JPS63260540A - 電子走査形超音波診断装置 - Google Patents
電子走査形超音波診断装置Info
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- JPS63260540A JPS63260540A JP9522587A JP9522587A JPS63260540A JP S63260540 A JPS63260540 A JP S63260540A JP 9522587 A JP9522587 A JP 9522587A JP 9522587 A JP9522587 A JP 9522587A JP S63260540 A JPS63260540 A JP S63260540A
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Landscapes
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高方位分解能化、高フレームレート化した電
子走査形超音波診断装置に関するものである。
子走査形超音波診断装置に関するものである。
電子的に走査した超音波を被検体に照射して、その反射
エコーに基づき被検体の@層像や二次元ドツプラーなど
、二次元の生体情報を得る電子走査形超音波診断装置に
おいて、被検体中の深さの異なる各部の断層像をいずれ
も高い分解能(方位分解能)で得られるようにするなめ
、反射エコーの受渡の焦点を動的に変化させること(ダ
イナミック・フォーカス)が行われていた。
エコーに基づき被検体の@層像や二次元ドツプラーなど
、二次元の生体情報を得る電子走査形超音波診断装置に
おいて、被検体中の深さの異なる各部の断層像をいずれ
も高い分解能(方位分解能)で得られるようにするなめ
、反射エコーの受渡の焦点を動的に変化させること(ダ
イナミック・フォーカス)が行われていた。
このような反射エコーの受渡の焦点合わせは、幅狭のP
ZTなどを用いた振動素子を多数配列してなる探触子の
上記振動子素子からの電気信号(受波信号)を適宜遅延
して加算することによって行われるもので、このような
回路は整相回路と呼ばれている。この整相回路によるダ
イナミック・フォーカスの動作において、上記多数の振
動子素子からの各受渡信号に与えるべき遅延時間の大き
さは、反射エコーの発生する深さに応じて動的に変更さ
れる。この遅延時間の変更は、多数のインダクタとコン
デンサからなる集中定数型遅延線のタップ切換えによっ
て通常行われている。このた−め、焦点の変更にはスイ
ッチの切換えが伴い、このスイッチ、例えばFETを用
いた電子スイッチの切換え時に発生するスパイク・ノイ
ズが受渡信号に混入してS/Nを劣化させ、得られる断
層像による診断を誤らせる恐れもあった。これを解決す
るには、スパイク・ノイズの発生の少ない電子スイッチ
を用いればよいが、このような電子スイッチは高価であ
り、またその使用数も多いので、経済的でない。
ZTなどを用いた振動素子を多数配列してなる探触子の
上記振動子素子からの電気信号(受波信号)を適宜遅延
して加算することによって行われるもので、このような
回路は整相回路と呼ばれている。この整相回路によるダ
イナミック・フォーカスの動作において、上記多数の振
動子素子からの各受渡信号に与えるべき遅延時間の大き
さは、反射エコーの発生する深さに応じて動的に変更さ
れる。この遅延時間の変更は、多数のインダクタとコン
デンサからなる集中定数型遅延線のタップ切換えによっ
て通常行われている。このた−め、焦点の変更にはスイ
ッチの切換えが伴い、このスイッチ、例えばFETを用
いた電子スイッチの切換え時に発生するスパイク・ノイ
ズが受渡信号に混入してS/Nを劣化させ、得られる断
層像による診断を誤らせる恐れもあった。これを解決す
るには、スパイク・ノイズの発生の少ない電子スイッチ
を用いればよいが、このような電子スイッチは高価であ
り、またその使用数も多いので、経済的でない。
゛このような問題点を解消するには、特開昭56−’1
2234号公報に記載の方法がある。すなわち、これに
よれば、遅延線のタップを切換えることにより焦点位置
が変更できる受波整相回路を2系統用意する。このうち
一方の整相回路が受信動作を行っている期間に、他方の
整相回路は遅延線のタップ切換えを行うようにし、かつ
この動作を、反射エコーの発生源の移動に伴って前記2
つの整相回路の間で交互に行うようにしたものである。
2234号公報に記載の方法がある。すなわち、これに
よれば、遅延線のタップを切換えることにより焦点位置
が変更できる受波整相回路を2系統用意する。このうち
一方の整相回路が受信動作を行っている期間に、他方の
整相回路は遅延線のタップ切換えを行うようにし、かつ
この動作を、反射エコーの発生源の移動に伴って前記2
つの整相回路の間で交互に行うようにしたものである。
以下、これについて第3図を参照して詳述する。
第3図において、1は幅狭のPZTなどを用いた振動子
素子を多数配列してなる探触子、2−1〜2−nは受渡
信号を増幅する増幅器、3−1 、3−2は増幅器2−
1〜2−nの出力電圧を、その大きさに対応した大きさ
の定電流信号に変換するための電圧−電流変換器である
。また、4−1 、4−2は多数の電子スイッチを図示
するように配列してなるクロスポイント・スイッチ、5
−1 、5−2はタップ付遅延線、6は切換スイッチで
ある。この場合、クロスポイント・スイッチ4−1 、
4−2は、これにより増幅器2−1〜2−nの各出力信
号に適宜遅延時間が与えられるように遅延線5−1 、
5−2のタップに接続されるもので、遅延された各出力
信号は加算されて遅延線5−1 、5−2から出力され
る。なお、遅延115−1 、5−2の両端は、その特
性インピーダンスと等しい終端抵抗により、各々接地さ
れている。
素子を多数配列してなる探触子、2−1〜2−nは受渡
信号を増幅する増幅器、3−1 、3−2は増幅器2−
1〜2−nの出力電圧を、その大きさに対応した大きさ
の定電流信号に変換するための電圧−電流変換器である
。また、4−1 、4−2は多数の電子スイッチを図示
するように配列してなるクロスポイント・スイッチ、5
−1 、5−2はタップ付遅延線、6は切換スイッチで
ある。この場合、クロスポイント・スイッチ4−1 、
4−2は、これにより増幅器2−1〜2−nの各出力信
号に適宜遅延時間が与えられるように遅延線5−1 、
5−2のタップに接続されるもので、遅延された各出力
信号は加算されて遅延線5−1 、5−2から出力され
る。なお、遅延115−1 、5−2の両端は、その特
性インピーダンスと等しい終端抵抗により、各々接地さ
れている。
このような構成において、2系統の整相回路A及びB(
変換器3−1〜遅延線5−1及び変換器3−2〜遅延線
5−2)のうちの一方の整相回路A(又はB)が受信動
作中に、他方の整相回路B(又はA)の焦点位置を、ク
ロスポイント・スイッチ4−2(又は4−1)を切換え
ることにより変える動作を行わせる。この時、切換スイ
ッチ6は整相口1i11)A側に接続されているため、
クロスポイント・スイッチ4−2(又は4−1)の動作
時発生するスパイク・ノイズは受渡信号に混入しない、
また、整相回路A(又はB)の焦点位置を変えるための
クロスポイント・スイッチ4−1(又は4−2)の切換
えは、切換スイッチ6が整相回路B側に接続されている
間に行われるので、この場合にもクロスポイント・スイ
ッチ4−1(又は4−2)の動作時発生するスパイク・
ノイズが受渡信号に混入することはない。
変換器3−1〜遅延線5−1及び変換器3−2〜遅延線
5−2)のうちの一方の整相回路A(又はB)が受信動
作中に、他方の整相回路B(又はA)の焦点位置を、ク
ロスポイント・スイッチ4−2(又は4−1)を切換え
ることにより変える動作を行わせる。この時、切換スイ
ッチ6は整相口1i11)A側に接続されているため、
クロスポイント・スイッチ4−2(又は4−1)の動作
時発生するスパイク・ノイズは受渡信号に混入しない、
また、整相回路A(又はB)の焦点位置を変えるための
クロスポイント・スイッチ4−1(又は4−2)の切換
えは、切換スイッチ6が整相回路B側に接続されている
間に行われるので、この場合にもクロスポイント・スイ
ッチ4−1(又は4−2)の動作時発生するスパイク・
ノイズが受渡信号に混入することはない。
以上の動作を繰り返し行うことにより、スパイク・ノイ
ズの発生の少ないダイナミック・フォーカスが実現され
る。なお切換スイッチ6は、常に信号が流れている部分
を切換えるので、そこからスパイク・ノイズが発生する
。そこで、切換スイッチ6だけはスパイク・ノイズがほ
とんど発生しない電子スイッチ例えばカレントスイッチ
を用いるが、その個数はわずかなのでコストに及ぼす影
響は少ない。
ズの発生の少ないダイナミック・フォーカスが実現され
る。なお切換スイッチ6は、常に信号が流れている部分
を切換えるので、そこからスパイク・ノイズが発生する
。そこで、切換スイッチ6だけはスパイク・ノイズがほ
とんど発生しない電子スイッチ例えばカレントスイッチ
を用いるが、その個数はわずかなのでコストに及ぼす影
響は少ない。
ところで、パルスエコー法の超音波診断装置においては
、1本の走査での測定時間は被測定深度の2倍の距離を
音速で割ったものである。したがって、例えば深さ15
0閲の人体の測定においては、人体内の音速1.5m+
+/μsecで上記150Bで割ると200μsecと
なり、1画面の走査線の数を240本とすると、1フレ
ームを得る時間(完像時間)は4811secとなる。
、1本の走査での測定時間は被測定深度の2倍の距離を
音速で割ったものである。したがって、例えば深さ15
0閲の人体の測定においては、人体内の音速1.5m+
+/μsecで上記150Bで割ると200μsecと
なり、1画面の走査線の数を240本とすると、1フレ
ームを得る時間(完像時間)は4811secとなる。
このように、人体の音速に制約を受けるので、高速に診
断情報を得る場合、従来、一定の制限があった。
断情報を得る場合、従来、一定の制限があった。
そこで、このような制限を受けている完像時間を短縮(
高フレームレート化)する手段が提案されている。これ
は、特開昭53−96285号公報に記載されているよ
うに、前述ダイナミック・フォーカフ スを行う場合と同様、2系統(又はそれ以上)の整相回
路を設けてなるものである。以下、これを第4図を参照
して説明する。第4図において、探触子1の振動子素子
(以下、エレメントという)#1〜#にのに個、ここで
は4個を同時に使用し、R1点に集束した超音波ビーム
を作成する時、R1点と焦点が重畳せず、かつ使用する
エレメントを変えて、例えばエレメント#mから数えて
に個のエレメント#m〜#m+3を同時に使用してR1
’点にも超音波ビームを同時に作成し、かつ反射エコー
を受波する。
高フレームレート化)する手段が提案されている。これ
は、特開昭53−96285号公報に記載されているよ
うに、前述ダイナミック・フォーカフ スを行う場合と同様、2系統(又はそれ以上)の整相回
路を設けてなるものである。以下、これを第4図を参照
して説明する。第4図において、探触子1の振動子素子
(以下、エレメントという)#1〜#にのに個、ここで
は4個を同時に使用し、R1点に集束した超音波ビーム
を作成する時、R1点と焦点が重畳せず、かつ使用する
エレメントを変えて、例えばエレメント#mから数えて
に個のエレメント#m〜#m+3を同時に使用してR1
’点にも超音波ビームを同時に作成し、かつ反射エコー
を受波する。
ここで、各エレメントは切換選択回路7と7′に接続さ
れる。切換選択回路7には、#1〜#1ltK/2まで
を、切換選択口1i7’には、#m〜#nまでのエレメ
ントを接続する。ここで切換選択回路7.7′とに重な
りがあるのは#mの近傍で超音波ビームが連続に走査で
きるよう配慮したものであり、通常同時に動作するエレ
メントの個数kに対してはに一1ヶの重なりを必要とす
る。切換選択回路7.7′の出力は各々送波用パルサ8
゜8′と整相回路9.9′に接続する。整相回路9め出
力はスイッチ10のb#A子に、他方の整相回路9′の
出力は時間圧縮用メモリ11に導かれ、メモリ11の出
力はスイッチ10のa端子に接続される。
れる。切換選択回路7には、#1〜#1ltK/2まで
を、切換選択口1i7’には、#m〜#nまでのエレメ
ントを接続する。ここで切換選択回路7.7′とに重な
りがあるのは#mの近傍で超音波ビームが連続に走査で
きるよう配慮したものであり、通常同時に動作するエレ
メントの個数kに対してはに一1ヶの重なりを必要とす
る。切換選択回路7.7′の出力は各々送波用パルサ8
゜8′と整相回路9.9′に接続する。整相回路9め出
力はスイッチ10のb#A子に、他方の整相回路9′の
出力は時間圧縮用メモリ11に導かれ、メモリ11の出
力はスイッチ10のa端子に接続される。
次に動作を説明する。切換選択回路7と7′は、最初エ
レメント番号#1〜#4と#m〜#m+3を選択し、順
次4ケづつを選択しながら1ケづつずらす動作を行う、
このため、最初R1とR1’の2方向同時にパルサ8,
8′より超音波ビームを発射し、このR1とR1′方向
からのエコーを受信し、これを2台の整相回路9,9′
に導き、2方向のエコー信号を作成する。これらの信号
の一方、すなわち整相回路9′からの信号は時間圧縮用
メモリ11(単なるメモリであり走査速度の変換を行う
)に一時蓄積する。最初スイッチ10はb側に切換えら
れ、DSC(デジタル・スキャン・コンバータ)に導か
れる。超音波ビームをR1とRi’の2方向同時に発射
すると、音波の進行に従いR1方向からのエコーを受け
る。一方R1’方向からのエコーは時間圧縮用メモリ1
1に蓄積されている。
レメント番号#1〜#4と#m〜#m+3を選択し、順
次4ケづつを選択しながら1ケづつずらす動作を行う、
このため、最初R1とR1’の2方向同時にパルサ8,
8′より超音波ビームを発射し、このR1とR1′方向
からのエコーを受信し、これを2台の整相回路9,9′
に導き、2方向のエコー信号を作成する。これらの信号
の一方、すなわち整相回路9′からの信号は時間圧縮用
メモリ11(単なるメモリであり走査速度の変換を行う
)に一時蓄積する。最初スイッチ10はb側に切換えら
れ、DSC(デジタル・スキャン・コンバータ)に導か
れる。超音波ビームをR1とRi’の2方向同時に発射
すると、音波の進行に従いR1方向からのエコーを受け
る。一方R1’方向からのエコーは時間圧縮用メモリ1
1に蓄積されている。
このようにして、被測深度からのエコーを受信し終った
時点でスイッチ10はa側に切換えられる。
時点でスイッチ10はa側に切換えられる。
この切換タイミングは被測深度と音速とから予測できる
この切換信号は制御部から発生するが図面では制御部は
省略しである。ここでメモリ11に蓄積された情報を読
み出し、DSC12への輝度信号とする。 このように
2組以上の整相回路91.9′を用いて、従来の1本の
走査分のエコー信号の作成時間に対して2本の走査分の
エコー信号を作成できるため、完像時間を2倍速くする
ことが可能である。
この切換信号は制御部から発生するが図面では制御部は
省略しである。ここでメモリ11に蓄積された情報を読
み出し、DSC12への輝度信号とする。 このように
2組以上の整相回路91.9′を用いて、従来の1本の
走査分のエコー信号の作成時間に対して2本の走査分の
エコー信号を作成できるため、完像時間を2倍速くする
ことが可能である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上のように従来、2組又はそれ以上の整相回路を用い
て低コスト高方位分解能化又は高フレームレート化する
ものはあったが、これらを同時に達成したものは見当た
らなかった。そこで、それら両者を組合わせて低コスト
高方位分解能化及び高フレームレート化することが考え
られる。しかし、単に両者を組合わせるだけの構成では
、高フレームレート化において、完像時間をより高速に
するために、同時に受信する反射エコーの数を1つ増加
するごとに2組の整相回路を増設しなければならず、コ
ストの大幅な上昇を招くという問題点があった。
て低コスト高方位分解能化又は高フレームレート化する
ものはあったが、これらを同時に達成したものは見当た
らなかった。そこで、それら両者を組合わせて低コスト
高方位分解能化及び高フレームレート化することが考え
られる。しかし、単に両者を組合わせるだけの構成では
、高フレームレート化において、完像時間をより高速に
するために、同時に受信する反射エコーの数を1つ増加
するごとに2組の整相回路を増設しなければならず、コ
ストの大幅な上昇を招くという問題点があった。
本発明は、上述したような問題点を解消するためになさ
れたもので、高方位分解能化及び高フレームレート化を
同時に、しかもコストの大幅な上昇なく達成することが
できる電子走査形超音波診断装置を提供することを目的
とする。
れたもので、高方位分解能化及び高フレームレート化を
同時に、しかもコストの大幅な上昇なく達成することが
できる電子走査形超音波診断装置を提供することを目的
とする。
本発明は、受信する反射エコーの指向性と集束点を変更
可能な整相回路を、同時に受信する異なる方向の反射エ
コーの数nより1系統多く(n+1)設け、そのうちの
1つの系統は前記指向性と集束点の設定のために動作さ
せ、残余(n)の系統は反射エコーの受信動作をさせ、
かつ前記集束点を変えるごとに前記を各系統に順次巡回
して行わせるようにしたものである。
可能な整相回路を、同時に受信する異なる方向の反射エ
コーの数nより1系統多く(n+1)設け、そのうちの
1つの系統は前記指向性と集束点の設定のために動作さ
せ、残余(n)の系統は反射エコーの受信動作をさせ、
かつ前記集束点を変えるごとに前記を各系統に順次巡回
して行わせるようにしたものである。
上述したように、(n+1>系統の整相回路を設け、そ
のうちの1つの系統を指向性、集束点の設定のために動
作させれば、高価なスイッチを多数用いることなくスパ
イク・ノイズの受渡信号への混入が低コストで防止され
る。また残余のn系統を反射エコーの受信動作に当たら
せ、かつ集束点を変えるごとに前記各動作を全(n+1
)系統に対して順次巡回させて行わせれば、高分解能の
ダイナミック・フォーカス及び高フレームレート化が達
成される。
のうちの1つの系統を指向性、集束点の設定のために動
作させれば、高価なスイッチを多数用いることなくスパ
イク・ノイズの受渡信号への混入が低コストで防止され
る。また残余のn系統を反射エコーの受信動作に当たら
せ、かつ集束点を変えるごとに前記各動作を全(n+1
)系統に対して順次巡回させて行わせれば、高分解能の
ダイナミック・フォーカス及び高フレームレート化が達
成される。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
は本発明による電子走査形超音波診断装置の一実施例を
示すブロック図で、図中1は幅狭のPZTなどを用いた
振動子素子(エレメント)を多数配列してなるアレー探
触子、2−1〜2−n(ここではn=4)は、探触子1
の各エレメントからの受渡信号を増悟する増幅器である
。 14−1〜14−3は、増幅器2−1〜2−4の出
力信号を、それぞれ適宜遅延された後に加算するように
し、特定の焦点位置に対して最も感度が高くなるよう、
すなわち、特定の方向と特定の距離離れた点で発生した
反射エコーに対しで感度が良好となるような特性を与え
る整相@路及び検波回路からなる回路(以下、整相・検
波回路という)である、この整相・検波回路14−1〜
14−3における整相回路は、図示してないが、集中定
数型遅延線のタップを例えばMOS FETからなる
電子スイッチにより切換えることにより遅延時間を制御
する構成となっている。
は本発明による電子走査形超音波診断装置の一実施例を
示すブロック図で、図中1は幅狭のPZTなどを用いた
振動子素子(エレメント)を多数配列してなるアレー探
触子、2−1〜2−n(ここではn=4)は、探触子1
の各エレメントからの受渡信号を増悟する増幅器である
。 14−1〜14−3は、増幅器2−1〜2−4の出
力信号を、それぞれ適宜遅延された後に加算するように
し、特定の焦点位置に対して最も感度が高くなるよう、
すなわち、特定の方向と特定の距離離れた点で発生した
反射エコーに対しで感度が良好となるような特性を与え
る整相@路及び検波回路からなる回路(以下、整相・検
波回路という)である、この整相・検波回路14−1〜
14−3における整相回路は、図示してないが、集中定
数型遅延線のタップを例えばMOS FETからなる
電子スイッチにより切換えることにより遅延時間を制御
する構成となっている。
15は、上記3系統の回路14−1〜14−3で各々整
相。
相。
検波されな3系統の受渡信号のうちの2系統を後述順序
に従って同時にラインメモリ16−1.16−2に切換
入力させるスイッチ回路である。17は、ラインメモリ
16−1.16−2に記憶された信号が、超音波ビーム
(以下、ビームと略称する)が被検体内に繰返し発射さ
れる各発射の直前の短時間内に逐次書込まれて行<DS
C(デジタル・スキャン・コンバータ)である。
に従って同時にラインメモリ16−1.16−2に切換
入力させるスイッチ回路である。17は、ラインメモリ
16−1.16−2に記憶された信号が、超音波ビーム
(以下、ビームと略称する)が被検体内に繰返し発射さ
れる各発射の直前の短時間内に逐次書込まれて行<DS
C(デジタル・スキャン・コンバータ)である。
次に、上述本発明装置の動作について説明する。
ここでは、複数方向からの反射エコーを同時に受信する
例として、第1図中の探触子1前方A、 Bで示す2方
向に指向性を与える場合について述べる。まず、探触子
1のエレメントからの受渡信号は、増幅器2−1〜2−
4を経て回路14−1〜14−3の各整相回路に入力さ
れる。
例として、第1図中の探触子1前方A、 Bで示す2方
向に指向性を与える場合について述べる。まず、探触子
1のエレメントからの受渡信号は、増幅器2−1〜2−
4を経て回路14−1〜14−3の各整相回路に入力さ
れる。
第2図は、上記3系統の整相回路の動作説明図で、図中
#1〜#3は整相回路の番号、A、Bは第1図中の方向
A、Bに指向性を与える動作を表わす、゛また、Toは
探触子1からのビーム発射時刻、T1−T1はその後の
時刻、L1〜L4は探触子1からの距離(被検体の体表
からの深さ)を表わす、いま、ビームの伝播に際し、時
刻ToとT1.’rtとT3.’raとT5.’rsと
T7の各中間時において、超音波は探触子1から各々距
離L1.L2.Lap L4にあり、ビーム集束点(以
下、集束点と略称する)を上記各中間時において距離L
l、L2.L3.L4に置くと、常に高い方位分解能が
得られるものとする。このようにするためには、各整相
回路#1〜#3による各中間時での集束点を図中に記入
したようにする。
#1〜#3は整相回路の番号、A、Bは第1図中の方向
A、Bに指向性を与える動作を表わす、゛また、Toは
探触子1からのビーム発射時刻、T1−T1はその後の
時刻、L1〜L4は探触子1からの距離(被検体の体表
からの深さ)を表わす、いま、ビームの伝播に際し、時
刻ToとT1.’rtとT3.’raとT5.’rsと
T7の各中間時において、超音波は探触子1から各々距
離L1.L2.Lap L4にあり、ビーム集束点(以
下、集束点と略称する)を上記各中間時において距離L
l、L2.L3.L4に置くと、常に高い方位分解能が
得られるものとする。このようにするためには、各整相
回路#1〜#3による各中間時での集束点を図中に記入
したようにする。
すなわち整相回路#1は、時刻To〜T1では方向A、
g束点L1になるように遅延線のタップが選択されてい
る。一方、整相回路#2は、時刻To−T、において方
向B、集束点し1になるように蓮延線のタップが選択さ
れている。この際、スイッチ回路15のスイッチS11
.5142を閉じ、他のスイッチS 12 + S 1
2r S !1 + S 23を開いておくことにより
、A、B2方向での距離Ltに集束させた受渡信号を捕
捉することができる。この状態から時刻T1に至った際
、スイッチS 11を開いてスイッチS i3を閉じる
ことにより、整相回路#1から、方向A、!束点し2に
なるように設定された整相回路#3に切換えられ、時刻
T1〜T3における受波信号の捕捉を開始する0時刻T
1〜T2においては、スイッチS 11が開いているた
め、整相回路#1で遅延線タップ切換のためのスイッチ
切換えによるスパイク・ノイズが発生しても受渡信号に
は混入しない(このような期間を図中、で示す)、また
この時刻T1〜1゛2の期間に、整相回路#lを方向B
、集束点L2になるように設定する。
g束点L1になるように遅延線のタップが選択されてい
る。一方、整相回路#2は、時刻To−T、において方
向B、集束点し1になるように蓮延線のタップが選択さ
れている。この際、スイッチ回路15のスイッチS11
.5142を閉じ、他のスイッチS 12 + S 1
2r S !1 + S 23を開いておくことにより
、A、B2方向での距離Ltに集束させた受渡信号を捕
捉することができる。この状態から時刻T1に至った際
、スイッチS 11を開いてスイッチS i3を閉じる
ことにより、整相回路#1から、方向A、!束点し2に
なるように設定された整相回路#3に切換えられ、時刻
T1〜T3における受波信号の捕捉を開始する0時刻T
1〜T2においては、スイッチS 11が開いているた
め、整相回路#1で遅延線タップ切換のためのスイッチ
切換えによるスパイク・ノイズが発生しても受渡信号に
は混入しない(このような期間を図中、で示す)、また
この時刻T1〜1゛2の期間に、整相回路#lを方向B
、集束点L2になるように設定する。
以下、第2図に示すように、整相回路#1〜#3の各方
向、m束点の設定およびスイッチS 11〜S 1@
+ S !1〜StSの開又は閉動作を行い、かっこの
第2図に示す動作を繰返し行うことにより、3系統の整
相回路で2方向の受渡信号を同時に捕捉して高フレーム
レート化されるとともに、高方位分解能化(ダイナミッ
ク・フォーカス)されることになる。
向、m束点の設定およびスイッチS 11〜S 1@
+ S !1〜StSの開又は閉動作を行い、かっこの
第2図に示す動作を繰返し行うことにより、3系統の整
相回路で2方向の受渡信号を同時に捕捉して高フレーム
レート化されるとともに、高方位分解能化(ダイナミッ
ク・フォーカス)されることになる。
ここでは二次元生体情報として断層像の例について述べ
たが、二次元カラードツプラーの装置にもここに述べた
原理を適用できる。
たが、二次元カラードツプラーの装置にもここに述べた
原理を適用できる。
以上述べたように本発明によれば、同時受信する興なる
方向の反射エコーの数をnとしたとき、(n+1)系統
の整相回路を備えれば済み、2n系統を要する従来の場
合に比べて低コストで、特にnを大きくする場合には極
めて低コストで、高方位分解能化(低コストでスパイク
・ノイズの発生の少ないダイナミック・フォーカスの達
成)及び高フレームレート化を同時に達成することがで
きるという効果がある。 −
方向の反射エコーの数をnとしたとき、(n+1)系統
の整相回路を備えれば済み、2n系統を要する従来の場
合に比べて低コストで、特にnを大きくする場合には極
めて低コストで、高方位分解能化(低コストでスパイク
・ノイズの発生の少ないダイナミック・フォーカスの達
成)及び高フレームレート化を同時に達成することがで
きるという効果がある。 −
第1図は本発明装置の一実施例を示す回路図、第2図は
同じく動作説明図、第3図及び第4図は従来装置の回路
図である。 1・・・アレー探触子、14−1〜14−3・・・整相
・検波回路、15・・・スイッチ回路、16−1.16
−2・・・ラインメモリ、17・・・DSCo 特許出願人 株式会社日立メディコ 代理人 弁理士 秋本正実 他1名 第1図 第2図 第3図 第4図
同じく動作説明図、第3図及び第4図は従来装置の回路
図である。 1・・・アレー探触子、14−1〜14−3・・・整相
・検波回路、15・・・スイッチ回路、16−1.16
−2・・・ラインメモリ、17・・・DSCo 特許出願人 株式会社日立メディコ 代理人 弁理士 秋本正実 他1名 第1図 第2図 第3図 第4図
Claims (1)
- 電子的に走査した超音波を被検体に照射して、その反射
エコーに基づき被検体の二次元の生体情報を得る電子走
査形超音波診断装置において、受信する反射エコーの指
向性と集束点を変更可能な整相回路を、同時に受信する
異なる方向の反射エコーの数より1系統多く設け、その
うちの1つの系統は前記指向性と集束点の設定のために
動作させ、残余の系統は反射エコーの受信動作をさせ、
かつ前記集束点を変えるごとに前記動作を各系統に順次
巡回して行わせる手段を具備することを特徴とする電子
走査形超音波診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9522587A JPS63260540A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | 電子走査形超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9522587A JPS63260540A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | 電子走査形超音波診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63260540A true JPS63260540A (ja) | 1988-10-27 |
Family
ID=14131810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9522587A Pending JPS63260540A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | 電子走査形超音波診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63260540A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03206986A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-09-10 | Acoustic Imaging Technol Corp | プログラマブルビーム形成方法及びその装置 |
JPH0464349A (ja) * | 1990-07-02 | 1992-02-28 | Fuji Electric Co Ltd | 超音波診断装置 |
JP2006000421A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Toshiba Corp | 超音波血流イメージング装置 |
-
1987
- 1987-04-20 JP JP9522587A patent/JPS63260540A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03206986A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-09-10 | Acoustic Imaging Technol Corp | プログラマブルビーム形成方法及びその装置 |
JPH0464349A (ja) * | 1990-07-02 | 1992-02-28 | Fuji Electric Co Ltd | 超音波診断装置 |
JP2006000421A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Toshiba Corp | 超音波血流イメージング装置 |
JP4660126B2 (ja) * | 2004-06-18 | 2011-03-30 | 株式会社東芝 | 超音波血流イメージング装置 |
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