JPS5920977B2 - 薄肉ツ−ピ−ス空缶専用フランジクラックテスタ− - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ブリキ、アルミ、テインフリースチール等の
金属探しぼりしごき缶（通称ＤＩ缶）たるツーピース空
缶のフランジ部全域の密封性を阻害し漏れの原因となる
クラツク等の欠陥疵を全自動的かつ完壁に探査する薄肉
ツーピース空缶専用フランジクラツクテスタ一に関する
。

．従来この種空缶の漏れ検査にはエアーテスター方式と
光テスター方式とがあり前者のエアーテスター方式はさ
らに第１図と第２図の態様で行なわれる。

第１図のエアーテスターＡは、空缶ａ開口端を基板１に
ラバ一２等を張つた所へ底部ａ１からブツシヤ一３にて
押し付けておき内部にエアーパイプ４を通して約１ｋｇ
／ＣｒＡ程度の圧気を供給し、バルブ５を閉じてからあ
る時間後の空缶ａ内気圧低下をダイヤフラム式などの圧
力計６にて調べる。第２図のエアーテスターＢは空缶ａ
開口端を基板１にラバ一２等を張つた所へ密閉カバー７
内のプツシャ一８で底部ａ１を押圧して押付けておき、
空缶ａ内にエアーパイプ４を通して約１ｋ９／Ｃｄ程度
の圧気を送り込み続け、密閉カバー７の検出口９端に金
属の網１０を張り、ピンホールｐから漏れて検出口９へ
と排流される空気流を網１０で感受した時発生する振動
を増幅してエアーの漏洩を検出する。また後者の光テス
ター方式は、第３図に示す態様で行なわれる。

即ち光テスターＣは、基板１に張着したラバ一材２等に
、内部を負圧する等の適宜吸着方法で空缶ａを密着保持
し、外部光源１１からの漏洩光Ｌを光電子倍増管などの
光検出器１２にて検出する。以上の従来の両方式はいず
れも空缶ａのフランジ部Ａ２をラバ一材２等に密着させ
ないとその能力を発揮出来ないからフランジ部Ａ２のク
ラツクも両方式では容易に探査し切れず畢寛フランジ部
Ａ２の欠陥疵検査もおざなりとなつてフランジ部Ａ２の
欠陥疵は両方式では見逃がすことが多く、しかもＳＤＩ
缶では、特にフランジクラツクの発生が多いことと相俟
つて両方式ではテスターＡ，Ｂ，Ｃ通過後に検査工員を
特に配備し、全数フランジクラツクの目視選別を行う人
海戦術を採ている。

しかしながら人的チエツクでは見落しが多くその土視感
出来ない欠陥疵は排除出来ず、検査にも時間が掛り非能
率的、非効率的作業とならざるを得ず製缶ライン工程の
最大のネツクとなつている。その上検査処理対象のツー
ピース空缶は厚みが０．１２ｍｍ程の薄肉であるため外
力により容易に変形し易く、従来、搬送中および検査中
にちよつとした無理な外力を付加することにより不良空
缶としてしまつたりしてその取扱上高速検査処理に難が
あつた。

本発明は、フランジクラツク空缶を自動的に除去可能に
し、検査工員による全数選別作業を省略することが出来
、しかも搬送中および検査中においても無理な外力付加
による空缶変形を起生することなく高速検査処理可能と
する薄肉ツーピース空缶専用フランジクラツクテスタ一
に関する。

本発明の実施例を第４図乃至第１０図につき説明する。
本発明のフランジクラツクテスタ一Ｄは、垂直縦型であ
つて、横倒し垂直一列に連続送来する空缶ａ群を空缶供
給ステーションＳ１から一缶宛受入れて等間隔に間歇転
送し、設定した永久磁石ＰＭにより界磁された検査ステ
ーションＳ２の静磁界内の定位置に持来し、その後排出
ステーションＳ３に間歇転送する垂直縦型空缶給排機構
Ｅ１又はＥ２と、検査ステーションＳ２内に位置決め停
止された横倒し姿勢で空缶ａを自然に浮いた状態で下支
え強制回転せしめる回転機構Ｆ１又はＦ２と、検査ステ
ーションＳ２内で回転する空缶ａのフランジ部Ａ２外周
一側近傍に臨ませた磁気ヘツドＭｇｈと、当該磁気ヘツ
ドＭｇｈから出力した検出電気信号１１を予め設定して
ある標準レベルと比較演算処理して判別する不良空缶弁
別回路Ｇと、当該不良空缶弁別回路Ｇから出力する操作
指令信号１２を受けて不良空缶Ａ７を良空缶ａ〃群から
選別するリジエクタ一Ｒ１又はＲ２とを備えてなる。

第４図に示す第一実施例の空缶給排機構Ｅ１は、外周に
割出しピツチ間隔Ｐを置いて空缶ａを一缶宛受入保持す
るポケツト１２群を等間隔に６箇配置し、割出しターレ
ツト１３と、当該割出しターレツト１３外周上側に空缶
供給ステーションＳ１を、かつ空缶供給ステーションＳ
１の対側外周下側に検査ステーションＳ２を、かつ検査
ステーションＳ２より矢印時計方向に１割出しピツチ間
隔Ｐ角回動直後の外周横側に排出ステーションＳ３をそ
れぞれ配架してある。

前記空缶供給ステーションＳ１は、空缶供給路１４を中
に挟み片側のサイドガイド１５対側に垂直並行延在した
タイミングスクリユ一１６を設け、当該タイミングスク
リユ一１６端に固着するベベルギヤ１７とインフイード
ドライブ軸１８端に固着す゜るベベルギヤ１９とを直角
噛合するとともに割出しターレツト１３の１割出しピツ
チ間隔Ｐ角回動に対し１回転するよう同期駆動するイン
フイードドライブ軸１８に駆動入力輪２０とタイミング
プレート２１を同軸固着し、当該タイミングプレート２
１外周一側に突設した突起２２が割込み通過自在なタイ
ミングセンサーたるＵ字形近接スイツチＰｘｓをタイミ
ングプレート２１の外周近傍に臨ませてなる。

前記検査ステーションＳ２は、第５図に示すよｊう割出
しターレツト１３のポケツト１２に横倒し保持され並行
弧状サイドガイド２３，２４とエンドガイド２５に沿つ
て定位置停止する空缶ａの開口部Ａ４中央に永久磁石Ｐ
Ｍを設定するとともに空缶ａのフランジ部Ａ２上側直上
に磁気ヘツドＭｇｈを臨ませ、空缶ａの中央部外周下側
に駆動トルク伝達自在に高速回転するパドルホイールの
回転機構Ｆ１を外接自在に配置してなる。

前記排出ステーションＳ３は、空缶排出路２６の始端寄
り底部に片開き開閉扉型のリジエクタ一Ｒ１を揺動開閉
操作自在に蝶着した落口２７を設けてなる。

第６図に示す第二実施例の空缶給排機構Ｅ２は、第一実
施例と同一の割出しターレツト１３と、当該割出しター
レツト１３外周上側に第一実施例と同一の空缶供給ステ
ーションＳ１を、かつ当該空缶供給ステーションＳ１よ
り矢印時計方向に２割出しピツチ間隔２Ｐ外周斜横側に
検査ステーションＳ２を、かつ空缶供給ステーションＳ
１の対側外周下側に排出ステーションＳ３をそれぞれ配
架してなり、同一部材は同一符号を付した。

第二実施例の前記検査ステーションＳ２には第７図に示
すよう検査ステーションＳ２内に定位置停止した空缶ａ
の中央部両側外周一側に駆動トルク伝達自在に高速無端
走行する一対の無端ベルト２８，２９を並行係接自在に
原動輪３０と従動輪３１に亘り張架した空缶スピナ一型
の回転機構を設けてなる。

第二実施例の前記排出ステーションＳ３は、第６図に示
すよう空缶排出路３２の二股分岐点３３に振分け腕型の
リジエクタ一Ｒ２を切換揺動操作自在に基端を枢支する
とともに空缶排出路３２の始端口３２ａ寄りに検査済み
空缶ａの通過を感知するタイミングセンサーたる一対の
投光器３４と受光器Ｐｈｓを空缶排出路３２を中に挟み
対向してなる。

第８図に示すよう不良空缶弁別回路Ｇは、磁気ヘツドＭ
ｇｈからの検出電気信号１１を増幅濾波する波形修整回
路３５と、当該波形修整回路３５から出力した整形欠陥
信号１３を設定レベルと比較演算する比較演算回路３６
と当該比較演算回路３６から出力した不良判別信号１４
の誤信号通過をチエック阻止するとともに正信号のみを
通過して一時記憶するチエック記憶回路３７と、当該チ
エツク記憶回路３７から出力した不良判別記憶信号１５
を所定秒刻遅延してリジエクタ一Ｒ１に操作指令信号１
２′を出力発信する遅延回路３８と、タイミングセンサ
ーたる近接スイツチＰｘｓからのタイミング電気信号１
６をチエツク記憶回路３７と遅延回路３８にそれぞれ入
力する同期タイミング回路３９とを備えてなる。

前記波形修整回路３５は、磁気ヘツドＭｇｈにより磁気
変化を磁電変換されて出力した検出電気信号１１を４５
００〜２７０００倍に増幅する３段増幅器４０と、空缶
ａの機械的振動等増幅検出電気信号１７の欠陥信号成分
以外は減衰する例えばＦＣ＝５００ＨＺ１３６ｄｂ／０
ｃｔのハイパスフイルタ一と高周波雑音等を吸収する例
えばＦｃ一２．５ＫＨｚ１１８ｄｂ／０ｃｔのローパス
フイルタ一とを組合せたバンドパスフイルタ一４１とを
、直列接続してなり、例えば３〜３０の整形欠陥信号１
３を出力する。

前記比較演算回路３６は、設定器４２を付帯したコンパ
レーター４３からなり、整形欠陥信号１３を予め設定器
４２により設定した１〜５Ｖの標準レベル電圧値範囲で
レベル判別し、整形欠陥信号１３が設定標準レベルより
大きいときに不良判別信号１４を出力する。

前記チエツク記憶回路３７は、ゲート回路４４とラツチ
回路４５とを直列接続してなり、同期タイミング回路３
９からの増幅タイミング信号１８を受けてゲート回路４
４は不良判別正信号１９の通過を許容し、ただちにラツ
チ回路４５に不良判別正信号１９を一時的に記憶待機す
るとともに同期タイミング回路３９からの微分タイミン
グ信号１１０を受けて不良判別記憶信号１５を遅延回路
３８へ送信出力する。

前記同期タイミング回路３９は、空缶ａの検査中動作す
るように調整された近接スイッチＰｘｓからのタイミン
グ電気信号１６を増幅する増幅器４６と増幅タイミング
信号１８を微分処理する微分器４７とを直列接続してな
り、空缶ａが検査ステーションＳ２に停止し、かつ空缶
ａの回転が安定しているときでしかも１回転以上する時
間だけ動作するよう調整された近接スイツチＰｘｓの動
作中だけ増幅タイミング信号１８をゲート回路４４に送
信してゲート回路４４を開成し、その１回転中に不良判
別正信号１９が発生すれば次段のラツチ回路４５に一時
的に記憶待機せしめる一方、ラツチ回路４５に記憶待機
する不良判別記憶信号１５は微分タイミング信号１１０
換言すればタイミング電気信号１６の終りのタイミング
で遅延回路３８に送信出力するよう励起せしめる。

第８図に示す第一実施例の遅延回路３８は、同期タイミ
ング回路３９からの微分タイミング信号１１０を受信す
る度毎にチエック記憶回路３７出力の不良判別記憶信号
１５を段階的に順次転々移動推移するシフトレジスター
４８からなり、検査済み空缶ａがリジエクタ一Ｒ１の落
口２７に差し掛つた時期に操作指令信号１２′を発信出
力する。

第９図に示す第二実施例の遅延回路４９は、第一実施例
同様のシフトレジスター４８の後に２段のシングルシヨ
ツト５０，５１を直列介挿して３０ｍｓｅｃ〜３００ｍ
ｓｅｃの任意の時間調整可能にしてリジエクタ一Ｒ１の
落口２７の開披動の操作タイミングをとつている。第１
０図に示す第三実施例の遅延回路５２は、第一実施例同
様のシフトレジスター４８の後にゲートアンドフリツプ
フロツプ回路５３を直列介挿して光電スイツチたる受光
器Ｐｈｓの検査済み空缶通過感知信号１１１を途中増幅
器５４により増幅処理された増幅感知信号１１２を前段
ゲート部５３ａで受けた時だけ不良判別転出信号１１３
の通過を許容し、該当対象となつた検査済み空缶ａが丁
度差し掛つた直前にリジエクタ一Ｒ２に操作指令信号１
Ｚ／７を発振出力して切換揺動タイミングをとつている
。

次に本発明法の実施例の詳細を第４図乃至第１５図につ
いて以下説明する。

空缶ａ群がフランジクラツクテスタ一Ｄに備わる空缶給
排機構Ｅｌ，Ｅ２の空缶供給ステーションＳ１に連続的
に送来し、空缶供給ステーションＳ１に入つた空缶ａ群
は、タイミングスクリユ一１６により空缶供給路１４内
に沿つて垂直一列に整列され、割出しターレツト１３の
割出し間歇回転に同期して、インフイードドライブ軸１
８回転を介し、タイミングスクリユ一１６を一回転駆動
することにより割出しターレツト１３の空缶供給ステー
ションＳ１に来合せたポケツト１２内に１缶ずつ受渡す
と同時に近接スイツチＰｘｓからタイミング電気信号１
６を発する。

空缶供給ステーションＳ１でポケツト１２に横倒し受入
れられた空缶ａは第１１図の動作波形（Ｍ／Ｃ）に示す
割出しターレツト１３の割出し間歇回転に判つて並行サ
イドガイド２３，２４とエンドガイド２５に案内されつ
つ検査ステーションＳ２のパドルホイールたる回転機構
Ｆ１又は缶スピナ一たる回転機構Ｆ２上に駆動トルク直
接伝達自在に自然に載置接触して位置決め停止する。

検査ステーションＳ２内で第５図又は第７図に示すよう
空缶ａが定位置停止した段階でパドルホイール又は缶ス
ピナ一の回転機構Ｆ１又はＦ２を駆動し、空缶ａを下支
え高速強制回転すると、第１２図乃至第１３図の静的電
気磁気探傷法の検出原理図で示すよう、永久磁石ＰＭに
よる静磁界ＭＦ中にある空缶ａのフランジ部Ａ２周辺の
磁界強度は缶材料内部で磁気飽和している状態にあると
、距離の自乗に反比例した値となり、その中で空缶ａを
円周方向に回転させても理論的な空缶ａ寸法精度であれ
ば磁界強度は変化しないが、寸法精度（円心度、肉厚）
不良、材ｉ的な異物混入、変形、疵等があるとその磁界
強度は変化する。その磁界強度の変化をフランジ部Ａ２
近傍に臨む磁気ヘツドＭｇｈにて例えば第１４図のグラ
フに示す検出電気信号１１に変換される。当該検出電気
信号１１は、第８図に示す不良空缶弁別回路Ｇの波形修
整回路３５に入力され増幅器４０にて信号増幅されると
ともにバンドパスフイルタ一４１を通り（Ｓ／Ｎ）比を
高められた第１５図のグラフに示す整形欠陥信号１３を
出力して次段の比較演算回路３６で予め設定器４２によ
り設定された電圧レベル値と比較演算してレベル値より
も大きい時第１１図および第１５図の不良判別信号１４
をチエツク記憶回路３７のゲート回路４４に入力し、こ
れと並行して近接スイツチＰｘｓのタイミング電気信号
１６を同期タイミング回路３９の増幅器４６で増幅処理
した増幅タイミング信号１８がゲート回路４４に入力し
た時だけ不良判別正信号１９としてラツチ回路４５への
通過を許容し、その他の場合には不良判別誤信号として
遮断チエックする。

不良判別正信号１９は、ゲート回路４４通過と同時に一
時記憶されるが、同期タイミング回路３９の微分器４７
で増幅タイミング信号１８を微分処理した微分タイミン
グ信号１１０をラツチ回路４５が受けると一時記憶され
た第１１図に示す不良判別記憶信号１５は遅延回路３８
，４９，５２にそれぞれ送られる。

遅延回路３８のシフトレジスター４８に送られた不良判
別記憶信号１５は、同期タイミング回路３９の次回以後
の微分タイミング信号１１０を受ける度毎に一つずつシ
フトレジスター４８内を段階的に順次転々推移して終に
は第１１図に示す操作指令信号１２′を該当対象となつ
ている検査済み空缶ａが丁度通過排出されるリジエクタ
一Ｒ１に出力発信して第１１図の動作波形ＲＶに示す開
状態とし不良空缶ａ′を落口２７に落下選別せしめる。

遅延回路４９のシフトレジスター４８に送られた不良判
別記憶信号１５は、同期タイミング回路３９の次回以後
の微分タイミング信号１１０を受ける度毎に一つずつシ
フトレジスター４８内を段階的に順次転々推移し、一旦
出力した第１０図に示す不良判別転出信号１１３を引続
き２段のシングルシヨツト５０，５１を通して所定秒刻
Ｔ１間を置いて終には操作指令信号１７を該当対象とな
つている検査済み空缶ａが丁度通過排出されるリジエク
タ一Ｒ１に出力発振して第１１図の動作波形Ｒ１″に示
すようＴ２秒間開状態とし不良空缶ａ′を落口２７に落
下選別せしめる。遅延回路５２シフトレジスター４８に
送られた不良判別記憶信号１５は、同期タイミング回路
３９の次回以後の微分タイミング信号１１０を受ける度
毎に一つずつシフトレジスター４８内を段階的に順次転
々推移し、一旦出力した不良判別転出信号１１３を引続
きゲートアンドフリツプフロツプ回路５３に通すが、そ
の際リジエクタ一Ｒ２に取付けた受光器Ｐｈｓからの該
当対象となつている検査済み空缶ａの第１１図に示す通
過感知信号１１１を増幅器５４で増幅処理した増幅通過
感知信号１１２を受けた時のみ不良判別転出信号１１３
がフリツプフロツプ回路５３ｂへ移行することを許容さ
れ、ゲート回路５３ａを通過した不良判別転出信号１１
３によりフリツプフロツプ回路５３ｂを動作して終には
操作指令信号１′２／／／を、該当対象となつている空
缶ａが丁度通過排出されるリジエクタ一Ｒ２に出力発信
して第１１図の動作波形Ｒ２′に示すよう切換揺動待機
し、不良空缶ａ′を不良空缶排出分岐路３２ｂに振分け
選別する。

本発明は、空缶給排機構を垂直縦型として空缶群を横倒
し姿勢で処理し、外力に弱いツーピース空缶の搬送、検
査処理に当つてツーピース空缶が保有する自重落下刃を
合理的、効率的に使用し、出来るだけツーピース空缶に
対し無理かつ強引な外力の付加を極力避けた合理的配慮
がとられ、高速検査処理を可能としている。かくして本
発明は、ＳＤＩ缶で多発するフランジングクラツクを検
出しフランジング空缶を除去可能にし、品質保証の向上
を計ることにより、全数選別作業を省略することができ
る等優れた効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第２図は従来型エアーテスターの漏れ検査方
式説明図、第３図は従来型光テスターの漏れ検査方式説
明図、第４図は本発明のフランジクラツクテスタ一に備
わる第一実施例の空缶給排機構を示す概略図、第５図は
同・第一実施例の検査ステーションの要部拡大断面図、
第６図は同・第二実施例の空缶給排機構を示す概略図、
第７図は同・第二実施例の検査ステーションの要部拡大
断面図、第８図は同・第一実施例の遅延回路を備えた不
良空缶弁別回路のプロツクダイアグラム、第９図は同・
第二実施例を示す遅延回路のプロツクダイアグラム、第
１０図は同・第三実施例を示す遅延回路のプロツクダイ
アグラム、第１１図は同・各部の信号タイミングチヤー
ト、第１２図乃至第１３図は本発明が採用する静的電気
磁気探傷の検出原理を示す要部正面図および右側面図、
第１４図は磁気ヘッドから出力する検出電気信号の波形
グラフ、第１５図はバンドパスフイルタ一とコンパレー
ターから出力する各信号の波形グラフである。 Ａ，Ｂ・・・・・・エアーテスター、Ｃ・・・・・・光
テスターＤ・・・・・クランジクラックシスタ一、Ｅｌ
，Ｅ２・・・・・・空缶給排機構、Ｆｌ，Ｆ２・・・・
・・回転機構、Ｇ・・・・・・不良空缶弁別回路、Ｒｌ
，Ｒ２・・・・・・リジエクタ一、Ｓ１・・・・・・空
缶供給ステーション、Ｓ２・・・・・・検査ステーショ
ン、Ｓ３・・・・・・排出ステーション、ＣＨ・・・・
・・コイルヘツド、Ｍｇｈ・・・・・・磁気ヘッド、Ｍ
Ｆ・・・・・・静磁界、ＰＭ・・・・・・永久磁石、Ｐ
ｘｓ・・・・・・近接スイツチ、Ｐｈｓ・・・・・・受
光器、ａ・・・・・・空缶、ａ１・・・・・・底部、Ａ
２・・・・・・フランジ部、Ａ３・・・・・・胴部、ａ
′・・・・・・不良空缶、ｌ・・・・・・良空缶、ｉ１
・・・・・・検出電気信号、Ｉ２′，ＩＴ，ｉＺ″・・
・・・一操作指令信号、Ｉ３・・・・・・整形欠陥信号
、Ｉ４・・・・・・不良判別信号、Ｉ５・・−・・・不
良判別記憶信号、Ｉ６・・・・・・タイミング電気信号
、Ｉ８・・・・・・増幅タイミング信号、１１０・・・
・・・微分タイミング信号、Ｉｌｌ・・・・・・通過感
知信号、Ｉｌ２・・・・・・増幅感知信号、１６・・・
・・・タイミングスクリユ一、１８・・・・・・インフ
イードドラィブ軸、２１・・・・・・タイミングプレー
ト、２８，２９・・・・・・無端ベルト、３０・・・・
・・原動輪、３１・・・・・・従動輪、３２・・・・・
・空缶排出路、３２ａ・・・・・・始端口、３３・・・
・・・二股分岐点、３４・・・・・・投光器、３５・・
・・・・波形修整回路、３６・・・・・・比較演算回路
、３７・・・・・・チエツク記憶回路、３８，４９，５
２・・・・・・遅延回路、３９・・・・・・同期タイミ
ング回路、４８゜・゛゜・゜シフトレジスター、５０，
５１・・・・・・シングルシヨツト、５３・・・・・・
ゲートアンドフリップフロツプ回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 横倒し空缶群を垂直一列に整列して一缶ずつ間歇受
   渡しする垂直延架のタイミングスクリューと当該タイミ
   ングスクリュー端にベベルギヤを介して同期駆動自在に
   連結するインフィードドライブ軸に固着したタイミング
   プレートの一側近傍に臨ませた無接触タイミングセンサ
   ーとを有して空缶供給ステイションに連続送来する空缶
   群を一缶宛等間隔間歇搬送し検査ステイションの静磁界
   内の定位置に給排する垂直縦型空缶給排機構と、前記検
   査ステイション内に位置決め停止された空缶を横倒しの
   姿勢で両端に軸方向挾み付け力を付加することなく側壁
   外周を自然に浮いた状態で下支え外接して駆動トルクを
   直接伝達自在とし強制回転せしめる回転機構と、前記検
   査ステイション内で回転する空缶のフランジ部一側近傍
   に臨ませた単一の磁気ヘッドと、当該磁気ヘッドから出
   力した検出電気信号を増幅濾波する波形修整回路を通し
   て予め設定してある標準レベルと比較処理して判別する
   不良空缶弁別回路と、前記タイミングセンサーからのタ
   イミング信号により当該不良空缶弁別回路から出力する
   操作指令信号を受けて自重滑降又は落下して来る検査済
   み空缶の不良空缶のみを落し込み又は振分け滑降選別す
   るリジエクターとを備えて空缶に無理な外力を付加せず
   高速検査処理自在としてなる薄肉ツーピース空缶専用フ
   ランジクラックテスター。 ２ 回転機構は、検査ステイション内に保持された空缶
   の中央部一側外周に駆動トルク伝達自在に外接して高速
   回転するパドルホイールである特許請求の範囲第１項記
   載の薄肉ツーピース空缶専用フランジクラックテスター
   。 ３ 回転機構は、検査ステイション内に保持された空缶
   の中央部両側一側外周に駆動トルク伝達自在に並行係接
   する一対の無端ベルトからなる缶胴スピナーである特許
   請求の範囲第１項記載の薄肉ツーピース空缶専用フラン
   ジクラックテスター。 ４ リジエクターは、空缶排出路の途中に開設した落口
   に開閉扉を揺動開閉自在に蝶着し、不良空缶弁別回路か
   ら出力する操作指令信号を受けて前記開閉扉を開閉操作
   し良空缶と不良空缶を選別するようにしてなる特許請求
   の範囲第１項、第２項又は第３項記載の薄肉ツーピース
   空缶専用フランジクラックテスター。 ５ リジエクターは、空缶排出路の始端口寄りに検査済
   み空缶の通過を感知するタイミングセンサーを取付ける
   とともに、二股分岐点に切換揺動自在に枢着した振分け
   腕を臨ませて、不良空缶弁別回路から出力する操作指令
   信号を受けて前記振分け腕を左右に揺動操作し良空缶と
   不良空缶を選別するようにしてなる特許請求の範囲第１
   項、第２項又は第３項記載の薄肉ツーピース空缶専用フ
   ランジクラックテスター。 ６ 不良空缶弁別回路は、磁気ヘッドからの検出電気信
   号を増幅濾波する波形修整回路と、当該波形修整回路か
   ら出力した整形欠陥信号を設定標準レベルと比較演算処
   理する比較演算回路と、当該比較演算回路から出力した
   不良判別信号の誤信号通過をチェック阻止するとともに
   正信号のみを通過して一時記憶するチェック記憶回路と
   、当該チェック記憶回路から出力した不良判別記憶信号
   を所定秒刻遅延してリジエクターに操作指令信号を発信
   する遅延回路と、タイミングセンサーからのタイミング
   電気信号を増幅微分変換処理するとともに増幅タイミン
   グ信号を前記チェック記憶回路にかつ微分タイミング信
   号をチェック記憶回路と遅延回路にそれぞれ入力する同
   期タイミング回路とを備えてなる特許請求の範囲第１項
   、第２項、第３項、第４項又は第５項記載の薄肉ツーピ
   ース空缶専用フランジクラックテスター。 ７ 遅延回路は、シフトレジスターからなる特許請求の
   範囲第６項記載の薄肉ツーピース空缶専用フランジクラ
   ックテスター。 ８ 遅延回路は、シフトレジスターと二段のシングルシ
   ョットを順次直列接続してなる特許請求の範囲第６項記
   載の薄肉ツーピース空缶専用フランジクラックテスター
   。 ９ 遅延回路は、シフトレジスターとゲートアンドフリ
   ップフロップを直列接続するとともにリジエクターに取
   付けたタイミングセンサーから出力する通過感知信号を
   増幅する増幅器を前記ゲートアンドフリップフロップと
   並列接続してなる特許請求の範囲第６項記載の薄肉ツー
   ピース空缶専用フランジクラックテスター。