JPS594035A - ワイヤボンデイング装置 - Google Patents

ワイヤボンデイング装置

Info

Publication number
JPS594035A
JPS594035A JP57112976A JP11297682A JPS594035A JP S594035 A JPS594035 A JP S594035A JP 57112976 A JP57112976 A JP 57112976A JP 11297682 A JP11297682 A JP 11297682A JP S594035 A JPS594035 A JP S594035A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
bonding
marker
guide
pellets
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57112976A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoto Hirase
平瀬 清人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57112976A priority Critical patent/JPS594035A/ja
Publication of JPS594035A publication Critical patent/JPS594035A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明はライン構成される半導体装置製造過程に複数
台用いられるワイヤボンディング装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
工程の自動化に伴ってライン構成される半導体装置製造
過程では、前後工程相互間の生産能カバランス上、第1
図で示すように複数台のボンディング装置IJ、12,
13,14.・・・が設定されている。これらの装置は
半導体(ペレット)をフレーム15に固定するペレット
マウント装置16と、ボンディング加工済のフレーム1
5に封止(シーリング)加工をするモールド装置17と
の間に設定される。この場合、ペレットマウント装置1
6から上記複数台の同一装置に対応した数のフレーム1
5が、搬送装置18により搬送されそれぞれのボンディ
ング装置11,12,13,14.・・・に供給される
またボンディング加工後に搬送装置18に戻されたフレ
ーム15は上記モールド装置17に搬送するように構成
している。
〔背景技術の問題点〕
しかしこのようにライン構成される半導体装置製造過程
では、加工済の半導体装置にボンディング不良が発生す
ることがある。この場合、これらの不良品に加工した装
置を複数台のボンディング装置11,12,13,14
.・・・の中から識別するのは非常に困難である。
したがって複数台用いられるボンディング装置11,1
2,13.14.・・・σ)うち、41葎理および調整
等を心安とする装置を識別するためには、製造ラインを
一毒停止してすべてのボンディング装置11,12,1
3,14.・・・を検査しなければならない。さらに加
工済の半導体装置の全般にわたる詳しい検査が必要とな
る。
すられちこれらのボンディング不良品Oこ適切な対策を
施すまでには、多大な時間と労力を必要とする。
〔発明の目的〕
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、加工済の半導体装置にボンデイング不良が発
生した際、複数台のボンディング装置それぞれの検査を
一行なうことなく問題の生じた装置を識別すること力3
可有鴇となり、さらに加工済の半導体装置それぞれの詳
しG)検査を必要とせずしてボンディング不良品の除去
ができるようになるワイヤボンディング装置を提供する
ことを目的とする。
〔発明の概要〕
すなわち゛この発明に係るワイヤボンディング、装置は
、被加工物であるフレーム上のペレットがボンディング
される直前に、フレームに印を付する印記人装置を装着
したものである。
〔発明の実施例〕
以下図面によりこの発明の一実施例を説明するに、第2
図は1台のボンディング装置の周辺構成を示したもので
、フレームガイド21のフレーム15の供給始端部には
、フレーム15に対して印を付するマジック等のマーカ
22を備えた印記入装置コを設け、さらにこのフレーム
ガイド21上には搬送されたフレーム15上のペレット
に対してボンディング加工するワイヤボンディングヘッ
ド24が設けられている。
そしてペレットマウント装置でペレットの設置されたフ
レーム15は、搬送装置18で送られ、供給ベルト25
によってフレームガイド21に送り、またボンディング
加工済のフレーム15は排出ベルト26によって搬送装
置18に戻されるようにする。
ろ 上記印記入装置23は第一8図に示すようにマーカホル
ダ31でマーカ22をフレームガイド21に向けて支持
固定するもので、このマーカホルダ31は一体にしたス
ライドロッド32で支持されている。このスライドロッ
ド32はスライドガイド33に設けた垂直状のガイド孔
に挿入されマー・すホルダ31を上下動自在に設定する
もので、スライドロッド32の下部のローラを偏心軸の
円形カム34上に載置する。すなわち円形カム34を回
転させることによってマーカホルダ31は上下動される
。この円形カム34の回転によりマーカホルダ31に発
生する上下往復運動は、マーカホルダ31の端にスライ
ドロッド32と平行して挿入固定する回り止めピン35
によりガイドされる。
すなわち以上のように構成される装置によれば、ライン
構成される複数台のボンディング装置11,12,13
,14.・・・それぞれに、異った色のマーカ22を備
えた印記入装置23を装着するものであって、加工され
るすべてのフレーム15に各装置別々の色の印を残すよ
うになる。
髪 したがって複数台のボンディング装置11゜12、z3
.14.・・・のうちどの装置でボンディング加工した
フレーム15であるか素早<知ることができる。さらに
加工済の半導体装置に自〕 ボンディング不良を発見しても、−印;時間順の生じて
いる装置を見分けて発見することができる。
上記実施例では複数台のボンディング装置11+12.
z3.14.・・・それぞれに異った色のマーカ22を
用いているが、同一色のマーカ22を用いて装置毎に印
を付する位置を変えた構造にしても、フレームノ5−こ
付された印の位置変化によって複数台の装置それぞれを
識別することができる。
またマーカ22による印ではなく、異った形の刻印等に
よっても上記と同様に複数台のボンディング装置11,
12,13,14.・・・を識別できる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、上記のように構成され
る印記入装置を装着したボンディング装置を用いること
で、ライン構成内のどの装置でボンディング加工した半
導体装置であるか素早く知ることができる。また不良品
の発生に際して、加工済の半導体装置すべてに対する詳
しい検査を必要とせずに不良品の除去が可能となる。し
たがって不良品対策を施すための多大な時間と労力が大
幅に軽減される。さらに加工j禾 後のボンディング状態を遂次必要とする装置にフィード
バックすることができ、ライン内に複数台用いられるボ
ンディング装置を常に最良の動作状態に保つことができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は半導体装置製造ラインを説明する図、第2図は
この発明の一実施例に係るワイヤボンディング装置を説
明する構成図、第3図は上記装置の一部である印記入装
置を説明する断面構成図である。 15・・・フレーム、I8・・・搬送装置、2ノ・・・
フレームガ會ド、22・・・マーカ、23・・・印記入
装置、24・・・ワイヤボンディングヘッド、3ノ・・
・マーカホルダ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 5 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フレームを搬送するフレームガイドと、このフレームガ
    イドに沿うように設定されるワイヤボンディングヘッド
    と、上記フレームガイドに沿って設けられ搬送されるフ
    レームに印を付するマーカを備えた印記入装置とを具備
    したこと全特徴とするワイヤボンディング装置。
JP57112976A 1982-06-30 1982-06-30 ワイヤボンデイング装置 Pending JPS594035A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57112976A JPS594035A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 ワイヤボンデイング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57112976A JPS594035A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 ワイヤボンデイング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS594035A true JPS594035A (ja) 1984-01-10

Family

ID=14600271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57112976A Pending JPS594035A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 ワイヤボンデイング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS594035A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6255222U (ja) * 1985-09-25 1987-04-06
US4982728A (en) * 1989-07-07 1991-01-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for assembling semiconductor devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6255222U (ja) * 1985-09-25 1987-04-06
US4982728A (en) * 1989-07-07 1991-01-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for assembling semiconductor devices

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106770331B (zh) 一种基于机器视觉的工件缺陷检测系统
KR101442483B1 (ko) Led 패키지 비전 검사 및 분류 시스템
CN111239159A (zh) 封装基板视觉检测系统及方法
US6507185B1 (en) Device, assembly and method for testing electronic components, and calibrating method therefor
CN106686894B (zh) 适用于线路板蚀刻加工高效率智能化提升的方法及系统
CN105789080A (zh) 半导体封装产品的检测机
CN109037129B (zh) 一种芯片旋转搬运装置
JPS594035A (ja) ワイヤボンデイング装置
KR940006576B1 (ko) 반도체 장치의 조립장치
JPS59108934A (ja) レンズ光学検査装置
CN108287166A (zh) 一种锂电池极片表面缺陷检测影像设备
KR200482654Y1 (ko) 원피 비전검사장비
TWI575587B (zh) Substrate cutting device and substrate cutting method
CN207964663U (zh) 一种锂电池极片表面缺陷检测影像设备
TWM589361U (zh) 用於半導體晶粒分選和測試處理器的系統
CN205222228U (zh) 一种烟支盘纸钢印检测装置
JPH03264417A (ja) タイヤ検査装置に於けるタイヤ搬送方法
JP3305567B2 (ja) ワーク処理装置
JP3931121B2 (ja) 被検査品の外観検査方法
CN210243525U (zh) 一种转盘式aoi自动测试装置
SU859200A1 (ru) Автомат дл маркировки плоских изделий
KR20180015511A (ko) 자수제품의 마감처리 및 검수 시스템
JPH02171632A (ja) タイヤユニフオミテイーマシンに於けるリムの段取り替え方法及びその装置
GB2249868A (en) A testing and finishing system for integrated circuit package units
JP6879822B2 (ja) ワーク外観検査装置およびワーク外観検査方法