JPS59202006A - 溶接位置形状測定装置 - Google Patents
溶接位置形状測定装置Info
- Publication number
- JPS59202006A JPS59202006A JP7731283A JP7731283A JPS59202006A JP S59202006 A JPS59202006 A JP S59202006A JP 7731283 A JP7731283 A JP 7731283A JP 7731283 A JP7731283 A JP 7731283A JP S59202006 A JPS59202006 A JP S59202006A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- processing section
- circuit
- welding
- video signal
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、溶接倣いを行なう溶接位置の形状を測定する
溶接位置形状測定装置の改良に関する。
溶接位置形状測定装置の改良に関する。
従来船舶やエンジン、プレス等の箱型構造物の溶接はほ
とんど人手によるものであった。このため、品質にムラ
が生じやすく、またコストが高くなシ、各種の方法によ
る溶接の自動化が試みられてきた。
とんど人手によるものであった。このため、品質にムラ
が生じやすく、またコストが高くなシ、各種の方法によ
る溶接の自動化が試みられてきた。
このうち、光切断法を用いた溶接開先形状の測定は、非
接触・高精度な溶接倣い全可能とする有力な方法として
、その災用化例も多い。第１図はこの光切断法を用いて
溶接倣いを行なう装置の全体構成図である。この装置は
、浴接母材１ａ、ｌｂを突き合せた開先のない水平隅肉
溶接の溶接部（溶接線）２にスリット光源器３からスリ
ット光３ａ’ｉ７照射してスリット像３ｂを形成し、こ
のスリット像３ｂｆ撮像装置４で撮像してそのビデオ信
号を信号処理部５へ送シ、さらに信号処理部５において
入力されたビデオ信号から最輝度レベルのアドレスを求
め、このアドレスに基づいて前記溶接部２の形状を得、
この形状と予め記憶された基準形状データとの差に基づ
いて駆動装置６が溶接トーチ７の位置全溶接部２からず
れないように設定して溶接を行なう構成となっている。
接触・高精度な溶接倣い全可能とする有力な方法として
、その災用化例も多い。第１図はこの光切断法を用いて
溶接倣いを行なう装置の全体構成図である。この装置は
、浴接母材１ａ、ｌｂを突き合せた開先のない水平隅肉
溶接の溶接部（溶接線）２にスリット光源器３からスリ
ット光３ａ’ｉ７照射してスリット像３ｂを形成し、こ
のスリット像３ｂｆ撮像装置４で撮像してそのビデオ信
号を信号処理部５へ送シ、さらに信号処理部５において
入力されたビデオ信号から最輝度レベルのアドレスを求
め、このアドレスに基づいて前記溶接部２の形状を得、
この形状と予め記憶された基準形状データとの差に基づ
いて駆動装置６が溶接トーチ７の位置全溶接部２からず
れないように設定して溶接を行なう構成となっている。
ここで、前記スリット像３ｂを撮像したスリット画像は
、開先のない場合第２図に示す如くＡ−Ｂ−Ｃとして現
われる。また、開先のある場合は第３図のようにＡ−Ｂ
−Ｃ−Ｄとして現われ、一層溶接した場合は第４図のよ
うにＡ−Ｂ−Ｃ−Ｄ−Ｅとして現われる。そして、この
ようなスリット画像はビデオ信号にのせて信号処理部５
へ送られる。
、開先のない場合第２図に示す如くＡ−Ｂ−Ｃとして現
われる。また、開先のある場合は第３図のようにＡ−Ｂ
−Ｃ−Ｄとして現われ、一層溶接した場合は第４図のよ
うにＡ−Ｂ−Ｃ−Ｄ−Ｅとして現われる。そして、この
ようなスリット画像はビデオ信号にのせて信号処理部５
へ送られる。
第５図は従来における信号処理部５の具体的な構成図を
示し、この信号処理部５では次のような信号処理が行な
われる。すなわち、撮像装置戊４からのビデオ信号から
垂直・水平同期検出回路５ノによって垂直同期信号およ
び水平同期信号が検出され、−水平走査ビデオ信号の開
始と終了の信号をめ変換回路５２に与える。このＡ／Ｄ
変換回路５２は一水平走査ビデオ信号ごとに高速にＡ７
’Ｄ変換を行なって記憶回路５３へ送る。そして、比較
回路５４は、記憶回路５３に記憶されたデータから一水
平走査ビデオ信号における最輝度レベルのアドレスを相
互に比較することによって求め、このアドレスを記憶回
路５５に記憶させる。その後、演算処理回路（２値化回
路又は平滑化微分回路）５６は、最輝度レベルに基づい
て溶接トーチ７の位置を設定する信号を駆動装置６へ出
力する。
示し、この信号処理部５では次のような信号処理が行な
われる。すなわち、撮像装置戊４からのビデオ信号から
垂直・水平同期検出回路５ノによって垂直同期信号およ
び水平同期信号が検出され、−水平走査ビデオ信号の開
始と終了の信号をめ変換回路５２に与える。このＡ／Ｄ
変換回路５２は一水平走査ビデオ信号ごとに高速にＡ７
’Ｄ変換を行なって記憶回路５３へ送る。そして、比較
回路５４は、記憶回路５３に記憶されたデータから一水
平走査ビデオ信号における最輝度レベルのアドレスを相
互に比較することによって求め、このアドレスを記憶回
路５５に記憶させる。その後、演算処理回路（２値化回
路又は平滑化微分回路）５６は、最輝度レベルに基づい
て溶接トーチ７の位置を設定する信号を駆動装置６へ出
力する。
しかしながら、上記のような信号処理部５では、次のよ
うな不具合があり、高速な溶接、精度を要する溶接には
使えない。
うな不具合があり、高速な溶接、精度を要する溶接には
使えない。
（１） Ａ／Ｄ変換回路５２に最高速のものを用いて
もφ変換が完了するごとにＡ７４）変換値を記憶回路５
３に格納するため、Ａ／Ｄ変換回路５２のめ変換速度に
よって測定分解能が大きく影Ｖを受ける。
もφ変換が完了するごとにＡ７４）変換値を記憶回路５
３に格納するため、Ａ／Ｄ変換回路５２のめ変換速度に
よって測定分解能が大きく影Ｖを受ける。
（２）甘た、め変換回路５２でのめ変換回数が少ないと
、スリ、ト画像におけるスリット像の位置を求めるため
に相互比較するデータの量が少なくなり、精度の低下に
つながる。
、スリ、ト画像におけるスリット像の位置を求めるため
に相互比較するデータの量が少なくなり、精度の低下に
つながる。
（３） Ａ／Ｉ）変換回路５２からのデータおよび最
輝度レベルのアドレスを記憶するために大容量の記憶回
路５３．５５が必要となり、このため装置は複雑な構成
となり、かつ高価なものとなる。
輝度レベルのアドレスを記憶するために大容量の記憶回
路５３．５５が必要となり、このため装置は複雑な構成
となり、かつ高価なものとなる。
（４）また、この信号処理部５では、処理時間が長いと
いう欠点がある。
いう欠点がある。
本発明は、上記実情に基づいてなされたもので、その目
的とするところは、大容量の記憶回路を用いず小容量の
記憶回路を用いて高速で精度の高い形状測定ができる溶
接位置形状測定装置を提供することにある。
的とするところは、大容量の記憶回路を用いず小容量の
記憶回路を用いて高速で精度の高い形状測定ができる溶
接位置形状測定装置を提供することにある。
以下、本発明の一実施例について、特に従来装置と比較
して構成を異にする信号処理部について第６図を参照し
て説明する。同図において信号処理部１ｏは、信号前処
理部１１と演算処理部１２とから構成されている。水平
向１１．Ｉｌ信号発生回路１３および垂直同期信号発生
回路１４は、それぞれ水平同期信号および垂直同期信号
をｆ最像装僅４と（Ｍ号処理部１０内の各回路へ出力し
て、撮像装置４と信号処理部１０との同期をとるもので
ある。低域通過回路１５は撮像装置４からのビデオ信号
に含１れる高周波ノイズ等を除去し、ピーク・ホールド
回路１６に供給する。このピーク・ホールド回路１６は
低域通過回路１３を通ってきたビデオ信号から、−水平
走査終了時のホールド値により最輝度レベルを検出し、
この最輝度レベルを示す信号音め変換器１７およびＸ座
標検出用位置カウンク１８へ出力するものである。この
Ａ／Ｄ変換器１７でＡ／Ｉ）変換されたディジクルビデ
オ信号は比較回路１９へ送られる。この比較回路１９は
、入力されたディジタルのビデオ信号に基づいて前記最
輝度レベルが予め設定された前記スリット画ｆ’ｌにお
けるスリ、ト像の輝度レベルとなる閾値を越えた場合に
前記Ｘ座標検出用位置カウシタ１８ヘトリガ信号を出力
して、Ｘ座標検出用位置カウンタ１８のカウントを停止
させるものである。ここで、閾値は測定時の周囲環境に
おいてスリット像とそれ以外の背景の違いから設定され
る０このＸ座標検出用位置カウンタ１８は例えば−水平
走査間に５１２個のノクルスを発生するパルス発生回路
２０からのノ々ルス信号をカウントし、前記トリガの入
力でそのカラントラ停止してこのカウント値を最輝度レ
ベル点のＸ座標アドレスとして演算処理部１２へ出力す
るとともに、前記ピーク・ホールド回路１６からの最輝
度レベル信号をディジタル信号に変換して演算処理部１
２に出力する機能を持っている。なお、この位置カウン
タ１８は、水平同期信号発生回路１３からの水平同期信
号によυ−水平走査ごとにクリアされる。一方、Ｘ座標
検出用位置カウンタ２１は、水平同期信号のパルス数を
カウントし、このカウント値を演算処理部１２へ出力す
るものであり、このカウント値は垂直同期信号によって
クリアされる。
して構成を異にする信号処理部について第６図を参照し
て説明する。同図において信号処理部１ｏは、信号前処
理部１１と演算処理部１２とから構成されている。水平
向１１．Ｉｌ信号発生回路１３および垂直同期信号発生
回路１４は、それぞれ水平同期信号および垂直同期信号
をｆ最像装僅４と（Ｍ号処理部１０内の各回路へ出力し
て、撮像装置４と信号処理部１０との同期をとるもので
ある。低域通過回路１５は撮像装置４からのビデオ信号
に含１れる高周波ノイズ等を除去し、ピーク・ホールド
回路１６に供給する。このピーク・ホールド回路１６は
低域通過回路１３を通ってきたビデオ信号から、−水平
走査終了時のホールド値により最輝度レベルを検出し、
この最輝度レベルを示す信号音め変換器１７およびＸ座
標検出用位置カウンク１８へ出力するものである。この
Ａ／Ｄ変換器１７でＡ／Ｉ）変換されたディジクルビデ
オ信号は比較回路１９へ送られる。この比較回路１９は
、入力されたディジタルのビデオ信号に基づいて前記最
輝度レベルが予め設定された前記スリット画ｆ’ｌにお
けるスリ、ト像の輝度レベルとなる閾値を越えた場合に
前記Ｘ座標検出用位置カウシタ１８ヘトリガ信号を出力
して、Ｘ座標検出用位置カウンタ１８のカウントを停止
させるものである。ここで、閾値は測定時の周囲環境に
おいてスリット像とそれ以外の背景の違いから設定され
る０このＸ座標検出用位置カウンタ１８は例えば−水平
走査間に５１２個のノクルスを発生するパルス発生回路
２０からのノ々ルス信号をカウントし、前記トリガの入
力でそのカラントラ停止してこのカウント値を最輝度レ
ベル点のＸ座標アドレスとして演算処理部１２へ出力す
るとともに、前記ピーク・ホールド回路１６からの最輝
度レベル信号をディジタル信号に変換して演算処理部１
２に出力する機能を持っている。なお、この位置カウン
タ１８は、水平同期信号発生回路１３からの水平同期信
号によυ−水平走査ごとにクリアされる。一方、Ｘ座標
検出用位置カウンタ２１は、水平同期信号のパルス数を
カウントし、このカウント値を演算処理部１２へ出力す
るものであり、このカウント値は垂直同期信号によって
クリアされる。
演算処理部１２はＸ座標およびＸ座標検出用位置カウン
タ１６．２０からのカウント値に基づいて溶接部２の形
状に関する・やラメークを抽出するもので、第７図にス
リット画像におけるスリット像の変曲点位置（例えば第
２図に示すＢ点）を検出する一構成例を示す。第７図に
おいて記憶回路１２ａはＸ座標検出用位置カウンタ１８
からのＸ座標アドレスを記憶し、差分回路１２ｂは記憶
回路１２ａに記憶されたＸ座標アドレスから隣り合うア
ドレス間の差分値を求めるものである。さらに、比較回
路１２ｃは予め設定された基準値と前記差分値とを比較
して、差分値が基準値を起えた場合に前記変曲点位置と
してその変曲点Ｘアドレス信号を出力するものである。
タ１６．２０からのカウント値に基づいて溶接部２の形
状に関する・やラメークを抽出するもので、第７図にス
リット画像におけるスリット像の変曲点位置（例えば第
２図に示すＢ点）を検出する一構成例を示す。第７図に
おいて記憶回路１２ａはＸ座標検出用位置カウンタ１８
からのＸ座標アドレスを記憶し、差分回路１２ｂは記憶
回路１２ａに記憶されたＸ座標アドレスから隣り合うア
ドレス間の差分値を求めるものである。さらに、比較回
路１２ｃは予め設定された基準値と前記差分値とを比較
して、差分値が基準値を起えた場合に前記変曲点位置と
してその変曲点Ｘアドレス信号を出力するものである。
次に−Ｆ記の如く構成された信号処理部１０を用いた溶
接位置形状測定装置の動作について説明する。まず、第
１図に示すスリット光源器３からスリット光３ａが溶接
母材１ａ、１ｂにおける溶接部（溶接線）２に照射され
てスリット像３ｂが形成される。撮像装置４は、水平同
期信号および垂直同期信号発生回路１３．１４からの水
平同期信号、垂直同期信号を受けてスリット像３ｂｆ撮
像する。ここで、形状測定の前に撮像して得られたスリ
ッ）ｉ＆ｆｆＪ面上において、スリットｆ夕と水平走査
線との交点が１点のみとなるように撮像装置４の位置、
角度が調整されて設置される。
接位置形状測定装置の動作について説明する。まず、第
１図に示すスリット光源器３からスリット光３ａが溶接
母材１ａ、１ｂにおける溶接部（溶接線）２に照射され
てスリット像３ｂが形成される。撮像装置４は、水平同
期信号および垂直同期信号発生回路１３．１４からの水
平同期信号、垂直同期信号を受けてスリット像３ｂｆ撮
像する。ここで、形状測定の前に撮像して得られたスリ
ッ）ｉ＆ｆｆＪ面上において、スリットｆ夕と水平走査
線との交点が１点のみとなるように撮像装置４の位置、
角度が調整されて設置される。
との撮像装置４からのビデオ信号は低域通過回路１５で
高周波ノイズ等が除かれてピーク・ホールド回路１６に
送られる。このピーク・ホールド回路１６は、水平同期
信号発生回路１３からの水平同期信号によシー水平走査
間におけるビデオ信号の最輝度レベルを検出し、この最
輝度レベルを示す信号をＡ／Ｄ変換器１７およびＸ座標
検出用位置カウンタ１８へ送る。これと同時に、Ｘ座標
検出用位置カウンタ１８は、−水平走査ごとにパルス発
生回路２０からの・ぐルス信号をカウントしている。前
記Ｎ勺変換器１７に入力された信号は、ディジタル信号
に変換され翫比較回路１９へ送られ、この比較回路１９
において予め設定された閾値と比較されるＯこの比較に
よシ前記最輝度しベル値が閾値を起えると比較回路１９
はＸ座標検出用位置カウンタ１８ヘトリガ信号を出力す
る。これによ・すＸ座標検出用位置カウンタ１８のカウ
ントは停止し、このカウント値ｆ：ｘ座標のアドレスと
して演算処理部１２へ出力する。
高周波ノイズ等が除かれてピーク・ホールド回路１６に
送られる。このピーク・ホールド回路１６は、水平同期
信号発生回路１３からの水平同期信号によシー水平走査
間におけるビデオ信号の最輝度レベルを検出し、この最
輝度レベルを示す信号をＡ／Ｄ変換器１７およびＸ座標
検出用位置カウンタ１８へ送る。これと同時に、Ｘ座標
検出用位置カウンタ１８は、−水平走査ごとにパルス発
生回路２０からの・ぐルス信号をカウントしている。前
記Ｎ勺変換器１７に入力された信号は、ディジタル信号
に変換され翫比較回路１９へ送られ、この比較回路１９
において予め設定された閾値と比較されるＯこの比較に
よシ前記最輝度しベル値が閾値を起えると比較回路１９
はＸ座標検出用位置カウンタ１８ヘトリガ信号を出力す
る。これによ・すＸ座標検出用位置カウンタ１８のカウ
ントは停止し、このカウント値ｆ：ｘ座標のアドレスと
して演算処理部１２へ出力する。
一方、ｙ座標検出用位置カウンタ２ノは、垂直同期信号
の発生間における水平同期イｚ号のＡルス数をカウント
し、そのカウント値ｋｙ座標のアドレスとして演算処理
部１２へ出力する。
の発生間における水平同期イｚ号のＡルス数をカウント
し、そのカウント値ｋｙ座標のアドレスとして演算処理
部１２へ出力する。
演算処理部１２は、これらＸ座標およびｙＪＩ標検出用
位置カウンタ１Ｂ、２１からのアドレス信号によシ撮像
装置４による１フレ一ム周期終了時点での形状演算に必
要なデータは全て内蔵の記憶部に格絡され、これらアド
レス信号に基づいてスリット像の始終端すなわち第２図
ではＡ、Ｃ点が求められ前記溶接線２の形状が求められ
る。つまシ、溶接部２が開先をもたない場合には前記し
た如く第２図に示すスリット像Ａ−Ｂ−Ｃとなシ、開先
がある場合には第３図に示すスリット像Ａ−Ｂ−Ｃ−Ｄ
となシ、さらに一層溶接した場合には第４図に示すスリ
ット像Ａ −Ｂ−Ｃ−Ｄ −Ｅとなる。したがって、こ
れらスリット像の各変曲点位置すなわち第２図ではＢ点
、第３図ではＢ、Ｃ点、第４図ではＢ。
位置カウンタ１Ｂ、２１からのアドレス信号によシ撮像
装置４による１フレ一ム周期終了時点での形状演算に必
要なデータは全て内蔵の記憶部に格絡され、これらアド
レス信号に基づいてスリット像の始終端すなわち第２図
ではＡ、Ｃ点が求められ前記溶接線２の形状が求められ
る。つまシ、溶接部２が開先をもたない場合には前記し
た如く第２図に示すスリット像Ａ−Ｂ−Ｃとなシ、開先
がある場合には第３図に示すスリット像Ａ−Ｂ−Ｃ−Ｄ
となシ、さらに一層溶接した場合には第４図に示すスリ
ット像Ａ −Ｂ−Ｃ−Ｄ −Ｅとなる。したがって、こ
れらスリット像の各変曲点位置すなわち第２図ではＢ点
、第３図ではＢ、Ｃ点、第４図ではＢ。
Ｃ、ＤＡを求めれば、溶癲部２の形状が求められる。例
えば、開先の々い第２図におけるＢ点を求める場合につ
いて説明する。演算処理部１２の記憶回路１２ａには、
スリット画像におけるＡ−Ｂ−Ｃまでのアドレスが格納
されている。差分回路１２ｂはこれらアドレスの隣シ合
うものどうしの差分値を求め、この差分値を示すイｇ号
を比較回路１２ｃに送り、この比較回路１２ｃにおいて
予め設定された基準値とこの差分値とが比較される。そ
こで、この差分値が基準値以上であればこの場合におけ
るＸ座標のアドレスを変曲点Ｂのアドレスとする。
えば、開先の々い第２図におけるＢ点を求める場合につ
いて説明する。演算処理部１２の記憶回路１２ａには、
スリット画像におけるＡ−Ｂ−Ｃまでのアドレスが格納
されている。差分回路１２ｂはこれらアドレスの隣シ合
うものどうしの差分値を求め、この差分値を示すイｇ号
を比較回路１２ｃに送り、この比較回路１２ｃにおいて
予め設定された基準値とこの差分値とが比較される。そ
こで、この差分値が基準値以上であればこの場合におけ
るＸ座標のアドレスを変曲点Ｂのアドレスとする。
しかして、信号処理部１ｏから形状計測アドレス信号が
駆動装置６へ送られ、１駆動装置６はこの形状計測アド
レス信号に基づいて溶接トーチ７の位置を調節して溶接
全行なっていく。
駆動装置６へ送られ、１駆動装置６はこの形状計測アド
レス信号に基づいて溶接トーチ７の位置を調節して溶接
全行なっていく。
また、溶接部２が開先を持たない場合には、上記した動
作と同様にして第３図に示すスリット画像のＡ、Ｂ、Ｃ
，Ｄ点、溶接音一層盛った場合には第４図に示すスリ、
ト画像のＡ、Ｂ。
作と同様にして第３図に示すスリット画像のＡ、Ｂ、Ｃ
，Ｄ点、溶接音一層盛った場合には第４図に示すスリ、
ト画像のＡ、Ｂ。
Ｃ，Ｄ、Ｂ点を求めればよい。
このように本装置によれは、溶接部２に照射されて形成
されたスリット像を」１メ像する撮像装置４からのビプ
゛オ信号を信号処理部ｌＯにおいて、その−水平走置ビ
デオ信号における最輝度レベル全ピーク・ホールド回路
１６によシ検出し、さらに、そのＸアドレスをＸ座標検
出用位置カウンタ１８で求め、またＸアドレスをＸ座標
検出用位置カウンタ２ノで求め、これらＸ。
されたスリット像を」１メ像する撮像装置４からのビプ
゛オ信号を信号処理部ｌＯにおいて、その−水平走置ビ
デオ信号における最輝度レベル全ピーク・ホールド回路
１６によシ検出し、さらに、そのＸアドレスをＸ座標検
出用位置カウンタ１８で求め、またＸアドレスをＸ座標
検出用位置カウンタ２ノで求め、これらＸ。
Ｘアドレスから溶接部２の形状ｔ ８１ｉ１定するので
、溶接部２の形状を高速で開先のあるものか、開先のな
いものか、あるいは一層溶接を盛ったものかが測定でき
、この測定結果に基づ１八て溶接を精度高く行なうこと
ができる。また、従来の装置における記憶回路よシも小
容量の記憶回路１２ａで形状を測定することができる。
、溶接部２の形状を高速で開先のあるものか、開先のな
いものか、あるいは一層溶接を盛ったものかが測定でき
、この測定結果に基づ１八て溶接を精度高く行なうこと
ができる。また、従来の装置における記憶回路よシも小
容量の記憶回路１２ａで形状を測定することができる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではない
。たとえば、測定対象に応じて本発明を逸脱しない範囲
で演算処理部１２の構成を変更することによシ、形状開
側が可能な、例えばネジ山の測定、板・パイプの曲げの
計測等に応用することができる。
。たとえば、測定対象に応じて本発明を逸脱しない範囲
で演算処理部１２の構成を変更することによシ、形状開
側が可能な、例えばネジ山の測定、板・パイプの曲げの
計測等に応用することができる。
本発明によれば、撮像装置からのビデオ信号における一
水平走査ビデオ信号の最輝度レベルのアドレスを信号処
理部でＸ座標、ｙ座標として求めて溶接部の形状を測定
するので、大容量の記憶回路を用いず小容量の記憶回路
を用いて高速で精度の高い形状測定ができる溶接位置形
状測定装置を提供できる。
水平走査ビデオ信号の最輝度レベルのアドレスを信号処
理部でＸ座標、ｙ座標として求めて溶接部の形状を測定
するので、大容量の記憶回路を用いず小容量の記憶回路
を用いて高速で精度の高い形状測定ができる溶接位置形
状測定装置を提供できる。
第１図は光切断法を用いて溶接倣いを行なう装置の全体
構成図、第２図ないし第４図は第１図に示す装置におけ
る撮像装置によって得られるスリット画像を示す図、第
５図は第１図に示す装置における従来の信号処理部の構
成図、第６図は本発明に係る溶接位置形状測定装置の一
実施例を示す構成図、第７図は本装置における演算処理
部の一構成例図である。 １＆、１ｂ・・・溶接母材、２・・・溶接部、３・スリ
ット光源器、４・・・撮像装置、６・・・駆動装置、訃
・・溶接トーチ、１ｏ・・・信号処理部、１１・・信号
前処理部、１２・・・演算処理部、１２ａ・・・記憶回
路、１２ｂ・・差分回路、１２ｃ・・・比較回路、１３
・・・水平同期信号発生回路、１４・・・垂直同期信号
発生回路、１５・・・低域通過回路、１６・・・ピーク
・ホールド回路、１７・Ａβ変換器、ノ８・・・Ｘ座標
検出用位置カウンタ、ノ９・・比較回路、２０・・パル
ス発生回路、２１・−・Ｘ座標検出用位置カウンタ。
構成図、第２図ないし第４図は第１図に示す装置におけ
る撮像装置によって得られるスリット画像を示す図、第
５図は第１図に示す装置における従来の信号処理部の構
成図、第６図は本発明に係る溶接位置形状測定装置の一
実施例を示す構成図、第７図は本装置における演算処理
部の一構成例図である。 １＆、１ｂ・・・溶接母材、２・・・溶接部、３・スリ
ット光源器、４・・・撮像装置、６・・・駆動装置、訃
・・溶接トーチ、１ｏ・・・信号処理部、１１・・信号
前処理部、１２・・・演算処理部、１２ａ・・・記憶回
路、１２ｂ・・差分回路、１２ｃ・・・比較回路、１３
・・・水平同期信号発生回路、１４・・・垂直同期信号
発生回路、１５・・・低域通過回路、１６・・・ピーク
・ホールド回路、１７・Ａβ変換器、ノ８・・・Ｘ座標
検出用位置カウンタ、ノ９・・比較回路、２０・・パル
ス発生回路、２１・−・Ｘ座標検出用位置カウンタ。
Claims (1)
- 溶接母材を溶接する溶接位置にスリット光を照射して形
成されたスリット像を撮像する撮像装置と、この撮像装
置からのビデオ信号に含まれる一水平走青における前記
ビデオ信号の最輝度レベルの検出がなされた時に前記−
水平走査間に所定のノ？ルス数を発生するパルスのカウ
ントを停止させ、このカウント値ｆｘ座標アドレスとす
るＸ座標カウンタと前記ビデオ信号における水平同期信
号全垂直同期信号の発生間ごとにカウントし、このカウ
ント値ｋ ｙａ Ｆｊ＋アドレスとするＸ座標カウンタ
とがら構成される信号前処理部、このイｄ号前処理部で
求められたＸ座標およびｙ座標アドレスを読み込み、こ
れらＸ座標およびｙ座標アドレスに基づいて前記浴接位
置の形状を倚る演典処理部から構成される信号処理部と
を具備したことを％徴とする溶接位置形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7731283A JPS59202006A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 溶接位置形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7731283A JPS59202006A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 溶接位置形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59202006A true JPS59202006A (ja) | 1984-11-15 |
Family
ID=13630393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7731283A Pending JPS59202006A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 溶接位置形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59202006A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0342289A2 (en) * | 1988-05-17 | 1989-11-23 | Nkk Corporation | Method and apparatus for measuring a three-dimensional curved surface shape |
| JP2018519167A (ja) * | 2015-05-11 | 2018-07-19 | ウーハン リシノート テクノロジーズ カンパニー リミテッド | Ｕリブ溶接装置及びその調節機構 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4939445A (ja) * | 1972-08-15 | 1974-04-12 | ||
| JPS54114264A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-06 | Nippon Steel Corp | Screw inspection method |
| JPS56155803A (en) * | 1980-05-07 | 1981-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Shape detector |
| JPS6039964A (ja) * | 1983-08-15 | 1985-03-02 | Fujitsu Ltd | 緊急制御回路の試験方式 |
-
1983
- 1983-04-30 JP JP7731283A patent/JPS59202006A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4939445A (ja) * | 1972-08-15 | 1974-04-12 | ||
| JPS54114264A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-06 | Nippon Steel Corp | Screw inspection method |
| JPS56155803A (en) * | 1980-05-07 | 1981-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | Shape detector |
| JPS6039964A (ja) * | 1983-08-15 | 1985-03-02 | Fujitsu Ltd | 緊急制御回路の試験方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0342289A2 (en) * | 1988-05-17 | 1989-11-23 | Nkk Corporation | Method and apparatus for measuring a three-dimensional curved surface shape |
| JP2018519167A (ja) * | 2015-05-11 | 2018-07-19 | ウーハン リシノート テクノロジーズ カンパニー リミテッド | Ｕリブ溶接装置及びその調節機構 |
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