JPS5923871A - スパツタリング装置 - Google Patents

スパツタリング装置

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Publication number
JPS5923871A
JPS5923871A JP13358182A JP13358182A JPS5923871A JP S5923871 A JPS5923871 A JP S5923871A JP 13358182 A JP13358182 A JP 13358182A JP 13358182 A JP13358182 A JP 13358182A JP S5923871 A JPS5923871 A JP S5923871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
substrate
film
vacuum chamber
sputtering
Prior art date
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Pending
Application number
JP13358182A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoshiro Shioda
潮田 友四郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Original Assignee
Tokuda Seisakusho Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、フィルト状基体の表面に機能薄膜としてのス
パッタ薄膜を連続的に形成するスパッタリング装置に関
する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
近年、記録媒体層がスパッタ薄膜によって形成された磁
気記録媒体が出現している。スパッタ薄膜は、通常、低
圧の不活性ガス中でグロー放電を行なわせ、この放電に
よって生じた陽イオンをターゲットに衝突さぜ、この衝
突によってターゲットからたたき出された金属微粒子を
所定の支持基体の表面に付着させることによって形成さ
れる。したがって、ターゲットとして磁気記録性に富ん
だ材料を選択すれば、良好な記録媒体層を形成すること
ができる。
ところで、スパッタリングによって基体の表面に薄膜を
付着さぜる場合、高周波放電を利用するときには真空容
器内の圧力を、一般に5×10−’ 〜IXI O’ 
Torr  程度に保持する必要があり、また直流放電
を利用するときには同じく5X10 ” =IX10 
’Torra度に保持する必要がある。これらの値は、
経験的にすでに立証されている。
一方、基体の表面にスパッタ薄膜を密着性よく伺着させ
るためには、基体を加熱し、その表面を十分に脱ガス処
理する必要がある。しかし、これだけでは不十分で、こ
の脱ガス処理の後に、基体表面の水分を確実に除去する
必要がある。
このためには、真空容器内を少なくとも5XlO−’T
orr  以下に排気する必要がある。したがって、通
常、スパッタリングによって基体の表面に薄膜を形成す
るには、まず、真空容器内を排気するどどもに基体を加
熱して脱ガス処理し、その後に基体を冷却するとともに
真空容器内を高真空に排気して水分を完全に除去し、次
に真空容器内の圧力を上げた状態で基体の表面にスパッ
タ薄++aを形成する手順が採用されている。
しかしながら、1つの真空容器を使って上述した手順で
スパッタ薄膜を形成するようにしたものにあっては、基
体がフィルム状のようなものlこついては、いわゆる−
巻毎に上記手順で行ない、次に真空を破って、次の巻に
ついて再び上記手順を採用すると云った方式しか採用で
きない。このため実質的に非常に長い基体に連続的にス
パッタ薄膜を形成することができず、この結果、生産性
が低いと云う問題があった。
〔発明の目的〕
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、装置uの大損り化を抑制した状
態で、実質的に継目のないフィルム状基体の表面に連続
的にスパッタ薄膜を形成でき、もって生産性を大幅に向
上させ得るスパッタリング装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明に係るスパッタリング装置は、真空容器内を第1
の補助真空室、脱ガス室、高真空室、中間真空室、スパ
ッタ室および第2の補助真空室の6室にそれぞれ低コン
ダクタンススリットを介して区分し、供給リールから巻
戻されたフィルム状基体を上記各室lこ上記順に上記各
低コンダクタンススリットを通して案内した後巻取リー
ルに巻取らぜるようにするとともに111j記各室を別
々に排気する排気ポンプを設けてなることを特徴として
いる。
ここで、第1の補助真空室は、大気圧雰囲気と脱ガス室
とを仕切る機能を果し、また第2の補助真空室は大気圧
雰囲気とスパッタ室とを仕切る機能を果し、さらに中間
真空室は圧力差の大きい高真空室とスパッタ室との間を
仕切る機能を果す。
〔発明の効果〕
上記構成であると、供給リールから巻戻されたフィルム
状基体は、第1の補助真空室から脱ガス室に案内され、
ここで脱ガス処理され、次に高真空室に案内されて、こ
こで水分が完全に除去され、次に中間真空室を経由して
スパッタ室に案内されて、その表面にスパッタ薄膜が形
成される。そして、次に第2の補助真空室に案内さノし
た後、巻取リールに巻取られることになる。したがって
、従来装置のように、スパッタ薄膜・λを形成するため
の真空空間部を使って、供給リールに巻かれたフィルム
状基体−巻毎に、脱ガス処理や水分除去処理を行なう必
要がない。
このため、たとえば、供給リールに巻かれたフィルム状
基体の終端に新たな供給リールに巻かれたフィルム状基
体の先端を接続すると云うような操作を繰り返すことに
よって実質的に無限に長いフィルム状基体に連続的にス
パッタ薄膜を形成さぜることかできる。したがって、生
産性を大幅に向上さぜ得るものが得られる。また、6つ
の室内を別々に排気ポンプで排気するようにしているの
で、その室に要求される真空度の実現に適合した性能の
排気ポンプを選択できる。
したがって、従来装置のように1つの排気系で大幅な圧
力範囲に亘ってその者V度、所定の圧力に排気しなけれ
ばならないものに較べて、結果的に、排気系を単純化で
きる利点もある。
〔発明の実施例〕
以下本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。な
お、これは高分子フィルムの一方の面にCo−Cr  
のスパッタ薄膜を形成するものに本発明を適用した例で
ある。
第1図において、図中1は、たとえば金属材で形成され
た真空容器であり、この真空容器1は、軸心線を水平シ
こして画面された、たとえば角筒状の筒部2とこの筒部
2の両端開口を気密に閉塞する閉塞壁、9a 、3bと
で構成されている。そして、筒部2の側壁で図中手前側
に位置する図示しない側壁は着脱自在となっている。
しかして、前記真空容器I内には、仕切壁4゜5、・・
・・・・・8によって図中左端から右側に亘って、第1
の補助真空室9、脱ガス室IO,高真空室II、中間真
空室12、スパッタ室13、第2の補助真空室14が形
成さt″l:Cいる。そして、前記閉塞壁、? a 、
 3 b iJよび仕切壁4,5.・・・・・・・8に
は、これらの壁を境にして隣接する空間を低コンダクタ
ンスで連通させるスリット機構15゜16、・・・−・
21が設けられている。これらスリット機構1 ’5 
、16 、・・・・・・・21は具体的には第2図に示
すように構成されている。ずなわち缶壁Ja+3b+’
+5+・・・・・8Iこ紙面と直交する方向に延びる切
欠部22を設けるとどもに上記切欠部22内に、この切
欠部22を塞ぐ形に半径数譚のローラ23を回転自在に
設け、゛さらに切欠部22の上端面と下端面とに上記ロ
ーラ23との間に数藺の微小間隙24をあけてローラ2
3を覆うとともに相互間に数朋の微小間隙25が形成さ
れる関係に半円筒体26 a 、 26bを取り付けた
ものとなっている。そして、スリット機構15.21に
ついては、真空容器1外に位置する微小間隙25の側方
に、上記微小間隙25を塞ぐように常時半円筒体26 
a 、 26bに圧接するゴムローラ27が配置されて
いる。
しかして、前記第1の補助真空室9、高A、空室11、
中間真空室12およびm2の補助真空室14には、それ
ぞれ、後述するところのフィルム状基体Pを案内するガ
イドローラ28゜29 、30 、.9 Jがそれぞれ
1個才たけ複数その軸心線を紙面と直交させて回部/自
在tこ配置されている。また、前記脱ガス室1o内ζこ
(才、力[1熱ローラ32、冷却ローラ33および複数
のガイドローラ34がその軸心線を紙面と直交させて回
転自在に配置されている。これら加熱ローラ32↓;よ
び冷却ローラ33の回転軸(図示せずNJ、sそれぞれ
J(空容器1の側壁を気密に貫通して図示しない駆動モ
ータに連結されでいる。
また、加熱ローラ32は、上記回転軸の内部に形成され
た流路を通して真空容器I外から供給される熱媒体によ
って加熱され、また冷却ローラ33も同様な手段で熱媒
体によって冷却されるようになっている。一方、スパッ
タ室13内には、ワークローラ3.5 、36と複数の
ガイドローラ37とが軸心線を紙面と直交させて回転自
在に配置されている。ワークローラ35 、36の回転
+IQ!+は真空容器1の側壁を気密にかつ絶縁状態に
貫通して図示しない駆動モータに連結されている。そし
て、上記ワークローラ35゜36は、上記回転軸の内部
に形成された流路を通ってJ!(空容器1外から供給さ
れる熱媒体(絶縁性)(こよって冷却されるようにな3
ている。
なお、ガイドローラ37も真空容器1とは絶縁されてい
る。しかして、ワークローラ35゜36の下方には各ワ
ークローラ35,36の外周面に2個ずつ対向する関係
に合計4個のスパッタ源3B、39,40.41が配置
されている。これらスパッタ源3B、39,40.41
は、それぞれ円板状に形成されたターゲットの外側に、
これと同心円状にリング状の陽極を上記ターゲットとは
絶縁させて配置するとともにターゲットの背面に一方の
磁極面が接触するように永久磁石を配置したマグネトロ
ン形の平板状構造に形成されている。なお、この実施例
の場合、スパッタ源、9 B 、 39 、40 、4
1のターゲットはco−Cr  合金で形成されている
。そして、各スパッタ源、9 B 、 39 、40 
、41のターゲットと陽極とは真空容器1の側壁を気密
に貫通して設けられた図示しないリード線を介してそれ
ぞれ独立的に図示しない直流電源の出力端に接続さ)1
.ている。
しかして、t■1の補助真空室9、脱ガス室10、高真
空室11.中間真空室12、スパッタ室13、第2の補
助真空室14の下壁lこは、それぞれ排気口51 、5
2 、・・・・・・56が形成されており、これら排気
口は、それぞれ独、立的に排気ポンプs7.ss、・・
・・・・・62に接続されている。−才たけスパッタM
13の」二壁には、不活性ガス導入口63m、63bが
形成されており、これらは図示しないAr  ガス供給
源に接続されている。さらに、真空容器1の閉塞壁3a
の図中左方にはフィルム状基体Pを送り出す供給リール
65が図示しない保持機構によって保持されており、同
様に閉塞壁3bの図中右方にはフィルム状基体Pを巻取
る巻取り−ル66が図示しlJ′い保持機417によっ
て保持されている。そして、巻取リール66は図示しな
い駆動モータによって巻厚の増加にしたがって徐々に低
速となるように回転駆動される。なお、第1図中67は
、スパッタ薄膜の形成される範囲を制限するマスクを示
している。また、6つの室の圧力をそJLぞれ測定する
図示しない圧力計が設けられている。
次に」二記のように構成された装置を用いてフィルム状
基体Pの一方の面に組成がCo 、 Crからなるスパ
ッタ薄膜を形成する場合の使用例を説明する。
まず、真空容器1の側壁で図示しない手前側に位置する
側壁を取り外す。この状態で供給リール65からフィル
ム状基体Pを巻戻し、この基体Pを、各スリット機構1
5.1G、・・・・・・・21に第1図および第2図に
示すように通過させ、同時に第1の補助真空室9、脱ガ
ス室10、高真空室11、中間真空室12、スパッタ室
13゜第2の補助真空室14の1@に各室内の要素lこ
図示の如く沿わせて張設し、その先端を巻取り−ル66
に巻回し、次に、前記側壁を取り付ける。
この張設作業は、後述するように最初の1回だけ行なえ
ばよい。
次に真空ポンプ57.5B、・・・・・・・62を作動
させて各室内を1フト気ずろ。この排気によって、第1
の補助真空室9内を5Xlf)−”〜lXl0 ”To
rr、脱ガス室10内を5×lO〜’ 〜IXI【I 
’Torr、高真空室11内を5XlO−’ 〜lXl
0 ’Tnrr、中間真空室Z2内e IXI n ’
 〜5X1 n−’’p n r r 、スパッタ室1
3内を5X10 ” 〜1’X10−”Torr、 m
 2の補助真空室14内を5XIQ”〜IXI n−3
Torrの圧力に保持する。このとき、第1の補助J(
空室9は大気圧雰囲気と脱ガス室10どを仕切る機能を
果し、才た、第2の補助1(空室14は大気圧雰囲気と
スパッタ室I3とを仕切る機能を果し、さらに中間真空
室12は圧力差の大きい高真空室IIとスパッタ室13
とを仕切る機能を果す。
次に、加熱ローラ32、冷却ローラ33、ワークローラ
、? 5 、36および巻取リール66に連結された各
モータを回転開始させる。この回転開始にj二って各回
転要素は図中実線矢印で示すように回転を開始し、これ
によってフィルム状基体Pは、供給リール65から巻取
リール66へ向けて一定速度で移行を開始する。
次に、加熱ローラ32内に高温の熱媒体を通流させて、
」二記ローラ32を一定温度に加熱し、また、冷却ロー
ラ33、ワークローラ35゜36内にも低温の熱媒体を
通流させて、これらを一定温度に冷却する。次に、スパ
ッタ室13内にガス導入口63a、63bを介してAr
  ガスを導入し、これらのガス供給量を調整してスパ
ッタ室I3内が前記圧力となるように調整する。しかし
て、各室内の圧力条件が前記範囲内にあることを確認し
た後、スパッタ源38゜39.40.41に直流電1圧
を印加する。
このように、電圧を印加すると、前述した原理でワーク
ローラ35.36の外周面に沿って走行するフィルム状
基体Pの一方の表面にC3−Crのスパッタ薄膜が形成
される。そして、スパッタ薄膜の膜厚は、各スパッタ源
のスパッタリングパワーの調整によって設定される。し
たがって、巻取リール66には一方の面に所望の厚みの
スパッタ・薄膜が形成されたフイルノ・状基体Pが連続
的に巻取られることになる。
そして、この場合、フィルム状基体Pは、スパッタ室1
3内に入るMillこ、脱ガス室10内において加熱ロ
ーラ32および冷却ローラ33によって、加熱、冷却さ
れて脱ガス処理が行なわれ、続いて高真空室11内にお
いて水分が完全に除去される。したがって、巻取リール
66に巻取られた基体Pの表面に形成されているスパッ
タ薄膜は非常に強固に基体Pに付着したものとなる。
しかして、供給リール65に巻かれているフィルム状基
体Pが残り少なくなったときには、工 次のようになる。すなわち、フィルム状基体Pが残り少
なくなった時点で、各モータの回転を停止させるととも
に各スパッタ源3B、39゜40、、ilへの電圧印加
を停止させる。このとき、各排気ポンプ57 、5B 
、・・・・・・・62については運転を続行さぜる。勿
論、Ar  ガスの供給も続行させる。この状態でフィ
ルム状基体Pの終端に新たな供給リールに巻回されてい
るフィルム状基体Pの先端を接着接続し、この新たな供
給リールを第1図の如くセットする。また、巻取リール
66も新たなものをセットする。このような作業の後、
再び各モータを回転開始させるとともに各スパッタ源、
1B、39,40゜41に直流電圧を印加して運転を再
開する。以後、上述した操作を繰返すことによって実質
的に無限に長いフィルム状基体Pの表面ζこ連続的にス
パッタ薄膜を形成することができる。
このように、従来装置のように供給リール−巻毎に脱ガ
ス処理、水分除去処理、スパッタ薄膜形成処理を1つの
真空空間内で行なわずに、上記各処理を複数の真空空間
内で次々に行なわぜるようにしている。このため、実施
例において説明したように無限と云う程に長いフィルム
状基体Pの表面に連続的にスパッタ薄膜を形成すること
ができる。したがって、従来装置に較べて生産性を大幅
に向上させることかできる。
才た、6つの室内を別々の排気ポンプで排気するように
しているので各室の大きさや真空度に適した排気ポンプ
を選択できるので、従来装置のように1つの排気系で大
幅な圧力範囲に亘ってその都度、所定圧力に排気するも
のに較べて、結果的に排気系を単純化できる。
なお、上述した実施例は直流放電を利用した例であるが
、高周波放電を利用する場合にはスパッタ室の圧力条件
が若干変ることは勿論である。また、スリット機構16
.20のコンダクタンスを十分に小さくした場合には供
給リール65、巻取リール66をそれぞれ第1.第2の
補助真空室9.14内に配置してもよい。この場合には
画室専用の扉を必要とする。また、各と スリット機構は実施例のものに限らず、へとえば第3図
に示すように奥行の深いスリット窓71をもった部材7
2で構成してもよい。また、本発明はフィルム状基体の
両面にスパッタ薄膜を形成する場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るスパッタリング装置1
こおける要部の概略構成を示す縦断面図、第2図は同装
置におけるスリット機構を拡大して示す縦断面図、?J
T、3図はスリット機構の変形例を示す縦断面図である
。 1・・・真空容器、9・・・第1の補助真空室、10・
・・脱ガス室、II・・・高真空室、12・・・中間真
空室、13・・・スパッタ室、14・・・第2の補助真
空室、15,16.・四・・21・・・スリット機構、
57゜58、・・・・・・・62・・・排気ポンプ、6
5・・・供給り−ル九 66・・・巻取リール、P・・
・フィルム状基体。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第2図 第3図 手続補正書 昭和5了年9 、prZ 日 特許庁長官 若杉和夫  殿 1、事件の表示 特願昭57−133581号 2、発明の名称 スノぐツタリング装置 3、捕i1Eをする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 徳 1)製 作 所 4、代理人 住117i  東京都港区虎ノ門1丁目26番5号 第
17森ヒル5自発補正 7、補正の内容 (,1)  明細台の浄j;()ノ」古に変更なし)(
2)  図面のだ”M’ (1’コア1′に変更な1刀
特許庁長官  若 杉 朴 夫   殿1.事件の表示 特願昭5.7−133581号 2 発明の名称 スパッタリング装置 :)、油止をする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 徳用製作所 11、代理人 6、i′+Ij+1.(のt、l象 明細書1図面(1
)明細書(昭和57年9月2日付提出の手続補正書に添
附された浄書明細書、以下同じ。」の第8頁10行目に
「塞ぐように常時」とあるのY「後述する供給リール交
換時に塞ぐよように」と訂正する。 (2)明細書の第10負5行目に「それぞれ円板状に」
とあるを「それぞれ、たとえば円板状に」と訂ルする。 (3)明細書の第17頁8行目に「必要とする。 また、」とあるの乞「必要とし、かつスリット機構16
.20fゴムローラ27で選択的に閉塞できるようにす
ること乞必要とする。 また、」と訂正する。 (4)図面の第1図および第2図ン別紙の辿りに訂正す
る。 第2図 手続補正書 あい* 57sj2−2♂ 1、事件の表示 特願昭57−133581、 発明の名称 ス・母ツタリング装置 3、補正をする沼 事件との関係 特許出願人 株式会社 徳用製作所 4、代理人 住所 東京都港区虎ノ門1丁目26番5号 第17森ビ
ル5、自発補正 7、補正の内容 明細書(昭和57年9月2日付提出の手続補正借に添付
された浄書明、ItlI書)の第13頁1行目に\「I
 X 10−”〜5 X 10−’ Jとあるのを「5
X l O−’〜I X 10−” J とJ」圧する

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 供給リールから巻戻されたフィルム状基体の表面に真空
    容器内においてスパッタ薄膜を形成した後、巻取リール
    に巻取るようにした。スパッタリング装置において、前
    記真空容器内を、第1の補助真空室、脱ガス室、高真空
    室、中間真空室、スパッタ室および第2の補助真空i%
    室にそれぞれ、低コンダクタンススリットを介して区分
    し、前記供給リールから巻戻されたフィルト状基体を上
    記各室に上記順に上記各低コンダクタンススリットを通
    して案内さぜた後前記巻取リールに巻取らせるようにす
    るとともに上記各室を別々に排気する排気ポンプを設け
    てなることを特徴とするスパッタリング装置。
JP13358182A 1982-07-30 1982-07-30 スパツタリング装置 Pending JPS5923871A (ja)

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