JPS5920881A - シンチレーションカメラ - Google Patents
シンチレーションカメラInfo
- Publication number
- JPS5920881A JPS5920881A JP13174382A JP13174382A JPS5920881A JP S5920881 A JPS5920881 A JP S5920881A JP 13174382 A JP13174382 A JP 13174382A JP 13174382 A JP13174382 A JP 13174382A JP S5920881 A JPS5920881 A JP S5920881A
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- JP
- Japan
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- window
- level
- circuit
- signal
- energy
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Nuclear Medicine (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はシンチレーションカメラやマルチディテクタ
ＢＣＴ （放射型コンピュータ断層撮影装置）等の放射
線検出装置に関する。
ＢＣＴ （放射型コンピュータ断層撮影装置）等の放射
線検出装置に関する。
この種の放射線検出装置では、例えばシンチレーション
カメラにおいて、放射線入射毎にその入射位置に対応す
る画面上の位置に輝点を表示蓄積することが行な′われ
ているように、入射した放射線の数を計数することを基
本的構成としている。勿論この場合計数すべき入射放射
線は測定対象のＲ，Ｉ（ラジオアイソトープ）核種から
のもの（すなわち一定のエネルギのもの）でなければな
らないが、その判別を行なうだめ通常入射放射線のエネ
ルギに対応する波高を有するパルス信号を得、この波高
が一定の範囲（ウィンドウ）に入っているかを分析する
ようにしている。
カメラにおいて、放射線入射毎にその入射位置に対応す
る画面上の位置に輝点を表示蓄積することが行な′われ
ているように、入射した放射線の数を計数することを基
本的構成としている。勿論この場合計数すべき入射放射
線は測定対象のＲ，Ｉ（ラジオアイソトープ）核種から
のもの（すなわち一定のエネルギのもの）でなければな
らないが、その判別を行なうだめ通常入射放射線のエネ
ルギに対応する波高を有するパルス信号を得、この波高
が一定の範囲（ウィンドウ）に入っているかを分析する
ようにしている。
ところでこの波高分析とは別に放射線入射があったこと
を検出して信号処理の動作タイミングを決める必要があ
り、そのため従来では第１図のように上記のノ々ルス信
号を一定のトリガレペル（誤動作しない最小レベル）と
して比較してこのレベルを超えたときに動作開始信号を
得るようにしている。し７かし実際には散乱した放射線
（従って波高が小さい）も相当多く入射するものである
。そしてこの散乱線によっても動作開始信号が出される
ことになるので１、この散乱線の信号の処理に多くの時
間が割かれることになる。この散乱線の信号は」二配の
波高分析により最終的には排除されてし２まう不必要な
信号である。そのため結局、計数すべき信号に割り当て
られる処理時間が少なくなって必要な信号にとっての不
感時間が長くなり、必要な信号の計数機会が失われるこ
とになり計数率が低下してしまう。
を検出して信号処理の動作タイミングを決める必要があ
り、そのため従来では第１図のように上記のノ々ルス信
号を一定のトリガレペル（誤動作しない最小レベル）と
して比較してこのレベルを超えたときに動作開始信号を
得るようにしている。し７かし実際には散乱した放射線
（従って波高が小さい）も相当多く入射するものである
。そしてこの散乱線によっても動作開始信号が出される
ことになるので１、この散乱線の信号の処理に多くの時
間が割かれることになる。この散乱線の信号は」二配の
波高分析により最終的には排除されてし２まう不必要な
信号である。そのため結局、計数すべき信号に割り当て
られる処理時間が少なくなって必要な信号にとっての不
感時間が長くなり、必要な信号の計数機会が失われるこ
とになり計数率が低下してしまう。
この発明は上記に鑑み、ウィンドウを大きく下回るよう
な波高の・ぞルス信号は小太であるかＣつ、動作開始信
号を得るだめのトリがレベルを使用核種のエネルギに応
じて上昇させることによって散乱線による不感時間等の
不要な信号の処理に割かれる時間を短縮し、もって計数
不時することを目的とする。
な波高の・ぞルス信号は小太であるかＣつ、動作開始信
号を得るだめのトリがレベルを使用核種のエネルギに応
じて上昇させることによって散乱線による不感時間等の
不要な信号の処理に割かれる時間を短縮し、もって計数
不時することを目的とする。
以下、この発明をシンチレーションカメラに適用した一
実施例について第２図を参照しながら説明する。この図
において被写体１１に分布しているＲＩより発せられた
放射線がコリメータ１２を通ってシンチレータ１３に入
射し、シンチレーションの光がライトノｆイド１４によ
り多数の光箱子増倍管１５に導かれる。各光電、子増倍
管１５の出力はそれぞれプリアンプ１６を通って重み付
加胸回路１７に送られて位置計算され、さらに積分回路
１８で積分され、その後割算回路１９でエネルギ信号に
よる割算が行なわれて位置信号Ｘ、Ｙが表示装置２０に
送られる。さらにグリアン７″１６の各出力は加算回路
２１で加算されてエネルギ信号を得、このエネルギ信号
が積分回路２２で積分されて波高分析器２３に送られエ
ネルギ信号の波高が分析される。す々わちウィンドつ設
定器２４において使用核種のエネルギレベルとウィンド
ウ幅（例えｒ；ｉ： ２０％）が設定され、このエネル
ギレベルとウィンドウ幅によって定められるウィンドウ
にエネルギ（０号の波高が入っているときこの波高分析
器２３から出力が生じ、タイミング回路２６をへてアン
プランク信号として表示装置２０に送られる。従って表
示装置２０では放射線入射毎に得られる位置信号で定め
られる表示画面上のｆ〜′／置に輝点が表示されて蓄積
される。
実施例について第２図を参照しながら説明する。この図
において被写体１１に分布しているＲＩより発せられた
放射線がコリメータ１２を通ってシンチレータ１３に入
射し、シンチレーションの光がライトノｆイド１４によ
り多数の光箱子増倍管１５に導かれる。各光電、子増倍
管１５の出力はそれぞれプリアンプ１６を通って重み付
加胸回路１７に送られて位置計算され、さらに積分回路
１８で積分され、その後割算回路１９でエネルギ信号に
よる割算が行なわれて位置信号Ｘ、Ｙが表示装置２０に
送られる。さらにグリアン７″１６の各出力は加算回路
２１で加算されてエネルギ信号を得、このエネルギ信号
が積分回路２２で積分されて波高分析器２３に送られエ
ネルギ信号の波高が分析される。す々わちウィンドつ設
定器２４において使用核種のエネルギレベルとウィンド
ウ幅（例えｒ；ｉ： ２０％）が設定され、このエネル
ギレベルとウィンドウ幅によって定められるウィンドウ
にエネルギ（０号の波高が入っているときこの波高分析
器２３から出力が生じ、タイミング回路２６をへてアン
プランク信号として表示装置２０に送られる。従って表
示装置２０では放射線入射毎に得られる位置信号で定め
られる表示画面上のｆ〜′／置に輝点が表示されて蓄積
される。
タイミング回路２６は位置削ｑ、積分１割算。
表示等の各タイミングを各放射線入射のタイミングに合
わせるだめのものであって、比較器２５からの動作開始
信号によって動作する。比較器２５に力えられるトリガ
レベルはトリがレベル発生回路２７から与えられる。こ
のトリがレベル発生回路２７はウィンドウ設定器２４か
ら送られるニオ・ルギレベル及びウィンドウ幅の各信号
からウィンドウの下限値を計算しこれよりもやや低いレ
ベルの信号を出力する。
わせるだめのものであって、比較器２５からの動作開始
信号によって動作する。比較器２５に力えられるトリガ
レベルはトリがレベル発生回路２７から与えられる。こ
のトリがレベル発生回路２７はウィンドウ設定器２４か
ら送られるニオ・ルギレベル及びウィンドウ幅の各信号
からウィンドウの下限値を計算しこれよりもやや低いレ
ベルの信号を出力する。
Ｔｒｉ；って第３図のように動作開始信号を得るだめの
トリがレベルがウィンドウの下限値よりやや低いものと
なっており、しかもこのトリがレベルはウィンドウ設定
器２４において核種に応じて設定されるウィンドウに対
応して変化する。
トリがレベルがウィンドウの下限値よりやや低いものと
なっており、しかもこのトリがレベルはウィンドウ設定
器２４において核種に応じて設定されるウィンドウに対
応して変化する。
そのため不必要な信号によって動作開始することが相当
程度に避けられ、その結果計数率特性が向上する。
程度に避けられ、その結果計数率特性が向上する。
なおプリアンプ１６の出力のＮｒ上りが充分早い場合に
は第３図の動作開始信号は第１図のものと比べて余シ遅
れないが、立上りが遅い場合にはその遅れにより）Ｊ？
ルス信号の最初の部分が積分回路に工（ｖり込めないと
いう問題が生じる。
は第３図の動作開始信号は第１図のものと比べて余シ遅
れないが、立上りが遅い場合にはその遅れにより）Ｊ？
ルス信号の最初の部分が積分回路に工（ｖり込めないと
いう問題が生じる。
このような場合、重み付加算回路１７の前または後に遅
延回路を設けて、トリガレベル発生回路２７から発生す
るトリがレベルに応じてその評延鰯−を変化させて上記
の不都合を避けることが好ましい。あるいは比較器２５
の前に微分器を入れて立上りを早くするようにしてもよ
い。
延回路を設けて、トリガレベル発生回路２７から発生す
るトリがレベルに応じてその評延鰯−を変化させて上記
の不都合を避けることが好ましい。あるいは比較器２５
の前に微分器を入れて立上りを早くするようにしてもよ
い。
まだ、上記実施例の構成の他、プリアンプ１６で積分及
び波形整形する構成とした場合でも同様である。
び波形整形する構成とした場合でも同様である。
上記実施例はシンチレーションカメラしく一適用したも
のであるが、例えばマルチディテクタＥＣＴ等の放射線
検出装置に適用することも可能である。
のであるが、例えばマルチディテクタＥＣＴ等の放射線
検出装置に適用することも可能である。
以上、実施例について説明したように、この発明によれ
は、動作開始信月を得るだめのトリガレベルを設定され
たウィンドウに応じて上昇させるようにしているだめ、
計数率特性の向−ヒを図ることができる。
は、動作開始信月を得るだめのトリガレベルを設定され
たウィンドウに応じて上昇させるようにしているだめ、
計数率特性の向−ヒを図ることができる。
第１図は従来例を説明するだめの波形図、第２り１はこ
の発明の一実施例のブロック図、第３図は第２図の動作
を説明するだめの波形図である。 １１・・・被写体 １２・・・コリメータ１
３・・・シンチレータ １４・・ライトガイド１５・
・・光重、子増倍管 １６・・・ノリアング１７・・
重み伺加算回路 １８ 、２２・・・ＨＹｉ分回路１９
・・・割算回路 ２０・・・表示装置２１・・・
訓話回路 ２３・・・波高分析器２４・・・ウィ
ンドウ設定器 ２５・・・比較器 ２６・・・タイミング回路
２７・・・トリがレベル発生回路 出願人 株式会社島津製作所
の発明の一実施例のブロック図、第３図は第２図の動作
を説明するだめの波形図である。 １１・・・被写体 １２・・・コリメータ１
３・・・シンチレータ １４・・ライトガイド１５・
・・光重、子増倍管 １６・・・ノリアング１７・・
重み伺加算回路 １８ 、２２・・・ＨＹｉ分回路１９
・・・割算回路 ２０・・・表示装置２１・・・
訓話回路 ２３・・・波高分析器２４・・・ウィ
ンドウ設定器 ２５・・・比較器 ２６・・・タイミング回路
２７・・・トリがレベル発生回路 出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- ｍ 入射した放射線を検出してこの入射放射線のエネ
ルギに対応する波高の・！ルス信号を得る検出器と、こ
の・やルス信号の処理を行なう信号処理回路と、このパ
ルス信号の波高が設定されたウィンドウに入っているか
否かを分析しウィンドウに入っているもののみを計数さ
せる波高分析器と、１１［記パルス信号を一定のトリが
レベルと比較して前記信号処理回路の動作開始信号を得
る比較器とを有して々る放射線検出装置において、前記
比較器に与えるトリがレベルを前記の設定されたウィン
ドウに対応して変化させトリがレベルがこのウィンドウ
の下限値よりやや低くなる程度となるようにするトリが
レベル発生回路を備えることを特徴とする放射線検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13174382A JPS5920881A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | シンチレーションカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13174382A JPS5920881A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | シンチレーションカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5920881A true JPS5920881A (ja) | 1984-02-02 |
| JPH0452427B2 JPH0452427B2 (ja) | 1992-08-21 |
Family
ID=15065146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13174382A Granted JPS5920881A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | シンチレーションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920881A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755679A (en) * | 1986-06-19 | 1988-07-05 | Wong Wai Hoi | Method and apparatus for maximizing counts of a PET camera |
| JP2698461B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1998-01-19 | 日立建機株式会社 | 弁装置 |
| JP2009544973A (ja) * | 2006-07-28 | 2009-12-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 陽電子放出型断層撮影における飛行時間測定法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51121387A (en) * | 1975-04-17 | 1976-10-23 | Hitachi Medical Corp | Scintillation camera |
-
1982
- 1982-07-28 JP JP13174382A patent/JPS5920881A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51121387A (en) * | 1975-04-17 | 1976-10-23 | Hitachi Medical Corp | Scintillation camera |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755679A (en) * | 1986-06-19 | 1988-07-05 | Wong Wai Hoi | Method and apparatus for maximizing counts of a PET camera |
| JP2698461B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1998-01-19 | 日立建機株式会社 | 弁装置 |
| JP2009544973A (ja) * | 2006-07-28 | 2009-12-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 陽電子放出型断層撮影における飛行時間測定法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0452427B2 (ja) | 1992-08-21 |
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