JPS59221626A - バツクグラウンド除去装置 - Google Patents
バツクグラウンド除去装置Info
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- JPS59221626A JPS59221626A JP58097457A JP9745783A JPS59221626A JP S59221626 A JPS59221626 A JP S59221626A JP 58097457 A JP58097457 A JP 58097457A JP 9745783 A JP9745783 A JP 9745783A JP S59221626 A JPS59221626 A JP S59221626A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004993 emission spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000001420 photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は光電子分光分析２発光分光分析、Ｘ線分析等で
得られるスペクトルデータに含まれるバックグラウンド
を除去するのに好適なバックグラウンド除去装置に関す
る。
得られるスペクトルデータに含まれるバックグラウンド
を除去するのに好適なバックグラウンド除去装置に関す
る。
（ロ）従来技術
一般に、光電子分光分析２発光分光分析、Ｘ線分析など
で得られるスペクトルデータには測定中の散乱因子等に
起因してバックグラウンドが含まれる。このようなバッ
クグラウンドの存在はスペクトルデータに基づいて物質
の同定、定量を行う場合には好ましくない。このため、
従来よりスペクトルデータ内に含まれるバックグラウン
ドを除去するようにしている。このバックグラウンドの
除去は、たとえば、直線近似式を選定し、これをスペク
トルパターンにマツチングさせ、マツチングした直線近
似式を先のスペクトルデータから減算するような手法が
採られている。ところが、従来のこのようなバックグラ
ウンドの除去はスペクトルデータと直線近似式の両パタ
ーンについてマツチングの良否を判断しながら、しかも
手動で行なわれている。このためパターンのマツチング
に個人差が生じ最終的に求まる物質の同定、定量結果の
精度や信頼性が損なわれるという問題がある。
で得られるスペクトルデータには測定中の散乱因子等に
起因してバックグラウンドが含まれる。このようなバッ
クグラウンドの存在はスペクトルデータに基づいて物質
の同定、定量を行う場合には好ましくない。このため、
従来よりスペクトルデータ内に含まれるバックグラウン
ドを除去するようにしている。このバックグラウンドの
除去は、たとえば、直線近似式を選定し、これをスペク
トルパターンにマツチングさせ、マツチングした直線近
似式を先のスペクトルデータから減算するような手法が
採られている。ところが、従来のこのようなバックグラ
ウンドの除去はスペクトルデータと直線近似式の両パタ
ーンについてマツチングの良否を判断しながら、しかも
手動で行なわれている。このためパターンのマツチング
に個人差が生じ最終的に求まる物質の同定、定量結果の
精度や信頼性が損なわれるという問題がある。
まり、両パターンのマツチングのためには多くのスイッ
チやツマミ操作が必要となり、ノ（ツクグラウンドの除
去が煩雑であるという問題もある。
チやツマミ操作が必要となり、ノ（ツクグラウンドの除
去が煩雑であるという問題もある。
（ハ） 目的
本発明は上述の問題点に鑑みてなされたものであって、
スペクトルデータに含まれるノくツクグラウンドを自動
的に、かつ、効率良く短時間に除去することができるバ
ックグラウンド除去装置を得んとするものである。
スペクトルデータに含まれるノくツクグラウンドを自動
的に、かつ、効率良く短時間に除去することができるバ
ックグラウンド除去装置を得んとするものである。
に） 構成
本発明はこのような目的を達成するため、測定されたス
ペクトルデータを記憶する記憶部と、この記憶部で記憶
された前記スペクトルデータを一定間隔でサンプリング
してこのサンプリングデータにおける傾き値を算出する
傾き算出部と、この傾き算出部で算出された各傾き値の
頻度を積算してヒストグラムを作成するカウンタ部と、
このカウンタ部で作成されたヒストグラムから所定頻度
以上にある傾き値を選出しこの選出された傾き値に対応
する前記サンプリングデータを読み出すデータ選出部と
、このデータ選出部で選出されたサンプリングデータ・
を基にバックグラウンド線を算出するバックグラウンド
線算出部と、前記記憶部のスペクトルデータからこのノ
くツクグラウンド線算出部で算出されたバックグラウン
ド線を減算する減算部とを設けている。
ペクトルデータを記憶する記憶部と、この記憶部で記憶
された前記スペクトルデータを一定間隔でサンプリング
してこのサンプリングデータにおける傾き値を算出する
傾き算出部と、この傾き算出部で算出された各傾き値の
頻度を積算してヒストグラムを作成するカウンタ部と、
このカウンタ部で作成されたヒストグラムから所定頻度
以上にある傾き値を選出しこの選出された傾き値に対応
する前記サンプリングデータを読み出すデータ選出部と
、このデータ選出部で選出されたサンプリングデータ・
を基にバックグラウンド線を算出するバックグラウンド
線算出部と、前記記憶部のスペクトルデータからこのノ
くツクグラウンド線算出部で算出されたバックグラウン
ド線を減算する減算部とを設けている。
（ホ）実施例
以下、本発明を実施例について、図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第１図はこの実施例のバックグラウンド除去装置のブロ
ック構成図である。同図において、１はバックグラウン
ド除去装置、２は光電子分光器。
ック構成図である。同図において、１はバックグラウン
ド除去装置、２は光電子分光器。
発光分光器、Ｘ線分光器などで得られるたとえば第２図
（ａ）に示すようなスペクトルデータと後述ノ傾き算出
部３で求めた傾き値を記憶する記憶部である。３は記憶
部２に記憶されたスペクトルデータを一定間隔でサンプ
リングして、この各サンプリングデータにおける傾き値
（すなわち、第２図（ａ）に示す曲線Ｓ。の接線の勾配
に相当する）を算出する傾き算出部である。４は傾き算
出部３で算出された各サンプリングデータＤ１に対応し
た傾き値の頻度を積算してたとえば第２図（Ｃ）に示す
ようなヒストグラムを作成するカウンタ部である。また
５はカウンタ部４で求めたヒストグラムかう所定頻度以
上にある傾き値を選出し、この選出した傾き値に対応す
るサンプリングデータを記憶部２から読み出すデータ選
出部である。６はデータ選出部５で選出したサンプリン
グデータを基に７（ツクグラウンド線を算出するバック
グラウンド線算出部である。また７は記憶部２に記憶さ
れたスペクトルデータからバックグラウンド線算出部６
で算出したバックグラウンド線を減算する減算部である
。
（ａ）に示すようなスペクトルデータと後述ノ傾き算出
部３で求めた傾き値を記憶する記憶部である。３は記憶
部２に記憶されたスペクトルデータを一定間隔でサンプ
リングして、この各サンプリングデータにおける傾き値
（すなわち、第２図（ａ）に示す曲線Ｓ。の接線の勾配
に相当する）を算出する傾き算出部である。４は傾き算
出部３で算出された各サンプリングデータＤ１に対応し
た傾き値の頻度を積算してたとえば第２図（Ｃ）に示す
ようなヒストグラムを作成するカウンタ部である。また
５はカウンタ部４で求めたヒストグラムかう所定頻度以
上にある傾き値を選出し、この選出した傾き値に対応す
るサンプリングデータを記憶部２から読み出すデータ選
出部である。６はデータ選出部５で選出したサンプリン
グデータを基に７（ツクグラウンド線を算出するバック
グラウンド線算出部である。また７は記憶部２に記憶さ
れたスペクトルデータからバックグラウンド線算出部６
で算出したバックグラウンド線を減算する減算部である
。
次に上記構成を有するバックグラウンド除去装置１の各
部の動作について説明する。
部の動作について説明する。
図示省略した光電子分光器等で測定されたスペクトルデ
ータＤ。はまず記憶部２に取り込まれて記憶される。つ
まり、第２図（ａ）の曲線Ｓ。で示すようなスペクトル
データが記憶される。傾き算出部３はこの記憶ｓ２に記
憶されたスペクトルデータを一定間隔でサンプリングし
てこの各サンプリングデータにおける傾き値を算出する
。すなわち、第２図（ａ）の曲線Ｓ。についてみればサ
ンプリングデータに対応した位置の接線の勾配を求める
ことに相当する。これは微分計算により算出される。こ
の傾き値を結べば同図（ｂ）のような曲線Ｓ１となる。
ータＤ。はまず記憶部２に取り込まれて記憶される。つ
まり、第２図（ａ）の曲線Ｓ。で示すようなスペクトル
データが記憶される。傾き算出部３はこの記憶ｓ２に記
憶されたスペクトルデータを一定間隔でサンプリングし
てこの各サンプリングデータにおける傾き値を算出する
。すなわち、第２図（ａ）の曲線Ｓ。についてみればサ
ンプリングデータに対応した位置の接線の勾配を求める
ことに相当する。これは微分計算により算出される。こ
の傾き値を結べば同図（ｂ）のような曲線Ｓ１となる。
従って、この曲線Ｓ、はスペクトルデータＤ。のピーク
Ｐ、、 Ｐ２の各変曲点Ｑ２＋ Ｑ４＋ Ｑ６＋
への対応位置においてピークを示し、またスペクト
ルデータの曲線Ｓｏの勾配か一定のときには当然水平で
一定値となる。傾き算出部３で算出された各傾き値はカ
ウンタ部４に取り込まれる。カウンタ部４は各傾き値の
頻度を積算し第２図（Ｃ）に示すようなヒストグラムＳ
３を作成する。このヒストグラムＳ、は傾き値が一定値
を示す部分が長いとこれに対応した所がピークとなる分
布曲線Ｓ３である。このヒストグラムＳ３が作成される
と、次にデータ選出部５がヒストグラムＳ３から所定頻
度（同図中１３点）以上の範囲内に存在する傾き値つま
りヒストグラムＳ３のピーク位置での分布幅ｘ１を設定
しこの分布幅ｘ１内にある傾き値を選出する。従って、
第２図（ｂ）に示す曲線Ｓ１についてみれば、区間Ａ１
〜Ａ５における傾き値に３が選出される。さらに、デー
タ選出部５は各区間Ａ１〜Ａ５の幅を予じめ設定したエ
ネルギー幅と比較し、所定のエネルギー幅以下の区間〜
、Ａ４についてはスペクトルデータの選出対象から外す
。従って、結局、区間Ａ、、 Ａ３． Ａ５内におけ
る傾き値が選出されることになる。そして、データ選出
部５は最終的に選出された区間Ａ１．Ａ３．へに存在す
る傾き値に対応するサンプリングデータを記憶部２から
読み出し、この各サンプリングデータをバックグラウン
ド線算出部６に送出する。バックグラウンド線算出部６
はデータ選出部５で選出されたサンプリングデータの各
間を順次直線的に結ぶことにより同図（ａ）の二点鎖線
で示すようなバックグラウンド線Ｂ。を算出する。引き
続いて減算部７は、記憶部２のスペクトルデータと、バ
ックグラウンド算出部６で算出されたバックグラウンド
線Ｂ。のデータとを取り込み、スペクトルデータから算
出したバックグラウンド線Ｂ。を減算する。これにより
、第２図（ｄ）に示すように、バックグラウンドが除去
されたスペクトルデータが得られることになる。
Ｐ、、 Ｐ２の各変曲点Ｑ２＋ Ｑ４＋ Ｑ６＋
への対応位置においてピークを示し、またスペクト
ルデータの曲線Ｓｏの勾配か一定のときには当然水平で
一定値となる。傾き算出部３で算出された各傾き値はカ
ウンタ部４に取り込まれる。カウンタ部４は各傾き値の
頻度を積算し第２図（Ｃ）に示すようなヒストグラムＳ
３を作成する。このヒストグラムＳ、は傾き値が一定値
を示す部分が長いとこれに対応した所がピークとなる分
布曲線Ｓ３である。このヒストグラムＳ３が作成される
と、次にデータ選出部５がヒストグラムＳ３から所定頻
度（同図中１３点）以上の範囲内に存在する傾き値つま
りヒストグラムＳ３のピーク位置での分布幅ｘ１を設定
しこの分布幅ｘ１内にある傾き値を選出する。従って、
第２図（ｂ）に示す曲線Ｓ１についてみれば、区間Ａ１
〜Ａ５における傾き値に３が選出される。さらに、デー
タ選出部５は各区間Ａ１〜Ａ５の幅を予じめ設定したエ
ネルギー幅と比較し、所定のエネルギー幅以下の区間〜
、Ａ４についてはスペクトルデータの選出対象から外す
。従って、結局、区間Ａ、、 Ａ３． Ａ５内におけ
る傾き値が選出されることになる。そして、データ選出
部５は最終的に選出された区間Ａ１．Ａ３．へに存在す
る傾き値に対応するサンプリングデータを記憶部２から
読み出し、この各サンプリングデータをバックグラウン
ド線算出部６に送出する。バックグラウンド線算出部６
はデータ選出部５で選出されたサンプリングデータの各
間を順次直線的に結ぶことにより同図（ａ）の二点鎖線
で示すようなバックグラウンド線Ｂ。を算出する。引き
続いて減算部７は、記憶部２のスペクトルデータと、バ
ックグラウンド算出部６で算出されたバックグラウンド
線Ｂ。のデータとを取り込み、スペクトルデータから算
出したバックグラウンド線Ｂ。を減算する。これにより
、第２図（ｄ）に示すように、バックグラウンドが除去
されたスペクトルデータが得られることになる。
上記の説明では、スペクトルデータの曲線Ｓ。のバック
グラウンドが測定対象区間内において比較的一定の勾配
で推移する場合を示したが、たとえば第３図（ａ）のよ
うに、バックグラウンドの勾配が途中で変化する場合に
はカウンタ部４で得られるヒストグラムには同図（Ｃ）
に示すような複数のピークが表われる。このような場合
には各ピークごとに、所定頻度７２１ ７３以上にある
傾き値を選出すれば、これは同図（ｂ）に示すよう忙、
必要な区間ＡＩ０１ＡＩＩ’ ＡＩ□内にある傾き値を
選出することになるので、上述と同様にして必要なバッ
クグラウンド線を算出することができる。
グラウンドが測定対象区間内において比較的一定の勾配
で推移する場合を示したが、たとえば第３図（ａ）のよ
うに、バックグラウンドの勾配が途中で変化する場合に
はカウンタ部４で得られるヒストグラムには同図（Ｃ）
に示すような複数のピークが表われる。このような場合
には各ピークごとに、所定頻度７２１ ７３以上にある
傾き値を選出すれば、これは同図（ｂ）に示すよう忙、
必要な区間ＡＩ０１ＡＩＩ’ ＡＩ□内にある傾き値を
選出することになるので、上述と同様にして必要なバッ
クグラウンド線を算出することができる。
なお、記憶部２のスペクトルデータを傾き算出部３でサ
ンプリングする場合、サンプリングの間隔によって、カ
ウンタ部４で作成されるヒストグラムの分布形状が若干
具なってくる。このためバックグラウンド線算出部６で
得られるバックグラ／／ト線の形状も変化するので、ス
ペクトルデータのサンプリング間隔についてはデータの
特性に応じて設定することが好ましい。
ンプリングする場合、サンプリングの間隔によって、カ
ウンタ部４で作成されるヒストグラムの分布形状が若干
具なってくる。このためバックグラウンド線算出部６で
得られるバックグラ／／ト線の形状も変化するので、ス
ペクトルデータのサンプリング間隔についてはデータの
特性に応じて設定することが好ましい。
（へ）効果
以上のように本発明によれば、スペクトルデータからバ
ックグラウンド線を自動的に算出して、スペクトルデー
タからこのバックグラウンド線を除去するので、従来手
動で行表われていた場合に比べて短時間に処理ができる
。しかもスペクトルデータの特性に応じてサンプリング
間隔等の条件を設定しておけば個人差を生じることもな
いので同定、定量結果の精度ならびに信頼性が向上する
という優れた効果が得られる。
ックグラウンド線を自動的に算出して、スペクトルデー
タからこのバックグラウンド線を除去するので、従来手
動で行表われていた場合に比べて短時間に処理ができる
。しかもスペクトルデータの特性に応じてサンプリング
間隔等の条件を設定しておけば個人差を生じることもな
いので同定、定量結果の精度ならびに信頼性が向上する
という優れた効果が得られる。
図面は本発明の実施例を示し、第１図はバックグラウン
ド除去装置の全体を示すブロック構成図、第２図および
第３図はバックグラウンド除去装置の動作の説明図であ
る。 １・・バックグラウンド除去装置、２・・記憶部、３・
・傾き算出部、４・・カウンタ部、５・・データ選出部
、６・・バックグラウンド線算出部、７・・減算部。 出 願 人 株式会社島津製作所 代 理 人 弁理士岡田和秀
ド除去装置の全体を示すブロック構成図、第２図および
第３図はバックグラウンド除去装置の動作の説明図であ
る。 １・・バックグラウンド除去装置、２・・記憶部、３・
・傾き算出部、４・・カウンタ部、５・・データ選出部
、６・・バックグラウンド線算出部、７・・減算部。 出 願 人 株式会社島津製作所 代 理 人 弁理士岡田和秀
Claims (1)
- ＋１） 測定されたスペクトルデータを記憶する記憶
部と、この記憶部で記憶された前記スペクトルデータを
一定間隔でサンプリングしてこのサンプリングデータに
おける傾き値を算出する傾き算出部と、この傾き算出部
で算出された各傾き値の頻度を積算してヒストグラムを
作成するカウンタ部と、このカウンタ部で作成されたヒ
ストグラムから所定頻度以上にある傾き値を選出しこの
選出された傾き値に対応する前記サンプリングデータを
読み出すデータ選出部と、このデータ選出部で選出され
たサンプリングデータを基にバックグラウンド線を算出
するバックグラウンド線算出部と、前記記憶部のスペク
トルデータからこのバックグラウンド線算出部で算出さ
れたバックグラウンド線を減算する減算部とを備えてい
ることを特徴とするバックグラウンド除去装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58097457A JPS59221626A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | バツクグラウンド除去装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58097457A JPS59221626A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | バツクグラウンド除去装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59221626A true JPS59221626A (ja) | 1984-12-13 |
| JPH0415409B2 JPH0415409B2 (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=14192832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58097457A Granted JPS59221626A (ja) | 1983-05-31 | 1983-05-31 | バツクグラウンド除去装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59221626A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11313812A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-11-16 | General Electric Co <Ge> | 磁気共鳴スペクトロスコピイ方法 |
| JP2009180679A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Yokogawa Electric Corp | スペクトラムデータ補正装置及び方法 |
| JP2012058146A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Jeol Ltd | Ｘ線検出システム |
| GB2517706A (en) * | 2013-08-28 | 2015-03-04 | Thermo Electron Mfg Ltd | Background correction in emission spectra |
| JP2021004856A (ja) * | 2019-06-27 | 2021-01-14 | 三菱重工業株式会社 | 分光分析装置及び分光分析方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101441119B1 (ko) * | 2014-05-14 | 2014-09-18 | 대구환경공단 | 소각로 내벽 지지장치 |
| JP6411776B2 (ja) * | 2014-05-30 | 2018-10-24 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 磁気共鳴装置 |
-
1983
- 1983-05-31 JP JP58097457A patent/JPS59221626A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11313812A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-11-16 | General Electric Co <Ge> | 磁気共鳴スペクトロスコピイ方法 |
| JP2009180679A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Yokogawa Electric Corp | スペクトラムデータ補正装置及び方法 |
| JP2012058146A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Jeol Ltd | Ｘ線検出システム |
| GB2517706A (en) * | 2013-08-28 | 2015-03-04 | Thermo Electron Mfg Ltd | Background correction in emission spectra |
| DE102014012745B4 (de) * | 2013-08-28 | 2016-01-07 | Thermo Electron Manufacturing Limited | Hintergrundkorrektur in Emissionsspektren |
| GB2517706B (en) * | 2013-08-28 | 2016-03-09 | Thermo Electron Mfg Ltd | Background correction in emission spectra |
| US9677934B2 (en) | 2013-08-28 | 2017-06-13 | Thermo Electron Manufacturing Limited | Background correction in emission spectra |
| JP2021004856A (ja) * | 2019-06-27 | 2021-01-14 | 三菱重工業株式会社 | 分光分析装置及び分光分析方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0415409B2 (ja) | 1992-03-17 |
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