JPS5930226A - 磁気ヘツドのテ−プ走行面の研摩装置 - Google Patents
磁気ヘツドのテ−プ走行面の研摩装置Info
- Publication number
- JPS5930226A JPS5930226A JP13843482A JP13843482A JPS5930226A JP S5930226 A JPS5930226 A JP S5930226A JP 13843482 A JP13843482 A JP 13843482A JP 13843482 A JP13843482 A JP 13843482A JP S5930226 A JPS5930226 A JP S5930226A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- running surface
- workpiece
- gap
- tape running
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/187—Structure or manufacture of the surface of the head in physical contact with, or immediately adjacent to the recording medium; Pole pieces; Gap features
- G11B5/1871—Shaping or contouring of the transducing or guiding surface
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気ヘッド等のテープ走行面の円筒面の仕上
加工に際し、磁気テープ等との接触に優れたテープ走行
面を形成する研摩装置に関するものである。
加工に際し、磁気テープ等との接触に優れたテープ走行
面を形成する研摩装置に関するものである。
従来、第１図に示すようなＶＴＲ用磁気ヘッドのテープ
走行面１の円筒面の研摩方法としては、被加工物を所定
の曲率半径Ｒで揺動運動させるとともに、研摩テープに
一定の圧力で押し付け、両者を相対摺動させる方法がと
られている。しがしながら、この磁気ヘッドでは、ギャ
ップ４の近傍には磁性材料部２（例えば単結晶フェライ
ト）の・ほかに非磁性材料部３（例えばガラス）が存在
し、後者が前者よりも加工されやすい場合には、第２図
ｔｂ＋に示すごとく、ギャップ近傍部では均一な円筒面
からの偏差（へこみ）δが生じ、磁気テープとの接触を
悪くする欠点があった。
走行面１の円筒面の研摩方法としては、被加工物を所定
の曲率半径Ｒで揺動運動させるとともに、研摩テープに
一定の圧力で押し付け、両者を相対摺動させる方法がと
られている。しがしながら、この磁気ヘッドでは、ギャ
ップ４の近傍には磁性材料部２（例えば単結晶フェライ
ト）の・ほかに非磁性材料部３（例えばガラス）が存在
し、後者が前者よりも加工されやすい場合には、第２図
ｔｂ＋に示すごとく、ギャップ近傍部では均一な円筒面
からの偏差（へこみ）δが生じ、磁気テープとの接触を
悪くする欠点があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、磁
気ヘッドのギャップ近傍部での均一な円筒面からの偏差
を小さくして、磁気テープとの接触に優れたテープ走行
面が形成できるテープ走行面の研摩装置を提供するにあ
る。上記目的を達成するため、本発明は、研摩テープに
所定の加圧力で被加工物を押し付け、被加工物に所定の
曲率半径で揺動運動を与える研摩装置において、被加工
物のテープ走行面のギャップ近傍における異種材料部の
占める範囲を検出する手段と、被加工物を研摩テープ面
に対し微小位置決めする手段と、被加工物への加圧力を
検出する手段とを設け、被加工物のテープ走行面のギャ
ップ近傍の異種材料部の存在する範囲で、被加工物の研
摩テープ面に対する位置を変化させて、被加工物への加
圧力を他の範囲における加圧力から変化させる（前記し
た非磁性材料がガラスの場合は、加圧力を減する）よう
にしたもので、これにより上記範囲における研摩量を制
御し、前記したテープ走行方向の均一円筒面からの偏差
δが小さくなるように図ったものである。
気ヘッドのギャップ近傍部での均一な円筒面からの偏差
を小さくして、磁気テープとの接触に優れたテープ走行
面が形成できるテープ走行面の研摩装置を提供するにあ
る。上記目的を達成するため、本発明は、研摩テープに
所定の加圧力で被加工物を押し付け、被加工物に所定の
曲率半径で揺動運動を与える研摩装置において、被加工
物のテープ走行面のギャップ近傍における異種材料部の
占める範囲を検出する手段と、被加工物を研摩テープ面
に対し微小位置決めする手段と、被加工物への加圧力を
検出する手段とを設け、被加工物のテープ走行面のギャ
ップ近傍の異種材料部の存在する範囲で、被加工物の研
摩テープ面に対する位置を変化させて、被加工物への加
圧力を他の範囲における加圧力から変化させる（前記し
た非磁性材料がガラスの場合は、加圧力を減する）よう
にしたもので、これにより上記範囲における研摩量を制
御し、前記したテープ走行方向の均一円筒面からの偏差
δが小さくなるように図ったものである。
以下、本発明による研摩装置の一実施例を第３図により
説明する。本装置は、研摩テープ５を往復運動させかつ
該研摩テープを一方向に順次巻き取っていくテープ走行
部、所定の研摩圧力を与えるコンタクトホイール６を含
むコンタクトホイール部、被加工物７を接着保持したブ
ロック８を保持する保持具１０、保持具１ｏに連結され
た揺動棒１１をカム１２を介して上下動させ、被加工物
７に揺動中心１７を中心として揺動運動（首振り運動）
をさせる定速型のモータ１３、被加工物７の微小位置決
め制御を行うための移動ステージ１５を有する摺動テー
ブル１６、及び、ばねで加圧されたコンタクトホイール
６を被加工物７を逃がしたときでも所定の位置に止まる
ようにするためのストッパ１８からなる本体部と、次記
する制御系とで構成されている。制御系は、被加工物の
テープ走行面のギャップ近傍における異種材料部の存在
する範囲を検出するため、振り角θを揺動棒１１の変位
として捉え、該変位を電気量（電圧）として出方する変
位計１９（例えばダイヤルゲージ、測定範囲２０ ｍｍ
、最小単位０．０１ｍｍ）、圧力センサ１４からの信号
により加圧力を検出する動ひずみ測定器２０、変位計１
９および動ひずみ測定器２０からの信号を受けて後記す
る制御を行う制御部２１、及び、制御部２１からのパル
ス信号により回転動作し、移動ステージ１５を前後に移
動させる摺動テーブル１６を動作させ、被加工物７の位
置決め制御を行うパルスモータ２２（最小移動量２ｐｍ
／パルス）により構成されている。
説明する。本装置は、研摩テープ５を往復運動させかつ
該研摩テープを一方向に順次巻き取っていくテープ走行
部、所定の研摩圧力を与えるコンタクトホイール６を含
むコンタクトホイール部、被加工物７を接着保持したブ
ロック８を保持する保持具１０、保持具１ｏに連結され
た揺動棒１１をカム１２を介して上下動させ、被加工物
７に揺動中心１７を中心として揺動運動（首振り運動）
をさせる定速型のモータ１３、被加工物７の微小位置決
め制御を行うための移動ステージ１５を有する摺動テー
ブル１６、及び、ばねで加圧されたコンタクトホイール
６を被加工物７を逃がしたときでも所定の位置に止まる
ようにするためのストッパ１８からなる本体部と、次記
する制御系とで構成されている。制御系は、被加工物の
テープ走行面のギャップ近傍における異種材料部の存在
する範囲を検出するため、振り角θを揺動棒１１の変位
として捉え、該変位を電気量（電圧）として出方する変
位計１９（例えばダイヤルゲージ、測定範囲２０ ｍｍ
、最小単位０．０１ｍｍ）、圧力センサ１４からの信号
により加圧力を検出する動ひずみ測定器２０、変位計１
９および動ひずみ測定器２０からの信号を受けて後記す
る制御を行う制御部２１、及び、制御部２１からのパル
ス信号により回転動作し、移動ステージ１５を前後に移
動させる摺動テーブル１６を動作させ、被加工物７の位
置決め制御を行うパルスモータ２２（最小移動量２ｐｍ
／パルス）により構成されている。
次に、上記装置の動作について説明する。まず移動ステ
ージ１５を第３図に示す位置より約２０ ｍｍ後方に下
げた状態において、被加工物７を接着保持したブロック
８を真空吸着等（図示せず）によりスペーサ９を介して
保持具１０に保持させた後、研摩テープ５（例えば酸化
クロム、＃８０００）を、例えばテープ速度１ｍ／ｓ、
ストローク移動量１ｍ、テープ巻き取り量１ ｍｍ／
ｌ往復で直線往復運動させる。一方、制御部２１の指令
によりモータ１３を等速（例えばＩＱ ｒｐｍ ）で回
転させ、カム１２を介して揺動棒１１を等速往復運動さ
せ、被加工物７に揺動。
ージ１５を第３図に示す位置より約２０ ｍｍ後方に下
げた状態において、被加工物７を接着保持したブロック
８を真空吸着等（図示せず）によりスペーサ９を介して
保持具１０に保持させた後、研摩テープ５（例えば酸化
クロム、＃８０００）を、例えばテープ速度１ｍ／ｓ、
ストローク移動量１ｍ、テープ巻き取り量１ ｍｍ／
ｌ往復で直線往復運動させる。一方、制御部２１の指令
によりモータ１３を等速（例えばＩＱ ｒｐｍ ）で回
転させ、カム１２を介して揺動棒１１を等速往復運動さ
せ、被加工物７に揺動。
中心１７を中心とする首振り運動を与える。しかる後、
移動ステージ１５を前方に移動させ、被加工物７の加工
面を研摩テープ５を介してコンタクトホイール６に接触
させ、該加工面を研摩する。この場合、圧力センサ１４
（例えば、ひずみゲージ）により加圧力を検知し、所定
の加圧力になるように移動ステージ１５の移動量を制御
するとともに、第４図（ａｌに示すごとく、被加工物７
のテープ走行面のギャップ近傍の非磁性材料部３の占め
る範囲に相当する振り角±θ２の範囲においては、加圧
力Ｐを変化させる（例えば、第４図（ｂｌに示すごとく
、他の範囲のＶ２ ）ように移動ステージ１５を位置制
御する。
移動ステージ１５を前方に移動させ、被加工物７の加工
面を研摩テープ５を介してコンタクトホイール６に接触
させ、該加工面を研摩する。この場合、圧力センサ１４
（例えば、ひずみゲージ）により加圧力を検知し、所定
の加圧力になるように移動ステージ１５の移動量を制御
するとともに、第４図（ａｌに示すごとく、被加工物７
のテープ走行面のギャップ近傍の非磁性材料部３の占め
る範囲に相当する振り角±θ２の範囲においては、加圧
力Ｐを変化させる（例えば、第４図（ｂｌに示すごとく
、他の範囲のＶ２ ）ように移動ステージ１５を位置制
御する。
ここで、上記装置の加圧力を制御する制御系について説
明する。前記したように、変位計１９は振１り角θに相
当する変位を検出し、振り角θに相当する検出信号が制
御部２１に入力される。制御部２１は、入力された信号
と、前記した±θ２に相当する電圧とを比較し、−θ２
くθ〈θ２であるか否かの判別を行う。そして、−θ２
くθ〈θ２でなければ、加圧力の設定値としてＰＩが、
またーθ２くθくθ２であれば、加圧力の設定値として
Ｐ２が、それぞれ設定される。そして、制御部２１はパ
ルス信号をパルスモータ２２に送って回転動作させ、移
動ステージ１５を移動させ、被加工物７に加圧力を与え
るが、この加圧力を圧力センサ１４により検出し、その
検出信号を動ひずみ測定器２０を経て制御部２１に入力
し、パルスモータ２２を動作させて、加圧力がＰｌある
いはＰ２の設定値に等しくなるように制御する。
明する。前記したように、変位計１９は振１り角θに相
当する変位を検出し、振り角θに相当する検出信号が制
御部２１に入力される。制御部２１は、入力された信号
と、前記した±θ２に相当する電圧とを比較し、−θ２
くθ〈θ２であるか否かの判別を行う。そして、−θ２
くθ〈θ２でなければ、加圧力の設定値としてＰＩが、
またーθ２くθくθ２であれば、加圧力の設定値として
Ｐ２が、それぞれ設定される。そして、制御部２１はパ
ルス信号をパルスモータ２２に送って回転動作させ、移
動ステージ１５を移動させ、被加工物７に加圧力を与え
るが、この加圧力を圧力センサ１４により検出し、その
検出信号を動ひずみ測定器２０を経て制御部２１に入力
し、パルスモータ２２を動作させて、加圧力がＰｌある
いはＰ２の設定値に等しくなるように制御する。
上記のようにして、所定時間（例えば２分間）研摩加工
した後、移動ステージ１５を約２０ ｍｍ後方に移動さ
せ、被加工物７を取り出す。以上の動作により、テープ
走行面におけるギャップ近傍の均一円筒面からの偏差δ
は、加圧力を制御しない場合のδ＝Ｏ，１５〜０３μｍ
に対して、加圧力を制御した場合にはδ＝ ０．０５μ
ｍ以下とすることができ、磁気テープとの接触に優れた
テープ走行面を得ることができる。なお、非磁性材料部
３のテープ走行面に占める面積が異なる場合においても
、振り角±θ２、及び加圧力Ｐを適切に設定することが
可能であり、上記したと同じ効果が得られる。
した後、移動ステージ１５を約２０ ｍｍ後方に移動さ
せ、被加工物７を取り出す。以上の動作により、テープ
走行面におけるギャップ近傍の均一円筒面からの偏差δ
は、加圧力を制御しない場合のδ＝Ｏ，１５〜０３μｍ
に対して、加圧力を制御した場合にはδ＝ ０．０５μ
ｍ以下とすることができ、磁気テープとの接触に優れた
テープ走行面を得ることができる。なお、非磁性材料部
３のテープ走行面に占める面積が異なる場合においても
、振り角±θ２、及び加圧力Ｐを適切に設定することが
可能であり、上記したと同じ効果が得られる。
以上説明したように、本発明によれば、被加工性の異な
る非磁性材料部を含む磁気ヘッドのテープ走行面を研摩
テープにより仕上加工する際に、テープ走行方向の均一
円筒面からの偏差δを０．０５μｍ以下にすることがで
きるため、磁気テープとの接触に優れたテープ走行面を
形成することができる。
る非磁性材料部を含む磁気ヘッドのテープ走行面を研摩
テープにより仕上加工する際に、テープ走行方向の均一
円筒面からの偏差δを０．０５μｍ以下にすることがで
きるため、磁気テープとの接触に優れたテープ走行面を
形成することができる。
第１図はＶＴＲ用磁気ヘッドの斜視図、第２図ｔａ）は
第１図のテープ走行面のギャップ近傍を示す部分平面図
、第２図（ｂｌはその部分側面図、第３図は本発明によ
る研摩装置の一実施例を示す概略図、第４図ｆａｌは該
実施例における振り角の説明図、第４図（ｂｌは振り角
と加圧力との関係を示す図表である。 符号の説明 １・・・テープ走行面 ２・・・磁性材料部３・・・
非磁性材料部 ４・・・ギャップ５・・・研摩テープ
６・・・コンタクトホイール７・・・被加工物
８・・・ブロック９・・・スペーサ １ｏ
・・・保持具１１・・・揺動棒 １２・・・カ
ム１３・・・モータ １４・・・圧力センサ１
５・・・移動ステージ １６・・・摺動テーブル１９
・・・変位計 ２０・・・動ひずみ測定器２１
・・・制御部２２・・・パルスモータ代理人弁理士 中
村純之助 第１ 図 ＩＰ２図
第１図のテープ走行面のギャップ近傍を示す部分平面図
、第２図（ｂｌはその部分側面図、第３図は本発明によ
る研摩装置の一実施例を示す概略図、第４図ｆａｌは該
実施例における振り角の説明図、第４図（ｂｌは振り角
と加圧力との関係を示す図表である。 符号の説明 １・・・テープ走行面 ２・・・磁性材料部３・・・
非磁性材料部 ４・・・ギャップ５・・・研摩テープ
６・・・コンタクトホイール７・・・被加工物
８・・・ブロック９・・・スペーサ １ｏ
・・・保持具１１・・・揺動棒 １２・・・カ
ム１３・・・モータ １４・・・圧力センサ１
５・・・移動ステージ １６・・・摺動テーブル１９
・・・変位計 ２０・・・動ひずみ測定器２１
・・・制御部２２・・・パルスモータ代理人弁理士 中
村純之助 第１ 図 ＩＰ２図
Claims (1)
- 研摩テープを順次供給しながら往復運動させる手段を有
し、該手段によって移動された研摩テープの面に、ギャ
ップ近傍に非磁性材等の異種材料からなる部分を含んだ
磁気ヘッド等の被加工物の円筒状のテープ走行面を所定
の圧力で押し付けて、上記円筒面の曲率半径に合わせて
揺動させることにより、被加工物のテープ走行面を研摩
する装置であって、被加工物のテープ走行面のギャップ
近傍における異種材料部の存在する範囲を検出する手段
と、被加工物を研摩テープ面に対し微小位置決めする手
段と、被加工物への加圧力を検出する手段とを設け、被
加工物のテープ走行面のギャップ近傍における異種材料
部の存在する範囲で、被加工物の」１記研摩テープ面に
対する位置を変化させて、被加工物への加圧力を該テー
プ走行面の他の範囲における加圧力より変化させるよう
にしたことを特徴とする磁気ヘッドのテープ走行面の研
摩装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13843482A JPS5930226A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 磁気ヘツドのテ−プ走行面の研摩装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13843482A JPS5930226A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 磁気ヘツドのテ−プ走行面の研摩装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930226A true JPS5930226A (ja) | 1984-02-17 |
Family
ID=15221881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13843482A Pending JPS5930226A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 磁気ヘツドのテ−プ走行面の研摩装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5930226A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62110850U (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-15 |
-
1982
- 1982-08-11 JP JP13843482A patent/JPS5930226A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62110850U (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-15 | ||
| JPH0333426Y2 (ja) * | 1985-12-27 | 1991-07-16 |
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