御される少くとも1個の電流
注入回路を有している。
I2L技術によつて構成される回路は、ヒステリシスを
有するスレシヨールド効実装置を有し、この装置はある
程度のノイズ免疫性をもつて論理演算を行うことができ
る。このような既知の回路の1例には、本出願人の所有
に係る1975年4月22日付のフランス特許出願第7
5一12,480″集積論理回路用スレシヨールド装置
7がある。このヒステリシス転送特性を有する装置は、
かなりの移行電圧値(エタスカーシヨン)と、不所望あ
るいはノイズ信号とを有する入力信号を受信し、急竣な
立上りを有する再生信号を供給する。場合によつては外
部電力を供給することなく、機械的動作あるいは簡単な
接続すなわち1例としてアースへの接続のみにより特定
のエクスカーシヨンを有する信号を得る必要がある。本
発明はこのような問題を解決しようとするものであり、
とくに2段の電流注入回路に直列に電力を供給する場合
で、各段が約0.7Vの電圧降下、すなわちほぼP/N
接合ダイオードの端子間の電圧降下を有する場合に適合
するものである。本発明による第1および第2インジエ
クタトランジスタを有し、各トランジスタのコレクタを
それぞれ他方のトランジスタのベースに接続し、これら
トランジスタの共通エミツタを第1電圧レベルとし、ま
た前記第1インジエクタトランジスタに第2コレクタを
設けこれを出力端子に接続してなるトリガ回路を有する
ヒステリシス付のスレシヨールド効果集積論理回路は、
第2トランジスタのベースを少くとも1個のダイオード
を通じ回路の人力端子に接続し、第1トランジスタのベ
ースを電流増幅器の出力トランジスタとなるトランジス
タのコレクタに接続し、本電流増幅器は奇数個のインジ
エクタトランジスタを有しその共通エミツタを前記第1
電圧レベルとし、前記増幅器の人力トランジスタとなる
トランジスタのベースを前記入力端子に接続し、該人力
端子と基準電位点の間の接続回路に遮断装置を設け、前
記入力トランジスタのインジエタタにより供給される電
流をこの人力トランジスタによつて制御されるトランジ
スタのインジエクタにより供給される電流よりも大とし
、前記ダイオードを通する内部電圧降下と閉位置にある
前記遮断装置を通する電圧降下との和が、前記第1電圧
レベルと、前記トランジスタのエミツタベース接合を通
する電圧降下との和よりも小となるように構成したこと
を特徴とする。
本発明による回路は入力端子と参照電圧点の間の接続に
よりトリガ回路が一方向に制御される人力信号発生器を
必要とせず、その反対にトリガ回路は前記接続の遮断に
よつて他の方向に制御される。トリガ回路の動作は次の
如くである。(1)人力端子と参照電圧点の間の接続が
遮断されると、入力端子の電圧が増加し、増幅器はその
増幅器の人力トランジスタのインジエクタ(電流注入回
路)により付勢される。
増幅器の入力トランジスタは導通し、その結果増幅器の
出力トランジスタも同じく導通する。一方、偶数番のト
ランジスタは遮断され、トリガ回路の第2トランジスタ
も遮断され、この第1のトランジスタのコレクタに接続
されている出力端子は第1の状態゛1”に対応する電位
となる。(2)入力端子が参照電位点に接続されるとこ
の電圧降下によつてトリガ回路及び増幅器のトランジス
タのすべての状態が変化し、従つてこれらは遮断状態よ
り導通状態に移行するか、あるいはその逆に移行する。
トリガ回路の第1トランジスタはターンオンされ、出力
端子の電位はほぼ第1電圧レベルに等しくなり、出力は
第2状態“O゛に移行する。(出力端子の状態に゛01
及び゛1゛を付して示すのはこれらを互いに識別する目
的のためである。)第1図の波形図に本回路の入力端子
の種々の電圧レベルを示してある。
トリガ回路が状態を変化する2つのスレシヨールド値は
次の如くである。
(1)出力の゛0゜゛状態より”1゛状態への移行:ト
リガ回路は入力端子の電圧が第1レベルにおける電圧V
の和に等しい値V に達した時でM ′
SHゝ増幅器の入力トランジスタのベースエミツ
タ電圧がそのトランジスタの最小ターンオン電流である
時、(2)出力“1”状態より゛0゛状態への変化;ト
リガ回路は入力端子の電圧がトリガ回路の第2トランジ
スタのベースエミツタ電圧の和がそのトランジスタを導
通させる最小ベース電流である時の値の和よりその間に
介入されるダイオードの端子間の電圧降下を引いた値に
等しい値VSBに減少した時状態を変化する。
中間夕゛イオードの電圧降中にほぼ等しいヒステリシス
特性の振幅を定めるこれらスレシヨールド値の間の差V
は入力端子の電圧印加値に応じてE定まる。
本発明による回路は電流注入回路装置のすべての利点を
有し特にきわめて高い集積密度を可能とし、しかもきわ
めて低い供給電圧しか必要としない。
トリガ回路を通する電流の大部分は出力の制御装置に使
用しうるものである。本発明による回路の電流消費はき
わめてわずかなものであり、制御電流源あるいは制御信
号の使用を必要としない。本回路はさらに“O”及び゛
1”状態に対応する人力電圧レベルとトリガレベルとの
間に差を有している〇回路の入力端子の電圧か第1レベ
ルの電圧の和に等しい値8Hに達し、また前記入力トラ
ンジスタのベースエミツタ電圧が最小ターンオフ電流で
ある時に、トリガ回路の第1トランジスタをターンオフ
する増幅器の入力トランジスタのターンオンにより立上
がりスレシヨールドが得られ、さらに回路の入力端子の
電圧 に対し高いレベルHが得られる。
この値が第1レベルにおけるこの電圧とそのインジエク
タにより供給される最大電流における同じ入力トランジ
スタのベースエミツタ電圧の和に等しい。ベースエミツ
タ結合を通する電圧降下はトランジスタを通する電流に
応じて変化するので、トリガ回路のトリガレベルと装置
の出力力ぐ1″状態に安定する高いレベルとの間にはか
なり大きな差電圧値VlHが得られる。これは増幅器の
入力トランジスタのインジエクタにより供給される電流
とこの入力トランジスタにより駆動されるトランジスタ
のインジエタタにより供給される電流との間の差による
ものである。少なくとも高レベルに対するこの差V は
静ノイズ及び1H特に長期間の不所望信号に対する免疫
特性を生ずるOさらに回路の人力端子の電圧が値VQこ
低下し、SBその値が第1レベルの電圧と前記第2トラ
ンジスタのベースエミツタ電圧の和より中間ダイオード
に生ずる電圧降下を減じた値に等しい になつSBた場
合、トリガ回路の第2トランジスタかターンオフされる
と降下スレシヨールドに到達する。
そして回路の入力端子には電圧3に対し低レベルが得ら
れこの値が電圧降下 等に等しく、これCは遮断装置を
閉位置として導入することができる。
前記遮断装置に必要とする上述の要求よりトリガ回路の
トリガレベルと装置の出力における低レベル間の差 に
より自動的に00n状態への安定IBが得られる。
低レベルに対するこの差1Bは低周波雑音、特に基準電
圧点と遮断装置により導人される連続的あるいは遅い不
所望信号における低周波ノイズに対する免疫特性を劣化
させる。本発明の第1実施例においては第1レベルにお
ける電圧はP/N結合ダイオードの端子間の電圧降下に
等しく、すなわち例えばシリコン集積回路においては約
0.7である。
これはI2L回路で前記第1レベルとアース間で動作す
る回路の1つの段に相当する。また中間ダイオードはP
/N結合ダイオード及びスレシヨールド値間の差はP/
N結合を通する内部電圧降下にほぼ等しい。このような
比較的に大きな差があれば、例えば短いパルス及び比較
的大きな振幅が問題となる一般の工業的に得られる遮断
回路を用いる場合に考えられる短い不所望信号を補償す
るに充分な値である。上述の場合、すなわち中間ダイオ
ードがP/N結合でありまた第1レベルの電圧がP/N
結合ダイオードの端子間に生ずる電圧降下に等しい場合
、遮断装置はほぼ無視できるような電圧降下しか生じな
い金属導体間の接触開閉器により構成すると有利である
。低レベルとこの場合の降下スレシヨールドの間の差は
第2トランジスタのベースエミツタ電圧に等しくなる。
またこの場合、トランジスタのコレクタエミツタ回路に
より遮断装置を構成することができ、スイツチングトラ
ンジスタのエミツタコレクタの電圧降下はトランジスタ
の導通状態においては、この値はP/N結合に通する内
部電圧降下よりも小さい。基準電位点に対して第1レベ
ルの電圧が0である他の例においては、中間ダイオード
を金属半導体ダイオード、特にシヨツトキ一(SchO
ttky)型のダイオードとし、その内部電圧降下は半
導体のP/N結合ダイオードの電圧降下より小とする。
この内部電圧降下は例えば0.4Vの値程度である。ト
リガ回路を制御する増幅器は奇数個の縦続接続トランジ
スタを有し、各トランジスタはインバータとして動作す
る。また同時に増幅器の入力トランジスタ及び出力トラ
ンジスタとなる単に1個のトランジスタのみを有する増
幅器を使用することも可能である。しかし、各々が1よ
り大なる利得を有する3個の縦続トランジスタの組合わ
せで構成した増幅器を用いるを可とする。この構成によ
る本発明回路は相対的はほぼ同じ種類のトランジスタで
構成することができ、しかも増幅器の入 ニエトランジ
スタのインジエクタにより供給される電流とこの入力ト
ランジスタにより制御されるトランジスタの電流の間に
はかなり大なる差を設けることができる。特に上述の2
つのインジエクタにより供給される電流の間の比を10
より大とす 二ると有利であり、3個の増幅トランジス
タの利得を3より大とすると有利である。以下本発明を
図面により説明する。
第2図に示す回路は2個のNPNトランジスタT1及び
T2より構成されるトリガ回路を有する。
5第1トランジスタT1は2個のコレクタを有し、そ
の1つのコレクタを出力端子S1に接続する。2個のト
ランジスタは各々、他方のトランジスタのベースに接続
したコレクタを有する。
これらのトランジスタのエミツタは互いに接続 3し、
さらに第1電圧レベルM1を有する端子M1に接続する
これらトランジスタT1及びT2は121jW造を有し
、さらにそれぞれインジエクタ(電流注入回路)I,及
び12を有している。トランジスタT2のベースをP/
N結合ダイオードD34を通じ、さらに遮断装置C1を
通じ基準電圧端子M2に接続する。トランジスタT,の
ベースを2L構造を有するトランジスタT3により1駆
動する。トランジスタT3はインジエタタ13を有し、
そのベースを回路の遮断回路とダイオードD3の間にお
いて入力点Aに接続する。端子M1と基準電圧点M2の
間にはP/〜精合ダイオード回路を設け、これを通じ全
体の電圧降下がその結合に等しくなるようにし、この回
路をD5で表わす。ダイオードD3の内部電圧降下はダ
イオードD,の内部電圧降下にほぼ等しくする。この回
路配置においては増幅器は1個のトランジスタT3を有
するトリガ回路の第1トランジスタを制御し、このトラ
ンジスタは入力トランジスタとして作用すると同時に増
幅器の出力トランジスタとしても作用する。第2図に示
す回路は電気的制御信号を必要とせず遮断装置C1の転
換のみで出力S1の状態を変化させうる。C1が開くと
インジエクタ一[3は電流を供給し、これは点Aの電圧
を上昇せしめ、A点の電圧がレベルM1における電圧V
DSとトランジスタT3の最小ターンオン電流における
ベースエミツタ電圧VBET3の和に等しい値VSHl
の時にトランジスタT3はターンオンされる。この値V
SHlは上昇スレシヨールドである。インジエタタ3は
前記最小電流よりはるかに大なる電流を供給する。A点
の電圧は増加し、インジエクタ13により供給されトラ
ンジスタT3に注入される全電流に対するSH,の和と
同じ電圧に対応するレベルVHlに維持される。トラン
ジスタT3のベースエミツタ電圧の変化により生ずる電
圧SHlとVHlとの差はほぼ次式により与えられる。
式中kはボルツマン定数、Tは絶対温度、qは電荷量、
i1は1により注入されるトランジスタT3のコレクタ
電流、またI3は3により注入されるトランジスタT3
のベース電流である。
VSH,とH,との間の差は大なるノイズ免疫性を生じ
、本装置を長期間電圧変化の危険に耐えるようにし、ま
た不所望の雑音信号に耐えるようにする要素となる。
C1を閉じるとA点の電圧は基準電位、あるいは零に減
少する。
従つて電圧降下VClを生ずる。A点の電圧がレベルM
,の電圧VD5とトランジスタT2のベースエミツタ電
圧の和よりダイオードD3内の電圧降下VD3を滅じた
値に等しいVSBlより変化するとトリガ回路及び出力
S1はただちに転換する。すなわちトランジスタT2の
ベースエミツタ電圧に全体の値がほぼ等しくなる時にこ
の転換が生ずる。VSB,と基準電圧0との差、あるい
は場合によつては電圧C1との差は顕著なマージンを構
成し、電圧ドリフト、長期間の不所望ノイズ及びアース
障害等を減少せしめる〇ダイオードD3を通する電圧降
下にほぼ等しい電圧SHlとVSBlとの差によつて回
路のヒステリシスの振幅が定まり、一般に長期間生ずる
不所望信号の振幅よりもはるかに大なる振幅を有する短
時間の不所望ノイズに対し本装置を免疫性とする効果を
生ずる。
第3図及び第4図は第2図の回路を実現する具体的な実
施例を示すものである。
第4図の平面図において連続線で表わした集積回路をお
おう透明の酸化被膜に設けた接点開口は拡散領域の境界
を示すものであり、点線で示した必要な接続を得るため
のチツプをこれに金属蒸着により設ける。本装置はP型
基板1より出発しその上にN型電導度の島2及び3を構
成し、これを絶縁ゾーン8によつて区画する。島2の部
分4において逆方向トランジスタT,が形成され、その
エミツタは部分4で構成されまたそのベースは拡散領域
10によつて形成されまたそのコレクタは領域9及び1
7で構成され、これらはベース10内に拡散されたもの
である。このトランジスタに対するインジエクタは外側
はPNP構造で形成されそれは島2内に拡散されたP型
領域11を有し、またそれと島2及びベース10の3つ
の領域で構成される。これと同じ構造はトランジスタT
2も有しており、このトランジスタはトランジスタT1
と同様に逆NPN型でありそのベースはP型領域7であ
りそのエミツタは島2の領域でありそのコレクタはN型
領域12である。また同様にトランジスタT2のインジ
エクタは領域11、島2ならびに領域7によつて構成さ
れる。島2の部分に増幅トランジスタT3が位置し、そ
のエミツタは島2自体で構成され、そのベースはP型領
域5でまたそのコレクタはN型拡散領域26により構成
される。島3内にダイオードD3を形成し、そのダイオ
ードの2つの領域は拡散P型領域13及びN型の島3で
ある。島2の各部分は高度にドープしたN+型拡散領域
6及び27によつて分離する。トランジスタT3のコレ
クタ26をトランジスタT2のコレクタ12に接続しま
たこれを金属トラツク15を通じてトランジスタT1の
ベース10に接続する。
トランジスタT2のベース7をトランジスタT1のコレ
クタ9に接続しまた金属トラツク14を通じてダイオー
ドD3に接続する。トランジスタT2のベース7をトラ
ンジスタT1のコレクタ9に接続しまた金属トラツク1
4を通じダイオードD3に接続する。ダイオードD3の
他方の領域3をこの図画には示していない遮断装置に接
続し、またトランジスタT3のベース5も金属トラツク
23を通じ遮断装置に接続する。チツプをおおう絶縁層
28内の開口を通じこれらの接点を形成する。トランジ
スタT,のコレクタ17を金属トラツク25を通じ出力
端子に接続し、全体の長さにわたり領域11に接触する
金属トラツク16を通じインジエクタ電流を供給する。
本回路はその12L型構造により高度の集積密度を達成
することができ、しかも従来公知の集積回路製造技術に
よつて製造することが可能である。第5図は本発明によ
る回路の他の実施例であり、増幅器部分を3個の縦続接
続トランジスタT9,T,O及びT,,で形成し、また
トリガ回路をトランジスタT7及びT8で形成したもの
である。
これら全てのトランジスタのエミツタをアースに対し特
定の電圧関係を有する点M3に接続する。この特定の電
圧とはダイオードD6に対応する回路内の電圧降下に対
応する。遮断装置はトランジスタT4により構成しこれ
をアーム点Eに接続するかあるいは接続しないかにより
遮断装置を構成する。トランジスタT4はダイオードD
4を通じトランジスタT7のベースにも接続しさらに増
幅器の入力トランジスタT9のベースにも接続する。ト
ランジスタT7ないしTl,のインジエクタはインジエ
クタトランジスタ17ないしl],により図示してあり
これらトランジスタは注入電流17ないしIllを供給
する。トランジスタT8の第2コレクタを回路S,の出
力に接続する。ダイオードD4はP/N結合ダイオード
であり、このダイオードを通する内部電圧降下は例えば
12L回路の1つの段のダイオードD6に対応する回路
内の電圧降下と同程度の大きさである〇第5図に回路図
を示す装置は2L回路の製造技術における既知の方法で
製造することができ、工ピタキシヤル層を有するシリコ
ンチツプを用い、これに相異なる導電型の領域を絶縁し
た島として拡散あるいは注入により形成する。
トランジスタT7ないしTllは逆方向NPNトランジ
スタであり、そのエミツタはエピタ千シヤル層内に形成
した島の部分で構成する。インジエクタトランジスタ7
ないし111はラテラル構造でありそのベースはエピタ
キシヤル層内に形成した島内部分で構成しそれらのコレ
クタは注人トランジスタのベースによつて構成する。ダ
イオードD4およびトランジスタT7及びT9のベース
エミツタ接続を通する内部電圧降下は約0.7Vの程度
である。
トランジスタT4の導電状態におけるコレクタエミツタ
回路に生ずる電圧降下は0.3V程度である。インジエ
クタ7,8及びI,により供給される電流は例えば10
0nA(ナノアンペア)でありインジエクタ10により
供給される電流は10nAであり、インジエクタ11に
より供給される電流は30nA程度である。
トランジスタT,,TlO,T,lの電流利得は本実施
例では3より大である。これらの異なつた特性は寸法及
び材料の性質が同一の素子を組合わせて得ることができ
る。このように構成した回路は0.7Vの振幅に対しヒ
ステリシスを有し、トリガ回路の立上がりズレ 闘シヨ
ールドと6高1入力レベルとの差は60mVの程度であ
り、またトリガ回路の立下がリスレシヨールドと6低゛
入力レベルとの間の差は0.4Vの程度であり、これら
は遮断装置T4の電圧降下の関数として定まる。
第6図は本発明による回路の他の実施例の回路を示し、
その増幅器は同じく3個のトランジスタTl2,Tl3
,Tl4で構成される。
トリガ回路はトランジスタT5及びT6により構成され
、そのトランジスタの2つのコレクタのうちの1つは出
力端子S3に接続する。トランジスタT,,T6,Tl
2,Tl3及びTl4のエミツタは全てアースに接続す
る。トランジスタT3のベースをシヨツト牛一型金属半
導体ダイオードD2を通じ増幅器の人力トランジスタの
ベースに接続する。接触開閉器C3はトランジスタTl
2のベース及びダイオードD2をアースに接続し又はこ
れより遮断することができる。トランジスタT5,T6
,Tl2,T,3及びTl4はインジエクタトランジス
タでありそれらのインジエクタはそれぞれ5,6,11
2,113及び14である。本回路はダイオードD2を
通する内部電圧降下に対応する0.4Vの振幅に対しヒ
ステリシスを有し、又上側スレシヨールド電圧は0.6
50であり下側スレシヨールド電圧は0.250Vであ
り、上側スレシヨールドと高レベル間の差は増幅器とイ
ンジエクタ一の特性に応じ50ないし100mVとする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明回路の各電圧を示す図表、第2図は本発
明装置の一例を示す回路図、第3図は第2図の回路を具
体化する半導体装置の断面図、第4図は第3図の装置の
平面図、第5図は本発明装置の他の実施例の回路図、第
6図は本発明のさらに他の実施例の回路図である。 11〜114・・・・・・インジエクタ、T1〜Tl4
・・・・・・トランジスタ、D1〜D6・・・・・・ダ
イオード、S,〜S3・・・・・・出力端子、C1〜C
3・・・・・・遮断装置、E・・・・・・アース点、M
l,M2,M3・・・・・・端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1および第2インジエクタトランジスタを有し、
    各トランジスタのコレクタをそれぞれ他方のトランジス
    タのベースに接続し、これらトランジスタの共通エミッ
    タを第1電圧レベルとし、また前記第1インジェクタト
    ランジスタに第2コレクタを設けこれを出力端子に接続
    してなるトリガ回路を有するヒステリシス付のスレシヨ
    ールド効果集積論理回路において、第2トランジスタの
    ベースを少くとも1個のダイオードを通じ回路の入力端
    子に接続し、第1トランジスタのベースを電流増幅器の
    出力トランジスタとなるトランジスタのコレクタに接続
    し、本電流増幅器は奇数個のインジェクタトランジスタ
    を有し、その共通エミッタを前記第1電圧レベルとし、
    前記増幅器の入力トランジスタとなるトランジスタのベ
    ースを前記入力端子に接続し、該入力端子と基準電位点
    の間の接続回路に遮断装置を設け、前記入力トランジス
    タのインジェクタにより供給される電流をこの入力トラ
    ンジスタによつて制限されるトランジスタのインジェク
    タにより供給される電流よりも大とし、前記ダイオード
    を通ずる内部電圧降下と閉位置にある前記遮断装置を通
    ずる電圧降下との和が前記第1電圧レベルと、前記トラ
    ンジスタのエミッタベース接合を通ずる電圧降下との和
    よりも小となるように構成したことを特徴とするスレシ
    ヨールド効果集積論理回路。 2 中間に介在せしめるダイオードをP/N接合ダイオ
    ードとし、第1レベルの電圧をこのP/N接合を通ずる
    電圧降下に等しくしたことを特徴とする特許請求範囲第
    1項記載の集積論理回路。 3 中間ダイオードをショットキィ型金属半導体ダイオ
    ードとし、第1レベルの電圧を0としたことを特徴とす
    る特許請求範囲第1項記載の集積論理回路。 4 直接接触の金属接触子により遮断装置を構成したこ
    とを特徴とする特許請求範囲第1項ないし第3項のいず
    れかに記載の集積論理回路。 5 トランジスタのコレクタエミッタ回路で前記遮断装
    置を構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項記載の集積論理回路。 6 3個の縦続接続トランジスタで増幅器を構成し、そ
    の1つのトランジスタのコレクタを次段のトランジスタ
    のベースに接続したことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項ないし第5項のいずれかに記載の集積論理回路。 7 トリガ回路及び増幅器のトランジスタを垂直逆型の
    NPNトランジスタとしたことを特徴とする特許請求範
    囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の集積論理回路
    。 8 増幅器の入力トランジスタのインジェクタにより供
    給される電流と、この入力トランジスタにより制御され
    るトランジスタの電流との比を10より大としたことを
    特徴とする特許請求範囲第1項ないし第6項のいずれか
    に記載の集積論理回路。 9 増幅トランジスタの利得を3より大としたことを特
    徴とする特許請求範囲第6項記載の集積論理回路。
JP52072909A 1976-06-22 1977-06-21 スレショ−ルド効果集積論理回路 Expired JPS594861B2 (ja)

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FR000007618922 1976-06-22
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JPS5386A JPS5386A (en) 1978-01-05
JPS594861B2 true JPS594861B2 (ja) 1984-02-01

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IT (1) IT1085239B (ja)

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FR2356314B1 (ja) 1981-09-25
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IT1085239B (it) 1985-05-28
FR2356314A1 (fr) 1978-01-20
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