JPH0452907B2 - - Google Patents
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- JPH0452907B2 JPH0452907B2 JP1946884A JP1946884A JPH0452907B2 JP H0452907 B2 JPH0452907 B2 JP H0452907B2 JP 1946884 A JP1946884 A JP 1946884A JP 1946884 A JP1946884 A JP 1946884A JP H0452907 B2 JPH0452907 B2 JP H0452907B2
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Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 101000986989 Naja kaouthia Acidic phospholipase A2 CM-II Proteins 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
比例計数管あるいはシンチレータ付のフオトマ
ルチプライヤのように入射放射線のエネルギに対
応した波高のパルスを送出する放射線検出器の出
力パルスをシングルチヤンネルの波高値分析装置
に加えて、所望のエネルギの放射線強度を測定す
る場合に、放射線の強度が極めて強くなると検出
器の出力パルスが重合して数え落しを生じ、正確
な強度を測定することができなくなる。その数え
落しの確率は下限比較器から送出されるパルスの
時間幅に依存するが、波形整形回路から比較器に
加えられるパルスは一般にガウシヤン波形である
ためにその波高と下限レベルとによつて出力パル
スの幅が変化し、また比例計数管においては計数
率の増大と共にガス増幅率が減少して出力パルス
の波高が低下する。従つて従来は計数率から単純
に数え落しの確率を算出して計数値を補正するこ
とができなかつた。本発明は数え落しの確率を簡
単に算定して、高計数率においても正確な放射線
強度を測定しようとするものである。
ルチプライヤのように入射放射線のエネルギに対
応した波高のパルスを送出する放射線検出器の出
力パルスをシングルチヤンネルの波高値分析装置
に加えて、所望のエネルギの放射線強度を測定す
る場合に、放射線の強度が極めて強くなると検出
器の出力パルスが重合して数え落しを生じ、正確
な強度を測定することができなくなる。その数え
落しの確率は下限比較器から送出されるパルスの
時間幅に依存するが、波形整形回路から比較器に
加えられるパルスは一般にガウシヤン波形である
ためにその波高と下限レベルとによつて出力パル
スの幅が変化し、また比例計数管においては計数
率の増大と共にガス増幅率が減少して出力パルス
の波高が低下する。従つて従来は計数率から単純
に数え落しの確率を算出して計数値を補正するこ
とができなかつた。本発明は数え落しの確率を簡
単に算定して、高計数率においても正確な放射線
強度を測定しようとするものである。
第１図は本発明実施例の構成を示した図で、比
例計数管PCは放射線が入射する毎にそのエネル
ギに対応した波高のパルスを送出する。そのパル
スが前置増幅器A1、波形整形回路Ｆおよび主増
幅器A2を介して上限比較器CM1および下限比較
器CM2に加えられる。この比較器の出力を加え
られる検出回路DCの出力パルスの数をスケーラ
Ｓによつて計数し、その計数値に上記検出回路の
特性によつて定まる簡単な補正を加えることによ
つて真の計数値を知ることができる。
例計数管PCは放射線が入射する毎にそのエネル
ギに対応した波高のパルスを送出する。そのパル
スが前置増幅器A1、波形整形回路Ｆおよび主増
幅器A2を介して上限比較器CM1および下限比較
器CM2に加えられる。この比較器の出力を加え
られる検出回路DCの出力パルスの数をスケーラ
Ｓによつて計数し、その計数値に上記検出回路の
特性によつて定まる簡単な補正を加えることによ
つて真の計数値を知ることができる。
第２図は第１図における上限比較器CM1と下
限比較器CM2および検出回路DCの回路例で、第
１図の計数管PCに第３図のＰに示したようなタ
イミングで放射線が入射すると、上記比較器には
そのエネルギに応じて例えば第３図ｉのような波
形のパルスが加えられる。上限比較器CM1およ
び下限比較器CM2には電圧源Vh，Vlで示したよ
うな参照電圧が加えられているから、その電圧を
第３図に同符号の破線で表わすと、上記各比較器
は入力ｉをこの破線でスライスした出力を送出し
てこれを検出回路DCに加える。
限比較器CM2および検出回路DCの回路例で、第
１図の計数管PCに第３図のＰに示したようなタ
イミングで放射線が入射すると、上記比較器には
そのエネルギに応じて例えば第３図ｉのような波
形のパルスが加えられる。上限比較器CM1およ
び下限比較器CM2には電圧源Vh，Vlで示したよ
うな参照電圧が加えられているから、その電圧を
第３図に同符号の破線で表わすと、上記各比較器
は入力ｉをこの破線でスライスした出力を送出し
てこれを検出回路DCに加える。
検出回路DCにおけるＤ型フリツプ・フロツプ
回路DF1DF2は端子に信号が加えられた状態で
端子Ｔに信号が加わると端子Ｄの信号が端子Ｑに
伝送されるもので、端子Ｄには信号源E1，E3か
ら常に“ハイ”の信号が加えられ、かつこれらの
回路は端子の信号が“ロー”になると復旧す
る。また単安定マルチバイブレータMM1は常時
端子から信号が送出されているが、端子Ｂに信
号が加わると電源E2に接続された抵抗R2とコン
デンサC2とからなる時定数回路によつて定まる
時間幅T2の信号が端子Ｑから送出されると共に
端子の信号はその間だけ消滅する。
回路DF1DF2は端子に信号が加えられた状態で
端子Ｔに信号が加わると端子Ｄの信号が端子Ｑに
伝送されるもので、端子Ｄには信号源E1，E3か
ら常に“ハイ”の信号が加えられ、かつこれらの
回路は端子の信号が“ロー”になると復旧す
る。また単安定マルチバイブレータMM1は常時
端子から信号が送出されているが、端子Ｂに信
号が加わると電源E2に接続された抵抗R2とコン
デンサC2とからなる時定数回路によつて定まる
時間幅T2の信号が端子Ｑから送出されると共に
端子の信号はその間だけ消滅する。
第３図のａ，ｂ…ｈは第２図の端子Ｉに信号ｉ
が加わつた場合において、それぞれ同一符号で示
した部分に発生する信号の波形である。すなわち
比較器CM２，CM１はそれぞれａおよびｇのよ
うな出力を送出するから最初のパルスｋが到来し
たものとすると、まず信号ａの最初の立上り部分
でフリツプ・フロツプ回路DF１が反転して信号
ｂが送出される。この信号が抵抗Ｒ１とコンデン
サＣ１とからなる時定数回路に加わるから、その
出力端の電圧は第３図ｃのように変化し、時間
T1の後にこの電圧が単安定マルチバイブレータ
MM１のスレシユホールド電圧に達すると、その
端子Ｑから第３図ｄのように前記時間幅T2のパ
ルスが送出される。同時に端子の出力信号は消
滅するからフリツプ・フロツプ回路DF１が復旧
して信号ｂが消滅し、かつ端子Ｑの出力信号が抵
抗Ｒ４，Ｒ５によつてトランジスタTR１のベー
スに加わるから、このトランジスタが導通状態に
なつてコンデンサＣ１の電荷が抵抗R3を介して
放電し、端子Ｂの入力信号ｃが消滅する。また信
号ｂの立上りにより、ナンドゲートＧ２を介して
フリツプ・フロツプ回路DF２の端子Ｒに信号が
加わると共にその端子Ｔにも同時に信号が加わる
から、この回路DF２が反転して信号ｆが送出さ
れる。従つてナンドゲートＧ１に信号ｄ，ｆが同
時に加わつて検出回路DCの出力信号ｅが送出さ
れる。
が加わつた場合において、それぞれ同一符号で示
した部分に発生する信号の波形である。すなわち
比較器CM２，CM１はそれぞれａおよびｇのよ
うな出力を送出するから最初のパルスｋが到来し
たものとすると、まず信号ａの最初の立上り部分
でフリツプ・フロツプ回路DF１が反転して信号
ｂが送出される。この信号が抵抗Ｒ１とコンデン
サＣ１とからなる時定数回路に加わるから、その
出力端の電圧は第３図ｃのように変化し、時間
T1の後にこの電圧が単安定マルチバイブレータ
MM１のスレシユホールド電圧に達すると、その
端子Ｑから第３図ｄのように前記時間幅T2のパ
ルスが送出される。同時に端子の出力信号は消
滅するからフリツプ・フロツプ回路DF１が復旧
して信号ｂが消滅し、かつ端子Ｑの出力信号が抵
抗Ｒ４，Ｒ５によつてトランジスタTR１のベー
スに加わるから、このトランジスタが導通状態に
なつてコンデンサＣ１の電荷が抵抗R3を介して
放電し、端子Ｂの入力信号ｃが消滅する。また信
号ｂの立上りにより、ナンドゲートＧ２を介して
フリツプ・フロツプ回路DF２の端子Ｒに信号が
加わると共にその端子Ｔにも同時に信号が加わる
から、この回路DF２が反転して信号ｆが送出さ
れる。従つてナンドゲートＧ１に信号ｄ，ｆが同
時に加わつて検出回路DCの出力信号ｅが送出さ
れる。
また第３図ｉにおける２番目のパルスｌはその
波高が上限比較器CM１の参照電圧Vhより高い
ために信号ｇが送出されて、ナンドゲートＧ２の
出力が消滅するから、フリツプ・フロツプ回路
DF２が復旧する。従つて信号ｆが消滅して、信
号ｅは送出されない。
波高が上限比較器CM１の参照電圧Vhより高い
ために信号ｇが送出されて、ナンドゲートＧ２の
出力が消滅するから、フリツプ・フロツプ回路
DF２が復旧する。従つて信号ｆが消滅して、信
号ｅは送出されない。
検出回路DCは上述のように動作するものであ
るが、第３図ｉにパルスｍで示したうに、上限レ
ベルVhと等しい波高のパルスにおける下限レベ
ルVlの部分の時間幅をT0とすると、下限比較器
CM２の出力ａによつてフリツプ・フロツプ回路
DF１が動作してから、時間幅T0の２分の１の時
間T1以内に上限比較器CM１の出力ｇが送出され
ないとき、そのパルスの波高はレベルVlとVhと
の間にあることが明らかである。従つて上記回路
DF１が動作してからマルチバイブレータMM１
が動作するまでの時間遅れが上記時間T1となる
ように抵抗Ｒ１とコンデンサＣ１とを選定するこ
とによつて第３図ｉにおけるパルスn1，n2のよう
に検出すべきパルスn1の尾部に他のパルスが重合
した場合に最初のパルスn1を確実に検出して出力
信号ｅを送出することができる。
るが、第３図ｉにパルスｍで示したうに、上限レ
ベルVhと等しい波高のパルスにおける下限レベ
ルVlの部分の時間幅をT0とすると、下限比較器
CM２の出力ａによつてフリツプ・フロツプ回路
DF１が動作してから、時間幅T0の２分の１の時
間T1以内に上限比較器CM１の出力ｇが送出され
ないとき、そのパルスの波高はレベルVlとVhと
の間にあることが明らかである。従つて上記回路
DF１が動作してからマルチバイブレータMM１
が動作するまでの時間遅れが上記時間T1となる
ように抵抗Ｒ１とコンデンサＣ１とを選定するこ
とによつて第３図ｉにおけるパルスn1，n2のよう
に検出すべきパルスn1の尾部に他のパルスが重合
した場合に最初のパルスn1を確実に検出して出力
信号ｅを送出することができる。
また電源Ｅ２と抵抗Ｒ２、コンデンサＣ２によ
つて定まる信号ｄの時間幅T2を前記時間幅T1に
応じて適当に選定することにより、それらの和の
時間幅T3を前記時間幅T0より多少大きく、例え
ばT0の110％程度に選定してある。従つて第３図
ｉにp1，p2で示したように下限レベルVlを越す
２つのパルスが比較的接近して連続的に到来した
場合にパルスp1がレベルVlを越してフリツプ・
フロツプ回路DF１が動作してから次のパルスp2
が上記レベルを越すまでの時間T4がT3より小さ
いと、該フリツプ・フロツプ回路DF１のリセツ
ト端子の信号が消滅してこの回路が不動作状態
を維持しているために信号ｂの送出が阻止され
て、上記パルスp2による信号ｅの送出は行われな
い。
つて定まる信号ｄの時間幅T2を前記時間幅T1に
応じて適当に選定することにより、それらの和の
時間幅T3を前記時間幅T0より多少大きく、例え
ばT0の110％程度に選定してある。従つて第３図
ｉにp1，p2で示したように下限レベルVlを越す
２つのパルスが比較的接近して連続的に到来した
場合にパルスp1がレベルVlを越してフリツプ・
フロツプ回路DF１が動作してから次のパルスp2
が上記レベルを越すまでの時間T4がT3より小さ
いと、該フリツプ・フロツプ回路DF１のリセツ
ト端子の信号が消滅してこの回路が不動作状態
を維持しているために信号ｂの送出が阻止され
て、上記パルスp2による信号ｅの送出は行われな
い。
このように本発明の装置は、所定の範囲のパル
スが到来すると、これに引続いて次のパルスが極
めて小さい時間間隔で到来した場合でも最初のパ
ルスを確実に検出して出力信号ｅを送出し、しか
も次のパルスに対しては最初のパルスとの間の時
間間隔が一定値、例えば前記パルス幅T0の110％
以上のものだけを検出するようにしたものであ
る。すなわち従来の装置は２つのパルスが連続し
て到来した場合に、次のパルスの検出が最初のパ
ルスの波高、従つて下限レベルを越した部分の時
間幅によつて変化したために、その数え落しの確
率を算定して真の計数率を求めることができなか
つたものである。これに対して本発明は上述のよ
うに不感時間を一定にしてあるから、数え落しの
確率を容易に算定して、真の計数率を正確に求め
ることができる。また比例計数管は出力パルスの
計数率が高くなると、ガス増幅率が低下してこの
ためにも前述の不感時間に変動を生ずるが本発明
によつてその影響も除かれると共に比較レベルの
変化に対するインテグラルモードの観測値の変化
を少くして、プラトー特性を大幅に改善すること
ができる。
スが到来すると、これに引続いて次のパルスが極
めて小さい時間間隔で到来した場合でも最初のパ
ルスを確実に検出して出力信号ｅを送出し、しか
も次のパルスに対しては最初のパルスとの間の時
間間隔が一定値、例えば前記パルス幅T0の110％
以上のものだけを検出するようにしたものであ
る。すなわち従来の装置は２つのパルスが連続し
て到来した場合に、次のパルスの検出が最初のパ
ルスの波高、従つて下限レベルを越した部分の時
間幅によつて変化したために、その数え落しの確
率を算定して真の計数率を求めることができなか
つたものである。これに対して本発明は上述のよ
うに不感時間を一定にしてあるから、数え落しの
確率を容易に算定して、真の計数率を正確に求め
ることができる。また比例計数管は出力パルスの
計数率が高くなると、ガス増幅率が低下してこの
ためにも前述の不感時間に変動を生ずるが本発明
によつてその影響も除かれると共に比較レベルの
変化に対するインテグラルモードの観測値の変化
を少くして、プラトー特性を大幅に改善すること
ができる。
第１図は本発明実施例の構成図、第２図は第１
図における一部の回路例を示した図、第３図は第
２図における各部の信号波形図である。なお図に
おいて、DF１，DF２はフリツプ・フロツプ回
路、MM１は単安定マルチバイブレータである。
図における一部の回路例を示した図、第３図は第
２図における各部の信号波形図である。なお図に
おいて、DF１，DF２はフリツプ・フロツプ回
路、MM１は単安定マルチバイブレータである。
Claims (1)
- １ 放射線の入射によつてそのエネルギに対応し
た波高のパルスを送出する放射線検出器からその
出力パルスを加えられて、上記出力パルスの波高
が所定の下限並びに上限レベルを越したときそれ
ぞれ出力信号を送出する下限比較器および上限比
較器を設けて、前記上限レベルに等しい波高のパ
ルスによつて下限比較器から送出される出力信号
の時間幅T0の２分の１をT1またT0より多少大き
い一定の時間幅をT3とするとき、下限比較器が
出力信号を送出し始めたのちT1以内に上限比較
器が出力信号を送出しない場合に１つの検出パル
スを発生すると共に下限比較器からT3以内に２
つの出力信号が送出されたときあとの信号を消去
する検出回路を前記下限並びに上限比較器の出力
端に接続し、上記検出回路の出力パルスをスケー
ラに加えるようにしたことを特徴とするパルス波
高値分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1946884A JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1946884A JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60164287A JPS60164287A (ja) | 1985-08-27 |
| JPH0452907B2 true JPH0452907B2 (ja) | 1992-08-25 |
Family
ID=12000149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1946884A Granted JPS60164287A (ja) | 1984-02-07 | 1984-02-07 | パルス波高値分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60164287A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62134585A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-17 | Hitachi Ltd | 数え落し補正による放射線計測方法 |
| GB2318411B (en) * | 1996-10-15 | 1999-03-10 | Simage Oy | Imaging device for imaging radiation |
-
1984
- 1984-02-07 JP JP1946884A patent/JPS60164287A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60164287A (ja) | 1985-08-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |