JPS62134585A - 数え落し補正による放射線計測方法 - Google Patents
数え落し補正による放射線計測方法Info
- Publication number
- JPS62134585A JPS62134585A JP27520285A JP27520285A JPS62134585A JP S62134585 A JPS62134585 A JP S62134585A JP 27520285 A JP27520285 A JP 27520285A JP 27520285 A JP27520285 A JP 27520285A JP S62134585 A JPS62134585 A JP S62134585A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、高計数率時に放射線検出信号を数え落しても
、後に正しく計数率が補正されるようにした数え落し補
正による放射線計測方法に関するものである。
、後に正しく計数率が補正されるようにした数え落し補
正による放射線計測方法に関するものである。
例えばＫＮＯＬＬによる［放射線計測ハンドブック」（
日刊工業新聞社列）における第１７章においては、ロジ
ックパルスの項（１７・１・２）でパルス幅が最大計数
率を決める要因であると記載されている。しかしながら
、現実には放射線パルスがランダムパルスであることか
らパルス間間隔が問題とされ、通常５ Ｘ １０ ’ｃ
ｐｓ （ｃｐｓ ： ｃｏｕｎｔｓｐｅｒＢθｃｏｎｄ
）以上になると誤差がしだいに大きくなっているのが
実状である。
日刊工業新聞社列）における第１７章においては、ロジ
ックパルスの項（１７・１・２）でパルス幅が最大計数
率を決める要因であると記載されている。しかしながら
、現実には放射線パルスがランダムパルスであることか
らパルス間間隔が問題とされ、通常５ Ｘ １０ ’ｃ
ｐｓ （ｃｐｓ ： ｃｏｕｎｔｓｐｅｒＢθｃｏｎｄ
）以上になると誤差がしだいに大きくなっているのが
実状である。
また、山崎文男、他による「放射線Ｊ （共立出版（株
）刊）によれば、その「高計数率の場合の工夫」の項（
９・２・５）ではリニアパルスのパルス幅を狭くする方
法が各種記載されており、これら手法によってリニアパ
ルスの重なりは回避し得るものとなっている。しかしな
がら、リニアパルスの状態のままで計数率計（入力部は
ポンプ回路あるいはカウンタとして構成）には入力し得
なく、これがためにパルス幅一定（０，５μｓ 程度）
のディジタルパルス信号に変換される必要がある。
）刊）によれば、その「高計数率の場合の工夫」の項（
９・２・５）ではリニアパルスのパルス幅を狭くする方
法が各種記載されており、これら手法によってリニアパ
ルスの重なりは回避し得るものとなっている。しかしな
がら、リニアパルスの状態のままで計数率計（入力部は
ポンプ回路あるいはカウンタとして構成）には入力し得
なく、これがためにパルス幅一定（０，５μｓ 程度）
のディジタルパルス信号に変換される必要がある。
しかし、リニアパルスをパルス幅１μｓ程度のロジック
パルスに変換する場合は、その変換時点やロジックパル
スの伝送途中においてロジックパルスに重なりが生じた
り、伝送途中においてロジックパルスの間隔が小さくな
ってしまい精度良好にして放射線を計測し得ないという
ものである。
パルスに変換する場合は、その変換時点やロジックパル
スの伝送途中においてロジックパルスに重なりが生じた
り、伝送途中においてロジックパルスの間隔が小さくな
ってしまい精度良好にして放射線を計測し得ないという
ものである。
一般にパルス信号の長距離伝送においては伝送中にパル
スの波形が変化し、特にパルス幅が拡がるようになって
いる。したがって、伝送途中においてパルスの重なりが
生じたり、パルス間隔が小さくなるものである。一方、
計数率計においてはパルスに重なりが生じている場合に
はそれを判断し得ないことは勿論のこと、パルス間隔が
数１０ｎｓ以下となる場合も２つのパルスを区別し得な
いものとなっている。これがために、これまでにあって
は放射線計測が良好に行ない得なかったものである。
スの波形が変化し、特にパルス幅が拡がるようになって
いる。したがって、伝送途中においてパルスの重なりが
生じたり、パルス間隔が小さくなるものである。一方、
計数率計においてはパルスに重なりが生じている場合に
はそれを判断し得ないことは勿論のこと、パルス間隔が
数１０ｎｓ以下となる場合も２つのパルスを区別し得な
いものとなっている。これがために、これまでにあって
は放射線計測が良好に行ない得なかったものである。
ところで、既述の「放射線計測ハンドブック」における
項パ３・７・１ 不感時間の振舞に対するモデル″には
、ランダムパルスの数え落しの考え方と真の計数率を求
めるための算出式が示されているが、非まひ形モデルに
より自動的に数え落しを補正する手段については何等言
及されていないものとなっている。ただ、項“３・７・
２ 不感時間の測定法″′で述べられている方法で不感
時間を実測し、机上計算により補正が行なわれているに
過ぎないものとなっている。
項パ３・７・１ 不感時間の振舞に対するモデル″には
、ランダムパルスの数え落しの考え方と真の計数率を求
めるための算出式が示されているが、非まひ形モデルに
より自動的に数え落しを補正する手段については何等言
及されていないものとなっている。ただ、項“３・７・
２ 不感時間の測定法″′で述べられている方法で不感
時間を実測し、机上計算により補正が行なわれているに
過ぎないものとなっている。
本発明の目的は、高計数率の場合、即ち、高放射線レベ
ルの場合であっても確実な放射線計測を行ない得る数え
落し補正による放射線計測方法を供するにある。
ルの場合であっても確実な放射線計測を行ない得る数え
落し補正による放射線計測方法を供するにある。
この目的のため本発明は、放射線検出器からの放射線検
出パ′ルスは非まひ形モデルの放射線検出パルスに変換
されたうえ計数率計で計測されるようにするが、この計
測値を不感時間にもとづき自動的に補正することによっ
て、真の計数率が求められるようにしたものである。
出パ′ルスは非まひ形モデルの放射線検出パルスに変換
されたうえ計数率計で計測されるようにするが、この計
測値を不感時間にもとづき自動的に補正することによっ
て、真の計数率が求められるようにしたものである。
以下１本発明を第１図から第４図により説明する。
先ず本発明に係る放射線計測システムについて説明すれ
ば、第１図はそのシステム構成を示したものである。図
示のように放射線検出器１からの放射線検出パルスは前
置増幅器２で増幅器本体２−１で所定に増幅された後、
ノイズ成分を除去すべく比較器２−２で一定しベルＴＨ
と比較されるようになっている。ノイズ成分が除去され
た放射線検出パルスは次には波形整形回路２−３で所定
に波形整形されたうえ中央操作室等の放射線管理室に設
置の計数計３で単位時間当りのその数が自動的に計測さ
れた後、所定に補正されるようになっているものである
。
ば、第１図はそのシステム構成を示したものである。図
示のように放射線検出器１からの放射線検出パルスは前
置増幅器２で増幅器本体２−１で所定に増幅された後、
ノイズ成分を除去すべく比較器２−２で一定しベルＴＨ
と比較されるようになっている。ノイズ成分が除去され
た放射線検出パルスは次には波形整形回路２−３で所定
に波形整形されたうえ中央操作室等の放射線管理室に設
置の計数計３で単位時間当りのその数が自動的に計測さ
れた後、所定に補正されるようになっているものである
。
第２図は前置増幅器における波形整形回路の一例での具
体的構成を示したものである。これによるとワンショッ
ト回路（トリガ出力パルス幅はＴ１＋Ｔ２）２−３−４
がトリガ出力を発していない限りにおいて、その出力は
インバータ２−３−３を介しアンドゲート２−３−１よ
り比較器２−２よりの出力が出力されることを許容して
おり、アンドゲート２−３−１からの比較器２−２の出
力によってはワンショット回路２−３−２．２−３−４
がともにトリガされるものとなっている。
体的構成を示したものである。これによるとワンショッ
ト回路（トリガ出力パルス幅はＴ１＋Ｔ２）２−３−４
がトリガ出力を発していない限りにおいて、その出力は
インバータ２−３−３を介しアンドゲート２−３−１よ
り比較器２−２よりの出力が出力されることを許容して
おり、アンドゲート２−３−１からの比較器２−２の出
力によってはワンショット回路２−３−２．２−３−４
がともにトリガされるものとなっている。
したがって、ワンショット回路２−３−４が一旦トリガ
された場合には、そのトリガ時点から時間Ｔ１＋Ｔ２の
間は比較器２−２の出力は無視されるようになっている
ものである。
された場合には、そのトリガ時点から時間Ｔ１＋Ｔ２の
間は比較器２−２の出力は無視されるようになっている
ものである。
この場合ワンショット回路２−３−２のトリガ出力パル
ス幅はＴ１として設定されているが、したがって、放射
線検出パルスは一定時間Ｔ１＋Ｔ２以上の時間間隔で、
しかもパルス幅Ｔ１として計数率計３に伝送されるよう
になっているものである。一方、計数率計３では前置増
幅器２からの放射線検出パルスはタイマ３−２によって
規定される一定時間Ｔｗの間カウンタ３−３で計数され
るようになっている。計数値を又とすれば、見掛上の計
数率ｒ （ｃｐｓ ）は以下のように求められるわけで
ある。
ス幅はＴ１として設定されているが、したがって、放射
線検出パルスは一定時間Ｔ１＋Ｔ２以上の時間間隔で、
しかもパルス幅Ｔ１として計数率計３に伝送されるよう
になっているものである。一方、計数率計３では前置増
幅器２からの放射線検出パルスはタイマ３−２によって
規定される一定時間Ｔｗの間カウンタ３−３で計数され
るようになっている。計数値を又とすれば、見掛上の計
数率ｒ （ｃｐｓ ）は以下のように求められるわけで
ある。
ｒ ＝ Ｘ ／ Ｔ ｗ ・・・（
１）このような演算や計数率計全体の制御は主記憶部３
−５に格納されているプログラムを実行するプロセッサ
３−１によっているが、プロセッサ３−１はまた式（１
）で得られる値を後述するように所定に補正したうえ表
示器３−８に表示するとともに、アナログ出力部３−６
を介しレコーダ出力として出力するようになっている。
１）このような演算や計数率計全体の制御は主記憶部３
−５に格納されているプログラムを実行するプロセッサ
３−１によっているが、プロセッサ３−１はまた式（１
）で得られる値を後述するように所定に補正したうえ表
示器３−８に表示するとともに、アナログ出力部３−６
を介しレコーダ出力として出力するようになっている。
補正された値が設定値以上となった場合はまた警報出力
部３−７を介し警報出力が出力されるようになっている
ものである。なお、符号３−４は制御・データバスを示
す。
部３−７を介し警報出力が出力されるようになっている
ものである。なお、符号３−４は制御・データバスを示
す。
第３図は以上述べた動作を一例での放射線検出パルス波
形に例を採って要部入出力波形を示したものである。こ
れについては既にこれまでの説明よりして明らかであり
、これ以上の説明を要しなしＡ。
形に例を採って要部入出力波形を示したものである。こ
れについては既にこれまでの説明よりして明らかであり
、これ以上の説明を要しなしＡ。
さて、以上の説明より明らかなように、比較器２−２の
出力により一旦ワンショット回路２−３−４がトリガさ
れたならば、そのトリガ時点から一定時間Ｔ１＋Ｔ２の
間は比較器２−２からの出力は無視されることから、カ
ウンタ３−３での放射線検出パルスの計数値による式（
１）の計数率は一般的に正しくはなく、補正する必要が
ある。
出力により一旦ワンショット回路２−３−４がトリガさ
れたならば、そのトリガ時点から一定時間Ｔ１＋Ｔ２の
間は比較器２−２からの出力は無視されることから、カ
ウンタ３−３での放射線検出パルスの計数値による式（
１）の計数率は一般的に正しくはなく、補正する必要が
ある。
一般に放射線検出パルスはランダムパルスであり。
したがって、そのパルスの時間間隔もランダムとなって
いる。第４図はある放射線検出パルスが発生してから次
のものが発生されるまでの時間を横軸にとった場合の確
率分布曲線を示したものである（「放射線計測ハンドブ
ック」に明示）。図より明らかなようにパルスとパルス
の時間間隔は相当短かくなる可能性があり、これが数え
落しの原因となっているものである。
いる。第４図はある放射線検出パルスが発生してから次
のものが発生されるまでの時間を横軸にとった場合の確
率分布曲線を示したものである（「放射線計測ハンドブ
ック」に明示）。図より明らかなようにパルスとパルス
の時間間隔は相当短かくなる可能性があり、これが数え
落しの原因となっているものである。
既述のように本発明では１つの放射線検出パルスが入力
した場合にパルス幅Ｔ１のパルスに波形整形するととも
に、波形整形後のパルスが立ち上がった後もなおＴ２の
時間の間後続の放射線検出パルスの入力が無効にされる
ことから、計数率が高くなる程にパルス幅Ｔ１のパルス
の発生頻度は飽和するところとなるが窒息（入力計数率
が高い程に算出される計数率が低くなる現象）は発生し
なく、入力計数率が高くなる程に、計数率は□の値に近
づくことは明らかである。即Ｔ１＋Ｔ２ ち、入力計数率が高くなる程に式（１）による計数率は
不正確となり補正する必要があるというものである。こ
こで、Ｔ１＋Ｔ２の時間内に放射線検出パルスを数え落
す確率は第４図より以下のように求められることになる
。
した場合にパルス幅Ｔ１のパルスに波形整形するととも
に、波形整形後のパルスが立ち上がった後もなおＴ２の
時間の間後続の放射線検出パルスの入力が無効にされる
ことから、計数率が高くなる程にパルス幅Ｔ１のパルス
の発生頻度は飽和するところとなるが窒息（入力計数率
が高い程に算出される計数率が低くなる現象）は発生し
なく、入力計数率が高くなる程に、計数率は□の値に近
づくことは明らかである。即Ｔ１＋Ｔ２ ち、入力計数率が高くなる程に式（１）による計数率は
不正確となり補正する必要があるというものである。こ
こで、Ｔ１＋Ｔ２の時間内に放射線検出パルスを数え落
す確率は第４図より以下のように求められることになる
。
この値は換言すれば２つ目の放射線検出パルスが入力不
可能となる確率であり、この確率が高くなると数え落し
が大きくなるものである。この式（２）はまた数え落し
の有無の判定に供されることが可能となっている。即ち
１式（１）による計数率の測定値ｎを式（２）における
ｒに代入して１−ｅ−０（ｉｔ＋ｒｚ）を算出し、この
値がある一風値（例えば、０．０１＝１％の数え落し）
となった場合には数え落しの警報ランプを点灯させるよ
うにすれば、操作員は数え落しの有無を容易に感知し得
るものである。
可能となる確率であり、この確率が高くなると数え落し
が大きくなるものである。この式（２）はまた数え落し
の有無の判定に供されることが可能となっている。即ち
１式（１）による計数率の測定値ｎを式（２）における
ｒに代入して１−ｅ−０（ｉｔ＋ｒｚ）を算出し、この
値がある一風値（例えば、０．０１＝１％の数え落し）
となった場合には数え落しの警報ランプを点灯させるよ
うにすれば、操作員は数え落しの有無を容易に感知し得
るものである。
さて、この数え落しが発生した場合には以下のようにし
て補正が実行されるものとなっている。
て補正が実行されるものとなっている。
即ち、１つの放射線検出パルスにつきＴ１＋７２秒間の
デッドタイム（不感時間）が生じ、１秒間では計数率の
計測値ｎ （ｃｐｓ ）を用いてｎ・（Ｔ１＋Ｔ２）秒
間計測し得なくなる。したがって、数え落している割合
は平均的にｎ・（Ｔ１＋Ｔ２）となるため、真の計数率
ｒは式（３）として求められるものである。
デッドタイム（不感時間）が生じ、１秒間では計数率の
計測値ｎ （ｃｐｓ ）を用いてｎ・（Ｔ１＋Ｔ２）秒
間計測し得なくなる。したがって、数え落している割合
は平均的にｎ・（Ｔ１＋Ｔ２）となるため、真の計数率
ｒは式（３）として求められるものである。
この関係を用いて計数率計３においては式（１）によっ
て入力パルス率（入力計数率）ｎが先ず求められたうえ
式（３）により真の計数率ｒに変換されるものとなって
いる。この真の計数率が表示や外部出力に供されるとこ
ろとなるわけである。
て入力パルス率（入力計数率）ｎが先ず求められたうえ
式（３）により真の計数率ｒに変換されるものとなって
いる。この真の計数率が表示や外部出力に供されるとこ
ろとなるわけである。
このようにして補正を行なう場合はこれまで困難であっ
た高計数率の計測も精度良好にして行なうことが可能と
なるものである。
た高計数率の計測も精度良好にして行なうことが可能と
なるものである。
以上説明したように本発明による場合は、高放射線レベ
ル時にあっても、放射線の計測が精度良好にして行なわ
れ得るという効果がある。
ル時にあっても、放射線の計測が精度良好にして行なわ
れ得るという効果がある。
第１図は、本発明に係る放射線計測システムの一例での
システム構成を示す図、第２図は、そのシステム構成に
おける要部回路の一例での具体的構成を示す図、第３図
は、第２図に示す回路の動作を説明するための要部入出
力信号波形を示す図、第４図は、ある放射線検出パルス
が発生してから次のものが発生されるまでの時間に対す
る確率を示す図である。 １・・・放射線検出器、２・・・前置増幅器、２−１・
・・増幅器本体、２−２・・・比較器、２−３・・・波
形整形回路、３・・・計数率計、３−３・・・カウンタ
。
システム構成を示す図、第２図は、そのシステム構成に
おける要部回路の一例での具体的構成を示す図、第３図
は、第２図に示す回路の動作を説明するための要部入出
力信号波形を示す図、第４図は、ある放射線検出パルス
が発生してから次のものが発生されるまでの時間に対す
る確率を示す図である。 １・・・放射線検出器、２・・・前置増幅器、２−１・
・・増幅器本体、２−２・・・比較器、２−３・・・波
形整形回路、３・・・計数率計、３−３・・・カウンタ
。
Claims (1)
- １、放射線検出器からの放射線検出パルス信号を増幅し
た後ノズル成分を除去したうえパルス幅一定のパルス信
号に変換して遠隔設置の計数率計に伝送するとともに、
上記パルス幅一定のパルス信号の発生時点より、該パル
ス信号終了時点から一定時間経過するまでの間は後続の
放射線検出パルス信号をインヒビツトし、上記計数率計
においてはパルス幅一定のパルス信号の単位時間当りの
数と、後続の放射線検出パルス信号がインヒビツトされ
る時間とから自動的に真の計数率を求めることを特徴と
する数え落し補正による放射線計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27520285A JPS62134585A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | 数え落し補正による放射線計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27520285A JPS62134585A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | 数え落し補正による放射線計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62134585A true JPS62134585A (ja) | 1987-06-17 |
Family
ID=17552106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27520285A Pending JPS62134585A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | 数え落し補正による放射線計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62134585A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01132984A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像補正装置 |
| JPH01138485A (ja) * | 1987-11-25 | 1989-05-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像装置 |
| JPH02155311A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-14 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | ランダムパルス計数装置 |
| CN105277964A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-27 | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 | 一种脉冲信号计数率的计算方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60164287A (ja) * | 1984-02-07 | 1985-08-27 | Rigaku Denki Kogyo Kk | パルス波高値分析装置 |
-
1985
- 1985-12-09 JP JP27520285A patent/JPS62134585A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60164287A (ja) * | 1984-02-07 | 1985-08-27 | Rigaku Denki Kogyo Kk | パルス波高値分析装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01132984A (ja) * | 1987-11-18 | 1989-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像補正装置 |
| JPH01138485A (ja) * | 1987-11-25 | 1989-05-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像装置 |
| JPH02155311A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-14 | Nippon Atom Ind Group Co Ltd | ランダムパルス計数装置 |
| JP2637204B2 (ja) * | 1988-12-08 | 1997-08-06 | 株式会社東芝 | ランダムパルス計数装置 |
| CN105277964A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-27 | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 | 一种脉冲信号计数率的计算方法 |
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