JPS60164287A - パルス波高値分析装置 - Google Patents
パルス波高値分析装置Info
- Publication number
- JPS60164287A JPS60164287A JP1946884A JP1946884A JPS60164287A JP S60164287 A JPS60164287 A JP S60164287A JP 1946884 A JP1946884 A JP 1946884A JP 1946884 A JP1946884 A JP 1946884A JP S60164287 A JPS60164287 A JP S60164287A
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- JP
- Japan
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- pulse
- output
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- signal
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
比例計数管あるいはシンチレータ付のフォトマルチプラ
イヤのように入射放射線のエネＡ／Ａ’に対応した波高
のパルスを送出する放射線検出器の出力パルスをシング
ルチャンネルの波高値分析装置（二加えて、所望のエネ
ルギの放射線強度を測定する場合（二、放射線の強度が
極めて強くなると検出器の出力パルスが重合して数え落
しを生じ、正確な強度を測定することができなくなる◎
その数え落しの確率は下限比較器から送出されるパルス
の時間幅に依存するが、波形整形回路から比較器に加え
られるパルスは一般にガウシャン波形であるためにその
波高と下限レベルとシ；よって出力パルスの幅が変化し
、また比例計数管においては計数率の増大と共にガス増
幅率が減少して出力パルスの波高が低下する。従って従
来は計数率から単純に数え落しの確率を算出して計数値
を補正することがでさなかった０本発明＃′ｉ数え落し
の確率を簡単に算定して、高計数率においても正確な放
射線強度を測定しようとするものである口 第１図は本発明実施例の倍数を示した図で、比例計＠管
ＰＣは放射線が入射する毎にそのエネルギに対応した波
高のパルスを送出する。そのパルスが前置増幅器ＡＩ、
波形整形回路Ｆおよび主増幅器Ａ２を介して上限比較器
ＯＭＩおよび下限比較器ＯＭ２に加えられる。この比較
器の出力を加えられる検出回路ＤＣの出力パルスの数を
スケーラ日によって計数し、その計数値に上記検出回路
の特性によって定まる簡単な補正を加えることによって
真の計数値を知ることがてきる口 亀２図は第１図における上限比較器ＯＭｌと下限比較器
ＯＭ２および検出回路Ｄｏの回路例でｓｍｈ図の計数管
ｐｃに第３図のＰに示したようなタイミングで放射線が
入射するとＳＪ：記比較器にはそのエネルギに応じて例
えば亀３図ｉのような波形のパルスが加えられる□上限
比較器ＯＭｌおよび下限比較器ＯＭ２ ｃは電圧源ｖｈ
、ｖｔで示したような参照電圧が加えられているから１
その電圧を第３図（二同符号の破線で表わすと、上記各
比較器は入力ｉをこの破線でスライスした出力を送出し
てこれを検出回路ＤＯに加える。
イヤのように入射放射線のエネＡ／Ａ’に対応した波高
のパルスを送出する放射線検出器の出力パルスをシング
ルチャンネルの波高値分析装置（二加えて、所望のエネ
ルギの放射線強度を測定する場合（二、放射線の強度が
極めて強くなると検出器の出力パルスが重合して数え落
しを生じ、正確な強度を測定することができなくなる◎
その数え落しの確率は下限比較器から送出されるパルス
の時間幅に依存するが、波形整形回路から比較器に加え
られるパルスは一般にガウシャン波形であるためにその
波高と下限レベルとシ；よって出力パルスの幅が変化し
、また比例計数管においては計数率の増大と共にガス増
幅率が減少して出力パルスの波高が低下する。従って従
来は計数率から単純に数え落しの確率を算出して計数値
を補正することがでさなかった０本発明＃′ｉ数え落し
の確率を簡単に算定して、高計数率においても正確な放
射線強度を測定しようとするものである口 第１図は本発明実施例の倍数を示した図で、比例計＠管
ＰＣは放射線が入射する毎にそのエネルギに対応した波
高のパルスを送出する。そのパルスが前置増幅器ＡＩ、
波形整形回路Ｆおよび主増幅器Ａ２を介して上限比較器
ＯＭＩおよび下限比較器ＯＭ２に加えられる。この比較
器の出力を加えられる検出回路ＤＣの出力パルスの数を
スケーラ日によって計数し、その計数値に上記検出回路
の特性によって定まる簡単な補正を加えることによって
真の計数値を知ることがてきる口 亀２図は第１図における上限比較器ＯＭｌと下限比較器
ＯＭ２および検出回路Ｄｏの回路例でｓｍｈ図の計数管
ｐｃに第３図のＰに示したようなタイミングで放射線が
入射するとＳＪ：記比較器にはそのエネルギに応じて例
えば亀３図ｉのような波形のパルスが加えられる□上限
比較器ＯＭｌおよび下限比較器ＯＭ２ ｃは電圧源ｖｈ
、ｖｔで示したような参照電圧が加えられているから１
その電圧を第３図（二同符号の破線で表わすと、上記各
比較器は入力ｉをこの破線でスライスした出力を送出し
てこれを検出回路ＤＯに加える。
検出回路ＤｏにおけるＤ型７リツプ・７０ツブ回路ＤＦ
ｌ 、 ＤＦ２はπ端子に信号が加えられた状態で端子
Ｔに信号が加わると端子ｐの信号が端子Ｑに伝送される
もので、端子ｐには信号源Ｋｌ 、 Ｂ３から常１６）
ｇ にハイの信号が加えられ、かつこれらの回路は端子にの
信号が４０−″になると復旧する。また単安定マルチに
、４ブレ一タＭＭｌは常時端子可から信号が送出されて
−るか、端子Ｂ（＝信号が加わると電源Ｅ２に接続され
た抵抗Ｒ２とコンデン−ｊｏ２とからなる時定数回路に
よって定まる時間幅ｔの信号が端子Ｑから送出されると
共に端子可の信号はその間だけ消滅する口 ＠３図のａ、ｂ・・・・・みは夷２図の端子工に信号シ
が加わった場合において、それぞれ同一符号で示した部
分に発生する信号の波形である。すなわち比較器ＯＭ２
、 ＯＭＩはそれぞれａおよびＩのような出力を送出
するから最初のパルスｋが到来したものとすると、まず
信号ａの最初の立上り部分で７リツプ、プロップ回路Ｄ
ＰＩが反転して信号すが送出される。この信号が抵抗Ｒ
１とコンデンサ０１とからなる時定数回路に加わるから
、その出力端の電圧は第３４ ｅのようＣ二変化し、時
間ηの後にこの電圧が単安定マルチバイブレータＭＭＩ
のスレシュホールド電圧に達すると１その端子Ｑから化
３図ｄのようＣ二前記時間幅ものパルスが送出されるＯ
同時（二（Ｍ子可の出力信号は消滅するから７リツプ・
７ｇツブ回路ＤＰＩが復旧して信号りが消減し−かつ端
子Ｑの出力信号が抵抗Ｂ４ ａＲ５によってトランジス
タＴＲ１のベースに加わるから、このトランジスタが導
通状態になってコンデンサ０１の電荷が抵抗Ｒ８を介し
て放電し一端子Ｂの入力信号ａが消滅する。また（信号
りの立Ｅりにより１ナントゲートＧ２を介して７リツプ
・７リツプ回路ＤＦ２の端子Ｒに信号が加わると共にそ
の端子Ｔ（二も同時に信号が加わるから、この回路ＤＦ
２が反転して信号Ｉが送出される。従ってナンドゲー）
Ｇ１に信号ｄ、ｆが同時に加わって検出回路Ｄｏの出力
信号−が送出される。
ｌ 、 ＤＦ２はπ端子に信号が加えられた状態で端子
Ｔに信号が加わると端子ｐの信号が端子Ｑに伝送される
もので、端子ｐには信号源Ｋｌ 、 Ｂ３から常１６）
ｇ にハイの信号が加えられ、かつこれらの回路は端子にの
信号が４０−″になると復旧する。また単安定マルチに
、４ブレ一タＭＭｌは常時端子可から信号が送出されて
−るか、端子Ｂ（＝信号が加わると電源Ｅ２に接続され
た抵抗Ｒ２とコンデン−ｊｏ２とからなる時定数回路に
よって定まる時間幅ｔの信号が端子Ｑから送出されると
共に端子可の信号はその間だけ消滅する口 ＠３図のａ、ｂ・・・・・みは夷２図の端子工に信号シ
が加わった場合において、それぞれ同一符号で示した部
分に発生する信号の波形である。すなわち比較器ＯＭ２
、 ＯＭＩはそれぞれａおよびＩのような出力を送出
するから最初のパルスｋが到来したものとすると、まず
信号ａの最初の立上り部分で７リツプ、プロップ回路Ｄ
ＰＩが反転して信号すが送出される。この信号が抵抗Ｒ
１とコンデンサ０１とからなる時定数回路に加わるから
、その出力端の電圧は第３４ ｅのようＣ二変化し、時
間ηの後にこの電圧が単安定マルチバイブレータＭＭＩ
のスレシュホールド電圧に達すると１その端子Ｑから化
３図ｄのようＣ二前記時間幅ものパルスが送出されるＯ
同時（二（Ｍ子可の出力信号は消滅するから７リツプ・
７ｇツブ回路ＤＰＩが復旧して信号りが消減し−かつ端
子Ｑの出力信号が抵抗Ｂ４ ａＲ５によってトランジス
タＴＲ１のベースに加わるから、このトランジスタが導
通状態になってコンデンサ０１の電荷が抵抗Ｒ８を介し
て放電し一端子Ｂの入力信号ａが消滅する。また（信号
りの立Ｅりにより１ナントゲートＧ２を介して７リツプ
・７リツプ回路ＤＦ２の端子Ｒに信号が加わると共にそ
の端子Ｔ（二も同時に信号が加わるから、この回路ＤＦ
２が反転して信号Ｉが送出される。従ってナンドゲー）
Ｇ１に信号ｄ、ｆが同時に加わって検出回路Ｄｏの出力
信号−が送出される。
また第３図ｉにおける２番目のパルスｌはその波高がＥ
限比較器ＯＭｌの参照電圧ｖｈより高−ために信号ｇか
送出されてＮナンドゲー）Ｇ２の出力が消滅するから、
フリップ・７リツプ回路ＤＦ２が復旧する。従って信号
Ｉが消滅して・信号ａＶｉ送出されな―。
限比較器ＯＭｌの参照電圧ｖｈより高−ために信号ｇか
送出されてＮナンドゲー）Ｇ２の出力が消滅するから、
フリップ・７リツプ回路ＤＦ２が復旧する。従って信号
Ｉが消滅して・信号ａＶｉ送出されな―。
検出回路Ｄ（３は、Ｅ述のように動作するものであるか
、第３図シにパルス講で示したように、上限レベルＶみ
と等しい波１．ｔ、のパルスにおける下限レベルｙｚの
部分の時間幅を７．とすると、下限比較器ＯＭ２の出力
ａ（二よって７リツプ、プロップ回路ＤＰＩが動作して
から、時間幅ｔ、の２分の１の時間ち以内にＦ限比較器
ＯＭＩの出力ｆが送出されないとき、そのパルスの波高
はレベルｖｌとｖｈとの間にあることが明らかである。
、第３図シにパルス講で示したように、上限レベルＶみ
と等しい波１．ｔ、のパルスにおける下限レベルｙｚの
部分の時間幅を７．とすると、下限比較器ＯＭ２の出力
ａ（二よって７リツプ、プロップ回路ＤＰＩが動作して
から、時間幅ｔ、の２分の１の時間ち以内にＦ限比較器
ＯＭＩの出力ｆが送出されないとき、そのパルスの波高
はレベルｖｌとｖｈとの間にあることが明らかである。
従って上記回路ＤＰＩが動作してからマルチバイブレー
タＭＭＩが動作するｌでの時間遅れが上記時間７．とな
るように抵抗Ｒ１とコンデンサ０１とを選定することＣ
；よって第３図シ（−ｂ ケルハルｘ ｎ、、 ｎ、の
ように検出すべきパルス電工の尾部に他のパルスが重合
した場合に最初のパルス町を確実に検出して出力信号−
を送出することができる。
タＭＭＩが動作するｌでの時間遅れが上記時間７．とな
るように抵抗Ｒ１とコンデンサ０１とを選定することＣ
；よって第３図シ（−ｂ ケルハルｘ ｎ、、 ｎ、の
ように検出すべきパルス電工の尾部に他のパルスが重合
した場合に最初のパルス町を確実に検出して出力信号−
を送出することができる。
まり電源Ｅ２と抵抗Ｒ２、コンデンサ０２１Ｚよって定
まる信号ｄの時間幅７□を前記時間幅ηに応じて適当に
選定することにより−それらの和の時間幅ちを前記時間
幅ｎより多少太きく、例えばへの１１０係程度に選定し
である。従って第３図１にｐ１＋ Ｐ＠で示したように
下限レベルηを越す２つのノぐルスが比較的接近して連
続的（二到来した場合にパルスｐ１がレベルｖｌを越し
て７リツプ、７０ツブ回路ＤＦｌが動作してから次のパ
ルスｐ、が上記レベルを越すまでの時間ηが）より小さ
いと、該７リツプ・７ｂの送出が阻止されて、上記パル
スハＣ二よる信号８の送出は行われない。
まる信号ｄの時間幅７□を前記時間幅ηに応じて適当に
選定することにより−それらの和の時間幅ちを前記時間
幅ｎより多少太きく、例えばへの１１０係程度に選定し
である。従って第３図１にｐ１＋ Ｐ＠で示したように
下限レベルηを越す２つのノぐルスが比較的接近して連
続的（二到来した場合にパルスｐ１がレベルｖｌを越し
て７リツプ、７０ツブ回路ＤＦｌが動作してから次のパ
ルスｐ、が上記レベルを越すまでの時間ηが）より小さ
いと、該７リツプ・７ｂの送出が阻止されて、上記パル
スハＣ二よる信号８の送出は行われない。
このよう（二本発明の装置は、所定の範囲のパルスが到
来すると、これに引続いて次のパルスが極めて小さい時
間間隔で到来した場合でも最初の）ぐルスを確実に検出
して出力信号ｅを送出し、しかも次のパルスに対しては
最初のパルスとの間の時間間隔が一定値、例えば前記パ
ルス幅７Ｙ１０ｃｇ、以上のものだけを検出するように
したものである０すなわち従来の装置は２つのパルスが
連続して到来した場合に、次のパルスの検出が最初のパ
ルスの波高、従って下限レベルを越した部分の時間幅に
よって変化したために、その数え落しの確率を算定して
真の計数率をめることができなかったものである。これ
に対して本発明けＬ述のようＣ二不感助間を一定にしで
あるから、数え落しの確率を容易に算定して、真の計数
率を正確にめることができる。また比例計数管は出力パ
ルスのｉ゛数率高くなる°と１ガス増幅率が低下してこ
のためにも前述の不感時間に変動を生ずるが本発明によ
ってその影響も除かれると共Ｃ：比較レベルの変化に対
するインテグラルモードの観測値の変化を少くして、プ
ラトー特性を大幅に改善することができる。
来すると、これに引続いて次のパルスが極めて小さい時
間間隔で到来した場合でも最初の）ぐルスを確実に検出
して出力信号ｅを送出し、しかも次のパルスに対しては
最初のパルスとの間の時間間隔が一定値、例えば前記パ
ルス幅７Ｙ１０ｃｇ、以上のものだけを検出するように
したものである０すなわち従来の装置は２つのパルスが
連続して到来した場合に、次のパルスの検出が最初のパ
ルスの波高、従って下限レベルを越した部分の時間幅に
よって変化したために、その数え落しの確率を算定して
真の計数率をめることができなかったものである。これ
に対して本発明けＬ述のようＣ二不感助間を一定にしで
あるから、数え落しの確率を容易に算定して、真の計数
率を正確にめることができる。また比例計数管は出力パ
ルスのｉ゛数率高くなる°と１ガス増幅率が低下してこ
のためにも前述の不感時間に変動を生ずるが本発明によ
ってその影響も除かれると共Ｃ：比較レベルの変化に対
するインテグラルモードの観測値の変化を少くして、プ
ラトー特性を大幅に改善することができる。
９１１図は本発明実施例の梠成図、第２図Ｆｉ第１図に
おける一部の回路例を示した図％＄３図Ｆｉ舅２図にお
ける各部の信号波形図である０なお図において、ＤＦＩ
、ＤＦ２けＤ型７リツブ、７０ツブ回路、”ＭＭＩは
４安定マルチパイプレークである０拍許出願人 理学電
機工業株式会社 代理人 弁理士益田龍也
おける一部の回路例を示した図％＄３図Ｆｉ舅２図にお
ける各部の信号波形図である０なお図において、ＤＦＩ
、ＤＦ２けＤ型７リツブ、７０ツブ回路、”ＭＭＩは
４安定マルチパイプレークである０拍許出願人 理学電
機工業株式会社 代理人 弁理士益田龍也
Claims (1)
- 放射線の入射によってそのエネルギ（二対応した波高の
パルスを送出する放射線検出器からその出力パルスを加
えられて、上記出力パルスの波高が所定の下限並びに上
νにレベルを越したときそれぞれ出力信号を送出する下
限比較器および上限比較器を設けて、前記上アＬレベル
に等し一波高のパルスによって下限比較器から送出され
る出力信号の時間幅攬の２分の１を）またｔより多シ・
大き一一定の時間幅をちとするとき、下限比較器が出方
信号を送出し始めたのち℃以内に上限比較器が出力信号
を送出しな一場合に１つの検出パルスを発生すると共に
下７良比較器からｔ以内に２つの出力信号が送出された
ときあとの信号を消去する検出器□ 路を前記下限並び
シー上限比較器の出力端に接続し、上記検出回路の出力
パルスをスケーラに加えるようにしたことを特徴とする
パルス波高、値１分析装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1946884A JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1946884A JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60164287A true JPS60164287A (ja) | 1985-08-27 |
| JPH0452907B2 JPH0452907B2 (ja) | 1992-08-25 |
Family
ID=12000149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1946884A Granted JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60164287A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62134585A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-17 | Hitachi Ltd | 数え落し補正による放射線計測方法 |
| JP2011174936A (ja) * | 1996-10-15 | 2011-09-08 | Siemens Ag | 放射線撮像のための撮像素子 |
-
1984
- 1984-02-07 JP JP1946884A patent/JPS60164287A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62134585A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-17 | Hitachi Ltd | 数え落し補正による放射線計測方法 |
| JP2011174936A (ja) * | 1996-10-15 | 2011-09-08 | Siemens Ag | 放射線撮像のための撮像素子 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0452907B2 (ja) | 1992-08-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |