JPS5920159A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPS5920159A JPS5920159A JP57131040A JP13104082A JPS5920159A JP S5920159 A JPS5920159 A JP S5920159A JP 57131040 A JP57131040 A JP 57131040A JP 13104082 A JP13104082 A JP 13104082A JP S5920159 A JPS5920159 A JP S5920159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- delay line
- ultrasonic diagnostic
- amount
- diagnostic apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波診断装置、とくにセクター形超音波診
断装置に関する。
断装置に関する。
従来のセクター形超音波診断装置によれば、超音波ビー
ムの送受波において、トランスジューサの各エレメント
に対する遅延量は、２つのタップ付き遅延線を直列に接
続して、すなわち微小偏向用遅延線と遅延量の大きな遅
延線とを組合わせ、それぞれのタップをマルチプレクサ
によって選び設定されていたにのような遅延線はタップ
の位置によって、周波数特性及び反射（スプリアス）特
性が異なる。第１図は、タップ付き遅延線１３にパルス
信号を入力し、その特性４表わしたものである。同図（
ａ）において、各タッープにつきその特性をシンクロス
コープにより表わしたものが、同図（ｂ）であり、（１
）は入力波形、（２）は測定点イ、（３）は測定点口、
（４）は測定点ハを示す０これにより、タップ位置が終
端抵抗に近づくにつれて、スプリアスは少なくなる。ス
プリアス特性が異なると、偏向等により、出力の画質が
劣化することが知られている。
ムの送受波において、トランスジューサの各エレメント
に対する遅延量は、２つのタップ付き遅延線を直列に接
続して、すなわち微小偏向用遅延線と遅延量の大きな遅
延線とを組合わせ、それぞれのタップをマルチプレクサ
によって選び設定されていたにのような遅延線はタップ
の位置によって、周波数特性及び反射（スプリアス）特
性が異なる。第１図は、タップ付き遅延線１３にパルス
信号を入力し、その特性４表わしたものである。同図（
ａ）において、各タッープにつきその特性をシンクロス
コープにより表わしたものが、同図（ｂ）であり、（１
）は入力波形、（２）は測定点イ、（３）は測定点口、
（４）は測定点ハを示す０これにより、タップ位置が終
端抵抗に近づくにつれて、スプリアスは少なくなる。ス
プリアス特性が異なると、偏向等により、出力の画質が
劣化することが知られている。
本発明の目的は、各エレメント及び全エレメントに対す
る遅延量による回路のスプリアス・ノイズを低減できる
超音波診断装置の提供にある。この目的は、超音波ビー
ムの送受波において、トランスジューサの各エレメント
に対する遅延量が１つのタップ付き遅延線のみを介して
、または１つのタップ付き遅延線と多数エレメントに共
用可能ないくつかのタップのなめ固定遅延線の１つとを
介して、好悸しぐは、大きな遅延量は固定遅延線により
ふり分けられるように制御されることにより達成される
。
る遅延量による回路のスプリアス・ノイズを低減できる
超音波診断装置の提供にある。この目的は、超音波ビー
ムの送受波において、トランスジューサの各エレメント
に対する遅延量が１つのタップ付き遅延線のみを介して
、または１つのタップ付き遅延線と多数エレメントに共
用可能ないくつかのタップのなめ固定遅延線の１つとを
介して、好悸しぐは、大きな遅延量は固定遅延線により
ふり分けられるように制御されることにより達成される
。
次に、本発明の好適な実施例を図面について説明する。
第２図は、各エレメントに対する遅延量の一分布例の部
分図である０細線はタップ付き遅延線のタップで選ばれ
る遅延量を示し、太線は本発明による固定遅延線にあら
かじめ設定された遅延量を示す。
分図である０細線はタップ付き遅延線のタップで選ばれ
る遅延量を示し、太線は本発明による固定遅延線にあら
かじめ設定された遅延量を示す。
第３図は本発明の一実施例を示すブロック線図であり、
超音波ビームの受波における動作例か示される。１０は
トランスジューサ、１２はプリアンプ、１４はタップ付
き遅延線で、例えば２０ｎｓＸ１６か使用される。１６
はアナログ・マルチプレクサ、１８はバッファ・アンプ
、２０は後述の固定遅延線２４の選択用アナログマルチ
・プレクサ、２２はサム・アンプ、２４は、例えば、３
２０ ｎｓ毎に遅延量の大きい固定遅延線、２６はサム
・アＸプである。
超音波ビームの受波における動作例か示される。１０は
トランスジューサ、１２はプリアンプ、１４はタップ付
き遅延線で、例えば２０ｎｓＸ１６か使用される。１６
はアナログ・マルチプレクサ、１８はバッファ・アンプ
、２０は後述の固定遅延線２４の選択用アナログマルチ
・プレクサ、２２はサム・アンプ、２４は、例えば、３
２０ ｎｓ毎に遅延量の大きい固定遅延線、２６はサム
・アＸプである。
図示実施例において、アナログ マルチプレ以す１６は
、例えばＲ，ＯＭメモリに接続されており、タップ付き
遅延線１４のどのタップを選ぶか、寸た別のアナログ・
マルチ・プレクサも該メモリに接続にされており、どの
固定遅延線の接続路を選ぶかは、各エレメントにつき遅
延量が決っているので、切換え制御され、該メモリにそ
の情報データが格納されている。外側のエレメントにつ
いて云えば、遅延量が小さいので、大きい遅延量の有す
る固定遅延線を介することなく、サム・アンプ２６によ
り他のエレメントの間で加算される。小さな遅延量で増
加する隣接したエレメント間では、各エレメントは各個
有のタップ付き遅延線１２と共通の固定遅延線２４とを
介して遅延量が決まり、そのためにサム・アンプ２２が
固定遅延線２４に前置される。図示実施例では、便宜上
、トランスジューサ１２の各チャンネルＣＨを初めに１
つおきに図示し、その多くは省略されており、また固定
遅延線２４についても２つのエレメントに対して１つの
固定遅延線２４が例示されているか、全エレメントにお
ける各エレメントに対する遅延量の分布例によって、固
定遅延線の遅延量及び接続数か任意に設定可能である。
、例えばＲ，ＯＭメモリに接続されており、タップ付き
遅延線１４のどのタップを選ぶか、寸た別のアナログ・
マルチ・プレクサも該メモリに接続にされており、どの
固定遅延線の接続路を選ぶかは、各エレメントにつき遅
延量が決っているので、切換え制御され、該メモリにそ
の情報データが格納されている。外側のエレメントにつ
いて云えば、遅延量が小さいので、大きい遅延量の有す
る固定遅延線を介することなく、サム・アンプ２６によ
り他のエレメントの間で加算される。小さな遅延量で増
加する隣接したエレメント間では、各エレメントは各個
有のタップ付き遅延線１２と共通の固定遅延線２４とを
介して遅延量が決まり、そのためにサム・アンプ２２が
固定遅延線２４に前置される。図示実施例では、便宜上
、トランスジューサ１２の各チャンネルＣＨを初めに１
つおきに図示し、その多くは省略されており、また固定
遅延線２４についても２つのエレメントに対して１つの
固定遅延線２４が例示されているか、全エレメントにお
ける各エレメントに対する遅延量の分布例によって、固
定遅延線の遅延量及び接続数か任意に設定可能である。
なお、第３図は受波動作の実施例であるが、同図におけ
るの、■、０．０に切換えスイッチを設ければ送受波両
用の実施例が構成され、その部分図が第４図に、示され
る。
るの、■、０．０に切換えスイッチを設ければ送受波両
用の実施例が構成され、その部分図が第４図に、示され
る。
第１図はタップ付き遅延線によるスゲリアス特性の説明
図、第２図は、各エレメントに対する遅延量の分布側部
分図、第３図及び第４図は本発明の実施例を示した概略
ブロック線図である。 １０はトランスジューサ、１４はタップ付き遅延線、２
２はサム・アンプ、２４は固定遅延線、１６と２０はア
ナログ マルチプレクサである。
図、第２図は、各エレメントに対する遅延量の分布側部
分図、第３図及び第４図は本発明の実施例を示した概略
ブロック線図である。 １０はトランスジューサ、１４はタップ付き遅延線、２
２はサム・アンプ、２４は固定遅延線、１６と２０はア
ナログ マルチプレクサである。
Claims (1)
- 超音波ビームの送受波において、トランスジューサの各
エレメントに対する遅延量が１つのタップ付き遅延線の
みを介して制御されるか、または１つのタップ付き遅延
線と多数エレメントに共用可能ないくつかのタップのな
い固定遅延線の１つとを介して制御されることを特徴と
する、超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131040A JPS5920159A (ja) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131040A JPS5920159A (ja) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5920159A true JPS5920159A (ja) | 1984-02-01 |
Family
ID=15048612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57131040A Pending JPS5920159A (ja) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920159A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04189386A (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-07 | Fuji Electric Co Ltd | 玉計数払出装置 |
| JPH06220695A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-09 | Shikino Mekki Kk | 鍍金処理方法及び鍍金処理装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5328989A (en) * | 1976-08-30 | 1978-03-17 | Hewlett Packard Yokogawa | Ultrasonic imaging device |
-
1982
- 1982-07-26 JP JP57131040A patent/JPS5920159A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5328989A (en) * | 1976-08-30 | 1978-03-17 | Hewlett Packard Yokogawa | Ultrasonic imaging device |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04189386A (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-07 | Fuji Electric Co Ltd | 玉計数払出装置 |
| JPH06220695A (ja) * | 1993-01-26 | 1994-08-09 | Shikino Mekki Kk | 鍍金処理方法及び鍍金処理装置 |
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