JPS5927559A - 半導体装置パツケ−ジ - Google Patents

半導体装置パツケ−ジ

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JPS5927559A
JPS5927559A JP57138182A JP13818282A JPS5927559A JP S5927559 A JPS5927559 A JP S5927559A JP 57138182 A JP57138182 A JP 57138182A JP 13818282 A JP13818282 A JP 13818282A JP S5927559 A JPS5927559 A JP S5927559A
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leads
cut
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Toshiyuki Fujii
藤井 利之
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、半導体チップ部を樹脂封止1り一ドを引出
した、電力用などの半導体装置パッケージの改良に関す
る。
中電力用半導体装置パッケージは、電子機器の小形化に
対応し、従来のTo −920外形、TO−202外形
、あるいはTO−220外形のものに対し、缶外iはプ
リント基板等への実装密度を上げ名ために、71%形で
平面実装に適したものが作られている。
この種の従来の半導体装置パッケージとして、許容損失
が0.6W程度の中筒、力用トランジスタの場合を、第
1図及び第2図に斜視図及び正面図で示す。(11はト
ランジスタパッケージで、次のように構成されている。
(2)はベースリード、(3)はコレクタリード、(4
)はエミッタリード、(5)は放熱フィンであり、コレ
クタリード(3)とは内部で連続しておリ、コレクタリ
ード(3)の先端部は切断されている。
(6)はモールド形成された封止樹脂体、(7)は半導
体チップである。
上記従来のパッケージは、封止樹脂体(6)の大きさが
、幅6mm、長さ7mm、高さ2.5mm程度であり、
各リード(2)〜(4)及び放熱フィン(5)の厚さは
0.15mmである。この場合、コレクタリード(3)
とペースリード(2)間、及びコレクタリード(3)と
エミッタリード(4)間の各最短空間距離が0 、9m
m程度しかなかった。このた愉、例えば数100 V以
上の高耐圧用途のものでは、リード間の絶縁距離が不足
し、実使土用問題があった。また、パッケージtllの
小形化に伴ない、外囲気と半導体チップ(7)との距離
が必然的に短かくなっており、外気による湿気の影響を
うけ易く、さらに、放熱フィン(5)やリード(2)。
(4)の外力による曲げ の影響を受は易く、半導体チ
ップ(7)が劣化や損傷をする欠点があり、信頼性が低
かった。
この発明は、上記従来のパッケージの欠点を除くために
なされたもので、半導体チップ部及び並べて引出された
複数のリード部の内方側を、これらの部品を保護し密着
保持する内部樹脂封止体で封止し、上記リード部のうち
中間に配置され外部で接続しないリード部を根元側がら
切断し、この切断したリード部の残部側と他のリード部
9後端側及び内部樹脂封止体の少なくとも底部の他の外
周を、密着性がよく耐湿性で機械的強度の大な外部樹脂
封止体で封止し、絶縁性、耐湿性及び機械的強度が優れ
、小形化に適した半導体装置パッケージを提供すること
を目的としている。
この発明の半導体装置パッケージの一実施例を、3〜8
A級の中部、力用サイリスタについて説明する。トラン
ジスタに比ベサイリスタは電源用途への応用度が広く、
したがって、サイリスタは絶縁について考慮する必要が
あり、この発明は、サイリスタへの適用がより効果が発
揮されるものである。第3図及び第4図はこの発明の一
実施例を示すサイリスタパッケージの斜視−及び正面図
である。(11)はサイリスタパッケージで、次のよう
に構成されている。(121はカソードリード(従来の
ベースリードに相当)、041はゲートリード(従来の
エミッタリードに相当)llf9はアノード放熱フィン
(従来のコレクタ放熱フィンに相当)で、アノード電極
端子を兼用している。アノードリードは根元側から切断
されていてなくされ、外部には出ていない。(181は
半導体チップ071部を封じた内部封止樹脂体、Q@は
この内部封止樹脂体の外周を囲った外部封止樹脂体であ
る。
上記パッケージ(11)の構成により、高電圧の印加さ
れるり一下端子間、すなわち、アノード電極端子(アノ
ード放熱フィン)とカソードリード021間、及びアノ
ード電極端子とゲー) IJ−ド04)間の各最短距離
が従来のものに比べ、大幅に延長される。
上記実施例のパッケージ(II)では、例えばカソード
リードQ21とゲートリード(14)間距離が、従来の
α9mmから2.8mmになる。また、内部封止樹脂体
(181は半導体チップOηの保護用を主目的とし、封
止体としての密着保持を第二の目的としたものとし、外
部封止樹脂体(I鴫は外気及び外力からの保護用を目的
としたものとし、それぞれ最適の拐質の封止樹脂(例え
ばエポキシ樹脂系)を使い分けである。
こうして、耐湿性が高く機械的強度の大なパッケージ(
川が得られる。
上記一実施例のパッケージ(11)の製造は、次のよう
、にする。第5図に示すように、まず、平面状であった
リード7レームーの各リード部(2しw、H側を、プレ
スにより少し段付きに折曲げ上げる。
リードフレーム−のボ、ンディングパッド部(21)に
半導体チツ7’tJ71を装着し、この半導体チップ上
面の各電極部とり一ドフレーム(20)のカソードリー
ド部(22)及びゲートリード部(24)とをそれぞれ
対応する電極間をワイヤボンデ1ングする。(271は
ワイヤポンディングの金属線である。翰はアノードリー
ド部で、ポンディングパッド部@1)に連続する根元側
に、あらかじめ、抜穴(イ)を設けこの部分にくびれ部
を形成してるり、後工程でこのくひれ部でのアノードリ
ード部(四の切断がしやすいようにしている。
リードフレーム(3)には両側にタイバ(2)が設けら
れ、複数組のポンディングパッド部@l)及び各リー片
゛部が連結して打抜き形成されである。
次に、各ワイヤボンデングされた半導体チン104部を
、第6図に一点鎖線で示すように、モールドによる内部
封止樹脂体Q81で封止する。これにより、アノード放
熱フィン05)を残したボンデングパッド部H,カソー
ドリード部Qノとゲートリード部(財)の各端部及びア
ノードリード部の抜穴−を除いた根元の範囲内が樹脂封
止固定される。この内部封止樹脂体(18)は、半導体
チップ(+7)や金属線t2ηを保護するためであり、
熱膨張係数が半導体チップ(lηに近く、かつ、半導体
チップの特性劣化やアルミ材などの電極金属を腐食させ
るおそれのあるナトリウム、カリウム、塩素等の不純物
イオンの含有量の少ない樹脂を用いる。
続いて、第7図に示すように、アノードリード部□□□
を抜穴(筒部とタイバ(社)のつけ根部とでプレス切断
により切断する。このとき、せん断応力の影響で半導体
チップ(lηが損傷しないように、抜穴(社)により形
成されたくびれ部で、アノードリードの一方側が容易に
切断されるようにしている。
この後、第8図に2点鎖線で示すように、モールドによ
る外部封止樹脂体(19)で、内部封止樹脂体(+8)
及びアノードリード部(四の残った抜穴m個を完全に覆
って気密封止する。この外部封止樹脂体09)は、各リ
ード部(221−(支))及び放熱フィン(1ωの金属
材とそのめつき面や内部封止樹脂(18)との密着性が
よく、水分を透過しない性質をもち、さらに、内部封止
樹脂体08)を囲う保護用として、かつ、各リード部1
22 、 (241の保持として機械的強度の優れた樹
脂を用い、サイリスタとしての耐湿性及び機械的強度を
向上させている。
最後に、カソードリード部翰及びゲートリード部動)の
各先端部と一方のダイバ(ロ)、アノード放熱フィン(
1鴨外端と他方のダイバ(至)側の接続片をプレス機に
より切断除去すると共に、各リード部翰。
(24)を曲は下げ加工する。こうして、第3図及び第
4図に示すツイリスタパッケージ(川ができ上る。
第9図及び第1O図は、この発明の他のそれぞれ異なる
実施例を示す切断前のアノードリード部の斜視図である
。第9図において、アノードリード部翰には、切断を容
易にするため、両側1対の切欠き(ハ)を設け、くびれ
部を形成しである0第10図においては、アノードリー
ド部翰には、切断を容易にするため、上下1対の切欠き
(291を設け、くびれ部を形成しである。アノードリ
−ド部(2)の切断を容易にするのに、上記実施例の外
、切欠きa81及び翰を組合せて設けてもよい。
なお、高□耐圧中電力用の半導体装置ノクツケージとし
て、上記実施例ではサイリスタノ(ツケージの場合を説
明したが、他の種の半導体装置):ツケージの場合にも
、適用できるものである。
また、上記実施例では、アノードリードs@にくびれ部
を形成するのに、切欠き(281f)るl/)は切欠a
@”)IGよ、ヵ、RJ、、ゆアい、カニ、−カ111
1 o□−1+ t、= 816、もよい。
以上のように、この発明によれば、半導体チップ部及び
並べて引出された複数のリード部の内方側を、内部樹脂
封止体で封止し内部部品を密着保持して保護し、上記リ
ード部のうち中間に配置され外部で接続されないリード
部を根元側から切断し、この切断したリード部の残部側
と他のリード部の後端側及び内部樹脂封止体の外周を外
部樹脂封止体で封止し防湿と機械的保膜とをしたので、
絶縁性、耐湿性及び機械的強度に優れ、小形化に適した
効呆がある。
【図面の簡単な説明】
′ 第1図及び第2図は従来のトランジスタパッケージ
を示す斜視図及び正面図、第3図及び第4図はこの発明
の一実施例によるサイリスタパッケージを示す斜視図及
び正面図、第5図ないし、第8図は第3図のサイリスタ
パッケージの製造工程を順に示す平面図、第9図及び第
10図はこの発明の他のそれぞれ異なる実施例を示1切
断前のアノード部の拡大斜視図である。 図において、1]、・・・半導体装置パッケージ、12
・・・カソードリード、14・・・ゲートリード、15
・・・アノード放熱フィン、17−’′半導体チップ、
1B・・・内部樹脂封止体、19・・・外部樹脂臭1止
体、20・・・リードフレーム、21・・・ポンディン
グパッド部、22・・・カソードリード部、23・・・
アノードリード部、24・・・ゲートリード部、26・
・・抜穴、28.29・・・切欠き部。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人   葛 野 信 −(外1名)第1図 第314・ 第5図 5 第6図 5 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 1、事件の表示    特願昭5’/−13818a号
2、発明の名称   半導体装fit、パッケージ3、
補正をする者 事f’tとの関係   特許出願人 代表者片由仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄。 6、補正の内容 明細書第2ページ第9行の「920外形」を「92外形
」に補正する。 以上

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  ポンディングパッド部に半導体チップを装着
    してワイヤボンディングし、この半導体チップ部を樹脂
    封止し、この樹脂封止体から複数のリードが並べて引出
    された半導体装置パッケージにおいて、上記半導体チッ
    プ部及び上記各リード部の内方側を封′止し、内部部品
    に密着して保護する内部樹脂封止体、及び上記各リード
    部のうち、上記ポンディングパッド部から連続して出さ
    れて中間に配置されてあり外部接続不要のリード部が根
    元側から切断除去され、この切断されたリード部の残部
    側と、上記他のリード部の後端側と、□上記内部樹脂封
    止体の外周のうち少なくとも底部の他の同口とを封止し
    、内部樹脂封止体に密着して防湿するとともに機械的保
    護す゛る外部樹脂封止体を備えたことを特徴とする半導
    体装置パッケージ。
  2. (2)  切断されたリード部は、あらかじめ、切断す
    べ自箇所にくびれ部が形成されてあり、このくびれ部で
    切断されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体装置パッケージ。
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