JP3247397B2 - 放射能汚染検出装置 - Google Patents
放射能汚染検出装置Info
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- JP3247397B2 JP3247397B2 JP8884991A JP8884991A JP3247397B2 JP 3247397 B2 JP3247397 B2 JP 3247397B2 JP 8884991 A JP8884991 A JP 8884991A JP 8884991 A JP8884991 A JP 8884991A JP 3247397 B2 JP3247397 B2 JP 3247397B2
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- Japan
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設等において
物品、作業員の体表面、その他の固体、液体、ガス等を
測定対象にする放射能汚染検出装置に関する。
物品、作業員の体表面、その他の固体、液体、ガス等を
測定対象にする放射能汚染検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の放射能汚染モニタの構成例を図３
に示す。
に示す。
【０００３】この放射能汚染モニタは、測定対象から出
る放射線を放射線検出器１で検出して、その検出パルス
信号をデータ処理装置２へ入力し、ここでパルス信号を
計数して汚染判定を行い、汚染判定結果に応じて汚染有
制御処理部３または汚染無制御処理部４へ信号を出力し
て警報等の処理を行うように構成されている。以上のよ
うに構成された放射能汚染モニタの動作を図４に示す。
る放射線を放射線検出器１で検出して、その検出パルス
信号をデータ処理装置２へ入力し、ここでパルス信号を
計数して汚染判定を行い、汚染判定結果に応じて汚染有
制御処理部３または汚染無制御処理部４へ信号を出力し
て警報等の処理を行うように構成されている。以上のよ
うに構成された放射能汚染モニタの動作を図４に示す。
【０００４】かかる装置では、実際の測定に先立ち、デ
ータ処理装置１２に計数時間測定器５から計数時間Ｔが
設定され、管理レベル設定器６から管理レベルが設定さ
れる。データ処理装置２は、測定対象が設定されるまで
はバックグラウンドを計数する。計数開始検知手段７か
ら計数開始タイミング信号が入力すると、予め設定され
た計数時間Ｔでパルス信号を計数する。そして、その計
数値からバックグラウンド計数値を減算するＮＥＴ演算
が実行され、この演算値と汚染管理レベルとが比較され
て汚染判定が行われる。演算値が汚染管理レベルを超え
ているときには、汚染有制御処理部３へ信号が出力され
て警報等が出力される。また、演算値が汚染管理レベル
以下のときは汚染無制御処理部４へ信号が出力されて、
例えば測定対象となる物品の搬出処理が行われる。
ータ処理装置１２に計数時間測定器５から計数時間Ｔが
設定され、管理レベル設定器６から管理レベルが設定さ
れる。データ処理装置２は、測定対象が設定されるまで
はバックグラウンドを計数する。計数開始検知手段７か
ら計数開始タイミング信号が入力すると、予め設定され
た計数時間Ｔでパルス信号を計数する。そして、その計
数値からバックグラウンド計数値を減算するＮＥＴ演算
が実行され、この演算値と汚染管理レベルとが比較され
て汚染判定が行われる。演算値が汚染管理レベルを超え
ているときには、汚染有制御処理部３へ信号が出力され
て警報等が出力される。また、演算値が汚染管理レベル
以下のときは汚染無制御処理部４へ信号が出力されて、
例えば測定対象となる物品の搬出処理が行われる。
【０００５】ところで、実際の放射線検出値は、図５に
示すように、計数時間Ｔでの平均値を中心にして所定の
統計誤差で分布している。データ処理装置２は、統計誤
差が汚染管理レベルを超えたときに汚染有りと判定する
ように設定されている。ところが、統計誤差は放射線検
出数ｎ（パルス数）の平方根に比例して大きくなるた
め、測定対象の放射線量が増加しなくても、バックグラ
ウンドが上昇すると、統計誤差は図５の斜線部まで大き
くなり、汚染管理レベルを超えてしまう。
示すように、計数時間Ｔでの平均値を中心にして所定の
統計誤差で分布している。データ処理装置２は、統計誤
差が汚染管理レベルを超えたときに汚染有りと判定する
ように設定されている。ところが、統計誤差は放射線検
出数ｎ（パルス数）の平方根に比例して大きくなるた
め、測定対象の放射線量が増加しなくても、バックグラ
ウンドが上昇すると、統計誤差は図５の斜線部まで大き
くなり、汚染管理レベルを超えてしまう。
【０００６】そこで、従来の放射能汚染モニタでは、測
定環境でのバックグラウンドの上限を想定して、バック
グラウンドが上限に達しても統計誤差が汚染管理レベル
を超えないように、計数時間Ｔを十分長い時間に設定し
ていた。
定環境でのバックグラウンドの上限を想定して、バック
グラウンドが上限に達しても統計誤差が汚染管理レベル
を超えないように、計数時間Ｔを十分長い時間に設定し
ていた。
【０００７】このため、バックグラウンドが想定した値
よりも十分低い場合であっても、予め設定された計数時
間を経過しなければ測定が終了せず、大きな測定時間ロ
スが生じていた。
よりも十分低い場合であっても、予め設定された計数時
間を経過しなければ測定が終了せず、大きな測定時間ロ
スが生じていた。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】従って、従来の放射能
汚染モニタは、測定時間ロスが大きく測定時間が必要以
上に長くなることから処理能力が低下するという問題が
あった。
汚染モニタは、測定時間ロスが大きく測定時間が必要以
上に長くなることから処理能力が低下するという問題が
あった。
【０００９】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、検出可能な放射能レベルが汚染管理レベルを
超えない範囲で最短となる計数時間を、バックグラウン
ドの変動に追従させて逐次的に設定でき、測定時間を短
縮して処理能力を向上できる放射能汚染検出装置を提供
することを目的とする。
たもので、検出可能な放射能レベルが汚染管理レベルを
超えない範囲で最短となる計数時間を、バックグラウン
ドの変動に追従させて逐次的に設定でき、測定時間を短
縮して処理能力を向上できる放射能汚染検出装置を提供
することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、入射する放射線量に応じてパルス信号を出
力する放射線検出器と、測定対象に相対して測定開始し
た前記放射線検出器から出力されるパルス信号を設定さ
れている計数時間で計数する汚染計数手段と、この汚染
計数手段で得られた計数値と汚染管理レベルとを比較し
て汚染判定を行う汚染判定手段とを備えた放射能汚染検
出装置において、測定対象が相対されずに待機状態にあ
る前記放射線検出器から出力されるパルス信号を常に計
数して、現在のバックグラウンドレベルを求めるバック
グラウンド計数手段と、前記測定開始直前に、前記バッ
クグラウンド計数手段から最新のバックグラウンドレベ
ルを取込み、該バックグラウンドレベルに基づいて最短
になる計数時間を算出し、この算出された計数時間を前
記汚染計数手段に設定する最適計数時間設定手段とを具
備した構成とした。
するために、入射する放射線量に応じてパルス信号を出
力する放射線検出器と、測定対象に相対して測定開始し
た前記放射線検出器から出力されるパルス信号を設定さ
れている計数時間で計数する汚染計数手段と、この汚染
計数手段で得られた計数値と汚染管理レベルとを比較し
て汚染判定を行う汚染判定手段とを備えた放射能汚染検
出装置において、測定対象が相対されずに待機状態にあ
る前記放射線検出器から出力されるパルス信号を常に計
数して、現在のバックグラウンドレベルを求めるバック
グラウンド計数手段と、前記測定開始直前に、前記バッ
クグラウンド計数手段から最新のバックグラウンドレベ
ルを取込み、該バックグラウンドレベルに基づいて最短
になる計数時間を算出し、この算出された計数時間を前
記汚染計数手段に設定する最適計数時間設定手段とを具
備した構成とした。
【００１１】
【作用】本発明によれば、待機状態においてはバックグ
ラウンド計数手段によってバックグラウンドレベルが常
に最新の値に更新される。そして、測定対象が設定され
る等して測定開始直前になると、最適計数時間設定手段
に最新のバックグラウンドレベルが取込まれ、放射線検
出器の検出可能な放射線レベルが汚染管理レベルを超え
ない範囲で最小となる計数時間がバックグラウンドレベ
ルに応じて決められる。この計数時間は、例えば以下の
式より算出される。 Ｔ＝［４ｎb ＋４（Ａ−α）／ａ］ ／［｛２（Ａ−α）／ａＫ｝2 −４ｎb ／Ｔb ］
ラウンド計数手段によってバックグラウンドレベルが常
に最新の値に更新される。そして、測定対象が設定され
る等して測定開始直前になると、最適計数時間設定手段
に最新のバックグラウンドレベルが取込まれ、放射線検
出器の検出可能な放射線レベルが汚染管理レベルを超え
ない範囲で最小となる計数時間がバックグラウンドレベ
ルに応じて決められる。この計数時間は、例えば以下の
式より算出される。 Ｔ＝［４ｎb ＋４（Ａ−α）／ａ］ ／［｛２（Ａ−α）／ａＫ｝2 −４ｎb ／Ｔb ］
【００１２】なお、計数時間Ｔを、最新のバックグラウ
ンドレベルをｎb 、バックグラウンド計数時間をＴb 、
汚染管理レベルをＡ、汚染管理レベルＡの０以上の任意
のマージンをα、放射線検出器の検出効率をａ、計数値
の信頼度をＫとしている。
ンドレベルをｎb 、バックグラウンド計数時間をＴb 、
汚染管理レベルをＡ、汚染管理レベルＡの０以上の任意
のマージンをα、放射線検出器の検出効率をａ、計数値
の信頼度をＫとしている。
【００１３】そして、この算出された計数時間が汚染計
数手段に設定され、測定開始と共に計数が開始され、新
しく設定された計数時間が経過した時点で計数が終了
し、その計数値に応じて汚染判定が行われる。
数手段に設定され、測定開始と共に計数が開始され、新
しく設定された計数時間が経過した時点で計数が終了
し、その計数値に応じて汚染判定が行われる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
【００１５】図１には一実施例に係る放射能汚染モニタ
の機能ブロックが示されている。なお、図３に示すモニ
タと同一機能の部分には同一の符号を付し詳しい説明は
省略する。
の機能ブロックが示されている。なお、図３に示すモニ
タと同一機能の部分には同一の符号を付し詳しい説明は
省略する。
【００１６】本実施例は、放射線検出器１のパルス信号
を受信して汚染判定を行うデータ処理装置１０が、汚染
計数手段１１と、バックグラウンド計数手段１２と、最
適計数時間算出手段１３と、汚染判定手段１４とを具備
して構成されている。
を受信して汚染判定を行うデータ処理装置１０が、汚染
計数手段１１と、バックグラウンド計数手段１２と、最
適計数時間算出手段１３と、汚染判定手段１４とを具備
して構成されている。
【００１７】汚染計数手段１１は、計数開始検知手段７
から測定開始タイミング信号が入力すると、最適計数時
間算出手段１３で設定された計数時間Ｔで、放射線検出
器１からのパルス信号を計数して計数値を汚染判定手段
１４へ出力する。
から測定開始タイミング信号が入力すると、最適計数時
間算出手段１３で設定された計数時間Ｔで、放射線検出
器１からのパルス信号を計数して計数値を汚染判定手段
１４へ出力する。
【００１８】バックグラウンド計数手段１２は、測定対
象が設定されていない状態において放射線検出器１から
出力されるパルス信号を計数してバックグラウンドの計
数値を検出する。
象が設定されていない状態において放射線検出器１から
出力されるパルス信号を計数してバックグラウンドの計
数値を検出する。
【００１９】最適計数時間算出手段１３は、測定対象が
放射線検出器１に相対して測定準備に入ったことを検知
する測定対象設定検知手段１５から測定準備信号が入力
される。最適計数時間算出手段１３は、測定準備信号が
入力すると、バックグラウンド計数手段１２から最新の
バックグラウンドレベルを取込み、下式を実行して最適
の計数時間Ｔを求める。 Ｔ＝［４ｎb ＋４（Ａ−α）／ａ］ ／［｛２（Ａ−α）／ａＫ｝2 −４ｎb ／Ｔb ］ …（１）
放射線検出器１に相対して測定準備に入ったことを検知
する測定対象設定検知手段１５から測定準備信号が入力
される。最適計数時間算出手段１３は、測定準備信号が
入力すると、バックグラウンド計数手段１２から最新の
バックグラウンドレベルを取込み、下式を実行して最適
の計数時間Ｔを求める。 Ｔ＝［４ｎb ＋４（Ａ−α）／ａ］ ／［｛２（Ａ−α）／ａＫ｝2 −４ｎb ／Ｔb ］ …（１）
【００２０】なお、ｎb は最新のバックグラウンドレベ
ル（ｃｐｓ）、Ｔb はｎb を求めた際のバックグラウン
ド計数時間（ｓｅｃ）、Ａは汚染管理レベル（Ｂｑ／ｃ
ｍ2 ）、αは汚染管理レベルＡの０以上の任意のマージ
ン、ａは測定対象から放射された放射線を放射線検出器
が検知する比率を示す検出効率（Ｂｑ／ｃｍ2 ／ｃｐ
ｓ）、Ｋは信頼度（通常は３）をそれぞれ示している。
ル（ｃｐｓ）、Ｔb はｎb を求めた際のバックグラウン
ド計数時間（ｓｅｃ）、Ａは汚染管理レベル（Ｂｑ／ｃ
ｍ2 ）、αは汚染管理レベルＡの０以上の任意のマージ
ン、ａは測定対象から放射された放射線を放射線検出器
が検知する比率を示す検出効率（Ｂｑ／ｃｍ2 ／ｃｐ
ｓ）、Ｋは信頼度（通常は３）をそれぞれ示している。
【００２１】汚染判定手段１４は、汚染計数手段１１か
ら入力する計数値ＮG からバックグラウンドレベルｎb
を減算するＮＥＴ演算を行い、この演算結果と汚染管理
レベルとを比較して汚染判定を行う。ここで、最適な計
数時間Ｔの算出原理について説明する。
ら入力する計数値ＮG からバックグラウンドレベルｎb
を減算するＮＥＴ演算を行い、この演算結果と汚染管理
レベルとを比較して汚染判定を行う。ここで、最適な計
数時間Ｔの算出原理について説明する。
【００２２】一般に、放射線を計数した場合には統計誤
差が含まれ、この統計誤差が検知可能な最小レベルとな
る。この検知可能な最小レベルを汚染管理レベルと一致
させるようにシステムを構成すると、以下の関係式が成
り立つ。汚染管理レベルＡ＝検出効率ａ×統計誤差 Ａ＝ａ・（Ｋ／２）［Ｋ／Ｔ＋｛（Ｋ／Ｔ）2 ＋４ｎb （１／Ｔ＋１／Ｔb ）｝1/2 ］ …（２） 上記（２）式をＴついて解くと、（１）式からマージン
αを除いた式となる。以上のように構成された本実施例
の動作について図２を参照して説明する。
差が含まれ、この統計誤差が検知可能な最小レベルとな
る。この検知可能な最小レベルを汚染管理レベルと一致
させるようにシステムを構成すると、以下の関係式が成
り立つ。汚染管理レベルＡ＝検出効率ａ×統計誤差 Ａ＝ａ・（Ｋ／２）［Ｋ／Ｔ＋｛（Ｋ／Ｔ）2 ＋４ｎb （１／Ｔ＋１／Ｔb ）｝1/2 ］ …（２） 上記（２）式をＴついて解くと、（１）式からマージン
αを除いた式となる。以上のように構成された本実施例
の動作について図２を参照して説明する。
【００２３】測定対象がない待機状態では、バックグラ
ウンドが測定される。そして、測定対象が設定され測定
準備信号が入力すると、（１）式によって最適な計数時
間Ｔが算出され、汚染計数手段１１に設定される。次
に、計数開始検知手段７から測定開始タイミング信号が
入力すると、その設定された計数時間Ｔで計数する。こ
の時、計数時間Ｔは、その直前のバックグラウンドレベ
ルに対して装置の検出可能な放射線レベルが汚染管理レ
ベルを越えない範囲で最小の値に調整された時間となっ
ている。
ウンドが測定される。そして、測定対象が設定され測定
準備信号が入力すると、（１）式によって最適な計数時
間Ｔが算出され、汚染計数手段１１に設定される。次
に、計数開始検知手段７から測定開始タイミング信号が
入力すると、その設定された計数時間Ｔで計数する。こ
の時、計数時間Ｔは、その直前のバックグラウンドレベ
ルに対して装置の検出可能な放射線レベルが汚染管理レ
ベルを越えない範囲で最小の値に調整された時間となっ
ている。
【００２４】汚染判定手段１４では、計数値ＮG からバ
ックグラウンドレベルｎb を減算するＮＥＴ演算が実行
され、この演算値と汚染管理レベルとが比較される。こ
の比較結果から、演算値が汚染管理レベルを超えている
ときには、汚染有制御処理部３へ信号が出力されて警報
等が出力される。また、演算値が汚染管理レベル以下の
ときは汚染無制御処理部４へ信号が出力されて、例えば
測定対象となる物品の搬出処理が行われる。
ックグラウンドレベルｎb を減算するＮＥＴ演算が実行
され、この演算値と汚染管理レベルとが比較される。こ
の比較結果から、演算値が汚染管理レベルを超えている
ときには、汚染有制御処理部３へ信号が出力されて警報
等が出力される。また、演算値が汚染管理レベル以下の
ときは汚染無制御処理部４へ信号が出力されて、例えば
測定対象となる物品の搬出処理が行われる。
【００２５】この様に本実施例によれば、検知可能な最
小レベルを汚染管理レベルと一致させる最適な計数時間
Ｔを上記（１）式にてバックグラウンドレベルに応じて
算出し、その計数時間Ｔにて計数を行うようにしたの
で、バックグラウンドの変動に正確に追従して常に最短
の計数時間に調整され、従来に比べ計数時間を大幅に短
縮して測定処理能力を著しく向上させることができる。
小レベルを汚染管理レベルと一致させる最適な計数時間
Ｔを上記（１）式にてバックグラウンドレベルに応じて
算出し、その計数時間Ｔにて計数を行うようにしたの
で、バックグラウンドの変動に正確に追従して常に最短
の計数時間に調整され、従来に比べ計数時間を大幅に短
縮して測定処理能力を著しく向上させることができる。
【００２６】また、バックグラウンドの変動に正確に追
従するので、バックグラウンドレベルルが予想以上に上
昇した場合であっても、検知可能な放射能レベルが汚染
管理レベルを超えてしまうのを確実に防止でき、常に正
常な放射線管理ができることから装置の信頼性を向上す
ることができる。
従するので、バックグラウンドレベルルが予想以上に上
昇した場合であっても、検知可能な放射能レベルが汚染
管理レベルを超えてしまうのを確実に防止でき、常に正
常な放射線管理ができることから装置の信頼性を向上す
ることができる。
【００２７】なお、上記実施例では、（１）式によって
計数時間Ｔを算出しているが、本発明は（１）式による
演算に限定されるものではなく、検知可能な最小レベル
を汚染管理レベルと一致させる最適な計数時間Ｔを求め
得る計算であれば他の計算方法であっても良い。
計数時間Ｔを算出しているが、本発明は（１）式による
演算に限定されるものではなく、検知可能な最小レベル
を汚染管理レベルと一致させる最適な計数時間Ｔを求め
得る計算であれば他の計算方法であっても良い。
【００２８】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、検
出可能な放射能レベルが汚染管理レベルを超えない範囲
で最短となる計数時間を、バックグラウンドの変動に追
従させて逐次的に設定でき、測定時間を短縮して処理能
力を大幅に向上できる放射能汚染検出装置を提供でき
る。
出可能な放射能レベルが汚染管理レベルを超えない範囲
で最短となる計数時間を、バックグラウンドの変動に追
従させて逐次的に設定でき、測定時間を短縮して処理能
力を大幅に向上できる放射能汚染検出装置を提供でき
る。
【図１】本発明の一実施例に係る放射能汚染モニタの機
能ブロック図。
能ブロック図。
【図２】一実施例に係る放射能汚染モニタの動作説明
図。
図。
【図３】従来の放射能汚染モニタの機能ブロック図。
【図４】従来の放射能汚染モニタの動作説明図。
【図５】計数時間の設定原理を説明するための図。
１…放射線検出器、１０…データ処理装置、１１…汚染
計数手段、１２…バックグラウンド計数手段、１３…最
適計数時間算出手段、１４…汚染判定手段。
計数手段、１２…バックグラウンド計数手段、１３…最
適計数時間算出手段、１４…汚染判定手段。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−61083（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−187488（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−109891（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−148486（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−88177（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−75671（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−19686（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−60684（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−48492（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−232491（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−155380（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01T 1/167
Claims (2)
- 【請求項１】 入射する放射線量に応じてパルス信号を
出力する放射線検出器と、測定対象に相対して測定開始
した前記放射線検出器から出力されるパルス信号を設定
されている計数時間で計数する汚染計数手段と、この汚
染計数手段で得られた計数値と汚染管理レベルとを比較
して汚染判定を行う汚染判定手段とを備えた放射能汚染
検出装置において、 測定対象が相対されずに待機状態にある前記放射線検出
器から出力されるパルス信号を常に計数して、現在のバ
ックグラウンドレベルを求めるバックグラウンド計数手
段と、 前記測定開始直前に、前記バックグラウンド計数手段か
ら最新のバックグラウンドレベルを取込み、該バックグ
ラウンドレベルに基づいて最短になる計数時間を算出
し、この算出された計数時間を前記汚染計数手段に設定
する最適計数時間設定手段と、 を具備したことを特徴とする放射能汚染検出装置。 - 【請求項２】 前記最適計数時間設定手段は、最新のバ
ックグラウンドレベルをｎb 、バックグラウンド計数時
間をＴb 、汚染管理レベルをＡ、汚染管理レベルＡの０
以上の任意のマージンをα、放射線検出器の検出効率を
ａ、計数値の信頼度をＫとして、計数時間Ｔを、 Ｔ＝［４ｎb ＋４（Ａ−α）／ａ］ ／［｛２（Ａ−α）／ａＫ｝2 −４ｎb ／Ｔb ］ なる演算で算出することを特徴とする請求項１記載の放
射能汚染検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8884991A JP3247397B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 放射能汚染検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8884991A JP3247397B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 放射能汚染検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04320987A JPH04320987A (ja) | 1992-11-11 |
| JP3247397B2 true JP3247397B2 (ja) | 2002-01-15 |
Family
ID=13954432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8884991A Expired - Lifetime JP3247397B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 放射能汚染検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3247397B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014001958A (ja) * | 2012-06-15 | 2014-01-09 | Furukawa Co Ltd | 放射線検出器、及び、放射線検出方法 |
-
1991
- 1991-04-19 JP JP8884991A patent/JP3247397B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04320987A (ja) | 1992-11-11 |
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