JPS5948572B2 - アナログデジタル変換装置 - Google Patents

アナログデジタル変換装置

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JPS5948572B2
JPS5948572B2 JP4701179A JP4701179A JPS5948572B2 JP S5948572 B2 JPS5948572 B2 JP S5948572B2 JP 4701179 A JP4701179 A JP 4701179A JP 4701179 A JP4701179 A JP 4701179A JP S5948572 B2 JPS5948572 B2 JP S5948572B2
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signal
analog
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JP4701179A
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司 三上
純 本城
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Takeda Riken Industries Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は入力アナログ信号をデジタル信号に変換して
下位桁のデジタル出力を得ると共にその上位桁のデジタ
ル出力をアナログ信号に逆変換し、これと入力アナログ
信号との差を再びデジタル信号に変換して下位桁のデジ
タル出力を得ることによって高い精度の変換を行なうア
ナログデジタル変換装置に関する。
従来のこの種のアナログデジタル変換装置においてその
上位桁の出力をアナログ信号に逆変換するためのDA変
換器として高い精度のものを作る必要があり、この高い
精度のものを得るには高い精度の安定した抵抗器を多く
必要とし、全体として高価なものになった。
先ず従来のこの種のアナログデジタル変換装置を第1図
を参照して説明する。
入力端子11からの入力信号Exは入力可変減衰器12
を通じて可変利得増幅器13に供給され、この可変利得
増幅器13の出力は切換スイッチ14の接点a側を通じ
て積分器15に供給される。
積分器15においてその入力アナログ信号値が一定時間
積分される。
その後制御回路16の制御により切替スイッチ14は基
準電源17側につまり接点す側に切替えられて、この基
準電圧Er1が積分される。
この積分は先の接点aよりの入力信号と逆極性とされて
おり、その出力は比較器18において基準値例えばO電
位と比較される。
この基準値に積分出力が達すると制御回路16が制御さ
れて積分動作が停止される。
基準電源17の電圧を積分期間、いわゆる第2積分期間
において制御回路16はゲート19を開き、上位桁カウ
ンタ21はクロック発振器22よりのゲート19を通過
したクロックパルスを計数する。
この上位桁カウンタ21の計数値の例えば3桁が上位桁
変換出力とされる。
DA変換制御回路23が制御回路16によって制御され
て上記デジタル変換出力の上位3柘はDA変換器24に
おいてアナログ信号に逆変換される。
この変換の基準電圧Er2として基準電源25よりDA
変換器24に供給される。
この上位桁の逆変換アナログ出力は増幅器13に供給さ
れ、入力可変減衰器“12よりの入力アナログ信号との
差が増1@器13より取られる。
この入力信号と逆変換されたアナログ信号との差出力は
可変利得増1福器13において適当なレベルに増幅され
、この増幅利得は制御回路16によって適当に制御され
る。
この増幅された差のアナログ出力は切替スイッチ14の
接点a側を通じて積分器15により一定時間積分され、
その後基準電源17からの基準電圧を逆方向に積分して
その出力が予め決められたレベルに達するまでその積分
が行なわれる。
この積分期間の間ゲート26が開かれてクロック発生器
22のクロックがゲート26を通過して下位桁カウンタ
27において計数される。
この下位桁カウンタ27の計数値の4桁が変換された出
力デジタル信号の下位4桁とされる。
これと上位桁カウンタ21の3桁の出力と組合されて7
桁のデジタル出力が得られる。
例えば入力可変減衰器12の減衰量を0とし、つまり入
力端子11の信号がそのま\入力され、更に可変利得増
幅器13の利得を1とし、即ち増1福器13の出力に入
力端子11の入力アナログ信号がそのま\得られる状態
にしておいて、先に述べた上位桁のデジタル出力を得る
アナログデジタル変換を行なう。
その時の入力電圧Exが12.34567Vであったと
すると、上位桁の変換出力として12.3000Vが得
られる。
つまり上位桁カウンタ21が2進化10進カウンタの3
桁にて構成され、その3桁の値は上位桁より10進数で
1.2.3をそれぞれ示すことになる。
次にこの上位桁カウンタ21の計数値12.3がDA変
換器24によりアナログ信号に変換され、これと入力信
号Exとの差が可変利得増幅器13において増幅される
その時増幅器13の増幅度は例えば100とされる。
よって増幅器13の出力は4..567Vとなる。
こ、の4.567Vが先述と同様にしてデジタル信号に
変換される。
下位桁カウンタ27は2進化10進カウンタの4桁で構
成され、その計数1直は下位桁より10進化数で4゜5
.6.7となり、これが下位桁の変換出力である。
この下位桁に対するデジタル変換においては増幅器13
の利得は100とされているため、下位桁カウンタ27
の計数値は1/100とされ、つまり、0.04567
が正しい出力とされ、これと上位桁カウンタ21の3桁
の出力12.3との和が入力信号Exに対するデジタル
出力値 12.34567Vとして得られる。
このようなアナログデジタル変換装置においてはDA変
換器24の変換精度は下位桁のアナログデジタル変換に
おける最小桁の精度と同一である必要があり、先の例に
おける7桁の変換を行なうためにはその精度はippm
の精度である必要がある。
このためDA変換器24を構成する抵抗器としてその抵
抗値がこれに対応した高い精度のものが必要であり、し
かもその抵抗値の安定度も高いことが要求される。
更にDA変換器24における各重さビットの抵抗器の抵
抗値はその各ビット毎に校正して正しい変換出力が得ら
れるようにする必要があり、この校正のために多くの時
間を必要とした。
例えば薄膜抵抗を用い、その一部をいわゆるレーザート
リミングにより焼き飛ばして抵抗値の微細な調整を行っ
ていた。
この調整には特殊な装置を必要とし、かつ比較的長い時
間がか一つた。
しかも焼き飛ばされて残った部分の薄膜抵抗は高温にさ
らされたため、安定性が悪くなる欠点があった。
高密度実装化、温度変化の低減化のために、薄膜抵抗パ
ターンが微細化されているが、これは抵抗値の調整を難
かしくしていた。
又この装置全体の確度及び安定度はDA変換器24の各
抵抗器の安定度で大きく作用され、確度及び安定度は使
用する抵抗器の安定度の総和となり、長期的にわたり、
高い安定度を確保することが難しかった。
この発明の目的)まDA変換器における変換精度がそれ
ほど厳密なものでない、つまり予め正確に校正しておく
必要がなく、しかも高い精度の変換出力を得ることがで
き、更にDA変換器の安定度も比較的低いものであって
も常に高い精度の変換出力を得ることができ、全体とし
て安価に構成することができるアナログデジタル変換装
置を提供するものである。
この発明によれば変換デジタル出力の下位桁をアナログ
信号に変換するためのDA変換器の各変換ビットの理想
的な出力と対応した校正用基準電圧を発生する校正用基
準電圧源を設け、変換操作に先立って予めそのDA変換
器の各ビットを1つづつ入力し、これと対応したそのビ
ットの出力と校正用基準電圧との差を下位桁に対応する
アナログデジタル変換器において変換して、つまりDA
変換器における誤差分をデジタル信号として得ておき、
これを補正信号として変換されたデジタル信号の下位桁
に加える。
前記校正用基準電圧源としては主基準信号を時分割して
出力する時分割回路を含み、その時分割比により出力校
正基準電圧値が決定されるものが用いられる。
このようにすることによってDA変換器自体としては安
価なもので構成し、つまり変換精度が高いものでなく、
入力デジタル信号に対して正しい値からずれていても、
これに対する補正信号を先ず求め、その補正信号により
変換出力に対して補正が行なわれるため、アナログデジ
タル変換としては高い精度の変換が行なわれる。
更に校正用基準電圧源として時分割回路を含むものが用
いられ、その出力電圧は時分割比で決定される。
その時分割比の決定はクロックパルス発生器の周波数で
決定され、クロックパルス発生器としては高い精度のも
のを比較的容易に用いることができ、時分割比の変換に
デジタル処理により行うことができ、高い精度の校正用
基準電圧を設定することが容易に行える。
特に積分方式によりアナログデジタル変換を行なう場合
には、校正用基準電圧にリップルが存在していても、積
分効果により平滑化され、従って校正用基準電圧源とし
て、その時分割された出力を平滑するための平滑回路を
省略、又は簡略化することができ、半導体集積回路とし
て構成することが容易となる。
DA変換器に対する校正は各変換動作に先立って行って
も良く、或いは各ビットに対して校正を行なうため、1
回の変換動作ごとに1つのビットに対する補正信号を得
、その校正ビットを変換動作ごさに順次ずらすようにし
てもよい。
更に必要に応じて各増幅器のドリフトに対する補正等も
行なうことを入力信号のデジタル変換動作と交互に常時
性なうことによって常に一定時間毎に例工ば数秒毎に新
たな補正信号が得られるようにすることもできる。
このような制御はいわゆるマイクロコンピュータを使用
したプログラム制御により、常に自動的に行なわれるよ
うに構成することができ、このようにすればDA変換器
の抵抗器としては安定度が低い安価なものでも常に安定
した高い精度の変換出力が得られることになる。
例えば第2図に示すように入力端子11よりの入力アナ
ログ信号は可変減衰器12を通じ、更に切替スイッチ3
1を通じて増幅器32にて増1幅され、その増幅出力は
加算器13を通じ、更に切替スイッチ14を通じて積分
器15に供給されて一定時間積分される。
その後、切替スイッチ14は基準電圧源33よりの基準
電圧側に切替られて積分器15において逆方向に積分さ
れ、その出力が所定値に達したことが比較器18にて検
出される。
この積分動作の間上位桁カウンタ21がクロック発生器
22よりのり田ツクを計数して上位桁に対する変換が得
られる。
この変換デジタル信号は切替スイッチ34に与えられて
DA変換器24によりアナログ信号に逆変換される。
その逆変換出力と、増幅器32を通じた端子11よりの
人力アナログ信号との差が加算器13で得られ、その差
出力が切替スイッチ14を通じて積分器15で一定時間
積分され、その後切替スイッチ14が基準電圧源33側
に切替えられて積分器15の出力が一定レベルになるま
で積分され、その間クロック発生器22のクロック信号
が下桁用のカウンタ27で計数されて下位桁に対する変
換出力が得られる。
基準電圧源33としては、校正用基準電圧をも発生する
ように構成されており、DA変換器24におけるその各
ビットについてそれが入力された時に得られる重みに対
応した理想的な変換アナログ出力電圧と同一の校正用基
準電圧を発生するように構成されている。
DA変換器24の1つのビットを入力した時の出力と、
これに対応した重みに対する基準電圧源33の校正用基
準電圧との差が加算器13にて得られ、この差が積分器
15及び比較器18等によるデジタル変換動作によって
デジタル信号に変換される。
これをDA変換器24の各ビットについて行なう。
つまりDA変換器24の各ビットに対する変換出力の誤
差成分がデジタル信号に変換され、これが補正信号とし
て保持される。
このような補正信号がDA変換器24における各ビット
に対して得られ、これ等補正信号は例えば読書き可能な
メモリ35に記憶される。
このようにして得られた補正信号を下位桁の変換出力に
対して加算してその補正を行なう。
このり11においては先に述べた制御をいわゆるマイク
ロコンピュータを使用して行なうようにした場合であっ
て、バス36に対して、各種制御を行なうためのプログ
ラムが記憶されたいわゆる読出し専用メモリ37が接続
され、このメモリ37のプログラムを中央処理器38が
読出して解読実行し、つまり各種スイッチ31,14,
34等の制御は制御回路16を通じて行ない、かつカウ
ンタ2L27の計数動作も同様にしてプログラム制御;
こより行なわれる。
各DA変換器24における各ビットの入力に対する校正
された補正信号は例、えば読み書き可能なメモリ35に
予め記憶され、これによりカウンタ27にて得られた下
位桁に対するデジタル変換出力に対する補正が行なわれ
て正しい変換出力が得られる。
カウンタ21.27はこれも読み書き可能なメモリの一
部を利用して構成することもできる。
第3図に第2図の各回路を具体的に示す。
DA変換器24においては例えば切替スイッチ34によ
り0及び入力電圧の極性に応じて基準電圧−Er。
+ E rの何れかを選択することができ、その選択さ
れた基準電圧はバッファ回路41を通じて、変換される
べきデジタル信号によってそれぞれ制御されるスイッチ
回路42に供給される。
即ちスイッチ回路42においてはスイッチ81〜S6が
設けられ、これ等スイッチ81〜S、はその変換される
べきデジタル信号、即ち土位相カウンタ21の出力に対
応してそのビット力3 tl 091の場合は接地側に
接続され、“1”の場合はバッファ回路41の出力側に
接続されるように構成される。
この接続制御は制御回路16により行なわれる。
切替スイッチ81〜S6の各可動子は抵抗器R1〜R8
を通じて加算回路43に供給される。
この加算回路43の出力はDA変換器24の出力として
加算回路13を構成する演算増幅器44の反転入力側に
抵抗器45を通じて供給される。
演算増幅器44の反転入力側には増幅器32の出力も抵
抗器46を通じて供給される。
又この反転入力側と演算増1福器44の出力側とは抵抗
器47゜48の直列回路を通じて互に接続される。
抵抗器48の両端間にスイッチ49が接続され、このス
イッチ49を閉じれば加算回路13の利得は減少し、開
けば利得は大きくなり、例えば利得が100倍変化する
ようにされる。
切替スイッチ14は接地と加算回路13の出力側と、つ
まり接点a側と、基準電圧−Erの接点b1側と、基準
電圧+Erの接点b2側とに切替接続される。
切替スイッチ31においては入力可変減衰器12の出力
と接地とを切替るのみならず、この例においてはDA変
換器24における選択したビットを入力した時の理想的
な出力が与えられる端子に接続することができるように
、即ち校正用基準電圧E rl t B r2 jEr
3がそれぞれ与えられている端子の何れかにも接続する
ことができるようにされる。
・ 基準電子源33は主基準電圧源71及び校正用基
準電圧源72よりなり、主基準電圧源71は例えば正の
電源端子51が抵抗器52を通じ、更にツェナーダイオ
ード53を通じて接地され、抵抗器52及びツェナーダ
イオード53の接続点にツェナーダイオード53で得ら
れる基準電圧を得てこれが演算増幅器54の非反転入力
側に与えられ、演算増幅器54の出力側は抵抗器55.
56の直列回路を通じて接地されると共に抵抗器55゜
56の接続点は演算増幅器54の反転入力側に接続され
る。
演算増幅器54の出力側は抵抗器57を通じて演算増幅
器58の反転入力側)こ接続され、その演算増幅器58
の反転入力側及び出力側間に抵抗器59が接続され、非
反転入力側は接地される。
演算増幅器54の出力側に基準電圧Er1=+Erを得
、演算増幅器58の出力側に基準電圧−E rを得る。
例えば具体的・)こはEr1=10V、−Er−−10
Vである。
校正用電源72は先に述べたようにデジタルアナログ変
換器24における各ビットに対応した校・ 上用基準電
圧を発生する場合である。
この例においてはデジタルアナログ変換器24は重み1
と重み2との二種類とした場合である。
従って重み2に対応した校正用基準電圧を発生する基準
電圧部72aと、重み1と対応した校正用基準電圧を発
生する基準電圧部?2bとが設けられる。
校正用基準電圧部72aは時分割回路73を備え、これ
は主基準電圧、この例(−こおいては主基準電源71の
演算増幅器54の出力電圧+Brを時分割して出力する
即ち時分割回路73のFETスイッチ・ 74の一端に
基準電圧+Erが印加され、スイッチ74の他端は平滑
回路75に接続されると共にFETスイッチ76を通じ
て接地される。
FETスイッチ74及び16のゲートに制御パルス発生
回路77からの制御パルスが与えられてこれ等スインチ
74.76は互に逆に制御される。
つまりこれ等スイッチに対し制御パルスは一方が直接供
給されるが、他方はインバータ78を通じて供給される
このようにして主基準電圧は時分割回路73により時分
割されてその出力は平滑回路75に供給される。
平滑回路75は例えば直列の抵抗器とシャントのRンデ
ンサとの多段低域通過RCP波器で構成される。
平滑回路75の出力は演算増幅器よりなるバッファ回路
79に供給され、その出力さして校正用基準電圧Er2
が得られる。
この校正用基準電圧Er2は時分割回路73における時
分割比によって決定される。
つまり制御用パルス発生回路77の出力パルスのデユー
ティ比によってその出力電圧が決定される。
制御用パルス発生回路77は例えば第4図に示すように
構成される。
安定度の高い発振器81の出力が最高計数値が同一のカ
ウンタ82及び83にそれぞれ計数入力として与えられ
る。
カウンタ82がフルカウントになるとフリップフロップ
84がリセットされてその出力端子85は第5図に示す
ように低レベルとなり、これと同時にカウンタ83には
設定回路86の設定値がプリセットされる。
従ってカウンタ82がフルカウントになって再びクロッ
クパルスを計数し始めた場合、カウンタ83はカウンタ
82よりも早くフルカウントになる。
カウンタ83がフルカウントになるとそのフルカウント
出力でフリップフロップ84はセットされ、これにより
出力端子85は第5図に示すように高レベルとなる。
カウンタ83にプリセットされる設定値が大きい種出力
端子85の高レベルの期間T、は長くなり、この結果カ
ウンタ82の出力パルスの一周期T。
中の高レベルとなる期間T1が長くなる。
このようにしてこの周期T。
に対する高レベルの期間T1は設定回路86の設定値と
対応し、出力端子85に得られる第5図に示す制御パル
スが第3図の時分割回路73のFETスイッチ74゜7
6に供給される。
従って第5図の波形が高レベルの期間が長い程スイッチ
74がオンになっている期間が長く、その平滑回路75
の平滑出力電圧が大きくなる。
つまり平滑回路75の出力電圧、即ち校正用基準電圧E
r2は設定回路86の設定値と対応したものとなる。
校正用基準電圧部72bも同様に構成され、主基準電圧
が時分割回路87により時分割され、その時分割出力は
平滑回路88により平滑され、更にバッファ回路89に
供給される。
時分割回路87は制御用パルス発生回路91よりのパル
スにより制御され、そのパルスのデユーティ比は設定回
路92の設定値により決定される。
但し、校正用基準電圧は重みに対応したように選ばれる
ため設定回路86と92との設定値はその重みに対応し
て異ならされる。
例えば校正用基準電圧Er2は+2V、バッファ回路8
9より得られる校正用基準電圧Er3は+1■にそれぞ
れ選定される。
主基準電圧Erが+IOVの場合は時分割回路73にお
ける時分割比は2/10であり、時分割回路87の時分
割比は1/10とされる。
設定回路86.92に対する設定値は制御回路16によ
り必要に応じたその値を設定することができる。
第3図において切替スイッチ31を接地側に接続し、D
A変換器24の入力スイッチ81〜S6を全て接地側と
し、スイッチ49をオフとし、この状態における加算回
路13の出力をAD変換すると、下位桁のAD変換にお
ける各部のオフセットの値が得られる。
この電圧のデジタル変換出力をVofとし、これはメモ
リ35に記憶される。
更にこの状態において増幅器32の入力側を、予め決め
られた基準電圧に接続する。
例えば切替スイッチ31を基準電圧Er3の端子に接続
する。
この時のAD変換出力より先に記憶したオフセットVo
fを引けば加算増幅器13の利得を知ることができる。
この利得G1をメモリ35に記憶しておく。
更にこの例ではDA変換器の重みを二種類さした場合で
、例えばスイッチS1においては1と言う重みとし、ス
イッチ82〜S6は2と言う重みとされる。
従って抵抗器R2〜R6は同一の抵抗値とされ、これ等
の抵抗値は抵抗器R1の抵抗値の1/2にされる。
スイッチ81〜S6が変換されるべき上桁カウンタの出
力を示すデジタル入力に応じて制御回路16により切替
制御され、加算回路43の出力側にアナログ信号が得ら
れる。
その各スイッチ81〜S6の1つが入力された時の出力
アナログ信号が正しいか否かを予め校正しておく。
先ずスイッチS1のみを増幅器41側に接続し、更にス
イッチ34は基準電圧Erの端子側に接続しておく、切
替スイッチ31は校正用基準電圧Er3の端子側、即ち
バッファ回路89の出力側に接続する。
この時の加算回路13の出力をAD変換する。
これはスイッチ49をオフとした状態で行なう。
つまりこの時DA変換器24が全く理想的な状態の正し
い値、即ちEr3を出力すれば、かつ各部にオフセット
がないとすれば加算回路13の出力は0となる。
つまりDA変換器24の出力はEr3となる。
しかしDA変換器24の変換出力が正しい値から多少ず
れていると、その重み1、つまりEr3に対する変換出
力の誤差がAD変換されてこれがメモリ35に■1とし
て例えば記憶される。
従ってスイッチS1がバッファ41側に接続された時の
下位桁に対する変換器の出力はGlX Er3 + V
o f Vlを加算回路13の利得に1倍で割算し
た値に等しい。
こ\でに1は抵抗器46の抵抗値で抵抗器45の抵抗値
を割った値である。
つまり、抵抗器R1の抵抗値で加算回路43における演
算増幅器の帰還抵抗値R7を割った値に基準電圧Erを
掛算した値に対する正しい補正出力である。
同様にしてデジタル入力スイッチ回路42のスイッチS
2だけをバッファ41側に接続し、スイッチ31におい
てはバッファ回路79の出力Er2を増幅器32に供給
するように接続し、加算回路13ではスイッチ49をオ
フとした状態で加算回路13の出力をAD変換する。
これにより得られた誤差信号はDA変換器24において
スイッチS2のみが入力された時の誤差分がデジタル信
号■2としてメモリに記憶される。
以下同様にしてスイッチ83〜S6をそれぞれ単独にバ
ッファ41側と接続し、その時の加算回路43の各出力
と校正用基準電圧Er2との差をAD変換してそれぞれ
誤差信号V3〜■6を演算してこれ等をメモリ35に記
憶しておく。
このようにして補正信号を得ておき入力信号Exに対す
る下位桁のAD変換動作時においてその変換出力に対し
て上記補正信号を用い、更にオフセット分も補正するよ
うにすることによって正しい変換が行なわれる。
このようにこの発明においてはDA変換器24に対する
各重みに対応した校正用基準電圧を用意しておくことに
よって変換動作の前にDA変換器24における誤差分を
演算しておき、これを補正信号として蓄えて実際の変換
出力に対して修正を行なうことによって高い精度の変換
を行なうことができる。
即ちその場合DA変換器24の抵抗値R1〜R6及び帰
還抵抗値R7の各抵抗値としては特に高精度の抵抗値に
選定しておく必要はなく、又特に安定度の良いものを用
意する必要もない。
校正用基準電圧部72a、72bにおいてはその入力主
基準電圧を一定とすれば時分割回路73゜86に対する
時分割比で出力の校正用基準電圧Er2 s Er3は
決定され、この時分割回路73゜87に対する時分割比
は先に第4図について説明したようにデジタル的に決定
することができ、そのクロック発振器84は高い精度の
ものを容易に使用することができ、従って高い精度の出
力電圧Er2.Er3を得ることができる。
この場合その精度はクロック発振器81の精度によって
決定され、高い精度のものとすることは容易である。
平滑回路75,88においてその抵抗値や容量値が変動
してもその出力のリップルの大きさが影響するだけであ
って基準電圧Er2 t Er3の大きさが影響するこ
とはない。
主基準電圧源71はもともとこの種のアナログデジタル
変換器に設けられているものであり、これさえ高い精度
の基準電圧を発生するように構成すれば高い精度の校正
用基準電圧を得ることができる。
この基準電圧源71もこれはあくまでも一例であって時
分割的に発生して高い精度のものを作ることもできる。
しかもこの校正用基準電圧源72a、72bはその制御
用パルス発生回路を含めて容易に半導体集積回路化する
ことができる。
集積回路として構成する場合は平滑回路75.88のコ
ンデンサは容量が小さなものとなりがちであり、従って
出力電圧のリップルが大きくなるが第3図に示した例の
ように積分によりデジタル変換する構成においては、積
分効果によってそのリップル分の影響は除去され、原理
的には平滑回路75.88を省略しても良い。
このため半導体集積回路化が極めて容易となる。
以上述べたようにデジタルアナログ変換器24における
抵抗値を高い精度の抵抗値とする必要はなく、例えば薄
膜抵抗をレーザートリミングするための特殊な装置が必
要でなく、しかも長い時間の調整が必要なく、全体とし
て安価に構成することが可能である。
又使用する抵抗膜がレーザービームによる高熱にさらさ
れることがなく、抵抗値が不安定になるおそれはない。
尚この図示例では補正信号を得るためにDA変換器24
の各重みに対する校正用基準電圧Er2゜Er3を必要
とし、この校正用基準電圧の数は少ない方が良く、第3
図においては重み1と重み2の2種類だけの組合わせで
DA変換を行なうようにしており、このため通常のAD
変換のデジタル出力とそのビット構成が異なるが、これ
は予め参照テーブルを作っておき、3桁の変換された上
位桁デジタル信号によりその参照テーブルを引いてDA
変換器24の入力スイッチ81〜S6を制御するように
すればよく、これは簡単に行なうことができる。
このような補正を行なうが例えば入力アナログ信号を周
期的にサンプルしてそのアナログ信号をデジタル信号に
変換する場合、その各変換毎に先に述べたようなオフセ
ットの測定や利得の測定、更に各DA変換器の各スイッ
チに対する補正信号を一つずつ順次に各測定毎に行なう
ようにしておけば、例えばこの各必要な補正信号を得る
には数秒毎に同一の信号に対する校正が行なわれること
になり、数秒内における抵抗値の変化が十分小さければ
非常に高い精度の変換が行なわれる。
数秒程度で抵抗値の変化するものは非常に安価な抵抗器
を使ってもそのような変化は無視できるものであり、常
に正しい高い精度の変換出力を得ることができる。
つまり抵抗器として安定に動作できるものを側管必要と
しない。
勿論このように常時性なうのみならず、このAD変換装
置を用いるごとに、又は一定時間ごとに、或いは随時性
なうようにすることもできる。
上位桁に対する変換されたDA変換器の出力は加算回路
13におけるスイッチ49をオンとして利得の小さい状
態におけるオフセット及びその時の利得を前述と同様に
して予め記憶しておき、その変換出力に対してオフセッ
トを差引き、利得で割算したのが正しい上位桁の測定値
となる。
更に下位桁に対する測定値は下位桁のAD変換出力から
先のスイッチ49をオフとしたときのVofを引き、先
の補正信号、誤差分の信号を加算し、これに利得G1、
更にに1を掛けたものを加えて利得G1で全体を割算す
ればAD変換出力が得られる。
尚上述においては下位桁デジタルの出力を得るために積
分型のAD変換器を使用したが、これはさほど高い精度
で変換する必要はなく、従って3桁程度の変換出力精度
があれば良いから比較型の高速度のAD変換器を用いる
こともできる。
次にアナログデジタル変換器として積分型ではなく比較
型を使用した例に、この発明を適用した場合を第6図を
参照して説明する。
入力端子11よりのアナログ信号はスイッチ94を通じ
て加算回路13に供給されると共に上位桁用AD変換器
95に供給される。
このAD変換器95は比較型AD変換器であって例えば
第7図に示すように端子96及び接地間に接続された同
一抵抗値の複数個の直列接続よりなる分圧回路の各分圧
点にそれぞれ比較器C1〜Cnの一方入力側が接続され
、その各他方の入力側に変換されるべきアナログ信号が
端子97より与えられる。
比較器C□〜Cnの各比較出力が端子98を通じる制御
回路16よりの指令に従って符号化回路99にラッチさ
れ、更にその内容が符号化されて、つまりデジタル信号
に変換されてDA変換器24に供給される。
これ等DA変換器24及びAD変換器95に対する基準
電圧は基準電圧源71より与えられる。
この上位桁のデジタル変換出力は制御回路16に供給さ
れて出力されると共に、この上位桁のデジタル出力はD
A変換器24によりアナログ信号に変換される。
この変換されたアナログ信号出力と端子11よりの入力
信号との差が加算回路13でとられる。
その差出力は下位桁用のAD変換器101でデジタル信
号に変換される。
下位桁用AD変換器101として逐次比較型のものを用
いる場合は加算回路13の出力は比較器102において
下位桁用DA変換器103の出力との差がとられる。
その比較器102の出力は逐次比較制御論理回路104
に与えられる。
この出力が下位桁用DA変換器103に供給されてアナ
ログ信号に変換される。
この逐次比較制御論理回路104の出力は制御回路16
にも供給されて下位桁のデジタル出力とされる。
この実施例においては上位ビットに対する変換がAD変
換器95において直ちに行なわれ、その変換された分の
アナログレベルが入力信号から引算され、その残りがデ
ジタル変換されて下位ビット出力が得られる。
加算回路13としては第3図で述べたような電圧加算回
路を用いることもできるのみならず、例えば第8図に示
すように端子11よりの入力信号Viは抵抗器105を
通じて演算増幅器106の非反転入力側に供給され、そ
の演算増幅器106の出力側が下位ビットAD変換器1
01側に接続されると共にその出力側は抵抗器107
、108の直列回路を通じて接地され、抵抗値107゜
108の接続点は演算増幅器106の反転入力側に接続
され、演算増幅器106の非反転入力側は上位桁用DA
変換器24の出力側に接続される。
このDA変換器24においてはその変換されたアナログ
電流が流れるようにされる。
従ってこの変換器24に流入する電流・IAは抵抗器1
05を流れ、この抵抗器105の電圧降下はRaX1
となる(Raは抵抗器105の抵抗値)。
従って加算回路13の演算増幅器106の非反転入力側
の電圧■1は入力電圧Vi −Ra X iAとなる。
演算増幅器106の出力電圧Vaは、抵抗値107゜1
08の抵抗値をR2,R1とすると、その演算増R1+
R2 幅器106の入力電圧■1の□倍となる。
1 第6図の構成において上位桁用AD変換器95としては
逐次AD変換器101と同様の逐次比較型のものを用い
ても良い。
又下位桁用AD変換器101として第7図に示した並列
比較型のものを用いても良く、或いは二重積分型のもの
を用いても良い。
何れにしても先の第3図について述べたようにAD変換
器95、DA変換器24等における基準電圧を構成する
ため校正用基準電圧源72が設けられ、その校正しよう
とする変換器の重みに対応して例えば校正用基準電圧部
72 a 、72bの校正用基準電圧をスイッチ111
,112を選択的にオンとすることによってこのアナロ
グデジタル変換装置へ入力することにより前記補正信号
を作ることができる。
この校正用基準電圧源72は第3図に示したものと同一
の構成とすることができる。
上述においては重みが二種類であって、これ等に対応し
てそれぞれ校正用基準電圧部を設けたがつまり異なる重
みの数だけ校正用基準電圧部を設けたが、一個の校正用
基準電圧部を用いてその時分割回路の時分割比を校正し
ようとする重みに対応して変更して目的とする校正用基
準電圧を得ることができる。
この場合その目的とする重みに対応して時分割比を設定
するため、設定回路の設定を変更するが、これは制御回
路16によって自動的に行なうようにすることもできる
AD変換器として積分型のものを使用する場合は先に述
べたように平滑回路を省略し、或いは平滑回路の出力リ
ップルの比較的大きい時定数の小さいものを用いること
ができ、従って校正用基準電圧源として時分割比を切替
使用しても比較的高速度の校正が可能である。
比較型AD変換器を用い、かつ校正用基準電圧源を兼用
する場合においてはその切替ごとに校正用基準電圧が目
的とする正しい値となった状態で前記補正信号を得るよ
うにすればよい。
時分割回路に対する制御パルス信号のデユーティ比、即
ち時分割比を決定するための設定回路は先の例に示した
ように特に設ける必要はなく、制御回路16内に設けて
もよい。
更に第4図に示したような回路も特に設ける必要はなく
、マイクロコンピュータによってそのようなデユーティ
比の制御パルスを作って出力することも可能である。
又校正用基準電圧源における時分割回路の出力を平滑す
る平滑回路としてはCRフィルターのみならずアクティ
ブフィルターを使用することもでき、その場合は半導体
集積回路化が一層容易となる。
入力側の減衰器12は省略することもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のアナログデジタル変換装置を示すブロッ
ク図、第2図はこの発明によるアナログデジタル変換装
置の一例を示すブロック図、第3図はその要部の具体例
を示す接続図、第4図は制御パルス発生回路の一例を示
すブロック図、第5図はその出力波形を示す波形図、第
6図はこの発明によるアナログデジタル変換装置の他の
例を示すブロック図、第7図は並列比較型AD変換器を
示す接続図、第8図は加算回路13の他の例を示す接続
図である。 11ニアナログ入力端子、13:加算回路、14:切替
スイッチ、15:積分回路、18:比較器、16二制御
回路、21:上位桁カウンタ、27二下位桁カウンタ、
22:クロック発生器、24:DA変換器、31.34
:切替スイッチ、32:増幅器、37:読出し専用メモ
リ、35:読書き可能なメモリ、36:バス、38:中
央処理装置、33:基準電圧源、71:主基準電圧源、
72:校正用基準電圧源、72a 、72b :校正用
基準電圧部、73.87:時分割回路、77゜91:制
御用パルス発生回路、86.92:設定回路、75:上
位桁変換用比較型AD変換器、101:下位桁変換用比
較型AD変換器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 人力アナログ信号をデジタル信号に変換して出力デ
    ジタル信号の上位桁を得、その得られたデジタル信号の
    上位桁をデジタルアナログ変換器によりアナログ信号に
    逆変換し、その逆変換されたアナログ信号と上記入力ア
    ナログ信号との差を取出し、これ等の差のアナログ出力
    信号を予め決められた利得だけ増幅し、その増幅出力を
    AD変換器でデジタル信号に変換して出力デジタル信号
    の下位桁を得るアナログデジタル変換装置において、主
    基準信号を時分割し一6H力する時分割回路を備え、そ
    の時分割比により決定され、上記DA変換器の各ビット
    入力に対応した校正用基準電圧を発生する校正用基準電
    圧電源と、上記DA変換器の各ビットについて入力が与
    えられた時の出力とこれと対応する上記校正用基準電圧
    源の校正用基準電圧との差を上記下位桁を得るためのA
    D変換器によりデジタル信号に変換し、その変換出力を
    上記下位相出力に対する補正信号とする手段とを具備す
    るアナログデジタル変換装置。
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