JPS5940577A - 光点弧形双方向性サイリスタ - Google Patents

光点弧形双方向性サイリスタ

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JPS5940577A
JPS5940577A JP57150927A JP15092782A JPS5940577A JP S5940577 A JPS5940577 A JP S5940577A JP 57150927 A JP57150927 A JP 57150927A JP 15092782 A JP15092782 A JP 15092782A JP S5940577 A JPS5940577 A JP S5940577A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thyristor
light
substrate
type
photo
Prior art date
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Pending
Application number
JP57150927A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneo Tsukagoshi
塚越 恒男
Hiromichi Ohashi
弘通 大橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57150927A priority Critical patent/JPS5940577A/ja
Publication of JPS5940577A publication Critical patent/JPS5940577A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/111Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by at least three potential barriers, e.g. photothyristors
    • H01L31/1113Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by at least three potential barriers, e.g. photothyristors the device being a photothyristor

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、光トリが信号によシスイツチング動作をする
光点弧形双方向性サイリスタに関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来の光点弧形双方向性サイリスタの構造を第1図およ
び第2図に示す。第1図は平面図、第2図はそのA −
A’断面図である。このサイリスタは、それぞれ4層か
ら々る2つのサイリスタT、お上び12部分から構成さ
れている。即ち、N型層1の両面にそれぞれP型層2,
3を設け、一方のP型層2表面にN型層4を設けてす・
fリスタTIを構成し、他方のP型層3表面にN型層5
を設け”Cサイリスタ領域を構成している。T1におけ
るN型層4とT2におけるN型層5とは積層方向に投影
したときに好ましくは重なり合わないように形成されて
いる。第1の主電極6はP型層2からN型層4に連続的
にオーミック接触し、第2の主電極7はP型層3からN
型N5に連続的にオーミック接触している。第1の主電
極6は光トリがする窓間ち受光部8の領域では除かれて
いる。またサイリスタT1のN型層4は一部P型層2が
露出した短絡エミッタ構造とkっている。9は・卆シベ
ーション用のがラス膜である。
上記の構造において光点弧にン自効なキャリアの発生領
域は、逆バイアスされた中央接合J3及びJ4の近傍で
ある。たとえばサイリスタT1の光点弧感度を向上する
にld:、J3接合の近傍で発生した光電流(I、h)
をサイリスタT凰のPベース領域を通って主電極6に治
9’hに集める必要がある。しかしながら上記の構造の
場合、サイリスタTI  とサイリスクT2i;一方の
主表面でオーミック接続しているため、?1とんどの光
電流はサイリスタT2のPエミツタ層を厚み方向に流れ
て主電極6へ流れ、サイリスクT1を点弧させるために
必要な光電流(Iph)としてはあまシ寄与しない。こ
の事はノぐイアスを逆にしてサイリスタT2を光点弧さ
せる場合にもいえることである。さらに半導体基体の一
方の主表面から光を照射する場合、2個の4層領域の点
弧に有効なキャリアの発生領域となる逆バイアスされた
中央接合と光源との距離は、中央N型層1の厚さだけ異
なる。そのため−リーイリスタT2が形成する4層領域
の点弧に必要外光がN型層1内で吸収されて減衰するた
め、サイリスクT1及びT2のスイッチング特性が不ぞ
ろいとなり、光源の強さはサイリスタT2の光点弧感度
で決定される。そのためいきおいLED等の光源の駆動
電流が大きくなり、−5’e源の寿命を著しく低下させ
る問題があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、2個のサイリスタ領域を点弧させる光膚
弧感度を均等化し、かつ光点弧感度の優れた光点弧形双
方向性サイリスタを枡供するととにある・ 〔発明の概要〕 半導体基体の一方の主表面から光を照射する光点弧形双
方向性サイリスタにおいて、その受光部領域(叶、第1
のサイリスク側ではP型層とし、第2のサイリスク側で
はN型層として配置構成する。そして、光トリが信号に
よ多発生した光電流が各サイリスクについてそれそわ所
望の一方向にのみ有効成分として流れるように、受光部
周辺の基板の表裏面に互いに直交する溝を設けると共に
、各→LイリスタのN型エミツタ層の一部を受光部周辺
で基板外周の・平シペーンヨン膜に接触させるようにす
る。
〔発明の効果〕
本グ1−明によれば、光トリガによ多発生したキャリア
を点弧に有効な光電流として流すことができ、高い光点
弧感度を得ることができる。まだ光点弧感度が高いだめ
、2個のサイリスタ領域のスイッチング特性が均等化さ
れ、更に光源としても小容量のLEDを用いることがで
きるといった効果が得られる。
〔発明の実施例〕
以下図面を参照して本発明の光点弧形双方向性す・イリ
スタの一実施例を説明する。第3図は一方の主表面側の
模式的平面図であり、第4図は他方の主表面側を上記一
方の主表面側から透視1−たときの模式的平面図である
。また第4図(a) ? (b)はそれぞれ第3図(、
)のA−A’1T3−B’断面図である。このサイリス
タは次のようにして製作される。即ちN型ペース層とな
る厚み200μmのN型基板11の両面よりP型不純物
として、たとえばボロンを深さ30/gnで拡散し1P
Wペ一ス層12および13を形成する。次に酸化膜を形
成し、一般に知られているPEP技瞑よって一部の酸化
膜を除くエツチングを行い、この酸化膜をマスクとして
、たとえば燐等を不純物とした選択拡散(深さ15μ)
を行なって第1のサイリスタTll及び第2のサイリス
クT12のN型エミツタ層14および15を形成する。
これらNエミ、り領域はPペースが一部露出している短
絡エミッタ構造になっている。ここでN型エミツタ層1
4卦よびI5は第3図に斜線を施して示しだように、パ
ターン上ではウェハ周辺に向って突出部16および17
を設けている。そして破線で示したようにサイリスタの
周辺と表裏の溝部18および19についてN型層に達す
るまで両面からメサエッチングを行ない、その側面妊露
出した接合J3及びJ4の表面をガラス膜21および2
2によってパッシベーションを施こす。これによりN型
エミツタ層14および15はそれぞれ突出部16および
17で外周のパシベーション膜に接触することになる。
e興の溝部18および19は互いに直交して受光部20
を囲むようになっている。最後に主電極23および24
が、それぞれの面で受光部20を除く領域に形成される
このように構成されたサイリスタにおいて、たとえば第
1のサイリスタTll領域でJ3*合が逆・ぐイアヌ状
態の時、受光部20に光トリガ信号を照射すると、逆バ
イアスされたJ3接合近傍に光電流が発生する。この光
電流はP型ペース層12を横方向に流れ、サイリスクT
llに設けたショーテッドエミ、り部分を経由して一方
の主電極23へ流れる。この時、周辺の溝18およびエ
ミッタ領域の突出部16の動きにより発生した光電流は
有効に一方向にのみ流れてP型ペース層12に生じる横
力同市、圧降下によりサイリスタT11のN型エミツタ
層14は順方向にバイアスされる。順バイアス電圧V、
がJt接合のビルトインポ六ンシャルの値に近ずくとN
型エミツタ層14からP型ペース層12への電子の注入
が急増し、サイリスタT11は点弧する。
2α2のサイリスクT+2領域についても、同様に溝1
9とエミ、り領域の突出部17の働きで高い光点弧感度
をもって点弧が方される。
したがって本発明の実施例忙よれば2つのサイリスタT
ll及びT13における転流時の誤点弧しない最大の電
圧上昇率dv/dtをほぼ一定にして最少トリが都・4
ワーを均等化し、かつ従来構造における最少トリガノ々
ワーをそれぞれのモードにおいて1/2以下に減少する
小ができる。具体例を撤げれば耐圧600V、通電容量
16Aのサイリスタとして駆動電流数10mAの小容憚
LEDの微弱ガ光でトリがができる。
本発明の実施例においては、受光部をウエノ・の端に寄
せた場合について述べたが中央部に設けても同じ効果が
得られる。又、受光面に光反射防止膜を形成するととに
よりより感度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光点弧形双方向性サイリスタの模式的平
面図、第2図は第1図のA −A ’部分の断面図、第
3図(a)は本発明の一実施例の−B −B’断面図で
ある。 11・・・N型基板(ペース層)、l 、? 、 1.
9・・・PI3・・・突出部、18.19・・・溝部、
20・・・受光部、21.22・・・ガラス膜、23.
24・・・主電極。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一つの半導体基体に、一方の主表面から他方の主
    表面に向って導電型の異々る半導体層がNPNPの順に
    連続して形成された第1のサイリスタ領域とPNPNの
    順に連続して形成された第2のサイリスタ領域とが隣接
    して一体に形成され、前記2つのサイリスタ領域が外部
    からの光信号によってトリガされる双方向性サイリスタ
    において、受光部のpn接合で発生した光電流を一方向
    に導くために、受光部周辺の基板の表裏面に互いに直交
    する溝を設けると共に、前記第1及び第2ザイリスタの
    各N型エミ、り層の一部を受光部周辺で基板外周のパシ
    ペーシロン膜に接触させるように構成したことを特徴と
    する光点弧形双方向性サイリスタ。
  2. (2)  前記溝が各サイリスタ領域の高抵抗ペース層
    に達する深さに形成されたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の光点弧形双方向性サイリスタ。
  3. (3)  前記溝がガラス膜によって被服されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光点弧形双
    方向性サイリスク。
JP57150927A 1982-08-31 1982-08-31 光点弧形双方向性サイリスタ Pending JPS5940577A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02125666A (ja) * 1988-11-04 1990-05-14 Sharp Corp ホトトライアック
US5018499A (en) * 1989-04-15 1991-05-28 Usui Kokusai Sangyo Kaisha Ltd. Fuel delivery rail assembly
US5022372A (en) * 1988-03-15 1991-06-11 Usui Kokusai Sangyo Kaisha Ltd. Fuel delivery rail assembly
JP2006218519A (ja) * 2005-02-10 2006-08-24 Denso Corp 溶接構造およびコモンレール

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