JPS59222A - Quantizing method of binary-coded signal - Google Patents
Quantizing method of binary-coded signalInfo
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- JPS59222A JPS59222A JP10960782A JP10960782A JPS59222A JP S59222 A JPS59222 A JP S59222A JP 10960782 A JP10960782 A JP 10960782A JP 10960782 A JP10960782 A JP 10960782A JP S59222 A JPS59222 A JP S59222A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
本発明は二値化信号をクロック信号を基準として量子化
する方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a method for quantizing a binary signal using a clock signal as a reference.
(b)技術の背景
プリント配線基板のパターン検査等においては、被検査
パターンを光ビームで走査し該被検査パターンの幅ある
いは長さに対応して得られる出力信号をクロック信号を
基準にして量子化(サンプリング)し、このサンプリン
グパルス数を計数して前記被検査パターンの幅あるいは
長さを測定する。(b) Background of the technology In pattern inspection of printed wiring boards, etc., the pattern to be inspected is scanned with a light beam, and the output signal obtained corresponding to the width or length of the pattern to be inspected is measured using a clock signal as a reference. The width or length of the pattern to be inspected is measured by counting the number of sampling pulses.
」二記パターン検査においては、所定パターンの他に偶
発的に発生する所定幅以下あるいは所定長さ以下の異常
パターン、例えば所定配線パターン間の短絡パターンあ
るいは所定配線パターンを横切る断線パターン等、も同
時に検出することが必要である。In the pattern inspection described in Section 2, in addition to the predetermined patterns, abnormal patterns with a width less than a predetermined width or a length less than a predetermined length that occur accidentally, such as short-circuit patterns between predetermined wiring patterns or disconnection patterns that cross predetermined wiring patterns, etc., are also inspected at the same time. It is necessary to detect.
(c)従来技術と問題点
従来上記のようなパターン検査において用いられていた
一般的な二値化信号の量子化方法は、第1図に示すよう
に該二値化信号を繰返し周期τを有するクロック信号を
基準としてサンプリン〉シ、このサンプリング時の二値
化信号値を以て期間−τを単位とする量子化信号値とす
る。このために、第1図(イ)におけるdiあるいはd
2のように、その幅がτより小くかつそのタイミングが
クロック信号(ロ)のタイミングと一致していない二値
化信号はサンプリングされず、量子化信号(ハ)におい
て失われてしまうような場合が生ずる。その結果、前記
パターン検査において所定値より小さい幅あるいは長さ
を有する異常パターンが見逃される欠点があった。(c) Prior art and problems The general method of quantizing a binary signal conventionally used in pattern inspection as described above is to repeat the binary signal with a repetition period τ as shown in Fig. 1. The sample is taken using the clock signal as a reference, and the binarized signal value at the time of sampling is used as a quantized signal value in units of period -τ. For this purpose, di or d in Figure 1 (a)
2, a binary signal whose width is smaller than τ and whose timing does not match the timing of the clock signal (b) is not sampled and is lost in the quantized signal (c). A situation arises. As a result, in the pattern inspection, abnormal patterns having a width or length smaller than a predetermined value are overlooked.
(d)発明め目的
本発明は、二値化信号において特定の幅より小さい幅を
有する信号を失うことなく単位量子化信号として拾い上
げ春方法を提供することを目的・とする。(d) Object of the invention An object of the present invention is to provide a method for picking up signals having a width smaller than a specific width in a binary signal as a unit quantized signal without losing them.
(e)発明の構成
本発明は、二値化信号において特定幅以下の二値化信号
についてはこの幅を拡大した後に量子化することを特徴
とする
(f)発明の実施例
以下本発明の実施例を図面を参照して説明する。(e) Structure of the Invention The present invention is characterized in that in a binarized signal, a binarized signal having a specific width or less is quantized after expanding this width. Examples will be described with reference to the drawings.
以下の図面において第1図と同じものには同一符号を付
しである。In the following drawings, the same parts as in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.
第2図は本発明を適用したパターン検査装置によって検
査されるプリント配線基板のパターンの一部を拡大した
例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an enlarged example of a part of a pattern of a printed wiring board inspected by a pattern inspection apparatus to which the present invention is applied.
同図において、1および2は所定値の幅旧を有するパタ
ーンであり、3はパターン1および2の間に短絡を生じ
させる異常パターンであって−1より小さい幅−2を有
する。4はパターンlに断線を生じさせる異常パターン
であって、その幅−3は目」二記のようなパターンを破
線矢印5の上を走査した場合、第3図(伺に示すような
二値化信号が得られる。In the figure, 1 and 2 are patterns having a width of a predetermined value, and 3 is an abnormal pattern that causes a short circuit between patterns 1 and 2, and has a width of -2 smaller than -1. 4 is an abnormal pattern that causes a disconnection in pattern l, and its width - 3 is the width.If a pattern like the one shown in Figure 2 is scanned over the dashed arrow 5, a binary value as shown in Figure 3 ( signal is obtained.
本発明においては、第3図(イ)の二値化信号をつぎの
ようにして量子化する。In the present invention, the binary signal shown in FIG. 3(a) is quantized as follows.
すなわち、まず二値化信号(イ)を第1のパルス信号発
生回路に入力しく口)に示す出力信号を得る。That is, first, the binary signal (a) is input to the first pulse signal generating circuit to obtain the output signal shown in (b).
第1のパルス信号発生回路は、二値化信号(イ)が入力
するごとにその立ち上りでONとなり、幅りを自するパ
ルス信号を発生した後叶Fに復帰する機能を有する。The first pulse signal generation circuit has a function of turning on at the rising edge of the binary signal (A) every time the binary signal (A) is input, and returning to the output F after generating a pulse signal with a wide width.
つぎに、二値化信号(イ)と第1のパルス信号発生回路
の出力信号(ロ)とをOR回路に入力すると、(ハ)に
示す出力信号が得られる。このOR回路の出力信号(ハ
)を繰返し周期τを有するクロック信号(ニ)により量
子化すると、(ボ)に示すような量子化信号1が得られ
る。Next, when the binary signal (A) and the output signal (B) of the first pulse signal generation circuit are input to the OR circuit, the output signal shown in (C) is obtained. When the output signal (c) of this OR circuit is quantized using a clock signal (d) having a repetition period τ, a quantized signal 1 as shown in (b) is obtained.
−力、二値化信号(伺を第2のパルス信号発生回路に入
力し、(へ)に示す出力信号を得る。- input the output signal and the binary signal (1) to the second pulse signal generation circuit to obtain the output signal shown in (2).
第2のパルス信号発生回路は、二値化信号(イ)が入力
するごとにそ・の立ち下りでOFFとなり、時間もの間
叶Fを持続した後ONに復帰する機能を有する。The second pulse signal generation circuit has a function of turning OFF at the falling edge of the binary signal (A) every time it is input, and returning to ON after maintaining F for a certain period of time.
つぎに、二値化信号(イ)と第2のパルス信号発生回路
の出力信号(へ)とをAND回路に入力すると、(ト)
に示す出力信号が得られる。このAND回路の出力信号
(ト)を繰返し周期τを有するクロック信号(ニ)によ
り量子化すると、(チ)に示すような量子化信号2が得
られる。Next, when the binary signal (A) and the output signal (H) of the second pulse signal generation circuit are input to the AND circuit, (G)
The output signal shown in is obtained. When the output signal (g) of this AND circuit is quantized using a clock signal (d) having a repetition period τ, a quantized signal 2 as shown in (h) is obtained.
なお、上記第1および第2のパルス信号発生回路の出力
信号における時間tはクロック信号の繰返し周期τにほ
ぼ等しく選ばれている。Note that the time t in the output signals of the first and second pulse signal generating circuits is selected to be approximately equal to the repetition period τ of the clock signal.
第3図(ホ)および(チ)と第1図(ハ)を比較すると
、第1図(ハ)においては、前述のように二値化信号(
イ)におけるτより小さい幅d1あるいはd2を有する
信号が失われているのに対して、第3図(ホ)において
は、τより小さい幅diを自する二値化信号(論理値1
)が拾い上げられて旧として量子化されており、また、
第3図(チ)においては、同様にしてτより小さい幅d
2を有する二値化信号(論理値0)が拾い上げられてo
2として量子化されている。Comparing Figures 3 (E) and (H) with Figure 1 (C), in Figure 1 (C) the binarized signal (
In contrast to the signal with width d1 or d2 smaller than τ in Fig. 3(e), the binary signal (logical value 1
) has been picked up and quantized as old, and
Similarly, in FIG. 3 (H), the width d is smaller than τ.
A binary signal having a value of 2 (logical value 0) is picked up and o
It is quantized as 2.
したがって、二値化信号(イ)におりる幅d1および幅
d2に対応する前記異常パターン3および異品パターン
4がそれぞれ量子化信号1におけるQlおよび量子化信
号2におけるg2として検出され、これらは被検査パタ
ーンにおいて所定位置以外に存在する導通部分および不
導通部分として判別される。Therefore, the abnormal pattern 3 and the abnormal pattern 4 corresponding to the widths d1 and d2 in the binarized signal (A) are detected as Ql in the quantized signal 1 and g2 in the quantized signal 2, respectively. These are determined as conductive portions and non-conductive portions that exist at positions other than the predetermined positions in the pattern to be inspected.
第4図は第3図のようにして量子化信号を得るための回
路ブロック図であり、同図において6は二値化信号入力
端、7は第1のパルス信号発生回路、8はOR回路、9
はクロック信号発生回路、10は量子化信号lを格納す
るシフトレジスタ、11は第2のパルス信号発生回路、
12はAND回路、13は量子化信号2を格納するシフ
トレジスタである。FIG. 4 is a circuit block diagram for obtaining a quantized signal as shown in FIG. 3, in which 6 is a binary signal input terminal, 7 is a first pulse signal generation circuit, and 8 is an OR circuit. , 9
1 is a clock signal generation circuit; 10 is a shift register that stores the quantized signal l; 11 is a second pulse signal generation circuit;
12 is an AND circuit, and 13 is a shift register that stores the quantized signal 2.
第5図は本発明の伯の実施例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an embodiment of the present invention.
本実施例は、第4図に示した第1のパルス信号発生回路
7およびOR回路8からなる第1のブロックと第2のパ
ルス信号発生回路11および八NJ)回路12からなる
第2のブロックとを直列に接続したもので、第3図(イ
)に示したと同様にクロック信号の繰返し周期τより小
さい幅d1およびd2を有する二値化信号のうち幅di
の二値化信号(論理値1)のみをまず第1のブロックに
おいて幅りに拡大し、そのOR回路の出力信号(ハ)を
第2のブロック、すなわち第2のパルス信号発生回路1
1とAND回路12に入力して幅d2の二値化信号(論
理値O)を幅tに拡大し、その後でAND回路12め出
力を量子化しシフトレジスタ14に格納するものである
。In this embodiment, a first block consists of a first pulse signal generation circuit 7 and an OR circuit 8, and a second block consists of a second pulse signal generation circuit 11 and an 8NJ) circuit 12 shown in FIG. are connected in series, and as shown in FIG.
First, only the binary signal (logical value 1) is expanded in width in the first block, and the output signal (c) of the OR circuit is sent to the second block, that is, the second pulse signal generation circuit 1.
1 and the AND circuit 12 to expand the binary signal (logical value O) of width d2 to width t, and then quantize the output of the AND circuit 12 and store it in the shift register 14.
この場合の信号のタイムシーケンスは第6図に示すごと
くで、二値化信号(イ)においてクロック信号の繰返し
周期τより小さい幅d1を有する信号(論理値1)およ
び同しく幅d2を有する信号(論理値0)はAND回路
の出力信号(ロ)においては共に幅tに拡大されており
、これらの信号はクロック信号(ハ)により量子化され
、その結果得られる量子化信号(ニ)においては、前記
幅dlを有する信号および幅d2を有する信号に対する
量子化(ば号はそれぞれQ3およびQ4”として他のす
べての量子化信号と同一・のシフトレジスタに格納され
る。The time sequence of the signals in this case is as shown in FIG. 6, and in the binary signal (A), a signal (logical value 1) having a width d1 smaller than the repetition period τ of the clock signal and a signal having the same width d2. (logical value 0) is expanded to a width t in the output signal (b) of the AND circuit, and these signals are quantized by the clock signal (c), and the resulting quantized signal (d) is are stored in the same shift register as all other quantized signals as Q3 and Q4'', respectively.
(g)発明の効果
本発明によれば、量子化のためのクロック信号の幅より
も小さい幅を有する二値化信号が失なわれずに量子化さ
れるので、パターン検査等における微小な幅あるいは長
さを有する異常パターンを見逃さずに検出できる効果が
ある。また、本発明によれば、幅の小さい二値化信号を
量子化するためにクロック信号の繰返し周期を短くする
必要がなく、その結果データビット量は増加−Uず、し
たがって量子化信号を処理する後段の処理回路の負担が
軽減されると共に処理速度を高速に維持できる効果があ
る。(g) Effects of the Invention According to the present invention, since a binary signal having a width smaller than the width of a clock signal for quantization is quantized without being lost, minute widths can be used in pattern inspection, etc. Alternatively, there is an effect that an abnormal pattern having a long length can be detected without being overlooked. Furthermore, according to the present invention, there is no need to shorten the repetition period of the clock signal in order to quantize a binary signal with a small width, and as a result, the amount of data bits increases. This has the effect of reducing the burden on subsequent processing circuits and maintaining high processing speed.
第1図は従来の二値化信号の量子化方法を説明するため
の図、第2図はプリント配線基板のパターンの一部を拡
大した例を示す図、第3図は本発明による二値化信号の
量子化における信号のタイムシーケンスを示す図、第4
図は第3図のタイツ・シーケンスにしたがって量子化を
行うための1路のブロック図、第5図は本発明の伯の実
施例を示す回路のプロ・7り図、第6図は第5図の回路
により量子化を行う場合におりる信号のタイムシーケン
スを示す図である。
図において1および2は所定寸法値を有するプリント配
線パターン、3は短絡を生ずる異當パターン、4は断線
を生ずる異常パターン、5は走査方向、6は信号入力端
、7は第1のパルス信号発生回路、8はOR回路、9は
クロック信号発生回路、10、13および14はシフト
レジスタ、11は第2のパルス信号発生回路、12はへ
NO回路である。
PZ図
¥=5図FIG. 1 is a diagram for explaining the conventional quantization method of a binary signal, FIG. 2 is a diagram showing an enlarged example of a part of the pattern of a printed wiring board, and FIG. 3 is a diagram for explaining the conventional quantization method of a binary signal. FIG. 4 shows a time sequence of a signal in quantization of a signal.
The figure is a block diagram of one pass for performing quantization according to the tights sequence of Figure 3, Figure 5 is a block diagram of a circuit showing an embodiment of the present invention, and Figure 6 is a block diagram of a circuit for performing quantization according to the tights sequence of Figure 3. FIG. 3 is a diagram showing a time sequence of signals when quantization is performed by the circuit shown in the figure. In the figure, 1 and 2 are printed wiring patterns having predetermined dimensions, 3 is an abnormal pattern that causes a short circuit, 4 is an abnormal pattern that causes a disconnection, 5 is a scanning direction, 6 is a signal input terminal, and 7 is a first pulse signal. 8 is an OR circuit, 9 is a clock signal generation circuit, 10, 13 and 14 are shift registers, 11 is a second pulse signal generation circuit, and 12 is a NO circuit. PZ diagram ¥ = 5 diagrams
Claims (1)
についてはこの幅を拡大した後に量子化することを特徴
とする二値化信号の量子化方法A method for quantizing a binarized signal, characterized in that, in quantizing a binarized signal, a binarized signal having a width below a certain width is quantized after expanding this width.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10960782A JPS59222A (en) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | Quantizing method of binary-coded signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10960782A JPS59222A (en) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | Quantizing method of binary-coded signal |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59222A true JPS59222A (en) | 1984-01-05 |
Family
ID=14514568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10960782A Pending JPS59222A (en) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | Quantizing method of binary-coded signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59222A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61244360A (en) * | 1985-04-23 | 1986-10-30 | タン クン ニ− | Nipple for nursing bottle |
US5883760A (en) * | 1992-10-20 | 1999-03-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic structure and magnetic head using the same |
-
1982
- 1982-06-25 JP JP10960782A patent/JPS59222A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61244360A (en) * | 1985-04-23 | 1986-10-30 | タン クン ニ− | Nipple for nursing bottle |
US5883760A (en) * | 1992-10-20 | 1999-03-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic structure and magnetic head using the same |
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