JPS5928362Y2 - 超音波顕微鏡 - Google Patents
超音波顕微鏡Info
- Publication number
- JPS5928362Y2 JPS5928362Y2 JP6253079U JP6253079U JPS5928362Y2 JP S5928362 Y2 JPS5928362 Y2 JP S5928362Y2 JP 6253079 U JP6253079 U JP 6253079U JP 6253079 U JP6253079 U JP 6253079U JP S5928362 Y2 JPS5928362 Y2 JP S5928362Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- ultrasonic
- holding plate
- sample holding
- scanning
- Prior art date
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、超音波顕微鏡特に試料の走査構造に関する。
光の代りに超音波を用いて物体の微視的な構造を観察し
ようという考えが古くからあり、最近機械走査型超音波
顕微鏡が開発された。
ようという考えが古くからあり、最近機械走査型超音波
顕微鏡が開発された。
この超音波顕微鏡は、原理的には細く絞った超高周波超
音波ビームによって試料面を機械的に走査し、散乱され
た超音波を集音して電気信号に変換し、陰極線管の表面
に二次元的に表示し、顕微鏡像を得るのである。
音波ビームによって試料面を機械的に走査し、散乱され
た超音波を集音して電気信号に変換し、陰極線管の表面
に二次元的に表示し、顕微鏡像を得るのである。
構成としては、超音波の検出の仕方によって、すなわち
試料内で散乱あるいは減衰しながら透過してきた超音波
を検出する場合と、試料内の音響的性質の差によって反
射してきた超音波を検出する場合とによって、透過型と
反射型とに分けられる。
試料内で散乱あるいは減衰しながら透過してきた超音波
を検出する場合と、試料内の音響的性質の差によって反
射してきた超音波を検出する場合とによって、透過型と
反射型とに分けられる。
第1図は透過型の超音波顕微鏡の基本構成を示すブロッ
ク図であり、同図中1は高周波発振器、2は送波側超音
波集束レンズでサファイアなどの超音波伝搬媒体材から
成り、−面に送波用トランスジューサ2aが貼着され、
他面は球面状にえぐられた球面レンズ部2bを有する。
ク図であり、同図中1は高周波発振器、2は送波側超音
波集束レンズでサファイアなどの超音波伝搬媒体材から
成り、−面に送波用トランスジューサ2aが貼着され、
他面は球面状にえぐられた球面レンズ部2bを有する。
3は送波側超音波集束レンズと同じくサファイア板など
の超音波伝搬媒体材からなり、−面に受渡用トランスジ
ューサ3aが貼着され、他面には球面状にえぐられた球
面レンズ部3bを有する。
の超音波伝搬媒体材からなり、−面に受渡用トランスジ
ューサ3aが貼着され、他面には球面状にえぐられた球
面レンズ部3bを有する。
そして、このような一対の超音波集束レンズは互いに球
面レンズ部を対向せしめて音場媒体となる水4を介して
共焦点構成に配設されている。
面レンズ部を対向せしめて音場媒体となる水4を介して
共焦点構成に配設されている。
5は試料保持板で、該試料保持板5に被検査物体となる
試料6が取付けられている。
試料6が取付けられている。
7は試料保持板5をX及びY方向に移動させる走査装置
、8は走査装置7を制御する走査回路、9は受渡側超音
集束レンズ3の出力を受信する受信回路、10は表示装
置である。
、8は走査装置7を制御する走査回路、9は受渡側超音
集束レンズ3の出力を受信する受信回路、10は表示装
置である。
前述の如き超音波顕微鏡において、まず送波用トランス
ジューサ2aによって放射された平面超音波は球面レン
ズ部2bによって集束され、水中に焦点を結ぶ。
ジューサ2aによって放射された平面超音波は球面レン
ズ部2bによって集束され、水中に焦点を結ぶ。
この焦点に集まった超音波は共焦点に配置されている受
渡側超音波集束レンズ3の球面レンズ部3bによって集
音され、水平面超音波となり、受渡用トランスジューサ
3aによって電気信号に変換される。
渡側超音波集束レンズ3の球面レンズ部3bによって集
音され、水平面超音波となり、受渡用トランスジューサ
3aによって電気信号に変換される。
そこで試料の検査面が焦点に位置するようにしながら試
料保持板5をX方向に振動させなからY方向に少しずつ
移動させれば、超音波ビームは相対的に試料面を走査す
ることになる。
料保持板5をX方向に振動させなからY方向に少しずつ
移動させれば、超音波ビームは相対的に試料面を走査す
ることになる。
超音波ビームが試料6を透過する際、振幅や位相の変化
を受けるから、超音波ビームが横切るところの試料面の
各点に対応させて表示装置10内の陰極線管CRTの電
子ビームを掃引し、受渡用トランスジューサ3aの出力
信号に応じて輝度変調をかければCRT面上には二次元
的に顕微鏡像が得られる。
を受けるから、超音波ビームが横切るところの試料面の
各点に対応させて表示装置10内の陰極線管CRTの電
子ビームを掃引し、受渡用トランスジューサ3aの出力
信号に応じて輝度変調をかければCRT面上には二次元
的に顕微鏡像が得られる。
ところで、上述の如き超音波顕微鏡において、通常、試
料保持板5の走査は、X方向の振動をボイスコイルに5
0止程度の交流信号を印加することにより行い、且つ、
該試料保持板5をモーターによりY方向に機械的に少し
ずつ移動させることが考えられている。
料保持板5の走査は、X方向の振動をボイスコイルに5
0止程度の交流信号を印加することにより行い、且つ、
該試料保持板5をモーターによりY方向に機械的に少し
ずつ移動させることが考えられている。
しかし、上記構成では、−画像の走査速度を速めるため
に、ボイスコイルの振動数を増加させると、振幅がとれ
なくなる欠点がある。
に、ボイスコイルの振動数を増加させると、振幅がとれ
なくなる欠点がある。
また、試料保持板5をX方向に振動させながら、且つ、
Y方向に移動させるために、振動に伴う不要なブレが生
じ易く、画像に悪影響を及ぼす欠点がある。
Y方向に移動させるために、振動に伴う不要なブレが生
じ易く、画像に悪影響を及ぼす欠点がある。
本考案は上記の点に鑑み、試料を取付けた試料保持板を
回転させることにより、走査速度を速め、且つ、複数個
の試料を同時に検出し得る超音波顕微鏡を提供するにあ
る。
回転させることにより、走査速度を速め、且つ、複数個
の試料を同時に検出し得る超音波顕微鏡を提供するにあ
る。
以下、本考案の1実施例の概略図を第2図〜第4図によ
り説明すると、11は送波側・受渡側超音波集束レンズ
部12.13を設けた超音波レンズ系、14は円筒状の
水槽で、該水槽14の下面板14aがモータ15の軸1
6に固定されている。
り説明すると、11は送波側・受渡側超音波集束レンズ
部12.13を設けた超音波レンズ系、14は円筒状の
水槽で、該水槽14の下面板14aがモータ15の軸1
6に固定されている。
5は水槽14内に予め挿入され、且つ、前記モーター1
5の軸16に固定された円板状の試料保持板で、該保持
板5はモーター15の回転により回動し、その表面には
試料6が取付けられている。
5の軸16に固定された円板状の試料保持板で、該保持
板5はモーター15の回転により回動し、その表面には
試料6が取付けられている。
17は水槽14に取外し自在に取付けられた蓋板で、該
蓋板17を開けて前記試料6の交換ができるようになっ
ている。
蓋板17を開けて前記試料6の交換ができるようになっ
ている。
また、差金17には試料保持板5の回転の同期を取るフ
ォトセンサー18、及び水を水槽14内に注入するため
の注入口を塞ぐ栓19がそれぞれ設けられている。
ォトセンサー18、及び水を水槽14内に注入するため
の注入口を塞ぐ栓19がそれぞれ設けられている。
なお、水槽14内に注入された水を排水する際は、水槽
14の下面板14aの排水口を塞ぐ栓20を抜けば良い
。
14の下面板14aの排水口を塞ぐ栓20を抜けば良い
。
次に、前記超音波レンズ系11の送波側・受渡側超音波
集速レンズ部12.13のそれぞれの先端部は前記蓋板
17及び前記下面板14aに設けた透孔から水槽14内
に挿入され、しかも、該超音波レンズ系11自体がY方
向に振動可能に保持されている。
集速レンズ部12.13のそれぞれの先端部は前記蓋板
17及び前記下面板14aに設けた透孔から水槽14内
に挿入され、しかも、該超音波レンズ系11自体がY方
向に振動可能に保持されている。
なお、21,21は水槽14に注入した水が前記透孔か
ら外部に流出するのを防止するために弾性体等からなる
バッキングである。
ら外部に流出するのを防止するために弾性体等からなる
バッキングである。
そこで、超音波顕微鏡を走査する場合には、前記試料保
持板5をモーター15で回転させることにより、ボイス
コイルで行っていたX方向の振動の代替を果し、またY
方向の走査は超音波レンズ系11自体をモーターにより
機械的に移動させるか、または、ボイスコイル等により
電気的に行い得る。
持板5をモーター15で回転させることにより、ボイス
コイルで行っていたX方向の振動の代替を果し、またY
方向の走査は超音波レンズ系11自体をモーターにより
機械的に移動させるか、または、ボイスコイル等により
電気的に行い得る。
この際、第5図に示すように試料保持板5上に同期用マ
ーク22を印刷等で形成しておき、該同期用マーク22
を前記フォトセンサ18で検出することにより、試料6
上の検査範囲の決定または変更を容易に行うことができ
る。
ーク22を印刷等で形成しておき、該同期用マーク22
を前記フォトセンサ18で検出することにより、試料6
上の検査範囲の決定または変更を容易に行うことができ
る。
なお、試料6の斜線部6aは検査範囲である。
また、前記同期用マーク22を透過率あるいは反射率が
他と大きく異なるような物質を選べば、超音波レンズ系
11自体で同期を検出し得る。
他と大きく異なるような物質を選べば、超音波レンズ系
11自体で同期を検出し得る。
勿論、走査時においては、水等の音場媒体が水槽14に
満され、試料6及び送波側・受波側超音波レンズ部12
.13が音場媒体につかっている。
満され、試料6及び送波側・受波側超音波レンズ部12
.13が音場媒体につかっている。
第6図は試料保持板5に複数個の試料6・・・・・・を
取付けたものであり、これらの試料6・・・・・・は一
度に検査することができ、各試料6・・・・・・の比較
検討が極めて容易に行え得る。
取付けたものであり、これらの試料6・・・・・・は一
度に検査することができ、各試料6・・・・・・の比較
検討が極めて容易に行え得る。
なお、22aは試料保持板5の回転を検出するための同
期用マーク、22b・・・・・・は各試料6・・・・・
・間の同期用マークである。
期用マーク、22b・・・・・・は各試料6・・・・・
・間の同期用マークである。
また、前記実施例では透過型の超音波顕微鏡により説明
したが、反射型にも適用し得ること勿論である。
したが、反射型にも適用し得ること勿論である。
叙上のように、本考案は水槽14内に回転可能に試料保
持板5を挿入し、該試料保持板5を回転することにより
、試料6面の一方向の走査を行わしめたものであるため
、ボイスコイルで走査させる構造に比して、振動数を増
すと振幅がとれないということはなく、且り、複数個の
試料6・・・・・・を一度に検査することができ、それ
らの比較検討が極めて容易となる。
持板5を挿入し、該試料保持板5を回転することにより
、試料6面の一方向の走査を行わしめたものであるため
、ボイスコイルで走査させる構造に比して、振動数を増
すと振幅がとれないということはなく、且り、複数個の
試料6・・・・・・を一度に検査することができ、それ
らの比較検討が極めて容易となる。
また、他方向の走査は超音波レンズ系11を振動させて
行わしめたので、X、Y方向の振動がそれぞれ独立の系
によりなされ、振動に伴う不要なブレが少なく、鮮明な
画像が得られる等の実用上顕著な効果を奏する。
行わしめたので、X、Y方向の振動がそれぞれ独立の系
によりなされ、振動に伴う不要なブレが少なく、鮮明な
画像が得られる等の実用上顕著な効果を奏する。
第1図は透過型超音波顕微鏡のブロック図、第2図〜第
6図は本考案の超音波顕微鏡に係り、第2図は要部概路
上面図、第3図は要部概路上面図、第4図は要部断概略
側面図、第5図は試料保持板の上面図、第6図は複数個
の試料を設けた試料保持板の上面図である。 5・・・・・・試料保持板、6・・・・・・試料、11
・・・・・・超音波レンズ系、12.13・・・・・・
送波側・受波側超音波集束レンズ部、14・・・・・・
水槽。
6図は本考案の超音波顕微鏡に係り、第2図は要部概路
上面図、第3図は要部概路上面図、第4図は要部断概略
側面図、第5図は試料保持板の上面図、第6図は複数個
の試料を設けた試料保持板の上面図である。 5・・・・・・試料保持板、6・・・・・・試料、11
・・・・・・超音波レンズ系、12.13・・・・・・
送波側・受波側超音波集束レンズ部、14・・・・・・
水槽。
Claims (1)
- 水槽内に回転可能に試料保持板を挿入し、該試料保持板
を回転することにより、試料面の一方向の走査を行わし
め、他方向の走査は超音波レンズ系で行わしめたことを
特徴とする超音波顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6253079U JPS5928362Y2 (ja) | 1979-05-10 | 1979-05-10 | 超音波顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6253079U JPS5928362Y2 (ja) | 1979-05-10 | 1979-05-10 | 超音波顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55162151U JPS55162151U (ja) | 1980-11-20 |
| JPS5928362Y2 true JPS5928362Y2 (ja) | 1984-08-16 |
Family
ID=29296534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6253079U Expired JPS5928362Y2 (ja) | 1979-05-10 | 1979-05-10 | 超音波顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5928362Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008209258A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Honda Electronic Co Ltd | 音響パラメータ測定装置用の試料支持体、及び音響パラメータ測定装置 |
| JP2015145785A (ja) * | 2014-01-31 | 2015-08-13 | 株式会社コベルコ科研 | 超音波顕微鏡及び超音波検査方法 |
-
1979
- 1979-05-10 JP JP6253079U patent/JPS5928362Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55162151U (ja) | 1980-11-20 |
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